CN105405784A - 一种主动均衡模组的制作工艺 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种主动均衡模组的制作工艺,制作过程中增加二次镜检,这样能够确保避免出现有异物,防止出现基板与IC、FPC接触不良现象;ACF贴附完成后,在显微镜观察ACF是否完全贴附,这样能够对不完全贴附进行及时排除修复,以保证接下来的工序;IC芯片预压之前,通过显微镜标定预压的位置,为了保证ACF中的粒子爆破要规则,保证导电性能,同时防止短路,因此本发明在IC芯片预压之前对预压的位点进行标定,以确保预压位置的精确性;使用的固定胶为硅胶,这种胶无毒无害,生产出来的产品对人体无伤害;将自然晾干改为冷却固定,冷却的温度为20℃,自然晾干十分耗时,因此本发明改为冷却固定,加快了固定胶固化的速度,缩短了工艺流程。

Description

一种主动均衡模组的制作工艺
技术领域
本发明涉及电子设备领域,特别是涉及一种主动均衡模组的制作工艺。
背景技术
这是目前市场上最高端的BMS产品,采用DC/DC集中式主动均衡的均衡电流达到5A的电动大巴用产品在2.3~2.5万元/套。市场上现有产品最大均衡电流为5A,以90%的能效为标杆。而本发明的均衡技术是一种原创技术,项目已经实现的样品均衡电流最大10A,能效95%左右。
发明内容
一种主动均衡模组的制作工艺,其特征在于,其步骤包括:
(1)镜检
在高倍数字显微镜对基板的pin脚进行检查,用50-60%的酒精将pin脚擦洗干净,擦拭时要朝一个方向进行操作;
(2)ACF贴附
在该道工序中,是在基板上贴IC芯片的位置贴附ACF,工作温度为110-120℃,贴附机的工艺参数为:0.5-0.7MPa,压接压力:2.5~40Kgf;
(3)IC预压
将IC芯片初步压在基板上,该道工序的操作温度为60-80℃,压力为50-70KPa;
(4)IC本压
将IC的pin脚与基板的pin压合在一起,操作温度为280-320℃,压力为0.15-0.35MPa;
(5)ACF贴服
在基板上贴FPC的位置贴附ACF,工作温度为100-120℃,贴附机的工艺参数为:0.6-0.7MPa,压接压力:7~24Kgf;
(6)TAB热压
将FPC与基板的pin结合在一起,温度为140-150℃,压力为0.12-0.18MPa;
(7)电测
对初步组合好的模组进行点亮检测,检查模组是否合格;
(8)打胶
将固定胶在135-150下均匀的打在FPC与基板和IC与基板的连接处,并在自然条件下晾干固话;
(9)外观检测
对模组进行外观检测,检测完毕即为成品;
优选的,步骤(1)增加二次镜检,利用80%的酒精对基板的pin脚处进行同向擦拭。
优选的,步骤(2)中ACF贴附完成后,在显微镜观察ACF是否完全贴附。
优选的,步骤(3)中IC芯片预压之前,通过显微镜标定预压的位置。
优选的,步骤(8)中使用的固定胶为硅胶。
优选的,步骤(8)中将自然晾干改为冷却固定,冷却的温度为20℃。
有益效果:本发明提供了一种主动均衡模组的制作工艺,制作过程中增加二次镜检,利用80%的酒精对基板的pin脚处进行同向擦拭,这样能够确保避免出现有异物,防止出现基板与IC、FPC接触不良现象;ACF贴附完成后,在显微镜观察ACF是否完全贴附,在此处对ACF进行镜检操作,能够对不完全贴附进行及时排除修复,以保证接下来的工序;IC芯片预压之前,通过显微镜标定预压的位置,为了保证ACF中的粒子爆破要规则,保证导电性能,同时防止短路,因此本发明在IC芯片预压之前对预压的位点进行标定,以确保预压位置的精确性;使用的固定胶为硅胶,这种胶无毒无害,生产出来的产品对人体无伤害;将自然晾干改为冷却固定,冷却的温度为20℃,自然晾干十分耗时,因此本发明改为冷却固定,加快了固定胶固化的速度,缩短了工艺流程。
具体实施方式
为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施方式,进一步阐述本发明。
实施例1:
一种主动均衡模组的制作工艺,其特征在于,其步骤包括:
(1)镜检
在高倍数字显微镜对基板的pin脚进行检查,用50%的酒精将pin脚擦洗干净,擦拭时要朝一个方向进行操作,加二次镜检,利用80%的酒精对基板的pin脚处进行同向擦拭;
(2)ACF贴附
