CN105097126A - 超导膜元件及超导膜元件的制备方法 - Google Patents
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Abstract
一种超导膜元件及超导膜元件的制备方法。该超导膜元件包含一基板以及一超导膜。基板的晶格常数介于(埃)至之间。超导膜设置于基板上。超导膜包含YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5。其中Y2BaCuO5分散于YBa2Cu3O7中。该超导膜元件的制备方法，包含以下步骤。提供一基板，基板的晶格常数介于(埃)至之间。提供一靶材，靶材包含YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5。执行一镀膜工艺，使靶材于基板上同时形成YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5。其中Y2BaCuO5分散于YBa2Cu3O7中。
Description
技术领域
本发明涉及一种超导膜元件及超导膜元件的制备方法，特别是一种含有Y2BaCuO5纳米颗粒作为钉札中心的YBa2Cu3O7的超导膜元件及超导膜元件的制备方法。
背景技术
超导发电机由于具有体积小、重量轻以及效率高等优点，因此是能源领域中重要的研究课题。
目前高温超导线材成本仍高。详细来说，依照目前工艺所制备的超导线材的临界电流密度仍有改善的空间。因此，如何提高超导线材的临界电流密度就成为高温超导应用普及的关键。
一般而言，超导线材是处于高磁场的环境下应用。磁场所发出的磁力线以量子磁通的形式穿过超导线材。由于超导线材上的电流与量子磁通之间存在有罗伦兹力，量子磁通会因为罗伦兹力而移动，而降低了超导线材的效能。也就是说，如何降低量子磁通因为罗伦兹力而移动的情形就成为目前的研究方向。
为了降低、避免量子磁通因罗伦兹力移动而降低超导线材的效能，目前发展出在超导线材的超导体内产生晶格缺陷或非超导相的方法。详细来说，是通过晶格缺陷或者非超导相作为钉札中心，以限制量子磁通在超导体的移动。如此一来，透过在超导体内所形成的钉札中心，可改善所制备的超导线材的效能。
为了在超导线材的超导体内形成钉札中心，可透过离子照射的方法，以在超导体内形成缺陷。然而，离子照射的方法较为昂贵。因此，在超导体内形成非超导相纳米颗粒作为钉札中心，对于超导线材的商用化是比较可行的作法。而如何改善目前在超导体内形成非超导相纳米颗粒的工艺，以提升所制备的超导线材的效能，就成为研究人员需要解决的问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种超导膜元件及超导膜元件的制备方法，以改善超导膜的设计，提升超导膜的效能。
为了实现上述目的，本发明提供了一种超导膜元件，包含一基板以及一超导膜。基板的晶格常数介于(埃)至之间。超导膜设置于基板上。超导膜包含YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5。其中Y2BaCuO5分散于YBa2Cu3O7中。
为了更好地实现上述目的，本发明还提供了一种超导膜元件的制备方法，包含以下步骤。提供一基板，基板的晶格常数介于(埃)至之间。提供一靶材，靶材包含YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5。执行一镀膜工艺，使靶材于基板上同时形成YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5。其中Y2BaCuO5分散于YBa2Cu3O7中。
本发明的技术效果在于：
本发明的超导膜元件及超导膜元件的制备方法，由于基板的晶格常数介于至之间，而超导体YBa2Cu3O7的晶格常数因而基板与超导体的晶格常数具有相当的差异。另一方面，由于YBa2Cu3O7与Y2BaCuO5是镀膜时同时成长生成，Y2BaCuO5将形成纳米颗粒并均匀分布于YBa2Cu3O7内，亦即达到了钉札中心微小化及分散化的效果。如此一来，超导体YBa2Cu3O7内有均匀分布的非超导相Y2BaCuO5纳米颗粒，可做为超导膜的钉札中心，并进而改善了超导膜的临界电流密度。
