CN105618387A - 一种微棒材的检测方法及其系统 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例公开了一种微棒材的检测方法及其系统，其中，该方法包括：上料系统将待检测的微棒材运送到跳动前搬运系统；跳动前搬运系统将微棒材运送到跳动检测系统；跳动检测系统对微棒材进行跳动检测，获得跳动检测结果；柱面检测系统将跳动分类后的微棒材进行柱面检测，获得柱面检测结果；不良品分选系统根据跳动检测结果、柱面检测结果对检测后的微棒材进行分类统计。实施本发明实施例，可以提高检测结果的精度及重复可靠性；另外可以提高检测效率，并能对不同种类不合格样品进行分类统计；可以解决现有技术中采用人工检测时存在误检率高、良品率低、检测可靠性低等问题，也能够解决现有技术不能够对微棒材进行表面缺陷检测的问题。

Description

一种微棒材的检测方法及其系统
技术领域
本发明涉及检测技术领域，尤其涉及一种微棒材的检测方法及其系统。
背景技术
微型棒材，简称微棒材，其直径只有10mm以下，微棒材由钨钢粉压制而成，是制作印制电路板(PrintedCircuitBoard，PCB)钻头、铣刀等刀具的原材料。微棒材的质量决定了后端产品的成品率。
国内现有企业现阶段对微棒材检测方法是人工手检，为此该检测岗位配备了大量的检测人员，完全依靠检测人员的熟练程度和准确性来保证检测效率与合格产品最终出厂的准确度，但人工检测效率较低同时不可避免有错检、漏检及误检现象，使得经常出现待检测品积压和合格产品中混有非合格品的问题，存在误检率高、良品率低、检测可靠性低、无自动化程度、人工强度大等缺点，且棒材主要用在机械加工设备上，其精度要求高、产品尽量全检。
现有的微棒材生产企业对其产品的检测还完全依赖于人工检测，由于人工量巨大，大部分检测只能才有抽检方式，采用人工检测，误检率高、良品率低、人员交替率高，无法24小时长期运行；另外也存在也有用超声波来检测的设备，但其只能进行裂缝检测，无法进行表面缺陷检测。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足，本发明提供了一种微棒材的检测方法及其系统，可以解决现有技术中采用人工检测时存在误检率高、良品率低、检测可靠性低等问题，也能够解决现有技术不能够对微棒材进行表面缺陷检测的问题。
为了解决上述问题，本发明提出了一种微棒材的检测方法，所述方法包括：
上料系统将待检测的微棒材运送到跳动前搬运系统；
所述跳动前搬运系统将所述微棒材运送到跳动检测系统；
所述跳动检测系统对所述微棒材进行跳动检测，获得跳动检测结果；
所述柱面检测系统将跳动分类后的微棒材进行柱面检测，获得柱面检测结果；
不良品分选系统根据所述跳动检测结果、柱面检测结果对检测后的微棒材进行分类统计。
优选地，在所述柱面检测系统将跳动分类后的微棒材进行柱面检测的步骤之前，还包括：
跳动后搬运系统将跳动分类后的微棒材运送到柱面检测系统。
优选地，所述跳动检测系统对所述微棒材进行跳动检测，获得跳动检测结果的步骤包括：
所述跳动检测系统通过激光跳动检测仪对所述微棒材进行圆跳动检测及直径检测，获得圆跳动检测结果及直径检测结果；
通过电荷耦合器件(ChargeCoupledDevice，CCD)相机对所述微棒材进行前端面缺陷检测，获得前端面缺陷检测结果。
优选地，所述柱面检测系统将跳动分类后的微棒材进行柱面检测，获得柱面检测结果的步骤包括：
所述柱面检测系统根据所述圆跳动检测结果、直径检测结果和前端面检测结果对跳动分类后的微棒材进行柱面检测。
优选地，所述跳动检测系统对所述微棒材进行跳动检测，获得跳动检测结果的步骤包括：
所述跳动检测系统通过双跳动检测方式对所述微棒材进行跳动检测，获得跳动检测结果。
优选地，在不良品分选系统根据所述跳动检测结果、柱面检测结果对检测后的微棒材进行分类统计的步骤之前，还包括：
换向搬运系统将柱面检测后的微棒材进行换向检测。
相应地，本发明还提供一种微棒材的检测系统，所述系统包括：上料系统、跳动前搬运系统、跳动检测系统、柱面检测系统、不良品分选系统；
