CN105676548B - 一种显示器液晶填充量测定的方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供一种显示器液晶填充量测定的方法及装置，涉及显示技术领域，可以精确获得显示器的液晶填充量范围，避免液晶量过少出现的bubble现象及液晶量过多出现的重力Mura现象。该方法包括：控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量；对所述多个第一待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的低温关系曲线和高温关系曲线；依据所述低温关系曲线的下限拐点和所述高温关系曲线的上限拐点，得到所述显示器的液晶填充量范围。用于测定显示器液晶填充量。

Description

一种显示器液晶填充量测定的方法及装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示器液晶填充量测定的方法及装置。

背景技术

随着显示技术的日益成熟，各种显示器也逐渐发展起来。目前，液晶显示器(Liquid Crystal Display，简称LCD)由于具有功耗小、微型化、轻薄等优点而得到越来越广泛的应用。

如图1(a)和图1(b)所示，液晶显示面板包括阵列基板20、对盒基板10以及位于阵列基板20和对盒基板10之间的胶框30和液晶层40。现有的液晶显示器在制造过程中，液晶填充量(Liquid Crystal Margin，简称LC Margin)一般根据设计要求及实际工艺过程中的细微调整来确定。在制造过程中，液晶填充量存在上限和下限，如图1(a)所示，当液晶填充量趋近于或低于液晶填充量的下限时，阵列基板20和对盒基板10之间的液晶填充量较少，隔垫物50(Photo Spacer，简称PS)起主要支撑作用，其中，隔垫物50包括主隔垫物501和辅隔垫物502，此时由于液晶没有在阵列基板20和对盒基板10之间填充满，因而会出现真空气泡(bubble)，在低温条件下，阵列基板20、对盒基板10和液晶等材料的都会收缩，由于液晶的热膨胀系数远大于阵列基板20、对盒基板10的热膨胀系数，因而更容易出现bubble缺陷。

如图1(b)所示，当液晶填充量趋近于或略高于液晶填充量上限时，液晶起主要支撑作用，隔垫物50所承受的支撑力减小，当液晶显示面板放置一段时间后，液晶由于自身重力因素和液晶的流动，使得液晶显示面板的部分区域出现液晶过多的情况，从而产生重力Mura(斑痕)缺陷，在高温条件下，由于液晶的热膨胀系数远大于阵列基板20、对盒基板10的热膨胀系数，因而更容易形成重力Mura。

现有技术中，对于液晶填充量的测定方式通常是对不同液晶填充量的液晶显示面板分别进行高低温测试，并通过人眼检测低温bubble和高温重力Mura，最终确定出适宜的液晶填充量范围。然而，现有的评价方式由于完全是靠人操作，因而存在一定的误差。

发明内容

本发明的实施例提供一种显示器液晶填充量测定的方法及装置，可以精确获得显示器的液晶填充量范围，避免液晶量过少出现的bubble现象及液晶量过多出现的重力Mura现象。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

一方面，提供一种显示器液晶填充量测定的方法，包括：控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量；对所述多个第一待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的低温关系曲线和高温关系曲线；依据所述低温关系曲线的下限拐点和所述高温关系曲线的上限拐点，得到所述显示器的液晶填充量范围。

优选的，所述方法还包括：控制多个第二待测液晶显示面板的液晶填充量；对所述多个第二待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的常温关系曲线；控制所述多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，包括：根据所述常温关系曲线，控制所述多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，分别与所述常温关系曲线的下限拐点和所述下限拐点两侧预设范围内的多个点、以及上限拐点和所述上限拐点两侧预设范围内的多个点一一对应。

进一步优选的，控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，包括：选取多个第一待测液晶显示母板，控制每个所述第一待测液晶显示母板中所有第一待测液晶显示面板的液晶填充量相同，并控制位于不同所述第一待测液晶显示母板中的所述第一待测液晶显示面板的液晶填充量不同。

控制多个第二待测液晶显示面板的液晶填充量，包括：选取一个第二待测液晶显示母板，控制其中每个所述第二待测液晶显示面板的液晶填充量不同。

优选的，对待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，包括：对待测液晶显示面板的中间位置处的液晶层厚度进行检测。

对待测液晶显示面板的中间位置处的液晶层厚度进行检测，包括：针对每个待测液晶显示面板，将一束光以相对液晶光轴的预定角度θ射向待测液晶显示面板的中间位置，得到从待测液晶显示面板的液晶层出射的O光和E光之间的距离d；根据所述预定角度θ及所述距离d，利用公式：计算得到所述液晶层的厚度T。

其中，n_o为所述O光在液晶层中的折射率；n_e为所述E光在液晶层中的折射率。

进一步优选的，所述方法还包括：对第一待测液晶显示面板的边缘位置处的液晶层厚度进行检测。

另一方面，提供一种显示器液晶填充量测定的装置，包括：控制单元、检测单元和处理单元；其中，所述控制单元包括液晶填充子单元、温度控制子单元；所述液晶填充子单元，用于控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量；所述温度控制子单元，用于控制所述多个第一待测液晶显示面板的温度，所述温度包括预设低温和预设高温；所述检测单元，用于在温度控制子单元控制的所述预设低温和所述预设高温下，分别对所述多个第一待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测；处理单元，用于根据所述检测单元检测到的液晶层厚度，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的低温关系曲线和高温关系曲线；并依据所述低温关系曲线的下限拐点和所述高温关系曲线的上限拐点，得到所述显示器的液晶填充量范围。

优选的，所述液晶填充子单元，还用于控制多个第二待测液晶显示面板的液晶填充量；所述温度控制子单元，还用于控制所述多个第二待测液晶显示面板温度为预设常温；所述检测单元，还用于在温度控制子单元控制的所述预设常温下，对所述多个第二待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测；所述处理单元，用于根据所述检测单元检测到的液晶层厚度，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的常温关系曲线；针对所述多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，所述液晶填充子单元具体用于根据所述常温关系曲线，控制所述多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，分别与所述常温关系曲线的下限拐点和所述下限拐点两侧预设范围内的多个点、以及上限拐点和所述上限拐点两侧预设范围内的多个点一一对应。

