CN105632568B - 一种矩阵列式存储盘半自动检测设备及其检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种矩阵列式存储盘半自动检测设备及其检测方法，检测设备包括：置于架体上层的托盘组件、导轨组件、检测装置；升降装置向上推送，将托盘组件上的托盘本体向上托起，使托盘上的、已经排布好的存储盘半成品的金属接触部与检测装置下部的检测金属触头接触，经检测单元检测存储盘半成品，显示器上的矩阵列式显示模块通过亮绿灯或红灯判断存储盘半成品为良品或不良品。本发明将存储盘检测设备设计成矩阵列式检测，每次可以检测数十个存储盘，极大的提交了检测效率，显示器上的显示模块与托盘上的排布一致，通过绿灯、红灯快速判断托盘上的存储盘为良品或不良品，进而快速将不良品挑出，达到快速检测的目的。

Description

一种矩阵列式存储盘半自动检测设备及其检测方法

技术领域

本发明涉及加工设备领域，具体的说是涉及一种矩阵列式存储盘半自动检测设备及其检测方法。

背景技术

随着经济社会的竞争越来越激烈，客户对产品的要求也越来越高，对使用产品的品质有了进一步的要求，为了增加自己在社会中的生存和竞争能力，各生产厂商想方设法来寻找装置提升自己产品的品质，而对于很多进出口流量大的生产厂商更是如此，只有提升了自己产品的品质，才能在以后的发展中拥有更强劲的竞争力。

传统的存储盘检测是逐一检测的方式，将存储盘放入检测装置内，检测后挑出不良品，这种方式检测效率低下，耗时耗力，而且检测效果较差，传统的检测方式需要改进。

发明内容

针对现有技术中的不足，本发明要解决的技术问题在于提供了一种矩阵列式存储盘半自动检测设备及其检测方法。

为解决上述技术问题，本发明通过以下方案来实现：一种矩阵列式存储盘半自动检测设备，该检测设备包括一架体，该架体分上下两层。

检测设备还包括：置于架体上层的托盘组件、导轨组件、检测装置；

所述托盘组件包括托盘本体，在托盘本体上设置有矩阵列式、置放存储盘的凸块，所述托盘组件下部设置有导轨滑动条，通过导轨滑动条托盘组件在导轨组件上前后运动；

所述检测装置置于托盘组件正上方，在检测装置的下部设置有与凸块同样排列方式的矩阵列式检测金属触头；

所述导轨组件固定在一平板上，在该平板的中部，设置有升降孔，升降孔内套有升降装置；

所述升降装置置于架体下层，其伸降轴连接在一方形块上，方形块下端面中部设置有连接孔，连接孔螺纹连接有轴，轴的另一端连接在气缸上；

所述架体下层还设置有显示器腔室，显示器腔室设置有显示器，显示器通过电路连接检测装置，所述显示器上设置有与凸块同样排布的矩阵列式显示模块；

升降装置向上推送，将托盘组件上的托盘本体向上托起，使托盘上的、已经排布好的存储盘半成品的金属接触部与检测装置下部的检测金属触头接触，经检测单元检测存储盘半成品，显示器上的矩阵列式显示模块通过亮绿灯或红灯判断存储盘半成品为良品或不良品。

进一步的，所述凸块呈圆角方形状。

进一步的，所述托盘组件外侧设置有两个边耳，两个边耳上设置有手柄连接孔，手柄连接孔固定有手柄。

进一步的，所述检测金属触头为柱状式金属触头，其排列方式与存储盘半成品的金属触头相同。

进一步的，所述检测装置前部设置有挡板，该挡板内侧面设置有检测单元。

进一步的，所述升降装置包括四根升降轴，四个升降轴固定在方形块上，四个升降轴使托盘本体平稳上升或下降。

进一步的，所述显示器腔室上方的框架内嵌有透明玻璃。

一种矩阵列式存储盘半自动检测设备的检测方法，该检测方法包括以下步骤：

1）、存储盘半成品排布在托盘本体上，存储盘半成品事先通过模板排布好，然后将模板倒向扣在凸块上，拿开模板，存储盘半成品就固定在凸块上；

2）、在架体的框架内的透明玻璃两侧边，设置有启动按键及停止按键，按下启动按键，气缸推动四个升降轴向上运动，四个升降轴将托盘本体顶起，使托盘本体内的存储盘半成品与检测金属触头接触；