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。
附图说明
图为1本发明一实施例的超导膜元件的制备方法流程图；
图2A为本发明一实施例的超导膜元件的示意图；
图2B为本发明一实施例超导线材的示意图；
图3为本发明实施例一的超导膜的穿透式电子显微镜的分析结果；
图4为本发明比较例一的超导膜的穿透式电子显微镜的分析结果；
图5为本发明比较例三的超导膜的穿透式电子显微镜的分析结果；
图6为实施例一、二以及比较例一、二的超导膜于绝对温度77度，不同磁场下的临界电流密度。
其中，附图标记
9超导线材
10超导膜元件
20载体
100基板
200超导膜
具体实施方式
下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作具体的描述：
首先，请参阅图1。图1为本发明一实施例的超导膜元件的制备方法流程图。
首先，提供一基板(S101)。基板的晶格常数介于(埃)至之间。基板的材质例如为钇安定氧化锆(Yttria-stabilizedzirconia，YSZ)(晶格常数)、铝酸镧(LanthanumAluminate，LaAlO3，LAO)(晶格常数)、Y3NbO7(晶格常数)、Gd2Zr2O7(晶格常数)、二氧化铈(CeO2)(晶格常数)或NdGaO3(晶格常数)，但并不以此为限。
接着，提供一靶材(S102)。靶材包含钇、钡以及铜。靶材的组成元素是对应于所欲制备的超导膜。在另一实施例中，靶材例如包含有YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5，其中Y2BaCuO5占靶材的总重的百分之5至百分之15重量百分比(wt％)。在部分实施例中，Y2BaCuO5占靶材的总重的百分之8重量百分比。在本实施例中，所欲制备的超导膜的材质包含YBa2Cu3O7(超导相)以及颗粒状的Y2BaCuO5(非超导相)，其中Y2BaCuO5占超导膜的总重的百分之5至百分之15重量百分比(wt％)。在部分实施例中，Y2BaCuO5占超导膜的总重的百分之8重量百分比。在本实施例中，靶材例如是透过一顶端接种熔融工艺(TopSeededMeltTexturedGrowthProcess)或一烧结工艺而形成，因而靶材较为致密而具有较佳的品质，而可提升所制成的超导膜的临界电流密度(Jc)。
须注意的是，上述提供一基板(S101)以及提供一靶材(S102)的顺序并非用以限定本发明。在其他实施例中，也可以先提供一靶材，再提供一基板。
最后，执行一镀膜工艺(S103)。藉此，使靶材于基板上同时形成YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5。在本实施例中，镀膜程序采用激光溅镀，激光的中心波长为248纳米。在本实施例及部分其他实施例中，激光的聚焦能量密度介于1.5焦耳/平方公分(J/cm2)至2.0焦耳/平方公分之间。在本实施例及部分其他实施例中，镀膜工艺的基板温度介于780℃至850℃之间。
在镀膜的过程中，靶材会分别形成YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5。详细来说，由于YBa2Cu3O7与Y2BaCuO5会接触基板，并且因为本实施例的基板的晶格常数(至)与超导相YBa2Cu3O7的晶格常数差异较大，因而YBa2Cu3O7与Y2BaCuO5会在镀膜工艺中同时成长生成于基板上，并且Y2BaCuO5形成纳米颗粒并均匀分布于YBa2Cu3O7内，亦即达到了钉札中心微小化及分散化的效果。
当钉札中心小而分散时，可有效增加钉札中心数量，并且使量子磁通更平均地分布于超导相内，因而降低量子磁通间的互斥力，故能有效提升钉札效果，亦即临界电流密度可得到提升。