进一步优选的，所述液晶填充子单元，具体用于控制多个第一待测液晶显示母板，使每个第一待测液晶显示母板中的所有所述第一待测液晶显示面板的液晶填充量相同，并控制位于不同所述第一待测液晶显示母板中的所述第一待测液晶显示面板的液晶填充量不同；控制一个第二待测液晶显示母板中每个所述第二待测液晶显示面板的液晶填充量不同。

优选的，所述检测单元包括发光子单元、采集子单元和计算子单元。

针对每个待测液晶显示面板，所述发光子单元用于将一束光以相对液晶光轴的预定夹角θ射向所述液晶显示面板的中间位置；所述采集子单元用于采集从所述待测液晶显示面板的中间位置处的液晶层出射的O光与E光之间的距离d；所述计算子单元用于根据所述采集子单元采集的距离d，以及所述发光子单元发出的光射向所述待测液晶显示面板的预定夹角θ，利用公式：计算得到所述液晶层的厚度T。其中，n_o为O光在液晶层中的折射率；n_e为E光在液晶层中的折射率。

进一步优选的，所述检测单元还用于对第一待测液晶显示面板的边缘位置处的液晶层厚度进行检测。

本发明实施例提供一种显示器液晶填充量测定的方法及装置，通过在低温下和高温下分别对多个第一待检测液晶显示面板中液晶层厚度进行检测，拟合出液晶层厚度与液晶量的低温关系曲线和高温关系曲线；根据低温关系曲线的下限拐点和高温关系曲线的上限拐点，便可以精确获得显示器的液晶填充量范围。在实际生产中，对于同一种液晶显示面板，当控制液晶填充量在上述得到的液晶填充量范围时，便能够避免液晶量过少出现的bubble现象及液晶量过多出现的重力Mura现象。由于该显示器液晶填充量测定的方法是在结合了理论计算与实际检测的基础上，获得低温关系曲线和高温关系曲线，并根据高低温关系曲线的拐点，得到液晶填充量范围，因而测定液晶填充量的过程更加精准。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1(a)为现有技术提供的一种液晶量不足的液晶显示面板结构示意图；

图1(b)为现有技术提供的一种液晶量过多的液晶显示面板结构示意图；

图1(c)为现有技术提供的一种液晶量正常的液晶显示面板结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种显示器液晶填充量测定的方法的流程示意图；

图3为本发明实施例提供的一种在低温、高温及常温下液晶层厚度与液晶填充量之间的关系曲线图一；

图4为本发明实施例提供的一种在低温、高温及常温下液晶层厚度与液晶填充量之间的关系曲线图二；

图5为本发明实施例提供的一种第二待检测液晶显示母板的示意图；

图6(a)为本发明实施例提供的一种液晶量不足时测定O光和E光之间的距离的示意图；

图6(b)为本发明实施例提供的一种液晶量正常时测定O光和E光之间的距离的示意图；

图6(c)为本发明实施例提供的一种液晶量过多时测定O光和E光之间的距离的示意图；

图7为本发明实施例提供的一种显示器液晶填充量测定的装置的示意图一；

图8为本发明实施例提供的一种显示器液晶填充量测定的装置的示意图二。

附图标记：

10-对盒基板；20-阵列基板；30-胶框；40-液晶层；50-隔垫物；501-主隔垫物；502-辅隔垫物；601-低温关系曲线；601a-拟合的低温关系曲线；602-高温关系曲线；602a-拟合的高温关系曲线；603-常温关系曲线；70-第二待检测液晶显示母板；701-第二待检测液晶显示母板中的液晶显示面板；80-控制单元；801-液晶填充子单元；802-温度控制子单元；90-检测单元；901-发光子单元；902-采集子单元；903-计算子单元；100-处理单元。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提供一种显示器液晶填充量测定的方法，如图2所示，包括：

S100、控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量。

需要说明的是，第一，对于不同种类的液晶显示面板，由于其尺寸的不同，液晶显示面板的液晶填充量将不同。然而，对于同一种液晶显示面板，液晶填充量基数是相同，在实际生产中可以在该液晶填充量基数的基础上通过增加或减少一定百分比的液晶填充量来调节液晶显示面板的液晶填充量，例如，一种液晶显示面板的液晶填充量基数为1.2mg，实际生产中液晶显示面板的液晶填充量可以是1.2+1.2×1.5％、1.2-1.2×1.5％、1.2+1.2×3％、1.2-1.2×3％、1.2+1.2×0％等。本发明实施例提供的显示器液晶填充量测定的方法可以对任意液晶填充量基数的液晶显示面板的液晶填充量进行测定，因而本发明实施例仅用百分数表示液晶填充量而不考虑液晶填充量基数，例如，0、+1.5％、-1.5％、+3％、-3％、+4.5％、-4.5％、+6％、-6％等。

第二，对于第一待检测液晶显示面板的数量，可以根据需要检测的液晶填充量范围内的液晶填充量的值的个数来确定。例如，需要检测的液晶填充量分别为0、±1.5％、±3％、±4.5％，则需要的第一待检测液晶显示面板的数量为7个。为了确保对液晶显示面板的液晶填充量的测定更加精准，因此选取的检测的液晶填充量的值应尽可能地多，即第一待检测液晶显示面板的数量应尽可能多，例如可以选取液晶填充量在-7％-+7％范围的10个或15个第一待检测液晶显示面板。

在此基础上，为了使检测结果更为精确，可以在下述S101中，针对同一液晶填充量，在低温和高温下，对不同的第一待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测。

S101、如图3所示，对多个第一待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的低温关系曲线601和高温关系曲线602。

其中，对于第一待检测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测的方法不进行限定，以能得到液晶层厚度为准。