所述上料系统用于将待检测的微棒材运送到所述跳动前搬运系统；
所述跳动前搬运系统用于将所述微棒材运送到所述跳动检测系统；
所述跳动检测系统用于对所述微棒材进行跳动检测，获得跳动检测结果；
所述柱面检测系统用于将跳动分类后的微棒材进行柱面检测，获得柱面检测结果；
所述不良品分选系统用于根据所述跳动检测结果、柱面检测结果对检测后的微棒材进行分类统计。
优选地，所述系统还包括：跳动后搬运系统，用于将跳动分类后的微棒材运送到柱面检测系统。
优选地，所述跳动检测系统还用于通过激光跳动检测仪对所述微棒材进行圆跳动检测及直径检测，获得圆跳动检测结果及直径检测结果；并通过CCD相机对所述微棒材进行前端面缺陷检测，获得前端面缺陷检测结果。
优选地，所述系统还包括：换向搬运系统，用于将柱面检测后的微棒材进行换向检测。
在本发明实施例中，通过CCD相机等检测微棒材的端面和柱面缺陷，并通过激光跳动检测技术实现微棒材的圆跳动检测，可以提高检测结果的精度及重复可靠性；另外具备两个跳动同时检测可以提高检测效率，并能对不同种类不合格样品进行分类统计；可以解决现有技术中采用人工检测时存在误检率高、良品率低、检测可靠性低等问题，也能够解决现有技术不能够对微棒材进行表面缺陷检测的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1是本发明实施例的微棒材的检测方法的流程示意图；
图2是本发明实施例的微棒材的检测系统的结构组成示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
图1是本发明实施例的微棒材的检测方法的流程示意图，如图1所示，该方法包括：
S1，上料系统将待检测的微棒材运送到跳动前搬运系统；
S2，跳动前搬运系统将微棒材运送到跳动检测系统；
S3，跳动检测系统对微棒材进行跳动检测，获得跳动检测结果；
S4，柱面检测系统将跳动分类后的微棒材进行柱面检测，获得柱面检测结果；
S5，不良品分选系统根据跳动检测结果、柱面检测结果对检测后的微棒材进行分类统计。
具体实施中，上料系统把放在料盒中的待检测微棒材运送到系统中，具体地，运送到跳动前搬运系统；跳动前搬运系统将待检测的微棒材从上料系统运送到跳动检测系统，其中，跳动检测系统包括第一跳动检测系统和第二跳动检测系统，通过双跳动检测方式对微棒材进行跳动检测，获得跳动检测结果，具体地，跳动前搬运系统将待检测的微棒材从上料系统运送到第一跳动检测系统或者第二跳动检测系统。
进一步地，S3包括：
跳动检测系统通过激光跳动检测仪对微棒材进行圆跳动检测及直径检测，获得圆跳动检测结果及直径检测结果；具体实施中，可以通过用户设置的3个点进行直径检测；
通过CCD相机对微棒材进行前端面缺陷检测，获得前端面缺陷检测结果。
由于跳动检测系统需要有旋转轮的旋转和一个气缸的上下动作以及有3次的停止下来进行直径测量，比较耗费时间，从运行时间上的考虑，设计了双跳动检测(跳动检测1、跳动检测2)同时运行，分列在机器的左右两侧，功能完全相同，设计也一样，两个并行运行。具体实施中，在跳动检测系统完成检测后，把检测棒材的圆跳动检测结果、直径检测结果、前端面缺陷检测结果储存起来，如果当前任一检测结果不合格时，则不需要再对该棒材进行后续检测。
进一步地，在S4之前，还包括：
跳动后搬运系统将跳动分类后的微棒材运送到柱面检测系统。
柱面检测系统根据圆跳动检测结果、直径检测结果和前端面检测结果对跳动分类后的微棒材进行柱面检测。
具体实施中，柱面检测系统根据当前微棒材前面已检测的结果，决定是否进行CCD相机微棒材的后端面、前柱面、后柱面缺陷检测，同时该处后端面检测还需要检测出当前端面是否带倒角。
在S5之前，还包括：
换向搬运系统将柱面检测后的微棒材进行换向检测。微棒材有一端面会进行倒角处理，后端面缺陷检测会给出后端面是否带倒角和用户设置决定是否需要换向，并把棒材从柱面检测搬运到分选不良工位。