以下介绍本发明的超导膜元件。请参阅图2A，图2A为本发明一实施例的超导膜元件的示意图。本发明的超导膜元件10包含一基板100以及一超导膜200。本发明所指基板100例如是指超导线材中的缓冲层，特别是超导线材中超导膜所接触、设置的缓冲层。基板100的晶格常数介于至之间。超导膜200设置于基板100上。超导膜200的材质包含YBa2Cu3O7(超导相)以及Y2BaCuO5(非超导相)。Y2BaCuO5分散于YBa2Cu3O7中，并且YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5接触基板100。
在本发明部分实施例中，Y2BaCuO5呈纳米颗粒状。
在本发明部分实施例中，Y2BaCuO5的颗粒粒径介于15纳米至30纳米之间。
在本发明部分实施例中，Y2BaCuO5占超导膜200的总重的百分之5至百分之15重量百分比(wt％)。在部分实施例中，Y2BaCuO5占超导膜200的总重的百分之8重量百分比(wt％)。
在本发明部分实施例中，基板100的材质为钇安定氧化锆(Yttria-stabilizedzirconia，YSZ)(晶格常数)、铝酸镧(LanthanumAluminate，LaAlO3，LAO)(晶格常数)、Y3NbO7(晶格常数)、Gd2Zr2O7(晶格常数)、二氧化铈(CeO2)(晶格常数)或NdGaO3(晶格常数)，但并不以此为限。
在本发明部分实施例中，超导膜200的厚度介于150纳米(nm)至350纳米之间。
本发明实施例的超导膜元件10可应用至超导线材中。请参阅图2B，图2B为本发明一实施例的超导线材的示意图。如图所示，超导线材9包含有超导膜元件10以及载体20。超导膜元件10设置于载体20。由于超导线材9包含有本发明的超导膜元件10，因而具有较佳的工作表现。
以下透过数个实施例以及比较例来说明本发明的超导膜元件的制备方法。
实施例一(LAO基板)
首先制备YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末，将Y2O3、BaCO3及CuO等粉末以莫耳比率Y:Ba:Cu分别为1:2:3及2:1:1等比率量秤，各自混合均匀后，以900℃持温8小时煅烧后，研磨均匀并再度煅烧2次，亦即共进行煅烧3次，即可得到YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末。接着将YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末以重量百分比92:8的比例均匀混合，以25～35Mpa的压力压成块，并于其表面中心放置SmBa2Cu3O7晶种，于908℃持温4小时，升温至1045℃持温1小时。最后以4℃/hr的降温速率降温至992℃，接着以0.2℃/hr的降温速率降温至982℃，最后自然降温至室温，便完成靶材制作。将内含8wt％(重量百分比)Y2BaCuO5的YBa2Cu3O7靶材以及LAO基板(LaAlO3)置入溅镀设备的腔室内。然后，透过抽气泵以将腔室内的压力降低至约10-6毫巴(mbar)。将腔室内的基板温度提升至850℃。通入300毫托耳(mTorr)的氧气于腔室内。接着，使用中心波长为248纳米的激光光源进行溅镀，将靶材溅镀至基板，而在基板上形成薄膜。其中，激光的聚焦能量密度介于1.5焦耳/平方公分至2.0焦耳/平方公分之间。待基板上的薄膜(即超导膜)的厚度介于150-350纳米的范围内时，但厚度不以此为限，将腔室内的基板温度降低至500℃。然后，通入0.8-1大气压(atm)的氧气于腔室内，并维持0.5-1小时。最后，使腔室内的基板温度自然下降至室温，即完成了实施例一的超导膜的制备。请参阅图3，图3为本发明实施例一的超导膜的穿透式电子显微镜的分析结果。如图3所示，Y2BaCuO5以颗粒状的形式均匀分布于YBa2Cu3O7之内，且Y2BaCuO5的粒径约介于15纳米至30纳米之间。
实施例二(YSZ基板)
