CN105510744A - 编程器测试装置及测试方法 - Google Patents

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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere

Abstract

公开了一种编程器测试装置包括：夹具，用于固定待测编程器；测试卡模块，用于采集待测编程器的测试数据；串口通讯模块，用于向待测编程器发送文件信号流；主处理器，分别与信号源模块、串口通讯模块、测试卡模块连接，用于通过测试卡模块获取待测编程器的测试数据。本发明还提供了一种编程器测试方法，可以单独执行某一检测指令，也可按顺序执行多个检测指令，提高检测效率，减少成本。

Description

编程器测试装置及测试方法
技术领域
本发明属于集成电路编程技术领域，更具体地，涉及一种用于批量生产编程器的测试装置及方法。
背景技术
当今科技水平的高速发展，伴随着人力成本的越来越高，可编程电路随着越来越多客户的推广应用，编程工具的实际需求量越来越大，以往人力测试生产的成本和速度已经不能满足实际的需求。由此，我们研究出一种生产测试装置，专门用于批量生产辅助测试编程工具。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用于批量生产编程器的测试装置及测试方法。
根据本发明的一方面，提供一种编程器测试装置，包括：夹具，用于固定待测编程器；测试卡模块，用于采集待测编程器的测试数据；串口通讯模块，用于向待测编程器发送文件信号流；主处理器，分别与信号源模块、串口通讯模块、测试卡模块连接，用于通过测试卡模块获取待测编程器的测试数据。
优选地，所述主处理器还用于在接收到电源测试以及校准指令时向测试卡模块发送电源测试信号；所述测试卡模块还用于根据所述电源测试信号采集待测编程器的电源电压并发送至主处理器。
优选地，所述主处理器还用于在接收到链路检测指令时通过信号源模块向待测编程器发送链路检测信号流，向测试卡模块发送链路检测信号；所述测试卡模块还用于根据所述链路检测信号采集待测编程器根据所述链路检测信号流输出的链路检测数据并发送至所述主处理器；所述主处理器还用于接收所述链路检测数据并根据所述链路检测数据判断链路是否异常。
优选地，所述主处理器还用于在接收到参数检测指令时通过信号源模块向待测编程器发送参数检测信号流，向测试卡模块发送参数检测信号；所述测试卡模块还用于根据所述参数检测信号采集待测编程器根据所述参数检测信号流输出的参数检测数据并发送至所述主处理器；所述主处理器还用于接收所述参数检测数据并根据所述参数检测数据判断参数是否异常。
优选地，所述主处理器还用于在接收到存储器检测指令时通过串口通讯模块向待测编程器发送文件信号流；所述主处理器还用于接收所述待测编程器根据所述文件信号流输出的存储器校验数据并根据所述存储器校验数据判断存储器是否异常。
优选地，所述主处理器还用于在接收到功能检测指令时通过信号源模块向待测编程器发送功能检测信号流，向测试卡模块发送功能检测信号；所述测试卡模块还用于根据所述功能检测信号采集待测编程器根据所述功能检测信号流输出的功能检测数据并发送至所述主处理器；所述主处理器还用于接收所述功能检测数据并根据所述功能检测数据判断功能是否异常。
优选地，上述编程器测试装置还包括：人机操作接口，用于输入指令；液晶显示模块，与所述主处理器连接，用于显示测试数据。
根据本发明的另一方面，提供一种编程器测试方法，包括：主处理器接收测试指令，根据所述测试指令发送测试信号；测试卡模块根据所述测试信号采集待测编程器的测试数据；主处理器根据所述测试数据判断待测编程器是否异常。
优选地，所述编程器测试方法还包括：主处理器在接收到电源测试以及校准指令时，向测试卡模块发送电源测试信号，测试卡模块根据所述电源测试信号采集待测编程器的电源电压并发送至主处理器。
优选地，所述编程器测试方法还包括：主处理器在接收到链路检测指令时，通过信号源模块向待测编程器发送链路检测信号流，向测试卡模块发送链路测试信号；待测编程器根据所述链路检测信号流输出链路检测数据；测试卡模块根据所述链路测试信号采集待测编程器的链路检测数据并发送至主处理器；主处理器根据所述链路检测数据判断链路是否异常。
优选地，所述编程器测试方法还包括：主处理器在接收到参数检测指令时，通过信号源模块向待测编程器发送参数检测信号流，向测试卡模块发送参数测试信号；待测编程器根据所述参数检测信号流输出参数检测数据；测试卡模块根据所述参数测试信号采集待测编程器的参数检测数据并发送至主处理器；主处理器根据所述参数检测数据判断参数是否异常。
优选地，所述编程器测试方法还包括：主处理器在接收到存储器检测指令时，通过串口通讯模块向待测编程器发送文件信号流；待测编程器根据接收到的文件信号流将编程内容写入存储器中后校验待测编程器内的存储器内容，并将存储器校验数据通过串口通讯模块发送至主处理器；主处理器根据所述存储器校验数据判断存储器是否异常。
