CN105655317A - 一种双框架封装结构及制造方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种双框架封装结构及制造方法,通过将不同功能的芯片连接至不同的引线框架上,然后将多个引线框架堆叠放置后塑封在同一个封装体中,可以使得整个芯片的功能满足多样化需求,并且芯片封装体的工艺简单、体积小巧。
Description
技术领域
本发明设计芯片封装领域,更具体的说,涉及一种双框架封装结构及制造方法。
背景技术
随着电子产品发展的多功能化和小型化,在制造芯片过程中,经常需要将包括多个不同功能的芯片放置在同一个封装体中,现有的封装方案是将不同功能的芯片均放置在同一块引线框架上,然后对引线框架进行绝缘塑封,以形成一块完整的封装结构,这种封装方法的不足之处在于在制作具有多个不同功能的芯片的过程中,需要考虑到不同器件的连接和布线,因此,这无疑会增加工艺流程,从而增加成本。
发明内容
有鉴于此,本发明提出了一种双框架封装结构及制造方法,通过将不同功能的芯片放置在不同的引线框架上,然后将多个引线框架叠加放置后塑封在同一个封装体中,可以使得芯片的功能满足多样化需求,并且芯片封装体的工艺简单、体积小巧。
依据本发明的一种双框架封装结构,包括第一引线框架和第二引线框架,
第一芯片的有源区接触面与所述第一引线框架电气连接,所述第一引线框架具有多个指状引脚;
第二芯片的有源区接触面与所述第二引线框架电气连接,所述第一引线框架具有多个指状引脚;
所述第一芯片和所述第二芯片叠加放置;
具有绝缘性能的塑封材料包覆所述第一芯片、第一引线框架的部分、第二芯片、第二引线框架的部分,并填充芯片和引线框架之间的空隙,以形成一个规则形状的封装体;
所述第一引线框架和第二引线框架的指状引脚的至少一部分裸露于所述封装体之外,以提供封装体与外部电路的电气连接。
进一步的,所述第一芯片和第一引线框架构成第一框架层,所述第二芯片和第二引线框架构成第二框架成,所述第一框架层和所述第二框架层叠加放置。
优选的,所述第一芯片通过焊料与所述第一引线框架直接电气连接或者是通过键合线与所述第一引线框架形成电气连接,
以及所述第二芯片通过焊料与所述第二引线框架直接电气连接或者是通过键合线与所述第二引线框架形成电气连接。
优选的,所述封装结构还包括至少一个承载盘,
当所述第一芯片通过键合线与所述第一引线框架电气连接时,所述第一芯片与有源区表面相对的另一面通过粘贴层连接至所述承载盘;
或者是当所述第二芯片通过键合线与所述第二引线框架电气连接时,所述第二芯片与有源区表面相对的另一面通过粘贴层连接至所述承载盘。
依据本发明的一种制造双框架封装结构的制造方法,包括以下步骤:
将第一芯片的有源区接触面与具有多个指状引脚的第一引线框架电气连接;
将第二芯片的有源区接触面与具有多个指状引脚的第二引线框架电气连接;
所述第一芯片和第一引线框架构成的第一框架层和所述第二芯片和第二引线框架构成的第二框架层叠加放置;
将所述第一结构层和第二结构层放置于固定形状的模具中,然后将加热至熔融状态的塑封材料注入到所述模具中,所述塑封材料包覆所述第一芯片、第一引线框架的部分、第二芯片、第二引线框架的部分,并填充芯片和引线框架之间的空隙,冷却后形成一个封装体;
所述第一引线框架和第二引线框架的指状引脚的至少一部分裸露于所述封装体之外,以提供封装体与外部电路的电气连接。
优选的,所述第一芯片通过焊料与所述第一引线框架直接电气连接或者是通过键合线与所述第一引线框架形成电气连接;
以及所述第二芯片通过焊料与所述第二引线框架直接电气连接或者是通过键合线与所述第二引线框架形成电气连接。
优选的,当所述第一芯片通过键合线与所述第一引线框架电气连接时,所述第一芯片与有源区表面相对的另一面通过粘贴层连接至承载盘;
或者是当所述第二芯片通过键合线与所述第二引线框架电气连接时,所述第二芯片与有源区表面相对的另一面通过粘贴层连接至承载盘。
根据上述的双框架封装结构及制造方法,通过将不同功能的芯片连接至不同的引线框架上,然后将多个引线框架叠加放置后塑封在同一个封装体中,可以使得整个芯片的功能满足多样化需求,并且芯片封装体的工艺简单、体积小巧。
附图说明
图1所示为依据本发明的双框架封装结构的剖面图;