由于液晶在低温下会收缩，在高温下会膨胀，因而在常温下测定的液晶填充正常的液晶显示面板在低温下可能会出现液晶填充量不足的情况，也可能在高温下会出现液晶填充量过多的情况，因而，为了避免测定的显示器液晶填充量的不准确，因而，需要在低温和高温下分别对第一待检测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，并拟合出液晶层厚度与液晶填充量的低温关系曲线601和高温关系曲线602。

其中，对于低温，可以是液晶显示面板在实际应用中的最低温度，例如可以是-10℃、-20℃、-30℃。对于高温，可以是液晶显示面板在实际应用中的最高温度，例如可以是50℃、60℃、70℃。不同种类的液晶显示面板在实际应用中可能有不同的最低温度和不同的最高温度。

液晶显示面板中的液晶填充量存在三种情况，第一种是如图1(a)所示的液晶填充量不足；第二种是如图1(b)所示的液晶填充量过多；第三种是如图1(c)所示的液晶填充量正常。如图3所示，第1阶段为液晶填充量不足时，第2阶段为液晶填充正常时，第3阶段为液晶填充量过多时(图3中未示意出高温关系曲线602的第0阶段、第1阶段、第2阶段和第3阶段)。当液晶填充量不足时，即参考图3中的第1阶段，隔垫物50主要起支撑作用，随着液晶填充量的增加，液晶层40的厚度逐渐增加，此时液晶层40的厚度只受液晶填充量的影响；当液晶填充量正常时，即参考图3中的第2阶段，液晶层40中的液晶和隔垫物同时起支撑作用，随着液晶填充量的增加，液晶层40的厚度逐渐增加，但是此时液晶层40的厚度受液晶填充量和隔垫物的共同影响；当液晶填充量过多时，即参考图3中的第3阶段，液晶主要起支撑作用，但是由于阵列基板20和对盒基板10之间有封框胶30，因而对盒基板10受封框胶30的影响，对液晶有压缩作用，因此此时液晶层40的厚度受液晶填充量和对盒基板10的压缩的共同影响。

基于上述描述，结合图3，随着液晶填充量的增加，液晶层厚度与液填充晶量的低温关系曲线601和高温关系曲线602上均有两个拐点，一个拐点是液晶填充量不足和液晶填充量正常的临界点，即液晶填充量不足时液晶层厚度与液晶填充量的线性关系线，和液晶填充量正常时液晶层厚度与液晶填充量的线性关系线之间的交点；第二个拐点是，液晶填充量正常和液晶填充量过多的临界点，即液晶填充量正常时液晶层厚度与液晶填充量的线性关系线，和液晶填充量过多时液晶层厚度与液晶填充量的线性关系线之间的交点。

根据图3所示的低温关系曲线601，可以得到在低温下，液晶填充量的正常范围，即低温关系曲线601第2阶段对应的液晶填充量范围。同理，根据图3所示的高温关系曲线602，可以得到在高温下，液晶填充量的正常范围，即高温关系曲线602第3阶段对应的液晶填充量范围。

此处，需要说明的是，由于对盒基板20和隔垫物50之间存在真空间隙，因而当液晶填充量不足时，随着液晶填充量的增加，液晶层的厚度变化不明显，因此，拟合出的低温关系曲线601和高温关系曲线在液晶填充量增加的初期，液晶层厚度存在一段不稳定变化，即，图3中所示的第0阶段。

S102、依据低温关系曲线601的下限拐点和高温关系曲线602的上限拐点，得到显示器的液晶填充量范围。

需要说明的是，下限拐点即液晶填充量不足与液晶填充量正常的临界点；上限拐点即液晶填充量正常与液晶填充量过多的临界点。

由于高温时，液晶会膨胀，因而液晶层厚度相同时，高温下测得的高温关系曲线602的下限拐点对应的液晶填充量会比低温下测得的低温关系曲线601的下限拐点对应的液晶填充量少，因而会导致测量的液晶填充量的下限范围不准确，即，液晶显示面板的液晶填充量高于高温关系曲线602的下限拐点对应的液晶填充量，对于高温关系曲线来说是正常液晶量，但是对于低温关系曲线601来说，可能是液晶填充量不足，因而，本发明实施例中将低温关系曲线601的下限拐点作为液晶显示面板的液晶填充量的下限。

同理，在低温时，液晶会收缩，因而液晶层厚度相同时，低温下测得的低温关系曲线601的上限拐点对应的液晶填充量会比高温下测得的高温关系曲线602的上限拐点对应的液晶填充量多，因而会导致测量的液晶填充量的上限范围不准确，即，液晶显示面板的液晶填充量低于低温关系曲线601的上限拐点对应的液晶填充量，对于低温关系曲线601来说是正常液晶填充量，但是对于高温关系曲线601来说，可能是液晶填充量过多，因而，本发明实施例中将高温关系曲线601的上限拐点作为液晶显示面板的液晶填充量的上限。

基于上述，依据低温关系曲线601的下限拐点和高温关系曲线602的上限拐点，得到显示器的液晶填充量范围，在高温和低温下，液晶填充量均属于正常液晶量。

本发明实施例提供一种显示器液晶填充量测定的方法，通过在低温下和高温下分别对多个第一待检测液晶显示面板中液晶层厚度进行检测，拟合出液晶层厚度与液晶量的低温关系曲线601和高温关系曲线602；根据低温关系曲线601的下限拐点和高温关系曲线602的上限拐点，便可以精确获得显示器的液晶填充量范围。在实际生产中，对于同一种液晶显示面板，当控制液晶填充量在上述得到的液晶填充量范围时，便能够避免液晶量过少出现的bubble现象及液晶量过多出现的重力Mura现象。由于该显示器液晶填充量测定的方法是在结合了理论计算与实际检测的基础上，获得低温关系曲线601和高温关系曲线602，并根据高低温关系曲线的拐点，得到液晶填充量范围，因而测定液晶填充量的过程更加精准。

优选的，上述方法还包括：控制多个第二待测液晶显示面板的液晶填充量；对多个第二待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的常温关系曲线603(参考图3所示)。