优选地，所述编程器测试方法还包括：主处理器在接收到功能检测指令时，通过信号源模块向待测编程器发送功能检测信号流，向测试卡模块发送功能测试信号；待测编程器根据所述功能检测信号流输出功能检测数据；测试卡模块根据所述功能测试信号采集待测编程器的功能检测数据；主处理器根据所述功能检测数据判断功能是否异常。
本发明提供的编程器测试装置及测试方法，可以单独执行某一检测指令，也可按顺序执行多个检测指令，提高检测效率，减少成本。
附图说明
通过以下参照附图对本发明实施例的描述，本发明的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：
图1示出了根据本发明实施例的编程器测试装置的结构示意图；
图2示出了根据本发明实施例的编程器测试方法的流程图；
图3示出了根据本发明实施例的编程器电源测试方法的流程图；
图4示出了根据本发明实施例的编程器链路测试方法的流程图；
图5示出了根据本发明实施例的编程器参数测试方法的流程图；
图6示出了根据本发明实施例的编程器存储器测试方法的流程图；
图7示出了根据本发明实施例的编程器功能测试方法的流程图。
具体实施方式
以下将参照附图更详细地描述本发明的各种实施例。在各个附图中，相同的元件采用相同或类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。
本发明可以各种形式呈现，以下将描述其中一些示例。
图1示出了根据本发明实施例的编程器测试装置的结构示意图。如图1所示，本实施例的编程器测试装置100包括主处理器101、测试卡模块102、信号源模块103、串口通讯模块104和夹具105。
其中，主处理器101与测试卡模块102、信号源模块103和串口通讯模块104连接。
测试卡模块102用于采集待测编程器150的测试数据。
在本实施例中，测试数据可以是待测编程器150的电源电压、待测编程器根据输入的检测信号流输出的脉冲信号。
信号源模块103用于向待测编程器150发送指令信号流。
串口通讯模块104用于向待测编程器150发送文件信号流。
夹具105用于固定待测编程器150。
主处理器101用于通过测试卡模块102获取待测编程器的测试数据。
在优选的实施例中，所述主处理器101还用于在接收到电源测试以及校准指令时向测试卡模块102发送电源测试信号。
所述测试卡模块102还用于根据所述电源测试信号采集待测编程器150的电源电压并发送至主处理器101。
在优选的实施例中，所述主处理器101还用于在接收到链路检测指令时通过信号源模块103向待测编程器150发送链路检测信号流，向测试卡模块102发送链路检测信号。
所述测试卡模块102还用于根据所述链路检测信号采集待测编程器150根据所述链路检测信号流输出的链路检测数据并发送至所述主处理器101。
所述主处理器101还用于接收所述链路检测数据并根据所述链路检测数据判断链路是否异常。
在本实施例中，链路检测数据可以为一特定频率的脉冲信号，如果关键链路没有输出特定频率的脉冲信号或者某些链路没有输出特定频率的脉冲信号均为异常。
在优选的实施例中，所述主处理器101还用于在接收到参数检测指令时通过信号源模块103向待测编程器150发送参数检测信号流，向测试卡模块102发送参数检测信号。
所述测试卡模块102还用于根据所述参数检测信号采集待测编程器150根据所述参数检测信号流输出的参数检测数据并发送至所述主处理器101。
所述主处理器101还用于接收所述参数检测数据并根据所述参数检测数据判断参数是否异常。
在本实施例中，参数检测数据可以为一特定的电压幅值，以6.5V为例，当参数检测数据超出预设范围(6.5V±0.2V)时为异常。
在优选的实施例中，所述主处理器101还用于在接收到存储器检测指令时通过串口通讯模块104向待测编程器150发送文件信号流，向测试卡模块102发送存储器检测信号。
所述主处理器101还用于接收待测编程器150根据所述文件信号流输出的存储器校验数据并根据所述存储器校验数据判断存储器是否异常。
在本实施例中，串口通讯模块104可以为USB串口。所述文件信号流可以为编程内容。主处理器101将编程内容发送至待测编程器150，并写入待测编程器150的存储器内。写入结束后，待测编程器150将编程内容与待测编程器150的存储器内容进行检验，并将校验数据通过串口通讯模块104发送至所述主处理器101。
在优选的实施例中，所述主处理器101还用于在接收到功能检测指令时通过信号源模块103向待测编程器150发送功能检测信号流，向测试卡模块102发送功能检测信号。
所述测试卡模块102还用于根据所述功能检测信号采集待测编程器150根据所述功能检测信号流输出的功能检测数据并发送至所述主处理器101。
所述主处理器101还用于接收所述功能检测数据并根据所述功能检测数据判断功能是否异常。
在本实施例中，待测编程器150根据接收到的功能检测指令执行相应的功能，测试卡模块102采集待测编程器150执行的结果并发送至主处理器101。功能执行结果与预期功能结果不一致为异常。