在该道工序中,是在基板上贴IC芯片的位置贴附ACF,工作温度为110℃,贴附机的工艺参数为:0.5MPa,压接压力:2.5Kgf,ACF贴附完成后,在显微镜观察ACF是否完全贴附;
(3)IC预压
IC芯片预压之前,通过显微镜标定预压的位置,将IC芯片初步压在基板上,该道工序的操作温度为60℃,压力为50KPa;
(4)IC本压
将IC的pin脚与基板的pin压合在一起,操作温度为280℃,压力为0.15MPa;
(5)ACF贴服
在基板上贴FPC的位置贴附ACF,工作温度为100℃,贴附机的工艺参数为:0.6MPa,压接压力:7Kgf;
(6)TAB热压
将FPC与基板的pin结合在一起,温度为140℃,压力为0.12MPa;
(7)电测
对初步组合好的模组进行点亮检测,检查模组是否合格;
(8)打胶
将硅胶在135℃下均匀的打在FPC与基板和IC与基板的连接处,并进行冷却固定,冷却的温度为20℃;
(9)外观检测
对模组进行外观检测,检测完毕即为成品;
实施例2:
一种主动均衡模组的制作工艺,其特征在于,其步骤包括:
(1)镜检
在高倍数字显微镜对基板的pin脚进行检查,用55%的酒精将pin脚擦洗干净,擦拭时要朝一个方向进行操作,加二次镜检,利用80%的酒精对基板的pin脚处进行同向擦拭;
(2)ACF贴附
在该道工序中,是在基板上贴IC芯片的位置贴附ACF,工作温度为115℃,贴附机的工艺参数为:0.55MPa,压接压力:27Kgf,ACF贴附完成后,在显微镜观察ACF是否完全贴附;
(3)IC预压
IC芯片预压之前,通过显微镜标定预压的位置,将IC芯片初步压在基板上,该道工序的操作温度为75℃,压力为60KPa;
(4)IC本压
将IC的pin脚与基板的pin压合在一起,操作温度为300℃,压力为0.27MPa;
(5)ACF贴服
在基板上贴FPC的位置贴附ACF,工作温度为108℃,贴附机的工艺参数为:0.66MPa,压接压力:18Kgf;
(6)TAB热压
将FPC与基板的pin结合在一起,温度为144℃,压力为0.15MPa;
(7)电测
对初步组合好的模组进行点亮检测,检查模组是否合格;
(8)打胶
将硅胶在135℃下均匀的打在FPC与基板和IC与基板的连接处,并进行冷却固定,冷却的温度为20℃;
(9)外观检测
对模组进行外观检测,检测完毕即为成品;
实施例3:
一种主动均衡模组的制作工艺,其特征在于,其步骤包括:
(1)镜检
在高倍数字显微镜对基板的pin脚进行检查,用60%的酒精将pin脚擦洗干净,擦拭时要朝一个方向进行操作,加二次镜检,利用80%的酒精对基板的pin脚处进行同向擦拭;
(2)ACF贴附
在该道工序中,是在基板上贴IC芯片的位置贴附ACF,工作温度为120℃,贴附机的工艺参数为:0.7MPa,压接压力:40Kgf,ACF贴附完成后,在显微镜观察ACF是否完全贴附;
(3)IC预压
IC芯片预压之前,通过显微镜标定预压的位置,将IC芯片初步压在基板上,该道工序的操作温度为80℃,压力为70KPa;
(4)IC本压
将IC的pin脚与基板的pin压合在一起,操作温度为320℃,压力为00.35MPa;
(5)ACF贴服
在基板上贴FPC的位置贴附ACF,工作温度为100-120℃,贴附机的工艺参数为:0.7MPa,压接压力:24Kgf;
(6)TAB热压
将FPC与基板的pin结合在一起,温度为150℃,压力为0.18MPa;
(7)电测
对初步组合好的模组进行点亮检测,检查模组是否合格;
(8)打胶
将硅胶在150℃下均匀的打在FPC与基板和IC与基板的连接处,并进行冷却固定,冷却的温度为20℃;
(9)外观检测
对模组进行外观检测,检测完毕即为成品;
坏点/% 最大均衡电流/A 能效/% 同规格体积/mm
实施例1 2.3% 10 95% 120×90×10
实施例2 1.8% 10 96% 120×90×10
实施例3 2.5% 10 95% 120×90×10
现有技术指标 3.5% 5 90% 150×100×20
根据上述表格数据可以得出,当实施实施例2参数时,得到的自动均衡模组,其坏点率为1.8%,最大均衡电流为10A,能效为96%,同规格的体积为120×90×10mm,而现有技术标准其坏点率为3.5%,最大均衡电流为5A,能效为90%,同规格的体积为150×100×20mm,相较而言本发明具有显著地优越性。