其中，对于第二待检测液晶显示面板的数量不进行限定，为了能够对较多的填充有不同液晶量的液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，因而第二待检测液晶显示面板的数量应尽可能地多。

对第二待检测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测的方法可以和检测第一待检测液晶显示面板的液晶层厚度的方法相同。

基于上述的低温关系曲线601和高温关系曲线602的分析，同理，如图3所示，常温关系曲线603也存在第0阶段、第1阶段、第2阶段和第3阶段(图3中未示意出常温关系曲线603的第0阶段、第1阶段、第2阶段和第3阶段)以及两个拐点，即液晶填充量不足和液晶填充量正常的临界点、液晶填充量正常和液晶填充量过多的临界点。

在此基础上，上述S100具体包括：根据常温关系曲线603，控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，分别与常温关系曲线603的下限拐点和下限拐点两侧预设范围内的多个点、以及上限拐点和上限拐点两侧预设范围内的多个点一一对应。

如图3所示，对于低温关系曲线601、高温关系曲线602、常温关系曲线603，这三条曲线的上限拐点比较接近，下限拐点也比较接近，因而可以先在第二待检测液晶显示面板中填充不同的液晶量，通过对多个液晶填充量不同的第二待检测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，并拟合出常温关系曲线603，根据常温关系曲线603的下限拐点，选取下限拐点以及下限拐点两侧预设范围内的多个点，使多个第一待检测液晶显示面板的液晶填充量与这些点对应的液晶填充量一一对应。如图4所示，通过在低温下对具有上述液晶填充量的第一待检测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合出低温关系曲线601a。同理，根据常温关系曲线603的上限拐点，选取上限拐点以及上限拐点两侧预设范围内的多个点，使多个第一待检测液晶显示面板的液晶填充量与这些点对应的液晶填充量一一对应。如图4所示，通过在高温下对具有上述液晶填充量的第一待检测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合出高温关系曲线602a。

其中，如图4所示，对于下限拐点两侧预设范围的大小及预设范围内选取的点的个数、上限拐点两侧预设范围的大小及预设范围内选取的点的个数不进行限定，只要多个第一待检测液晶显示面板的液晶填充量与选取的下限拐点以及下限拐点两侧预设范围内的多个点对应的液晶填充量相同后，能够拟合出包含下限拐点的低温关系曲线601a即可；或者，多个第一待检测液晶显示面板的液晶填充量与选取的上限拐点以及上限拐点两侧预设范围内的多个点对应的液晶填充量相同后，能够拟合出包含上限拐点高温关系曲线602a即可。

此处，需要说明的是，不论选取下限拐点以及下限拐点两侧预设范围内的多个点，还是上限拐点以及上限拐点两侧预设范围内的多个点，选取的点的个数越多，测定的第一待检测液晶显示面板的数量将越多，拟合出的低温关系曲线601a或高温关系曲线602a将更精确。

本发明实施例，通过对多个第二待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的常温关系曲线603，并根据常温关系曲线603，得到在低温下需要测定的液晶填充量和在高温下需要测定的液晶填充量，这样便可以缩小在低温下或高温下需要测定的液晶填充量的范围，一方面，减少了第一待检测液晶显示面板的数量，节约成本，提高效率；另一方面，低温下选取的液晶填充量在低温关系曲线601下限拐点对应的液晶填充量的附近；高温下选取的液晶填充量在高温关系曲线602上限拐点对应的液晶填充量的附近，因而拟合的低温关系曲线601a和高温关系曲线602a更加精确，从而使得测定的显示器液晶填充量更加精确。

进一步优选的，控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，包括：选取多个第一待测液晶显示母板，控制每个第一待测液晶显示母板中所有第一待测液晶显示面板的液晶填充量相同，并控制位于不同第一待测液晶显示母板中的第一待测液晶显示面板的液晶填充量不同。

控制多个第二待测液晶显示面板的液晶填充量，包括：选取一个第二待测液晶显示母板，控制其中每个第二待测液晶显示面板的液晶填充量不同。

其中，对于一个第一待检测液晶显示母板中包括的第一待检测液晶显示面板的数量，应根据第一待检测液晶显示母板的大小和第一待检测液晶显示面板的大小合理进行设置。同理，对于一个第二待检测液晶显示母板中包括的第二待检测液晶显示面板的数量，应根据第二待检测液晶显示母板的大小和第二待检测液晶显示面板的大小合理进行设置

示例的，如图5所示，第二待检测液晶显示母板70中包括9种不同液晶填充量的第二待测液晶显示面板701，分别是0％、1.5％、-1.5％、3％、-3％、4.5％、-4.5％、6％、-6％。通过对9种第二待测液晶显示面板701的液晶层厚度进行检测，拟合出如图3所示的常温关系曲线603。常温关系曲线603下限拐点对应的液晶填充量是-3.2％，因而，在低温下选取的每个第一待检测液晶显示母板中第一待检测液晶显示面板的液晶填充量可以分别为-3.5％、-3.2％、-3％、-2.8％、-2.5％、-2％、-1.5％。通过对上述液晶量的液晶面板的液晶层厚度进行检测，拟合出低温关系曲线601a。常温关系曲线603上限拐点对应的液晶填充量是4.6％，因而，在高温下选取的每个第一待检测液晶显示母板中第一待检测液晶显示面板的液晶填充量可以分别为3％、3.5％、3.8％、4％、4.2％、4.5％、5％、6％。

需要说明的是，一个第一待检测液晶显示母板中包括多个第一待检测液晶显示面板，在对第一待检测液晶显示母板上的多个第一待检测液晶显示面板进行液晶填充时，由于工艺原因，第一待检测液晶显示母板上不同位置的第一待检测液晶显示面板可能会由于位置的差异使得第一待检测液晶显示母板中的多个第一待检测液晶显示面板的液晶填充量存在细微差异，因此，本发明实施例对每个第一液晶显示母板中的所有液晶显示面板的液晶层厚度均进行检测。