3）、检测装置上的检测单元进行检测，并将检测信号传送给显示器，显示器上的矩阵列式显示模块显示绿灯或红灯：

显示绿灯表示该存储盘半成品为良品；

显示红灯表示该存储盘半成品为不良品；

4）、按下停止按键，气缸泄气，四个升降轴向下运动，托盘本体随之下降，显示器上的显示模块仍然显示检测结果，将显示模块显示红灯表示不良的存储盘半成品挑出隔离，剩下的良品取出进入下一道工序。

相对于现有技术，本发明的有益效果是：本发明将存储盘检测设备设计成矩阵列式检测，每次可以检测数十个存储盘，极大的提交了检测效率，显示器上的显示模块与托盘上的排布一致，通过绿灯、红灯快速判断托盘上的存储盘为良品或不良品，进而快速将不良品挑出，达到快速检测的目的。

附图说明

图1为本发明检测装置结构示意图。

图2为本发明检测装置正面示意图。

图3为图1中的A部放大图。

图4为本发明托盘装置上方的矩阵列式检测金属触头示意图。

图5为本发明托盘组件示意图。

图6为本发明导轨组件结构示意图。

图7为本发明平板结构示意图。

附图中标记：架体1、升降装置2、托盘组件3、检测单元4、挡板5、显示器腔室6、平面板7、检测金属触头8、导轨组件9、平板10、手柄31、凸块32、手柄连接孔33、导轨槽91、侧挡块92、上挡块93、升降孔101、腰圆孔102。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的优选实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。

请参照附图1~7，本发明的一种矩阵列式存储盘半自动检测设备，该检测设备包括一架体1，该架体1分上下两层。检测设备还包括：置于架体上层的托盘组件3、导轨组件9、检测装置；所述托盘组件3包括托盘本体，在托盘本体上设置有矩阵列式、置放存储盘的凸块32，所述托盘组件3下部设置有导轨滑动条，通过导轨滑动条托盘组件3在导轨组件9上前后运动；所述检测装置置于托盘组件3正上方，在检测装置的下部设置有与凸块32同样排列方式的矩阵列式检测金属触头8；所述导轨组件9固定在一平板10上，在该平板10的中部，设置有升降孔101，升降孔101内套有升降装置2；所述升降装置2置于架体下层，其伸降轴连接在一方形块上，方形块下端面中部设置有连接孔，连接孔螺纹连接有轴，轴的另一端连接在气缸上；所述架体下层还设置有显示器腔室6，显示器腔室6设置有显示器，显示器通过电路连接检测装置，所述显示器上设置有与凸块32同样排布的矩阵列式显示模块；升降装置2向上推送，将托盘组件3上的托盘本体向上托起，使托盘上的、已经排布好的存储盘半成品的金属接触部与检测装置下部的检测金属触头8接触，经检测单元检测存储盘半成品，显示器上的矩阵列式显示模块通过亮绿灯或红灯判断存储盘半成品为良品或不良品。如果是绿灯显示，表示该绿灯对应的存储盘半成品为良品，可以进入下一道工序进行封装，如果是红灯，表示该红灯对应的存储盘半成品为不良品，手动挑出后隔离。凸块32呈圆角方形状，圆角方形块凸起，使存储盘半成品更好放置，避免碰伤。

如图3所示，托盘组件3外侧设置有两个边耳，两个边耳上设置有手柄连接孔33，手柄连接孔33固定有手柄31，手柄31设计成圆形拉手。所述检测金属触头8为柱状式金属触头，其排列方式与存储盘半成品的金属触头相同。所述检测装置前部设置有挡板5，该挡板内侧面设置有检测单元4，挡板5下端面固定在一块平面板7上。

如图7所示，所述升降装置2包括四根升降轴，四个升降轴固定在方形块上，四个升降轴使托盘本体平稳上升或下降。平板10周边设置有腰圆孔102，通过螺栓将平板10固定。

显示器腔室6上方的框架内嵌有透明玻璃，透明玻璃能够清晰的看清楚显示器上的显示模块显示结果，显示器水平放置，与托盘本体平行，可以快速的、准确的判断出不良品的位置，进而可以快速的挑出不良品。

如图6所示，图6为本发明导轨组件结构示意图，导轨组件9包括导板，导板上设置有两条导轨槽91，在导板的两边边缘及上边边缘，分别固定有侧挡块92和上挡块93，各挡块将托盘组件位置固定，使托盘组件上的存储盘半成品的接触部能够与检测金属触头8接触。