在S5中，不良品分选系统会根据各个阶段的检测结果对微棒材进行分类统计，具体地，不良品分选系统具有四个卡位，每一根微棒材都会经过这四个卡位，四个卡位分别对应跳动、直径、端面、柱面的不合格，系统已经把每一根微棒材的检测结果储存起来，当棒材过每一个卡位时，系统查看该微棒材是否是该卡位对应的不合格品，如果是，则会把该微棒材推到该卡位前面的料盒中，并置该不合格品数量加1，从而实现了把不同各类的不合格品推到了相应的不合格品装料盒中，并进行相应不合格品数量的统计，如果该微棒材都不是四种不合格品，则为合格品。
具体实施中，在S5之后，还包括：合格品下料系统实时对进入的良品进行计数，当前排微棒材数量达到用户设置的一排后，合格品下料系统会推出该排料，并把排的根数清0，当合格品下料推出料的排数达到用户设置的一盒料后，系统会提示操作员取走当前良品料盒，并把当前料盒排数清0，从而当实现把检测出来的良品一排一排地推送到良品料盒中以便后续进行包装。
相应地，本发明实施例还提供一种微棒材的检测系统，如图2所示，该系统包括：上料系统1、跳动前搬运系统2、跳动检测系统3、柱面检测系统4、不良品分选系统5；
上料系统1用于将待检测的微棒材运送到跳动前搬运系统；
跳动前搬运系统2用于将微棒材运送到跳动检测系统；
跳动检测系统3用于对微棒材进行跳动检测，获得跳动检测结果；
柱面检测系统4用于将跳动分类后的微棒材进行柱面检测，获得柱面检测结果；
不良品分选系统5用于根据跳动检测结果、柱面检测结果对检测后的微棒材进行分类统计。
具体实施中，上料系统1把放在料盒中的待检测微棒材运送到系统中，具体地，运送到跳动前搬运系统2；跳动前搬运系统2将待检测的微棒材从上料系统运送到跳动检测系统3，其中，跳动检测系统3包括第一跳动检测系统和第二跳动检测系统，通过双跳动检测方式对微棒材进行跳动检测，获得跳动检测结果，具体地，跳动前搬运系统2将待检测的微棒材从上料系统运送到第一跳动检测系统或者第二跳动检测系统。
进一步地，跳动检测系统3还用于通过激光跳动检测仪对微棒材进行圆跳动检测及直径检测，获得圆跳动检测结果及直径检测结果；并通过CCD相机对微棒材进行前端面缺陷检测，获得前端面缺陷检测结果。
由于跳动检测系统3需要有旋转轮的旋转和一个气缸的上下动作以及有3次的停止下来进行直径测量，比较耗费时间，从运行时间上的考虑，设计了双跳动检测(跳动检测1、跳动检测2)同时运行，分列在机器的左右两侧，功能完全相同，设计也一样，两个并行运行。具体实施中，在跳动检测系统3完成检测后，把检测棒材的圆跳动检测结果、直径检测结果、前端面缺陷检测结果储存起来，如果当前任一检测结果不合格时，则不需要再对该棒材进行后续检测。
进一步地，该系统还包括：跳动后搬运系统，用于将跳动分类后的微棒材运送到柱面检测系统4。
柱面检测系统4根据圆跳动检测结果、直径检测结果和前端面检测结果对跳动分类后的微棒材进行柱面检测。具体实施中，柱面检测系统4根据当前微棒材前面已检测的结果，决定是否进行CCD相机微棒材的后端面、前柱面、后柱面缺陷检测，同时该处后端面检测还需要检测出当前端面是否带倒角。
进一步地，该系统还包括：换向搬运系统，用于将柱面检测后的微棒材进行换向检测。微棒材有一端面会进行倒角处理，后端面缺陷检测会给出后端面是否带倒角和用户设置决定是否需要换向，并把棒材从柱面检测搬运到分选不良工位。
具体实施中，不良品分选系统5会根据各个阶段的检测结果对微棒材进行分类统计，具体地，不良品分选系统5具有四个卡位，每一根微棒材都会经过这四个卡位，四个卡位分别对应跳动、直径、端面、柱面的不合格，系统已经把每一根微棒材的检测结果储存起来，当棒材过每一个卡位时，系统查看该微棒材是否是该卡位对应的不合格品，如果是，则会把该微棒材推到该卡位前面的料盒中，并置该不合格品数量加1，从而实现了把不同各类的不合格品推到了相应的不合格品装料盒中，并进行相应不合格品数量的统计，如果该微棒材都不是四种不合格品，则为合格品。
进一步地，该系统还包括：合格品下料系统，用于实时对进入的良品进行计数，当前排微棒材数量达到用户设置的一排后，合格品下料系统会推出该排料，并把排的根数清0，当合格品下料推出料的排数达到用户设置的一盒料后，系统会提示操作员取走当前良品料盒，并把当前料盒排数清0，从而当实现把检测出来的良品一排一排地推送到良品料盒中以便后续进行包装。