在优选的实施例中，编程器测试100还包括人机操作接口106和液晶显示模块107，均与主处理器101连接，人及操作接口106用于输入指令，可以输入电源测试及校准指令、链路检测指令、参数检测指令、存储器检测指令或功能检测指令。液晶显示模块107用于显示测试数据，如电源电压、链路检测数据、参数检测数据、存储器校验数据、功能检测数据。
编程器100还包括电源模块108，与主处理器101连接，为编程器100的所有模块供电。
本发明提供的编程器测试装置可以单独执行某一检测指令，也可按顺序执行多个检测指令，提高检测效率，减少成本。
图2示出了根据本发明实施例的编程器测试方法的流程图。所述编程器测试方法200包括以下步骤。
在步骤S201中，主处理器接收测试指令，根据所述测试指令发送测试信号。
在本实施例中，测试指令包括电源测试及校准指令、链路检测指令、参数检测指令、存储器检测指令或功能检测指令。
在步骤S202中，测试卡模块根据所述测试信号采集待测编程器的测试数据。
在步骤S203中，主处理器根据所述测试数据判断待测编程器是否异常。
在本实施例中，测试数据包括电源电压、链路检测数据、参数检测数据、存储器校验数据、功能检测数据。其中，存储器校验数据是由待测编程器直接通过串口通讯模块发送至主处理器。
在一个优选的实施例中，图3示出了根据本发明实施例的编程器电源测试方法的流程图。所述编程器电源测试方法包括以下步骤。
在步骤S301中，主处理器在接收到电源测试以及校准指令时，向测试卡模块发送电源测试信号。
在步骤S302中，测试卡模块根据所述电源测试信号采集待测编程器的电源电压并发送至主处理器。
在一个优选的实施例中，图4示出了根据本发明实施例的编程器链路测试方法的流程图。所述编程器链路测试方法具体包括以下步骤。
在步骤S401中，主处理器在接收到链路检测指令时，通过信号源模块向待测编程器发送链路检测信号流，向测试卡模块发送链路测试信号。
在步骤S402中，待测编程器根据所述链路检测信号流输出链路检测数据。
在步骤S403中，测试卡模块根据所述链路测试信号采集待测编程器的链路检测数据并发送至主处理器。
在步骤S404中，主处理器根据所述链路检测数据判断链路是否异常。
在本实施例中，链路检测数据可以为一特定频率的脉冲信号，如果关键链路没有输出特定频率的脉冲信号或者某些链路没有输出特定频率的脉冲信号均为异常。
在一个优选的实施例中，图5示出了根据本发明实施例的编程器参数测试方法的流程图。所述编程器参数测试方法具体包括以下步骤。
在步骤S501中，主处理器在接收到参数检测指令时，通过信号源模块向待测编程器发送参数检测信号流，向测试卡模块发送参数测试信号。
在步骤S502中，待测编程器根据所述参数检测信号流输出参数检测数据。
在步骤S503中，测试卡模块根据所述参数测试信号采集待测编程器的参数检测数据并发送至主处理器。
在步骤S504中，主处理器根据所述参数检测数据判断参数是否异常。
在本实施例中，参数检测数据可以为一特定的电压幅值，以6.5V为例，当参数检测数据超出预设范围(6.5V±0.2V)时为异常。
在一个优选的实施例中，图6示出了根据本发明实施例的编程器存储器测试方法的流程图。所述编程器存储器测试方法具体包括以下步骤。
在步骤S601中，主处理器在接收到存储器检测指令时，通过串口通讯模块向待测编程器发送文件信号流。
在步骤S602中，待测编程器根据接收到的文件信号流将编程内容写入存储器中后校验待测编程器内的存储器内容，并将存储器校验数据并发送至主处理器。
在步骤S603中，主处理器根据所述存储器校验数据判断存储器是否异常。
在本实施例中，串口通讯模块可以为USB串口。所述文件信号流可以为编程内容。主处理器将编程内容发送至待测编程器，并写入待测编程器的存储器内。写入结束后，待测编程器将编程内容与待测编程器的存储器内容进行检验，并将校验数据通过串口通讯模块发送至所述主处理器。
在一个优选的实施例中，图7示出了根据本发明实施例的编程器功能测试方法的流程图。所述编程器功能测试方法具体包括以下步骤。
在步骤S701中，主处理器在接收到功能检测指令时，通过信号源模块向待测编程器发送功能检测信号流，向测试卡模块发送功能测试信号。
在步骤S702中，待测编程器根据所述功能检测信号流输出功能检测数据。
在步骤S703中，测试卡模块根据所述功能测试信号采集待测编程器的功能检测数据。
在步骤S704中，主处理器根据所述功能检测数据判断功能是否异常。
在本实施例中，待测编程器根据接收到的功能检测指令执行相应的功能，测试卡模块采集待测编程器执行的结果并发送至主处理器。功能执行结果与预期功能结果不一致为异常。
本发明提供的编程器测试方法可以单独执行某一检测指令，也可按顺序执行多个检测指令，提高检测效率，减少成本。
依照本发明的实施例如上文所述，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明的保护范围应当以本发明权利要求所界定的范围为准。