而对于第二待检测液晶显示面板，由于本发明实施例是根据常温关系曲线603，估算出低温下和高温下需要测定的第一待检测液晶显示面板的液晶填充量，因此，可以无需对第二待检测液晶显示母板70进行切割，只需要使第二待检测液晶显示母板70中的第二待测液晶显示面板的液晶填充量不同，便可以估算出第一待检测液晶显示面板的液晶填充量。

本发明实施例，通过对多个不同液晶填充量的第一待检测液晶显示母板中的所有第一待检测液晶显示面板进行测定，由于一个第一待检测液晶显示母板包括多个第一待检测液晶显示面板，因而相当于对同一种液晶填充量的液晶面板进行了多次测定，不仅进行多次测定可以使得结果更加准确，而且克服了位于同一个第一待检测显示母板中的第一待检测液晶显示面板由于位置的差异而导致填充量不同的缺陷，使得测定结果适用于第一待检测显示母板中的任意位置的一个液晶显示面板。进一步地，对第一待检测液晶显示母板和第二待检测液晶显示母板70直接进行液晶填充量的测定，避免了对液晶显示母板进行切割，节省了人力、物力，缩短了显示器液晶填充量测定的周期。

具体的，对待测液晶显示面板(包括第一待测液晶显示面板和第二待测液晶显示面板)的液晶层厚度进行检测，包括：对待测液晶显示面板的中间位置处的液晶层厚度进行检测。

此处，需要说明的是，由于待测液晶显示面板的边缘位置处通过胶框30支撑，中间位置处通过隔垫物50支撑，而胶框30和隔垫物50在制作过程中，由于工艺原因，胶框30和隔垫物50的高度可能存在差异，这就使得液晶显示面板边缘位置处的液晶层厚度和中间位置处的液晶层厚度不一样。考虑到液晶显示面板通常利用中间位置进行显示，而为了避免在拟合液晶层厚度与液晶填充量关系曲线时，检测到边缘位置处的液晶层厚度对中间位置的液晶层厚度的影响，从而影响拟合到的液晶层厚度与液晶填充量关系曲线，因而，本发明实施例优选的，对待检测液晶显示面板的中间位置处的液晶层厚度进行检测。

其中，中间位置可以是一定的范围，并不限定是某一具体位置。

如图6(a)、图6(b)及图6(c)所示，对待测液晶显示面板的中间位置处的液晶层厚度进行检测，包括：针对每个待测液晶显示面板，将一束光L以相对液晶光轴X的预定角度θ射向待测液晶显示面板的中间位置，得到从待测液晶显示面板的液晶层出射的O光和E光之间的距离d。

根据预定角度θ及距离d，利用公式：计算得到液晶层的厚度T。

其中，n_o为所述O光在液晶层中的折射率；n_e为所述E光在液晶层中的折射率。

需要说明的是，上述对液晶层厚度进行检测的方法是利用液晶的双折射原理对液晶显示面板中的液晶层厚度进行检测。具体的，如图6(a)、图6(b)及图6(c)所示，当入射光L与液晶光轴X成一定的角度θ，由于液晶分子为各向异性，可以使得入射光L分解为一束遵循折射定量的寻常光O光和一束不遵循折射定律的非常光E光，这两束光通过液晶显示面板的液晶层出射时，O光和E光之间的距离为d。其中，图6(a)对应于图3或图4中关系曲线的第1阶段，图6(b)对应于图3或图4中关系曲线的第2阶段；图6(c)对应于图3或图4中关系曲线的第3阶段。

此处，预定角度θ具体为入射光L入射到液晶显示面板的液晶层时，出射的O光和E光之间的光程差最大时对应的角度，即为预定角度θ。

对于得到O光和E光之间的距离d的方法不进行限定，只要能得到O光和E光之间的距离d。例如，当入射光L为红外光时，可以利用摄像机以及红外线的物理性质对O光和E光进行采集，从而得到这两束光通过液晶显示面板的液晶层出射时，O光和E光之间的距离d。或者，也可以通过CCD(Charge Coupled Device，电荷藕合器件图像传感器)相机对入射光L照射后发生双折射现象的液晶显示面板进行采集，由于O光和E光会影响采集图像的像素分布、亮度以及颜色等参数，因而将采集的图像转换为图像信号，再将图像信号转换成数字信号，并进行各种运算，便可以得到O光和E光之间的距离d。

本发明实施例通过对液晶显示面板的中间位置处的液晶层厚度进行检测，并拟合出中间位置处的液晶层厚度与液晶填充量之间的关系曲线，从而测定出显示器的液晶填充量。由于仅检测中间位置处的液晶层厚度，因而拟合出的关系曲线不受边缘位置的影响，从而使得测定出的显示器的液晶填充量的范围更加准确。

由于不同的液晶显示面板在实际应用中有不同的要求，当液晶显示面板的中间位置处的液晶填充量和边缘位置处的液晶填充量不同时，液晶显示面板的边缘容易出现发黄现象，因而为了避免出现发黄现象，进一步优选的，对待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，还包括：对第一待测液晶显示面板的边缘位置处的液晶层厚度进行检测。

其中，对第一待检测液晶显示面板的边缘位置处的液晶层厚度进行检测的方法不进行限定，例如可以和中间位置处的液晶层厚度的检测方法相同。在对第一待检测液晶显示面板的中间位置处的液晶层厚度进行检测的同时，对边缘位置处的液晶层厚度进行检测。

此处，需要说明的是，对第二待检测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测是为了确定第一待检测液晶显示面板在低温和高温的液晶填充量，因而无需对第二待检测液晶显示面板的边缘位置处的液晶层厚度进行检测，只需检测第一待检测液晶显示面板的边缘位置处的液晶层厚度即可。

本发明实施例在测定的液晶显示面板的液晶填充量的基础上，通过对边缘位置处的液晶层厚度进行检测，根据边缘位置处的液晶层厚度对应的液晶量，使最终选取的液晶显示面板的液晶填充量尽可能地接近边缘位置处的液晶层厚度对应的液晶量。这样不仅可以避免液晶显示面板出现低温bubble和高温重力Mura，且还能避免液晶显示面板的边缘位置处出现发黄现象。