在本发明实施例中，通过CCD相机等检测微棒材的端面和柱面缺陷，并通过激光跳动检测技术实现微棒材的圆跳动检测，可以提高检测结果的精度及重复可靠性；另外具备两个跳动同时检测可以提高检测效率，并能对不同种类不合格样品进行分类统计；可以解决现有技术中采用人工检测时存在误检率高、良品率低、检测可靠性低等问题，也能够解决现有技术不能够对微棒材进行表面缺陷检测的问题。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序可以存储于一计算机可读存储介质中，存储介质可以包括：只读存储器(ROM，ReadOnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，RandomAccessMemory)、磁盘或光盘等。
另外，以上对本发明实施例所提供的微棒材的检测方法及其系统进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种微棒材的检测方法，其特征在于，所述方法包括：
上料系统将待检测的微棒材运送到跳动前搬运系统；
所述跳动前搬运系统将所述微棒材运送到跳动检测系统；
所述跳动检测系统对所述微棒材进行跳动检测，获得跳动检测结果；
所述柱面检测系统将跳动分类后的微棒材进行柱面检测，获得柱面检测结果；
不良品分选系统根据所述跳动检测结果、柱面检测结果对检测后的微棒材进行分类统计。
2.如权利要求1所述的微棒材的检测方法，其特征在于，在所述柱面检测系统将跳动分类后的微棒材进行柱面检测的步骤之前，还包括：
跳动后搬运系统将跳动分类后的微棒材运送到柱面检测系统。
3.如权利要求1或2所述的微棒材的检测方法，其特征在于，所述跳动检测系统对所述微棒材进行跳动检测，获得跳动检测结果的步骤包括：
所述跳动检测系统通过激光跳动检测仪对所述微棒材进行圆跳动检测及直径检测，获得圆跳动检测结果及直径检测结果；
通过CCD相机对所述微棒材进行前端面缺陷检测，获得前端面缺陷检测结果。
4.如权利要求3所述的微棒材的检测方法，其特征在于，所述柱面检测系统将跳动分类后的微棒材进行柱面检测，获得柱面检测结果的步骤包括：
所述柱面检测系统根据所述圆跳动检测结果、直径检测结果和前端面检测结果对跳动分类后的微棒材进行柱面检测。
5.如权利要求3所述的微棒材的检测方法，其特征在于，所述跳动检测系统对所述微棒材进行跳动检测，获得跳动检测结果的步骤包括：
所述跳动检测系统通过双跳动检测方式对所述微棒材进行跳动检测，获得跳动检测结果。
6.如权利要求1所述的微棒材的检测方法，其特征在于，在不良品分选系统根据所述跳动检测结果、柱面检测结果对检测后的微棒材进行分类统计的步骤之前，还包括：
换向搬运系统将柱面检测后的微棒材进行换向检测。
7.一种微棒材的检测系统，其特征在于，所述系统包括：上料系统、跳动前搬运系统、跳动检测系统、柱面检测系统、不良品分选系统；
所述上料系统用于将待检测的微棒材运送到所述跳动前搬运系统；
所述跳动前搬运系统用于将所述微棒材运送到所述跳动检测系统；
所述跳动检测系统用于对所述微棒材进行跳动检测，获得跳动检测结果；
所述柱面检测系统用于将跳动分类后的微棒材进行柱面检测，获得柱面检测结果；
所述不良品分选系统用于根据所述跳动检测结果、柱面检测结果对检测后的微棒材进行分类统计。
8.如权利要求7所述的微棒材的检测系统，其特征在于，所述系统还包括：跳动后搬运系统，用于将跳动分类后的微棒材运送到柱面检测系统。
9.如权利要求7所述的微棒材的检测系统，其特征在于，所述跳动检测系统还用于通过激光跳动检测仪对所述微棒材进行圆跳动检测及直径检测，获得圆跳动检测结果及直径检测结果；并通过CCD相机对所述微棒材进行前端面缺陷检测，获得前端面缺陷检测结果。
10.如权利要求7所述的微棒材的检测系统，其特征在于，所述系统还包括：换向搬运系统，用于将柱面检测后的微棒材进行换向检测。
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