首先制备YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末，将Y2O3、BaCO3及CuO等粉末以莫耳比率Y:Ba:Cu分别为1:2:3及2:1:1等比率量秤，各自混合均匀后，以900℃持温8小时煅烧后，研磨均匀并再度煅烧2次，亦即共进行煅烧3次，即可得到YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末。接着将YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末以重量百分比92:8的比例均匀混合，以25～35Mpa的压力压成块，并于其表面中心放置SmBa2Cu3O7晶种，于908℃持温4小时，升温至1045℃持温1小时。最后以4℃/hr的降温速率降温至992℃，接着以0.2℃/hr的降温速率降温至982℃，最后自然降温至室温，便完成靶材制作。将内含8wt％(重量百分比)Y2BaCuO5的YBa2Cu3O7靶材以及YSZ基板(钇安定氧化锆)置入溅镀设备的腔室内。然后，透过抽气泵以将腔室内的压力降低至约10-6毫巴(mbar)。将腔室内的基板温度提升至850℃。通入300毫托耳(mTorr)的氧气于腔室内。接着，使用中心波长为248纳米的激光光源进行溅镀，将靶材溅镀至基板，而在基板上形成薄膜。其中，激光的聚焦能量密度介于1.5焦耳/平方公分至2.0焦耳/平方公分之间。待基板上的薄膜(即超导膜)的厚度介于150-350纳米的范围内时，但厚度不以此为限，将腔室内的基板温度降低至500℃。然后，通入0.8-1大气压(atm)的氧气于腔室内，并维持0.5-1小时。最后，使腔室内的基板温度自然下降至室温，即完成了实施例二的超导膜的制备。
实施例三(Y3NbO7基板)
首先制备YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末，将Y2O3、BaCO3及CuO等粉末以莫耳比率Y:Ba:Cu分别为1:2:3及2:1:1等比率量秤，各自混合均匀后，以900℃持温8小时煅烧后，研磨均匀并再度煅烧2次，亦即共进行煅烧3次，即可得到YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末。接着将YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末以重量百分比92:8的比例均匀混合，以25～35Mpa的压力压成块，并于其表面中心放置SmBa2Cu3O7晶种，于908℃持温4小时，升温至1045℃持温1小时。最后以4℃/hr的降温速率降温至992℃，接着以0.2℃/hr的降温速率降温至982℃，最后自然降温至室温，便完成靶材制作。将内含8wt％(重量百分比)Y2BaCuO5的YBa2Cu3O7靶材以及Y3NbO7基板置入溅镀设备的腔室内。然后，透过抽气泵以将腔室内的压力降低至约10-6毫巴(mbar)。将腔室内的基板温度提升至850℃。通入300毫托耳(mTorr)的氧气于腔室内。接着，使用中心波长为248纳米的激光光源进行溅镀，将靶材溅镀至基板，而在基板上形成薄膜。其中，激光的聚焦能量密度介于1.5焦耳/平方公分至2.0焦耳/平方公分之间。待基板上的薄膜(即超导膜)的厚度介于150-350纳米的范围内时，但厚度不以此为限，将腔室内的基板温度降低至500℃。然后，通入0.8-1大气压(atm)的氧气于腔室内，并维持0.5-1小时。最后，使腔室内的基板温度自然下降至室温，即完成了实施例三的超导膜的制备。
实施例四(Gd2Zr2O7基板)
首先制备YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末，将Y2O3、BaCO3及CuO等粉末以莫耳比率Y:Ba:Cu分别为1:2:3及2:1:1等比率量秤，各自混合均匀后，以900℃持温8小时煅烧后，研磨均匀并再度煅烧2次，亦即共进行煅烧3次，即可得到YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末。