Claims (13)

1.一种编程器测试装置，包括：
夹具，用于固定待测编程器；
测试卡模块，用于采集待测编程器的测试数据；
信号源模块，用于向待测编程器发送指令信号流；
串口通讯模块，用于向待测编程器发送文件信号流；
主处理器，分别与信号源模块、串口通讯模块、测试卡模块连接，用于通过测试卡模块获取待测编程器的测试数据。
2.根据权利要求1所述的编程器测试装置，其中，所述主处理器还用于在接收到电源测试以及校准指令时向测试卡模块发送电源测试信号；
所述测试卡模块还用于根据所述电源测试信号采集待测编程器的电源电压并发送至主处理器。
3.根据权利要求1所述的编程器测试装置，其中，所述主处理器还用于在接收到链路检测指令时通过信号源模块向待测编程器发送链路检测信号流，向测试卡模块发送链路检测信号；
所述测试卡模块还用于根据所述链路检测信号采集待测编程器根据所述链路检测信号流输出的链路检测数据并发送至所述主处理器；
所述主处理器还用于接收所述链路检测数据并根据所述链路检测数据判断链路是否异常。
4.根据权利要求1所述的编程器测试装置，其中，所述主处理器还用于在接收到参数检测指令时通过信号源模块向待测编程器发送参数检测信号流，向测试卡模块发送参数检测信号；
所述测试卡模块还用于根据所述参数检测信号采集待测编程器根据所述参数检测信号流输出的参数检测数据并发送至所述主处理器；
所述主处理器还用于接收所述参数检测数据并根据所述参数检测数据判断参数是否异常。
5.根据权利要求1所述的编程器测试装置，其中，所述主处理器还用于在接收到存储器检测指令时通过串口通讯模块向待测编程器发送文件信号流；
所述主处理器还用于接收所述待测编程器根据所述文件信号流输出的存储器校验数据并根据所述存储器校验数据判断存储器是否异常。
6.根据权利要求1所述的编程器测试装置，其中，所述主处理器还用于在接收到功能检测指令时通过信号源模块向待测编程器发送功能检测信号流，向测试卡模块发送功能检测信号；
所述测试卡模块还用于根据所述功能检测信号采集待测编程器根据所述功能检测信号流输出的功能检测数据并发送至所述主处理器；
所述主处理器还用于接收所述功能检测数据并根据所述功能检测数据判断功能是否异常。
7.根据权利要求1所述的编程器测试装置，其中，还包括：
人机操作接口，用于输入指令；
液晶显示模块，与所述主处理器连接，用于显示测试数据。
8.一种编程器测试方法，包括：
主处理器接收测试指令，根据所述测试指令发送测试信号；
测试卡模块根据所述测试信号采集待测编程器的测试数据；
主处理器根据所述测试数据判断待测编程器是否异常。
9.根据权利要求8所述的编程器测试方法，其中，所述方法还包括：
主处理器在接收到电源测试以及校准指令时，向测试卡模块发送电源测试信号，
测试卡模块根据所述电源测试信号采集待测编程器的电源电压并发送至主处理器。
10.根据权利要求8所述的编程器测试方法，其中，所述方法还包括：
主处理器在接收到链路检测指令时，通过信号源模块向待测编程器发送链路检测信号流，向测试卡模块发送链路测试信号；
待测编程器根据所述链路检测信号流输出链路检测数据；
测试卡模块根据所述链路测试信号采集待测编程器的链路检测数据并发送至主处理器；
主处理器根据所述链路检测数据判断链路是否异常。
11.根据权利要求8所述的编程器测试方法，其中，所述方法还包括：
主处理器在接收到参数检测指令时，通过信号源模块向待测编程器发送参数检测信号流，向测试卡模块发送参数测试信号；
待测编程器根据所述参数检测信号流输出参数检测数据；
测试卡模块根据所述参数测试信号采集待测编程器的参数检测数据并发送至主处理器；
主处理器根据所述参数检测数据判断参数是否异常。
12.根据权利要求8所述的编程器测试方法，其中，所述方法还包括：
主处理器在接收到存储器检测指令时，通过串口通讯模块向待测编程器发送文件信号流；
待测编程器根据接收到的文件信号流将编程内容写入存储器中后校验待测编程器内的存储器内容，并将存储器校验数据通过串口通讯模块发送至主处理器；
主处理器根据所述存储器校验数据判断存储器是否异常。
13.根据权利要求8所述的编程器测试方法，其中，所述方法还包括：
主处理器在接收到功能检测指令时，通过信号源模块向待测编程器发送功能检测信号流，向测试卡模块发送功能测试信号；
待测编程器根据所述功能检测信号流输出功能检测数据；
测试卡模块根据所述功能测试信号采集待测编程器的功能检测数据；
主处理器根据所述功能检测数据判断功能是否异常。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108919784A (zh) * 2018-07-25 2018-11-30 重庆长安汽车股份有限公司 一种新能源汽车远程监控系统终端的检测系统及方法