图2所示为依据本发明的双框架封装结构的立体示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的几个优选实施例进行详细描述,但本发明并不仅仅限于这些实施例。本发明涵盖任何在本发明的精髓和范围上做的替代、修改、等效方法以及方案。为了使公众对本发明有彻底的了解,在以下本发明优选实施例中详细说明了具体的细节,而对本领域技术人员来说没有这些细节的描述也可以完全理解本发明。
参考图1所示为本发明的双框架封装结构的剖面图以及图2所示的立体图,所述双框架封装结构包括第一引线框架16和第二引线框架15,第一芯片1的有源区接触面通过焊料14与所述第一引线框架16电气连接,所述第一引线框架16具有多个指状引脚,如指状引脚16-1和指状引脚16-2;第二芯片2的有源区接触面通过键合线13与所述第二引线框架15电气连接,所述第一引线框架15具有多个指状引脚,如指状引脚15-1和指状引脚15-2。本领域技术人员可知,第一芯片1也可以通过键合线与第一引线框架连接,第二芯片2也可以通过焊料与第二引线框架连接,用户可根据体积以及成本要求选择合适的连接方式。
在本实施例中,所述封装结构还包括至少一个承载盘,如承载盘12,所述第二芯片与有源区表面相对的另一面通过粘贴层11连接至所述承载盘12,所述粘贴层为绝缘胶11等合适的材料。所述承载盘12与所述指状引脚15可以选择连接或不连接。可以推知,当第一芯片1通过键合线与所述第一引线框架电气连接时,第一芯片1与有源区表面相对的另一面通过粘贴层连接至承载盘。这里需要指出的是,当两个芯片均需承载盘时,两个芯片应放置在不同的承载盘中。
这里,所述第一芯片1和所述第二芯片2叠加放置,更进一步的,所述第一芯片1和第一引线框架16构成的第一框架层和所述第二芯片2和第二引线框架15构成的第二框架层叠加放置,这里所述的叠加放置指的是垂直方向的叠加。如图1或图2中所示,第一框架层包括第一引线框架、焊料和芯片1,第二框架层包括第二引线框架、键合线和芯片2,当有承载盘时,第二框架层还包括粘贴层和承载盘。从图1中可以看出,第一框架层和第二框架层为两个独立的框体结构,通过将两者堆叠放置,可以减小整个体系的体积。
之后,将具有绝缘性能的塑封材料(例如环氧树脂)包覆所述第一芯片1、第一引线框架16的部分、第二芯片2、第二引线框架15的部分,并填充芯片和引线框架之间的空隙,以形成一个规则形状的封装体,这里以六边形为示例,但不限于此,并且,所述第一引线框架和第二引线框架的指状引脚的至少一部分裸露于所述封装体之外,以提供封装体与外部电路的电气连接,优选地,所述第一引线框架和第二引线框架指状引脚的裸露部分分布在同一水平面上。
通过上述的双框架的放置和封装方式,通过将不同功能的芯片放置在不同的引线框架上,使得芯片和引线框架的连接和布线能够简易操作,工艺流程简单,而当芯片厚度不高的情况下,堆叠放置后再封装成一体可大大减小封装体的体积。本发明的双框架封装结构性能好、成本低。
根据本发明的思路启发,在需要集成多个不同功能的芯片时,技术人员可根据需要和芯片的厚度调整引线框架的数量,例如三个引线框架或更多,然后通过堆叠放置以获得性能好、体积小、成本低的封装体。
最后,本发明还公开了一种制造上述双框架封装结构的制造方法,包括以下步骤:
将第一芯片的有源区接触面与具有多个指状引脚的第一引线框架电气连接;
将第二芯片的有源区接触面与具有多个指状引脚的第二引线框架电气连接;
所述第一芯片和第一引线框架构成的第一框架层和所述第二芯片和第二引线框架构成的第二框架层叠加放置;
将所述第一框架层和第二框架层放置于固定形状的模具中,然后将加热至熔融状态的塑封材料注入到所述模具中,所述塑封材料包覆所述第一芯片、第一引线框架的部分、第二芯片、第二引线框架的部分,并填充芯片和引线框架之间的空隙,冷却后形成一个规则形状的封装体;
所述第一引线框架和第二引线框架的指状引脚的至少一部分裸露于所述封装体之外,以提供封装体与外部电路的电气连接,这里可通过研磨来去除塑封体的材料,以露出指状引脚。
优选地,所述第一引线框架和第二引线框架指状引脚的裸露部分分布在同一水平面上,这样可使得整个封装体能够和外部电路顺利电气连接。
以上对依据本发明的优选实施例的双框架封装结构及制造方法进行了详尽描述,本领域普通技术人员据此可以推知其他技术或者结构以及电路布局、元件等均可应用于所述实施例。