接着将YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末以重量百分比92:8的比例均匀混合，以25～35Mpa的压力压成块，并于其表面中心放置SmBa2Cu3O7晶种，于908℃持温4小时，升温至1045℃持温1小时。最后以4℃/hr的降温速率降温至992℃，接着以0.2℃/hr的降温速率降温至982℃，最后自然降温至室温，便完成靶材制作。将内含8wt％(重量百分比)Y2BaCuO5的YBa2Cu3O7靶材以及Gd2Zr2O7基板置入溅镀设备的腔室内。然后，透过抽气泵以将腔室内的压力降低至约10-6毫巴(mbar)。将腔室内的基板温度提升至850℃。通入300毫托耳(mTorr)的氧气于腔室内。接着，使用中心波长为248纳米的激光光源进行溅镀，将靶材溅镀至基板，而在基板上形成薄膜。其中，激光的聚焦能量密度介于1.5焦耳/平方公分至2.0焦耳/平方公分之间。待基板上的薄膜(即超导膜)的厚度介于150-350纳米的范围内时，但厚度不以此为限，将腔室内的基板温度降低至500℃。然后，通入0.8-1大气压(atm)的氧气于腔室内，并维持0.5-1小时。最后，使腔室内的基板温度自然下降至室温，即完成了实施例四的超导膜的制备。
实施例五(二氧化铈基板)
首先制备YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末，将Y2O3、BaCO3及CuO等粉末以莫耳比率Y:Ba:Cu分别为1:2:3及2:1:1等比率量秤，各自混合均匀后，以900℃持温8小时煅烧后，研磨均匀并再度煅烧2次，亦即共进行煅烧3次，即可得到YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末。接着将YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末以重量百分比92:8的比例均匀混合，以25～35Mpa的压力压成块，并于其表面中心放置SmBa2Cu3O7晶种，于908℃持温4小时，升温至1045℃持温1小时。最后以4℃/hr的降温速率降温至992℃，接着以0.2℃/hr的降温速率降温至982℃，最后自然降温至室温，便完成靶材制作。将内含8wt％(重量百分比)Y2BaCuO5的YBa2Cu3O7靶材以及二氧化铈基板(CeO2)置入溅镀设备的腔室内。然后，透过抽气泵以将腔室内的压力降低至约10-6毫巴(mbar)。将腔室内的基板温度提升至850℃。通入300毫托耳(mTorr)的氧气于腔室内。接着，使用中心波长为248纳米的激光光源进行溅镀，将靶材溅镀至基板，而在基板上形成薄膜。其中，激光的聚焦能量密度介于1.5焦耳/平方公分至2.0焦耳/平方公分之间。待基板上的薄膜(即超导膜)的厚度介于150-350纳米的范围内时，但厚度不以此为限，将腔室内的基板温度降低至500℃。然后，通入0.8-1大气压(atm)的氧气于腔室内，并维持0.5-1小时。最后，使腔室内的基板温度自然下降至室温，即完成了实施例五的超导膜的制备。
实施例六(NdGaO3基板)
首先制备YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末，将Y2O3、BaCO3及CuO等粉末以莫耳比率Y:Ba:Cu分别为1:2:3及2:1:1等比率量秤，各自混合均匀后，以900℃持温8小时煅烧后，研磨均匀并再度煅烧2次，亦即共进行煅烧3次，即可得到YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末。接着将YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末以重量百分比92:8的比例均匀混合，以25～35Mpa的压力压成块，并于其表面中心放置SmBa2Cu3O7晶种，于908℃持温4小时，升温至1045℃持温1小时。最后以4℃/hr的降温速率降温至992℃，接着以0.2℃/hr的降温速率降温至982℃，最后自然降温至室温，便完成靶材制作。将内含8wt％(重量百分比)Y2BaCuO5的YBa2Cu3O7靶材以及NdGaO3基板置入溅镀设备的腔室内。