CN105177513A - 一种用粉末冶金法制备高性能钽靶材的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及半导体用高纯钽靶材的粉末冶金制备方法,尤其是一种用粉末冶金法制备高性能钽靶材的方法。其特点是,包括如下步骤:(1)将要烧结的钽粉末装入模具中;(2)将模具放入电火花烧结炉中对粉末进行放电等离子烧结;(3)烧结结束后,冷却至不超过160℃后出炉,脱模;(4)对得到的钽靶坯机械加工成所需尺寸即可。采用本发明的方法可以得到粒度均匀、无织构的内部组织,提高靶材性能,本发明方法还具有烧结温度低,可快速烧结出致密钽靶材,靶材内部晶粒均匀细小,无择优取向等特点。
Description
技术领域
本发明涉及半导体用高纯钽靶材的粉末冶金制备方法,尤其是一种用粉末冶金法制备高性能钽靶材的方法。
背景技术
溅射靶材是制备半导体材料关键的原材料,其过程是采用物理气相沉积(PVD)技术,用高压加速气态离子轰击靶材,使靶材的原子被溅射出来并以薄膜的形式沉积在硅片或其他基板上,配合光刻与腐蚀等工艺,最终形成半导体芯片中复杂的配线结构。常见的溅射靶材有Ta,W、Mo、Ti、Al、Co和Cu等有色金属。
溅射后硅片上薄膜厚度的均匀性,对最终产品来说是非常重要,这取决于靶材的内部组织、织构取向,晶粒均匀细化等。因此在制备钽溅射靶材时非常注重控制靶材的晶粒大小和晶粒取向。
目前,钽溅射靶材的制备工艺主要是采用电子束熔炼钽锭为原料,进行多次塑性变形和退火,从而获得具有均匀晶粒和一定内部织构的钽靶坯,,靶坯经过与背板焊接、机械加工后成为最终产品。在此过程中,由于111(钽晶粒的晶向指数)为钽的密排面,塑性变形时优先发生滑移,最终的钽靶坯的形成111织构占强的组织,这属于钽的“固有织构带”,并且在厚度方向分布不均匀,严重影响了靶材的溅射性能。同时,该工艺过程复杂,流程长,成品率低,造成钽靶材的成本高。
发明内容
本发明的目的是提供一种用粉末冶金法制备高性能钽靶材的方法,能够得到粒度均匀、无织构的内部组织,从而提高靶材性能。
一种用粉末冶金法制备高性能钽靶材的方法,其特别之处在于,包括如下步骤:
(1)将要烧结的钽粉末装入模具中;
(2)将模具放入电火花烧结炉中对粉末进行放电等离子烧结;
(3)烧结结束后,冷却至不超过160℃后出炉,脱模;
(4)对得到的钽靶坯机械加工成所需尺寸即可。
步骤(1)中钽粉末的FSSS粒径≤25μm,除气体元素外纯度≥99.99%,并且粉末气体杂质要求分别为:O≤2500ppm、C≤25ppm、N≤100ppm、H≤500ppm。
步骤(2)中放电等离子烧结中要求真空度优于10Pa;烧结温度为1300-1750℃;烧结时间为3-10min;压力为20-60MPa。
采用本发明的方法可以得到粒度均匀、无织构的内部组织,提高靶材性能,本发明方法还具有烧结温度低,可快速烧结出致密钽靶材,靶材内部晶粒均匀细小,无择优取向等特点。本发明方法的主要过程是将粉末装入模具中,放入放电等离子烧结炉中进行真空等离子烧结,烧结完成后冷却、出炉、脱模后,进行机加工。与传统的塑性加工相比,该方法制备的靶材消除了钽靶材中的织构,并且该工艺具有烧结时间短,温度低,靶材粒度小且均匀等优点。可用来生产半导体用钽靶,及钨、钼靶材。
附图说明
附图1为实施例1制备的钽靶材的EBSD图谱。
具体实施方式
本发明方法利用粉末冶金等离子烧结技术制备出内部组织均匀,无择优取向的钽靶材,在该技术中采用等离子烧结技术可以实现快速、低温烧结,并且能够去除粉末表面氧化层及吸附的气体杂质,提高了烧结钽靶材的纯度。对粉末气体杂质的要求较真空烧结、热压烧结和等静压烧结要求低,使得所用原料更广。
要求钽粉末的FSSS粒径≤25μm,除气体元素外纯度≥99.99%,并且粉末气体杂质要求分别为:O≤2500ppm、C≤25ppm、N≤100ppm、H≤500ppm。
实施例1:
将所选的钽粉装入模具中放入烧结炉中,真空度为9.0x10-1Pa后,加电流烧结,烧结温度1750℃,烧结时间5min,烧结压力30MPa,烧结完成后冷却至160℃,出炉、脱模。随后将烧结体加工成所需的靶材形状。采用浮力法测量靶材密度,采用直接计算平均值法测量晶粒大小。
实施例2:
将所选的钽粉装入模具中放入烧结炉中,真空度为4.5x10-1Pa后,加电流烧结,烧结温度1600℃,烧结时间10min,烧结压力50MPa,烧结完成后冷却至160℃,出炉、脱模。随后将烧结体加工成所需的靶材形状。采用浮力法测量靶材密度,采用直接计算平均值法测量晶粒大小。