本发明提供了一种主动均衡模组的制作工艺,制作过程中增加二次镜检,利用80%的酒精对基板的pin脚处进行同向擦拭,这样能够确保避免出现有异物,防止出现基板与IC、FPC接触不良现象;ACF贴附完成后,在显微镜观察ACF是否完全贴附,在此处对ACF进行镜检操作,能够对不完全贴附进行及时排除修复,以保证接下来的工序;IC芯片预压之前,通过显微镜标定预压的位置,为了保证ACF中的粒子爆破要规则,保证导电性能,同时防止短路,因此本发明在IC芯片预压之前对预压的位点进行标定,以确保预压位置的精确性;使用的固定胶为硅胶,这种胶无毒无害,生产出来的产品对人体无伤害;将自然晾干改为冷却固定,冷却的温度为20℃,自然晾干十分耗时,因此本发明改为冷却固定,加快了固定胶固化的速度,缩短了工艺流程。
以上所述仅为本发明的实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (6)

1.一种主动均衡模组的制作工艺,其特征在于,其步骤包括:
(1)镜检
在高倍数字显微镜对基板的pin脚进行检查,用50-60%的酒精将pin脚擦洗干净,擦拭时要朝一个方向进行操作;
(2)ACF贴附
在该道工序中,是在基板上贴IC芯片的位置贴附ACF,工作温度为110-120℃,贴附机的工艺参数为:0.5-0.7MPa,压接压力:2.5~40Kgf;
(3)IC预压
将IC芯片初步压在基板上,该道工序的操作温度为60-80℃,压力为50-70KPa;
(4)IC本压
将IC的pin脚与基板的pin压合在一起,操作温度为280-320℃,压力为0.15-0.35MPa;
(5)ACF贴服
在基板上贴FPC的位置贴附ACF,工作温度为100-120℃,贴附机的工艺参数为:0.6-0.7MPa,压接压力:7~24Kgf;
(6)TAB热压
将FPC与基板的pin结合在一起,温度为140-150℃,压力为0.12-0.18MPa;
(7)电测
对初步组合好的模组进行点亮检测,检查模组是否合格;
(8)打胶
将固定胶在135-150下均匀的打在FPC与基板和IC与基板的连接处,并在自然条件下晾干固话;
(9)外观检测
对模组进行外观检测,检测完毕即为成品。
2.一种权利要求1所述的主动均衡模组的制作工艺,其特征在于,步骤(1)中增加二次镜检,利用80%的酒精对基板的pin脚处进行同向擦拭。
3.一种权利要求1所述的主动均衡模组的制作工艺,其特征在于,步骤(2)中ACF贴附完成后,在显微镜观察ACF是否完全贴附。
4.一种权利要求1所述的主动均衡模组的制作工艺,其特征在于,步骤(3)中IC芯片预压之前,通过显微镜标定预压的位置。
5.一种权利要求1所述的主动均衡模组的制作工艺,其特征在于,步骤(8)中使用的固定胶为硅胶。
6.一种权利要求1所述的主动均衡模组的制作工艺,其特征在于,步骤(8)中将自然晾干改为冷却固定,冷却的温度为20℃。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108215442A (zh) * 2017-12-20 2018-06-29 深圳市比亚迪电子部品件有限公司 一种全自动全贴合模组生产方法

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1520944A (zh) * 2003-01-29 2004-08-18 中华映管股份有限公司 集成电路芯片的回收方法
JP2006339613A (ja) * 2005-06-06 2006-12-14 Alps Electric Co Ltd 配線接続構造および液晶表示装置
CN101126844A (zh) * 2007-10-16 2008-02-20 华映视讯(吴江)有限公司 Ic芯片安装方法、ic芯片安装架构以及液晶显示器
CN101403829A (zh) * 2008-11-10 2009-04-08 友达光电(苏州)有限公司 对位检测方法和对位检测装置
CN101609217A (zh) * 2009-07-14 2009-12-23 江西永盛电子有限公司 薄膜晶体管彩色液晶显示器模组制备方法
CN101846825A (zh) * 2009-03-26 2010-09-29 株式会社日立高新技术 处理装置、acf粘贴状态检测方法或显示基板组装线