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000052484A3 (en) * 1999-03-04 2001-02-08 Sun Microsystems Inc Interface independent test system
CN101029918A (zh) * 2007-01-23 2007-09-05 北京芯技佳易微电子科技有限公司 一种基于可编程器件的可控集成电路测试系统及方法
US20080103619A1 (en) * 2004-11-05 2008-05-01 Data I/O Corporation Manufacturing Test and Programming System
CN101226224A (zh) * 2008-01-16 2008-07-23 深圳国人通信有限公司 一种电路板的测试系统及方法
CN101515019A (zh) * 2009-03-17 2009-08-26 Ut斯达康通讯有限公司 基于可编程器件的动态边界扫描链路测试方法
CN102012479A (zh) * 2010-12-02 2011-04-13 上海华岭集成电路技术股份有限公司 特殊封装芯片的测试系统
CN102109572A (zh) * 2009-12-23 2011-06-29 中兴通讯股份有限公司 一种传输芯片的测试方法及测试控制方法
CN102590730A (zh) * 2012-01-16 2012-07-18 中冶南方（武汉）自动化有限公司 模块化开放性pcba功能测试平台、测试系统及方法
CN104090185A (zh) * 2014-06-30 2014-10-08 深圳市英威腾电气股份有限公司 测试系统及测试方法
CN104714119A (zh) * 2013-12-17 2015-06-17 北京煜邦电力技术有限公司 一种检测工装及检测系统
CN104777416A (zh) * 2015-04-30 2015-07-15 北京星河康帝思科技开发股份有限公司 用于电路板的测试方法和测试仪
CN105093096A (zh) * 2015-08-13 2015-11-25 浪潮集团有限公司 一种fpga的测试装置