实施例3:
将所选的钽粉装入模具中放入烧结炉中,真空度为6.7x10-1Pa后,加电流烧结,烧结温度1700℃,烧结时间8min,烧结压力40MPa,烧结完成后冷却至160℃,出炉、脱模。随后将烧结体加工成所需的靶材形状。采用浮力法测量靶材密度,采用直接计算平均值法测量晶粒大小。
表1钽粉粉末FSSS(费氏粒径)粒度和杂质含量:
表2靶材气体杂质、密度和平均晶粒:
本发明方法所制备出的金属靶材具有密度高达到理论密度99%以上,晶粒细小均匀,晶粒<80μm,晶粒无择优取向。本发明方法除制备金属钽靶材之外,还可以用来制备金属钨、钼等难熔金属及其合金靶材。
Claims (3)
1.一种用粉末冶金法制备高性能钽靶材的方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)将要烧结的钽粉末装入模具中;
(2)将模具放入电火花烧结炉中对粉末进行放电等离子烧结;
(3)烧结结束后,冷却至不超过160℃后出炉,脱模;
(4)对得到的钽靶坯机械加工成所需尺寸即可。
2.如权利要求1所述的一种用粉末冶金法制备高性能钽靶材的方法,其特征在于:步骤(1)中钽粉末的FSSS粒径≤25μm,除气体元素外纯度≥99.99%,并且粉末气体杂质要求分别为:O≤2500ppm、C≤25ppm、N≤100ppm、H≤500ppm。
3.如权利要求1所述的一种用粉末冶金法制备高性能钽靶材的方法,其特征在于:步骤(2)中放电等离子烧结中要求真空度优于10Pa;烧结温度为1300-1750℃;烧结时间为3-10min;压力为20-60MPa。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112813397A (zh) * | 2020-12-31 | 2021-05-18 | 金堆城钼业股份有限公司 | 一种钼钠合金板状靶材的制备方法 |
CN113640329A (zh) * | 2021-10-18 | 2021-11-12 | 中铝材料应用研究院有限公司 | 铝合金无织构标准样品及其制备方法 |
CN114888279A (zh) * | 2022-04-29 | 2022-08-12 | 同创(丽水)特种材料有限公司 | 一种粉末冶金钽靶用钽粉末及钽靶 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20090041148A (ko) * | 2007-10-23 | 2009-04-28 | 한국생산기술연구원 | 스퍼터링 타겟용 탄탈륨 소결체 제조방법 |
CN102367568A (zh) * | 2011-10-20 | 2012-03-07 | 宁波江丰电子材料有限公司 | 高纯钽靶材制备方法 |
CN104480439A (zh) * | 2014-12-31 | 2015-04-01 | 宁夏东方钽业股份有限公司 | 一种钽靶材的制备工艺 |
-
2015
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20090041148A (ko) * | 2007-10-23 | 2009-04-28 | 한국생산기술연구원 | 스퍼터링 타겟용 탄탈륨 소결체 제조방법 |
CN102367568A (zh) * | 2011-10-20 | 2012-03-07 | 宁波江丰电子材料有限公司 | 高纯钽靶材制备方法 |
CN104480439A (zh) * | 2014-12-31 | 2015-04-01 | 宁夏东方钽业股份有限公司 | 一种钽靶材的制备工艺 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112813397A (zh) * | 2020-12-31 | 2021-05-18 | 金堆城钼业股份有限公司 | 一种钼钠合金板状靶材的制备方法 |
CN113640329A (zh) * | 2021-10-18 | 2021-11-12 | 中铝材料应用研究院有限公司 | 铝合金无织构标准样品及其制备方法 |
CN114888279A (zh) * | 2022-04-29 | 2022-08-12 | 同创(丽水)特种材料有限公司 | 一种粉末冶金钽靶用钽粉末及钽靶 |
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