然后，透过抽气泵以将腔室内的压力降低至约10-6毫巴(mbar)。将腔室内的基板温度提升至850℃。通入300毫托耳(mTorr)的氧气于腔室内。接着，使用中心波长为248纳米的激光光源进行溅镀，将靶材溅镀至基板，而在基板上形成薄膜。其中，激光的聚焦能量密度介于1.5焦耳/平方公分至2.0焦耳/平方公分之间。待基板上的薄膜(即超导膜)的厚度介于150-350纳米的范围内时，但厚度不以此为限，将腔室内的基板温度降低至500℃。然后，通入0.8-1大气压(atm)的氧气于腔室内，并维持0.5-1小时。最后，使腔室内的基板温度自然下降至室温，即完成了实施例六的超导膜的制备。
比较例一(钛酸锶基板，STO基板)
首先制备YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末，将Y2O3、BaCO3及CuO等粉末以莫耳比率Y:Ba:Cu分别为1:2:3及2:1:1等比率量秤，各自混合均匀后，以900℃持温8小时煅烧后，研磨均匀并再度煅烧2次，亦即共进行煅烧3次，即可得到YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末。接着将YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末以重量百分比92:8的比例均匀混合，以25～35Mpa的压力压成块，并于其表面中心放置SmBa2Cu3O7晶种，于908℃持温4小时，升温至1045℃持温1小时。最后以4℃/hr的降温速率降温至992℃，接着以0.2℃/hr的降温速率降温至982℃，最后自然降温至室温，便完成靶材制作。将内含8wt％(重量百分比)Y2BaCuO5的YBa2Cu3O7靶材以及STO基板(SrTiO3)置入溅镀设备的腔室内。然后，透过抽气泵以将腔室内的压力降低至约10-6毫巴(mbar)。将腔室内的基板温度提升至850℃。通入300毫托耳(mTorr)的氧气于腔室内。接着，使用中心波长为248纳米的激光光源进行溅镀，将靶材溅镀至基板，而在基板上形成薄膜。其中，激光的聚焦能量密度介于1.5焦耳/平方公分至2.0焦耳/平方公分之间。待基板上的薄膜(即超导膜)的厚度介于150-350纳米的范围内时，将腔室内的基板温度降低至500℃。然后，通入0.8-1大气压(atm)的氧气于腔室内，并维持0.5-1小时。最后，使腔室内的基板温度自然下降至室温，即完成了比较例一的超导膜的制备。请参阅图4，图4为本发明比较例一的超导膜的穿透式电子显微镜的分析结果。如图所示，黑色部分代表YBa2Cu3O7，白色部分则为Y2BaCuO5，比较例一的超导膜内的Y2BaCuO5聚集成层状。
比较例二(STO基板)
首先制备YBa2Cu3O7起始粉末，将Y2O3、BaCO3及CuO等粉末以莫耳比率Y:Ba:Cu为1:2:3的比率量秤，混合均匀后，以900℃持温8小时煅烧后，研磨均匀并再度煅烧2次，亦即共进行煅烧3次，即可得到YBa2Cu3O7起始粉末。接着将YBa2Cu3O7起始粉末以25～35Mpa的压力压成块，于900℃持温8小时进行烧结，最后自然降温至室温，便完成YBa2Cu3O7靶材制作。将YBa2Cu3O7靶材以及STO基板(SrTiO3)置入溅镀设备的腔室内。然后，透过抽气泵以将腔室内的压力降低至约10-6毫巴(mbar)。将腔室内的基板温度提升至780℃。通入300毫托耳(mTorr)的氧气于腔室内。接着，使用中心波长为248纳米的激光光源进行溅镀，将靶材溅镀至基板，而在基板上形成薄膜。其中，激光的聚焦能量密度介于1.5焦耳/平方公分至2.0焦耳/平方公分之间。待基板上的薄膜(即超导膜)的厚度介于150-350纳米的范围内时，将腔室内的基板温度降低至500℃。然后，通入0.8-1大气压(atm)的氧气于腔室内，并维持0.5-1小时。最后，使腔室内的基板温度自然下降至室温，即完成了比较例二的超导膜的制备。
比较例三(MgO基板)