依照本发明的实施例如上文所述,这些实施例并没有详尽叙述所有的细节,也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然,根据以上描述,可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例,是为了更好地解释本发明的原理和实际应用,从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。
Claims (7)
1.一种双框架封装结构,其特征在于,包括第一引线框架和第二引线框架,
第一芯片的有源区接触面与所述第一引线框架电气连接,所述第一引线框架具有多个指状引脚;
第二芯片的有源区接触面与所述第二引线框架电气连接,所述第一引线框架具有多个指状引脚;
所述第一芯片和所述第二芯片叠加放置;
具有绝缘性能的塑封材料包覆所述第一芯片、第一引线框架的部分、第二芯片、第二引线框架的部分,并填充芯片和引线框架之间的空隙,以形成一个封装体;
所述第一引线框架和第二引线框架的指状引脚的至少一部分裸露于所述封装体之外,以提供封装体与外部电路的电气连接。
2.根据权利要求1所述的双框架封装结构,其特征在于,所述第一芯片和第一引线框架构成第一框架层,所述第二芯片和第二引线框架构成第二框架层,所述第一框架层和所述第二框架层叠加放置。
3.根据权利要求1所述的双框架封装结构,其特征在于,所述第一芯片通过焊料与所述第一引线框架直接电气连接或者是通过键合线与所述第一引线框架形成电气连接,
以及所述第二芯片通过焊料与所述第二引线框架直接电气连接或者是通过键合线与所述第二引线框架形成电气连接。
4.根据权利要求3所述的双框架封装结构,其特征在于,所述封装结构还包括至少一个承载盘,
当所述第一芯片通过键合线与所述第一引线框架电气连接时,所述第一芯片与有源区表面相对的另一面通过粘贴层连接至所述承载盘;
或者是当所述第二芯片通过键合线与所述第二引线框架电气连接时,所述第二芯片与有源区表面相对的另一面通过粘贴层连接至所述承载盘。
5.一种制造如权利要求1所述的双框架封装结构的制造方法,其特征在于包括以下步骤:
将第一芯片的有源区接触面与具有多个指状引脚的第一引线框架电气连接;
将第二芯片的有源区接触面与具有多个指状引脚的第二引线框架电气连接;
所述第一芯片和第一引线框架构成的第一结构层和所述第二芯片和第二引线框架构成的第二结构层叠加放置;
将所述第一结构层和第二结构层放置于固定形状的模具中,然后将加热至熔融状态的塑封材料注入到所述模具中,所述塑封材料包覆所述第一芯片、第一引线框架的部分、第二芯片、第二引线框架的部分,并填充芯片和引线框架之间的空隙,冷却后形成一个规则形状的封装体;
所述第一引线框架和第二引线框架的指状引脚的至少一部分裸露于所述封装体之外,以提供封装体与外部电路的电气连接。
6.根据权利要求5所述的双框架封装结构的制造方法,其特征在于,所述第一芯片通过焊料与所述第一引线框架直接电气连接或者是通过键合线与所述第一引线框架形成电气连接;
以及所述第二芯片通过焊料与所述第二引线框架直接电气连接或者是通过键合线与所述第二引线框架形成电气连接。
7.根据权利要求5所述的双框架封装结构的制造方法,,其特征在于,当所述第一芯片通过键合线与所述第一引线框架电气连接时,所述第一芯片与有源区表面相对的另一面通过粘贴层连接至承载盘;
或者是当所述第二芯片通过键合线与所述第二引线框架电气连接时,所述第二芯片与有源区表面相对的另一面通过粘贴层连接至承载盘。
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PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
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TA01 | Transfer of patent application right | ||
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RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
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Application publication date: 20160608 |