本发明的矩阵列式存储盘半自动检测设备的检测方法包括以下步骤：

1、存储盘半成品排布在托盘本体上，存储盘半成品事先通过模板排布好，然后将模板倒向扣在凸块32上，拿开模板，存储盘半成品就固定在凸块32上；

2、在架体1的框架内的透明玻璃两侧边，设置有启动按键及停止按键，按下启动按键，气缸推动四个升降轴向上运动，四个升降轴将托盘本体顶起，使托盘本体内的存储盘半成品与检测金属触头8接触；

3、检测装置上的检测单元进行检测，并将检测信号传送给显示器，显示器上的矩阵列式显示模块显示绿灯或红灯：

显示绿灯表示该存储盘半成品为良品；

显示红灯表示该存储盘半成品为不良品；

4、按下停止按键，气缸泄气，四个升降轴向下运动，托盘本体随之下降，显示器上的显示模块仍然显示检测结果，将显示模块显示红灯表示不良的存储盘半成品挑出隔离，剩下的良品取出进入下一道工序。

以上所述仅为本发明的优选实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (2)

1.一种矩阵列式存储盘半自动检测设备，该检测设备包括一架体（1），该架体（1）分上下两层，其特征在于：

检测设备还包括：置于架体上层的托盘组件（3）、导轨组件（9）、检测装置；

所述托盘组件（3）包括托盘本体，在托盘本体上设置有矩阵列式、置放存储盘的凸块（32），所述托盘组件（3）下部设置有导轨滑动条，通过导轨滑动条托盘组件（3）在导轨组件（9）上前后运动；

所述检测装置置于托盘组件（3）正上方，在检测装置的下部设置有与凸块（32）同样排列方式的矩阵列式检测金属触头（8）；

所述导轨组件（9）固定在一平板（10）上，在该平板（10）的中部，设置有升降孔（101），升降孔（101）内套有升降装置（2）；

所述升降装置（2）置于架体下层，其伸降轴连接在一方形块上，方形块下端面中部设置有连接孔，连接孔螺纹连接有轴，轴的另一端连接在气缸上；

所述架体下层还设置有显示器腔室（6），显示器腔室（6）设置有显示器，显示器通过电路连接检测装置，所述显示器上设置有与凸块（32）同样排布的矩阵列式显示模块；

升降装置（2）向上推送，将托盘组件（3）上的托盘本体向上托起，使托盘上的、已经排布好的存储盘半成品的金属接触部与检测装置下部的检测金属触头（8）接触，经检测单元检测存储盘半成品，显示器上的矩阵列式显示模块通过亮绿灯或红灯判断存储盘半成品为良品或不良品；

所述凸块（32）呈圆角方形状；

所述托盘组件（3）外侧设置有两个边耳，两个边耳上设置有手柄连接孔（33），手柄连接孔（33）固定有手柄（31）；

所述检测金属触头（8）为柱状式金属触头，其排列方式与存储盘半成品的金属触头相同；

所述检测装置前部设置有挡板，该挡板内侧面设置有检测单元（4）；

所述升降装置（2）包括四根升降轴，四个升降轴固定在方形块上，四个升降轴使托盘本体平稳上升或下降；

所述显示器腔室（6）上方的框架内嵌有透明玻璃。

2.一种以权利要求1所述的矩阵列式存储盘半自动检测设备的检测方法，其特征在于，该检测方法包括以下步骤：

1）、存储盘半成品排布在托盘本体上，存储盘半成品事先通过模板排布好，然后将模板倒向扣在凸块（32）上，拿开模板，存储盘半成品就固定在凸块（32）上；

2）、在架体（1）的框架内的透明玻璃两侧边，设置有启动按键及停止按键，按下启动按键，气缸推动四个升降轴向上运动，四个升降轴将托盘本体顶起，使托盘本体内的存储盘半成品与检测金属触头（8）接触；

3）、检测装置上的检测单元进行检测，并将检测信号传送给显示器，显示器上的矩阵列式显示模块显示绿灯或红灯：

显示绿灯表示该存储盘半成品为良品；

显示红灯表示该存储盘半成品为不良品；

4）、按下停止按键，气缸泄气，四个升降轴向下运动，托盘本体随之下降，显示器上的显示模块仍然显示检测结果，将显示模块显示红灯表示不良的存储盘半成品挑出隔离，剩下的良品取出进入下一道工序。