示例的，若通过步骤S100～S102测定的液晶显示面板的液晶填充量为-1.5％～+1.5％，在低温下检测的第一待测液晶显示面板的边缘位置处的液晶层厚度为3.35μm，根据低温关系曲线，3.35μm对应的液晶填充量为-2％；在高温下检测的第一待测液晶显示面板的边缘位置处的液晶层厚度为3.43μm，根据高温关系曲线，3.43μm对应的液晶填充量为-2.8％，因而，最终液晶显示面板的液晶填充量应尽量低靠近-1.5％。

本发明实施例还提供一种显示器液晶填充量测定的装置，如图7所示，包括：控制单元80、检测单元90和处理单元100。其中，控制单元80包括液晶填充子单元801、温度控制子单元802。

液晶填充子单元801，用于控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量。温度控制子单元802，用于控制多个第一待测液晶显示面板的温度，其中，温度包括预设低温和预设高温。

检测单元90，用于在温度控制子单元802控制的预设低温和预设高温下，分别对多个第一待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测。

处理单元100，用于根据检测单元90检测到的液晶层厚度，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的低温关系曲线601和高温关系曲线602；并依据低温关系曲线601的下限拐点和高温关系曲线6002的上限拐点，得到显示器的液晶填充量范围。

需要说明的是，第一，对于液晶填充子单元801，以能精确控制填充第一待检测液晶显示面板的液晶为准。对于第一待检测液晶显示面板的数量，可以根据需要检测的液晶填充量范围内的液晶填充量的值的个数来确定。为了确保对液晶显示面板的液晶填充量的测定更加精准，因此选取的检测的液晶填充量的值应尽可能地多，即第一待检测液晶显示面板的数量应尽可能多。

在此基础上，为了使检测结果更为精确，针对同一液晶填充量，在低温和高温下，对不同的第一待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测。

第二，对于温度控制子单元802，以能对第一待检测液晶显示面板的温度进行控制为准。此处，温度控制子单元802可以通过对第一待检测液晶显示面板所处的环境温度进行控制，从而控制第一待检测液晶显示面板的温度。

对于预设低温和高温，可以根据第一待检测液晶显示面板在实际应用中所处的最低温度和最高温度进行设置。例如预设低温可以是-10℃、-20℃、-30℃；预设高温可以是50℃、60℃、70℃。不同种类的液晶显示面板在实际应用中可能有不同的最低温度和不同的最高温度。

第三，对于检测单元90，以能对第一待检测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测为准。

第四，由于高温时，液晶会膨胀，因而液晶层厚度相同时，高温下测得的高温关系曲线602的下限拐点对应的液晶填充量会比低温下测得的低温关系曲线601的下限拐点对应的液晶填充量少，因而会导致测量的液晶填充量的下限范围不准确，即，液晶显示面板的液晶填充量高于高温关系曲线602的下限拐点对应的液晶填充量，对于高温关系曲线来说是正常液晶量，但是对于低温关系曲线601来说，可能是液晶填充量不足，因而，本发明实施例中将低温关系曲线601的下限拐点作为液晶显示面板的液晶填充量的下限。

同理，在低温时，液晶会收缩，因而液晶层厚度相同时，低温下测得的低温关系曲线601的上限拐点对应的液晶填充量会比高温下测得的高温关系曲线602的上限拐点对应的液晶填充量多，因而会导致测量的液晶填充量的上限范围不准确，即，液晶显示面板的液晶填充量低于低温关系曲线601的上限拐点对应的液晶填充量，对于低温关系曲线601来说是正常液晶填充量，但是对于高温关系曲线601来说，可能是液晶填充量过多，因而，本发明实施例中将高温关系曲线601的上限拐点作为液晶显示面板的液晶填充量的上限。

基于上述，依据低温关系曲线601的下限拐点和高温关系曲线602的上限拐点，得到显示器的液晶填充量范围，在高温和低温下，液晶填充量均属于正常液晶量。

本发明实施例提供一种显示器液晶填充量测定的装置，利用液晶填充子单元801填充不同液晶量的多个第一待测液晶显示面板，通过温度控制子单元802控制多个第一待测液晶显示面板的温度为预设的低温或高温，并在预设的低温或高温下，通过检测单元90分别对多个第一待测液晶显示面板中液晶层厚度进行检测，处理单元100根据检测单元90检测的液晶层厚度，拟合出液晶层厚度与液晶量的低温关系曲线601和高温关系曲线602，并根据低温关系曲线601的下限拐点和高温关系曲线602的上限拐点，精确测定显示器的液晶填充量范围。在实际生产中，对于同一种液晶显示面板，当控制液晶填充量在上述得到的液晶填充量范围时，便能够避免液晶量过少出现的bubble现象及液晶量过多出现的重力Mura现象。由于该显示器液晶填充量测定的装置是在结合了理论计算与实际检测的基础上，获得低温关系曲线601和高温关系曲线602，并根据高低温关系曲线的拐点，得到液晶填充量范围，因而测定液晶填充量的过程更加精准。

优选的，液晶填充子单元801，还用于控制多个第二待测液晶显示面板的液晶填充量。温度控制子单元802，还用于控制多个第二待测液晶显示面板温度为预设常温。

检测单元90，还用于在温度控制子单元802控制的预设常温下，对多个第二待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测。

处理单元100，用于根据检测单元90检测到的液晶层厚度，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的常温关系曲线603。

针对多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，液晶填充子单元801具体用于根据常温关系曲线603，控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，分别与常温关系曲线的下限拐点和下限拐点两侧预设范围内的多个点、以及上限拐点和上限拐点两侧预设范围内的多个点一一对应。