CN102131351A (zh) * 2010-01-20 2011-07-20 株式会社日立高新技术 处理装置或acf粘贴状态检查方法或基板模块组装线
CN102298223A (zh) * 2010-06-26 2011-12-28 比亚迪股份有限公司 一种柔性印刷线路板压贴不良的回收方法
CN102473654A (zh) * 2009-07-03 2012-05-23 松下电器产业株式会社 胶带粘贴装置
CN203037954U (zh) * 2012-12-04 2013-07-03 彩虹(佛山)平板显示有限公司 一种用于邦定设备中调整压贴位置的装置
CN103299484A (zh) * 2011-01-19 2013-09-11 索尼化学&信息部件株式会社 各向异性导电膜
CN103865415A (zh) * 2012-12-07 2014-06-18 第一毛织株式会社 各向异性导电膜及其制造方法、半导体装置及其制造方法
CN103965793A (zh) * 2013-01-25 2014-08-06 第一毛织株式会社 各向异性导电膜和半导体装置
CN204462030U (zh) * 2014-07-09 2015-07-08 肖伟 一种用于检测acf导电胶贴附效果的相机拍照取图装置

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1520944A (zh) * 2003-01-29 2004-08-18 中华映管股份有限公司 集成电路芯片的回收方法
JP2006339613A (ja) * 2005-06-06 2006-12-14 Alps Electric Co Ltd 配線接続構造および液晶表示装置
CN101126844A (zh) * 2007-10-16 2008-02-20 华映视讯(吴江)有限公司 Ic芯片安装方法、ic芯片安装架构以及液晶显示器
CN101403829A (zh) * 2008-11-10 2009-04-08 友达光电(苏州)有限公司 对位检测方法和对位检测装置
CN101846825A (zh) * 2009-03-26 2010-09-29 株式会社日立高新技术 处理装置、acf粘贴状态检测方法或显示基板组装线
CN102473654A (zh) * 2009-07-03 2012-05-23 松下电器产业株式会社 胶带粘贴装置
CN101609217A (zh) * 2009-07-14 2009-12-23 江西永盛电子有限公司 薄膜晶体管彩色液晶显示器模组制备方法
CN102131351A (zh) * 2010-01-20 2011-07-20 株式会社日立高新技术 处理装置或acf粘贴状态检查方法或基板模块组装线
CN102298223A (zh) * 2010-06-26 2011-12-28 比亚迪股份有限公司 一种柔性印刷线路板压贴不良的回收方法
CN103299484A (zh) * 2011-01-19 2013-09-11 索尼化学&信息部件株式会社 各向异性导电膜
CN203037954U (zh) * 2012-12-04 2013-07-03 彩虹(佛山)平板显示有限公司 一种用于邦定设备中调整压贴位置的装置
CN103865415A (zh) * 2012-12-07 2014-06-18 第一毛织株式会社 各向异性导电膜及其制造方法、半导体装置及其制造方法
CN103965793A (zh) * 2013-01-25 2014-08-06 第一毛织株式会社 各向异性导电膜和半导体装置
CN204462030U (zh) * 2014-07-09 2015-07-08 肖伟 一种用于检测acf导电胶贴附效果的相机拍照取图装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
唐中强: "TFT-LCD模组段生产良率及效率的研究", 《信息科技辑》 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108215442A (zh) * 2017-12-20 2018-06-29 深圳市比亚迪电子部品件有限公司 一种全自动全贴合模组生产方法

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