首先制备YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末，将Y2O3、BaCO3及CuO等粉末以莫耳比率Y:Ba:Cu分别为1:2:3及2:1:1等比率量秤，各自混合均匀后，以900℃持温8小时煅烧后，研磨均匀并再度煅烧2次，亦即共进行煅烧3次，即可得到YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末。接着将YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5起始粉末以重量百分比92:8的比例均匀混合，以25～35Mpa的压力压成块，并于其表面中心放置SmBa2Cu3O7晶种，于908℃持温4小时，升温至1045℃持温1小时。最后以4℃/hr的降温速率降温至992℃，接着以0.2℃/hr的降温速率降温至982℃，最后自然降温至室温，便完成靶材制作。将内含8wt％(重量百分比)Y2BaCuO5的YBa2Cu3O7靶材以及MgO基板置入溅镀设备的腔室内。然后，透过抽气泵以将腔室内的压力降低至约10-6毫巴(mbar)。将腔室内的基板温度提升至850℃。通入300毫托耳(mTorr)的氧气于腔室内。接着，使用中心波长为248纳米的激光光源进行溅镀，将靶材溅镀至基板，而在基板上形成薄膜。其中，激光的聚焦能量密度介于1.5焦耳/平方公分至2.0焦耳/平方公分之间。待基板上的薄膜(即超导膜)的厚度介于150-350纳米的范围内时，将腔室内的基板温度降低至500℃。然后，通入0.8-1大气压(atm)的氧气于腔室内，并维持0.5-1小时。最后，使腔室内的基板温度自然下降至室温，即完成了比较例三的超导膜的制备。请参阅图5，图5为本发明比较例三的超导膜的穿透式电子显微镜的分析结果。如图所示，比较例三的基板的镁原子扩散至超导膜。
请参阅下表一及表二，表一为实施例一及实施例二的基板、晶格常数、靶材以及超导膜的临界电流密度的比较结果。表二为比较例一至比较例三的基板、晶格常数、靶材以及超导膜的临界电流密度的比较结果。其中，实施例一及实施例二、比较例一以及比较例三为使用相同靶材(YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5)但不同的基板，而比较例二所使用的靶材为YBa2Cu3O7。
表一
表二
由于实施例一及实施例二的基板的晶格常数与超导膜YBa2Cu3O7的晶格常数差异较大，因而在镀膜的过程中，YBa2Cu3O7与Y2BaCuO5是同时成长生成并且Y2BaCuO5会形成纳米颗粒并均匀分布于YBa2Cu3O7内，亦即达到了钉札中心微小化及分散化的效果，如图3穿透式电子显微镜照片所示。在比较例一中，比较例一与实施例一及实施例二的差别在于比较例一使用的基板为钛酸锶基板。钛酸锶基板的晶格常数为与超导膜YBa2Cu3O7的晶格常数相近。在图4的穿透式电子显微镜的分析结果中，黑色部分代表YBa2Cu3O7，白色部分则为Y2BaCuO5。相较于图3，在图4中，由于比较例一所用的钛酸锶基板的晶格常数与超导膜YBa2Cu3O7的晶格常数相近，而使得Y2BaCuO5呈层状聚集在一起，而非如图3呈纳米颗粒状分散分布。也就是说，当钉札中心小而分散时，可有效增加钉札中心数量，并且使量子磁通更平均地分布于超导相内，而降低量子磁通间的互斥力，故能有效提升钉札效果。亦即，临界电流密度可得到提升。如表一所示，实施例一的临界电流密度(3.26MA/cm2)以及实施例二的临界电流密度(2.06MA/cm2)均明显高于比较例一的电流密度(0.99MA/cm2)。
在比较例二中，由于所使用的靶材未含有Y2BaCuO5，因而比较例二具有更低的临界电流密度(0.11MA/cm2)。
就比较例三而言，由于溅镀工艺需要780℃-850℃的温度，而比较例三的基板(MgO)中的镁元素会在此温度范围内扩散至超导膜，如图5的镁元素扩散，而破坏了超导膜中超导相的超导性质。请一并参阅图6，图6为实施例一以及比较例一、二的超导膜于温度77K，不同磁场下的临界电流密度。如图所示，在77K、1T的环境下，实施例一的超导膜的临界电流密度(Jc)达3.26MA/cm2，实施例二的超导膜的临界电流密度(Jc)达2.06MA/cm2。比较例一、二的超导膜的临界电流密度则仅分别为0.99以及0.11MA/cm2。