需要说明的是，对于第二待检测液晶显示面板的数量不进行限定。由于本发明实施例中是通过检测单元90对第二待检测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，并通过处理单元100拟合出液晶层厚度与液晶填充量的常温关系曲线603，最后根据常温关系曲线603确定在低温下和高温下需要检测的第一待检测液晶显示面板的液晶填充量，为了能够精确得到低温关系曲线601和高温关系曲线602，因而第二待检测液晶显示面板的数量应尽可能地多。

此处，通过液晶填充子单元801可以精确控制填充第二待检测液晶显示面板的液晶量。

其中，对第二待检测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测的方法可以和检测第一待检测液晶显示面板的液晶层厚度的方法相同。

本发明实施例，通过检测单元90对多个第二待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，利用处理单元100拟合出液晶层厚度与液晶填充量的常温关系曲线603，并根据常温关系曲线603，得到在低温下需要测定的液晶填充量和在高温下需要测定的液晶填充量，这样便可以缩小在低温下或高温下需要测定的液晶填充量的范围，一方面，减少了第一待检测液晶显示面板的数量，节约成本，提高效率；另一方面，低温下选取的液晶填充量在低温关系曲线601下限拐点对应的液晶填充量的附近；高温下选取的液晶填充量在高温关系曲线602上限拐点对应的液晶填充量的附近，因而拟合的低温关系曲线601a和高温关系曲线602a更加精确，从而使得测定的显示器液晶填充量更加精确。

进一步优选的，液晶填充子单元801，具体用于控制多个第一待测液晶显示母板，使每个第一待测液晶显示母板中的所有第一待测液晶显示面板的液晶填充量相同，并控制位于不同第一待测液晶显示母板中的第一待测液晶显示面板的液晶填充量不同。

控制一个第二待测液晶显示母板中每个第二待测液晶显示面板的液晶填充量不同

其中，对于一个第一待检测液晶显示母板中包括的第一待检测液晶显示面板的数量，应根据第一待检测液晶显示母板的大小和第一待检测液晶显示面板的大小合理进行设置。同理，对于一个第二待检测液晶显示母板中包括的第二待检测液晶显示面板的数量，应根据第二待检测液晶显示母板的大小和第二待检测液晶显示面板的大小合理进行设置

需要说明的是，一个第一待检测液晶显示母板中包括多个第一待检测液晶显示面板，液晶填充子单元801在对第一待检测液晶显示母板上的多个第一待检测液晶显示面板进行液晶填充时，由于工艺原因，第一待检测液晶显示母板上不同位置的第一待检测液晶显示面板可能会由于位置的差异使得第一待检测液晶显示母板中的多个第一待检测液晶显示面板的液晶填充量存在细微差异，因此，本发明实施例对每个第一液晶显示母板中的所有液晶显示面板的液晶层厚度均进行检测。

而对于第二待检测液晶显示面板，由于本发明实施例是根据常温关系曲线603，估算出低温下和高温下需要测定的第一待检测液晶显示面板的液晶填充量，因此，可以无需对第二待检测液晶显示母板进行切割，只需要使第二待检测液晶显示母板中的第二待测液晶显示面板的液晶填充量不同，便可以估算出第一待检测液晶显示面板的液晶填充量。

本发明实施例，通过对多个不同液晶填充量的第一待检测液晶显示母板中的所有第一待检测液晶显示面板进行测定，由于一个第一待检测液晶显示母板包括多个第一待检测液晶显示面板，因而相当于对同一种液晶填充量的液晶面板进行了多次测定，不仅进行多次测定可以使得结果更加准确，而且克服了位于同一个第一待检测显示母板中的第一待检测液晶显示面板由于位置的差异而导致填充量不同的缺陷，使得测定结果适用于第一待检测显示母板中的任意位置的一个液晶显示面板。进一步地，对第一待检测液晶显示母板和第二待检测液晶显示母板直接进行液晶填充量的测定，避免了对液晶显示母板进行切割，节省了人力、物力，缩短了显示器液晶填充量测定的周期。

优选的，如图8所示，检测单元90包括发光子单元901、采集子单元902和计算子单元903。

针对每个待测液晶显示面板(包括第一待测液晶显示面板和第二待测液晶显示面板)，发光子单元901用于将一束光以相对液晶光轴的预定夹角θ射向液晶显示面板的中间位置。

采集子单元902用于采集从待测液晶显示面板的中间位置处的液晶层出射的O光与E光之间的距离d。

计算子单元903用于根据采集子单元902采集的距离d，以及发光子单元901发出的光射向待测液晶显示面板的预定夹角θ，利用公式：计算得到液晶层的厚度T。其中，n_o为O光在液晶层中的折射率；n_e为E光在液晶层中的折射率。

由于待测液晶显示面板的边缘位置处通过胶框30支撑，中间位置处通过隔垫物50支撑，而胶框30和隔垫物50在制作过程中，由于工艺原因，胶框30和隔垫物50的高度可能存在差异，这就使得液晶显示面板边缘位置处的液晶层厚度和中间位置处的液晶层厚度不一样。考虑到液晶显示面板通常利用中间位置进行显示，而为了避免在拟合液晶层厚度与液晶填充量关系曲线时，检测到边缘位置处的液晶层厚度对中间位置的液晶层厚度的影响，从而影响拟合到的液晶层厚度与液晶填充量关系曲线，因而，本发明实施例优选的，利用发光子单元901发出的光以相对液晶光轴的预定夹角θ射向液晶显示面板的中间位置。

需要说明的是，第一，对于发光子单元901，以能发出与液晶光轴有预定夹角θ的光即可。此处，发光子单元901可以发出红外光。

第二，对于采集子单元902，只要能采集从液晶显示面板的中间位置处的液晶层出射的O光与E光之间的距离d即可。

示例的，采集子单元902可以是摄像机，当发光子单元901发出红外光时，利用摄像机以及红外线的物理性质对O光和E光进行采集，从而得到这两束光通过液晶显示面板的液晶层出射时，O光和E光之间的距离d。当然也可以通过CCD相机对入射光L照射后发生双折射现象的液晶显示面板进行采集，由于O光和E光会影响采集图像的像素分布、亮度以及颜色等参数，因而将采集的图像转换为图像信号，再将图像信号转换成数字信号，并进行各种运算，便可以得到O光和E光之间的距离d。