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000052484A3 (en) * 1999-03-04 2001-02-08 Sun Microsystems Inc Interface independent test system
US20080103619A1 (en) * 2004-11-05 2008-05-01 Data I/O Corporation Manufacturing Test and Programming System
CN101029918A (zh) * 2007-01-23 2007-09-05 北京芯技佳易微电子科技有限公司 一种基于可编程器件的可控集成电路测试系统及方法
CN101226224A (zh) * 2008-01-16 2008-07-23 深圳国人通信有限公司 一种电路板的测试系统及方法
CN101515019A (zh) * 2009-03-17 2009-08-26 Ut斯达康通讯有限公司 基于可编程器件的动态边界扫描链路测试方法
CN102109572A (zh) * 2009-12-23 2011-06-29 中兴通讯股份有限公司 一种传输芯片的测试方法及测试控制方法
CN102012479A (zh) * 2010-12-02 2011-04-13 上海华岭集成电路技术股份有限公司 特殊封装芯片的测试系统
CN102590730A (zh) * 2012-01-16 2012-07-18 中冶南方（武汉）自动化有限公司 模块化开放性pcba功能测试平台、测试系统及方法
CN104714119A (zh) * 2013-12-17 2015-06-17 北京煜邦电力技术有限公司 一种检测工装及检测系统
CN104090185A (zh) * 2014-06-30 2014-10-08 深圳市英威腾电气股份有限公司 测试系统及测试方法
CN104777416A (zh) * 2015-04-30 2015-07-15 北京星河康帝思科技开发股份有限公司 用于电路板的测试方法和测试仪
CN105093096A (zh) * 2015-08-13 2015-11-25 浪潮集团有限公司 一种fpga的测试装置

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
徐玮: "《PIC单片机快速入门》", 31 January 2010 *
浦滨: "《C游戏编程从入门到精通》", 31 May 2002 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108919784A (zh) * 2018-07-25 2018-11-30 重庆长安汽车股份有限公司 一种新能源汽车远程监控系统终端的检测系统及方法

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