根据本发明实施例所揭露的超导膜元件及超导膜元件的制备方法，本发明是使用单一的靶材在基板上溅镀超导膜，使生成超导相YBa2Cu3O7及非超导相Y2BaCuO5，且基板的晶格常数介于至之间，因而基板与超导膜的晶格常数具有相当的差异，使得本发明所制备的超导膜内的Y2BaCuO5为颗粒状均匀分布于YBa2Cu3O7内，而达到微小化、分散化钉札中心的效果。如此一来，可有效增加钉札中心数量，并且使量子磁通更平均地分布于超导体内，因而降低量子磁通间的互斥力，故能有效提升钉札效果，亦即临界电流密度可得到提升。
此外，在本发明部分实施例中，由于靶材是透过顶端接种熔融工艺或烧结工艺制备，因而靶材质地较致密，对于制作的超导膜的品质，亦有帮助。
当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
Claims (18)
1.一种超导膜元件，其特征在于，包含：
一基板，该基板的晶格常数介于至之间；以及
一超导膜，设置于该基板上，该超导膜包含YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5；
其中该Y2BaCuO5分散于该YBa2Cu3O7中。
2.如权利要求1所述的超导膜元件，其特征在于，该Y2BaCuO5及该YBa2Cu3O7接触该基板。
3.如权利要求1所述的超导膜元件，其特征在于，该Y2BaCuO5占该超导膜的总重的百分之5至百分之15重量百分比。
4.如权利要求1所述的超导膜元件，其特征在于，该基板为钇安定氧化锆、铝酸镧、Y3NbO7、Gd2Zr2O7、二氧化铈或NdGaO3。
5.如权利要求1所述的超导膜元件，其特征在于，该Y2BaCuO5以颗粒状的形式形成于该YBa2Cu3O7中。
6.如权利要求5所述的超导膜元件，其特征在于，该Y2BaCuO5的颗粒粒径介于15纳米至30纳米之间。
7.如权利要求1所述的超导膜元件，其特征在于，该超导膜的厚度介于150纳米至350纳米之间。
8.如权利要求1至权利要求7中任一项所述的超导膜元件，其特征在于，可应用至超导线材。
9.一种超导膜元件的制备方法，其特征在于，包含下列步骤：
提供一基板，该基板的晶格常数介于至之间；
提供一靶材，该靶材包含有YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5；以及
执行一镀膜工艺，使该靶材于该基板上同时形成YBa2Cu3O7及Y2BaCuO5，其中该Y2BaCuO5分散于该YBa2Cu3O7中。
10.如权利要求9所述的超导膜元件的制备方法，其特征在于，该镀膜工艺的基板温度介于780℃至850℃之间。
11.如权利要求9所述的超导膜元件的制备方法，其特征在于，该镀膜工艺为一激光溅镀工艺。
12.如权利要求11所述的超导膜元件的制备方法，其特征在于，该激光溅镀工艺的激光的聚焦能量密度介于1.5焦耳/平方公分至2.0焦耳/平方公分之间。
13.如权利要求11所述的超导膜元件的制备方法，其特征在于，该激光溅镀工艺的激光的中心波长为248纳米。
14.如权利要求9所述的超导膜元件的制备方法，其特征在于，于该镀膜工艺前还包含：
执行一顶端接种熔融工艺或一烧结工艺。
15.如权利要求9所述的超导膜元件的制备方法，其特征在于，该Y2BaCuO5占该靶材的总重的百分之5至百分之15重量百分比。
16.如权利要求9所述的超导膜元件的制备方法，其特征在于，于该镀膜工艺中，该Y2BaCuO5以颗粒状的形式形成于该YBa2Cu3O7内。
17.如权利要求9所述的超导膜元件的制备方法，其特征在于，该基板为钇安定氧化锆、铝酸镧、Y3NbO7、Gd2Zr2O7、二氧化铈或NdGaO3。
18.如权利要求9所述的超导膜元件的制备方法，其特征在于，该Y2BaCuO5及该YBa2Cu3O7接触该基板。
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