本发明实施例中，由于检测单元90中的发光子单元901仅射向液晶显示面板的中间位置，采集子单元902只采集中间位置处的液晶层出射的O光与E光之间的距离d，计算子单元100根据中间位置处的液晶层出射的O光与E光之间的距离d计算出液晶层的厚度T，因而处理单元100拟合出的关系曲线不受边缘位置的影响，从而使得测定出的显示器的液晶填充量的范围更加准确。

由于不同的液晶显示面板在实际应用中有不同的要求，当液晶显示面板的中间位置处的液晶填充量和边缘位置处的液晶填充量不同时，液晶显示面板的边缘容易出现发黄现象，因而为了避免发黄的现象，进一步优选的，检测单元90还用于对第一待测液晶显示面板的边缘位置处的液晶层厚度进行检测。

其中，检测单元90在对第一待检测液晶显示面板的中间位置处的液晶层厚度进行检测的同时，可以对边缘位置处的液晶层厚度进行检测。

本发明实施例，在测定的液晶显示面板的液晶填充量的基础上，通过检测单元90对边缘位置处的液晶层厚度进行检测，根据边缘位置处的液晶层厚度对应的液晶量，使最终选取的液晶显示面板的液晶填充量尽可能地接近边缘位置处的液晶层厚度对应的液晶量。这样不仅可以避免液晶显示面板出现低温bubble和高温重力Mura，且还能避免液晶显示面板的边缘位置处出现发黄现象。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.一种显示器液晶填充量测定的方法，其特征在于，包括：

控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量；

对所述多个第一待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的低温关系曲线和高温关系曲线；

依据所述低温关系曲线的下限拐点和所述高温关系曲线的上限拐点，得到所述显示器的液晶填充量范围；

对待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，包括：对待测液晶显示面板的中间位置处的液晶层厚度进行检测；

对待测液晶显示面板的中间位置处的液晶层厚度进行检测，包括：

针对每个待测液晶显示面板，将一束光以相对液晶光轴的预定角度θ射向待测液晶显示面板的中间位置，得到从待测液晶显示面板的液晶层出射的O光和E光之间的距离d；

根据所述预定角度θ及所述距离d，利用公式：计算得到所述液晶层的厚度T；

其中，n_o为所述O光在液晶层中的折射率；n_e为所述E光在液晶层中的折射率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：控制多个第二待测液晶显示面板的液晶填充量；

对所述多个第二待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的常温关系曲线；

控制所述多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，包括：根据所述常温关系曲线，控制所述多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，分别与所述常温关系曲线的下限拐点和所述下限拐点两侧预设范围内的多个点、以及上限拐点和所述上限拐点两侧预设范围内的多个点一一对应。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，包括：

选取多个第一待测液晶显示母板，控制每个所述第一待测液晶显示母板中所有第一待测液晶显示面板的液晶填充量相同，并控制位于不同所述第一待测液晶显示母板中的所述第一待测液晶显示面板的液晶填充量不同；

控制多个第二待测液晶显示面板的液晶填充量，包括：

选取一个第二待测液晶显示母板，控制其中每个所述第二待测液晶显示面板的液晶填充量不同。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：对第一待测液晶显示面板的边缘位置处的液晶层厚度进行检测。

5.一种显示器液晶填充量测定的装置，其特征在于，包括：控制单元、检测单元和处理单元；其中，所述控制单元包括液晶填充子单元、温度控制子单元；

所述液晶填充子单元，用于控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量；

所述温度控制子单元，用于控制所述多个第一待测液晶显示面板的温度，所述温度包括预设低温和预设高温；

所述检测单元，用于在温度控制子单元控制的所述预设低温和所述预设高温下，分别对所述多个第一待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测；

处理单元，用于根据所述检测单元检测到的液晶层厚度，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的低温关系曲线和高温关系曲线；并依据所述低温关系曲线的下限拐点和所述高温关系曲线的上限拐点，得到所述显示器的液晶填充量范围；

所述检测单元包括发光子单元、采集子单元和计算子单元；

针对每个待测液晶显示面板，所述发光子单元用于将一束光以相对液晶光轴的预定夹角θ射向所述液晶显示面板的中间位置；

所述采集子单元用于采集从所述待测液晶显示面板的中间位置处的液晶层出射的O光与E光之间的距离d；

所述计算子单元用于根据所述采集子单元采集的距离d，以及所述发光子单元发出的光射向所述待测液晶显示面板的预定夹角θ，利用公式：计算得到所述液晶层的厚度T；

其中，n_o为O光在液晶层中的折射率；n_e为E光在液晶层中的折射率。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述液晶填充子单元，还用于控制多个第二待测液晶显示面板的液晶填充量；

所述温度控制子单元，还用于控制所述多个第二待测液晶显示面板温度为预设常温；

所述检测单元，还用于在温度控制子单元控制的所述预设常温下，对所述多个第二待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测；

所述处理单元，用于根据所述检测单元检测到的液晶层厚度，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的常温关系曲线；

针对所述多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，所述液晶填充子单元具体用于根据所述常温关系曲线，控制所述多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量，分别与所述常温关系曲线的下限拐点和所述下限拐点两侧预设范围内的多个点、以及上限拐点和所述上限拐点两侧预设范围内的多个点一一对应。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述液晶填充子单元，具体用于控制多个第一待测液晶显示母板，使每个第一待测液晶显示母板中的所有所述第一待测液晶显示面板的液晶填充量相同，并控制位于不同所述第一待测液晶显示母板中的所述第一待测液晶显示面板的液晶填充量不同；

控制一个第二待测液晶显示母板中每个所述第二待测液晶显示面板的液晶填充量不同。

8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述检测单元还用于对第一待测液晶显示面板的边缘位置处的液晶层厚度进行检测。