CN105044484B - 一种基于视觉的ic测试qfn一体机 - Google Patents

Abstract

本发明的一种基于视觉的IC测试QFN一体机，包括机台、IC圆周送料机构、测试工位、电性次品排料站工位、IC上料机构、IC极性视觉识别机构、转向定位机构、第一照明光源、电信次品第一排料站、电信次品第二排料站、视觉外观检测机构、IC定位站、第二照明光源与封装站。本发明可对输送中的IC元件进行除静电处理，可对IC元件的极性进行识别，对转变IC元件极性方向，可满足不同厚度IC元件的测试规格，可以灵活布局测试设备，以满足不同IC元件的测试要求，整机通用性强，可按电信测试不同的种类分别对不同的IC元件进行分选并归类到不同的排料盒，并可自动下料分开回收，及对良品的IC元件进行热封合处理，全程自动化操作，智能化程度高，扩展性强，维护简单方便，成本低。

Description

一种基于视觉的IC测试QFN一体机

技术领域

本发明涉及一种基于视觉的IC测试QFN一体机。

背景技术

传统的IC元件测试主要是通过人工来测试的，通过人手来摆放IC元件到相应测试模座， IC元件下压到模座上面，其通过IC脚位金手指来对IC元件电性 （电压、电流和电阻等）进行测试。由于该操作方法首先需要人工辨别IC元件的极性，再通过人手摆放IC元件到测试模座上，并把IC元件下压到模座上面的IC脚位金手指才能进行识别，其辨别时间长，效率低，成本高，效果差。后来，市面上出现了部分IC元件电性 测试设备，这些设备可以对IC元件进行电性 测试，但其不能自动识别IC元件的极性，并且不能对IC元件精准定位，从而造成了IC脚位金手指接触测试不良，测试效率低，测试效果差。

因此，针对统及现有的设备对IC元件进行测试的技术存在上述问题的不足，本申请人研发一种可对输送中的IC元件进行除静电处理，及可对IC元件的极性进行识别，通过转向电机转动转向导模对IC元件极性方向进行转变，使其满足了测试的IC元件极性方向一致，并且通过转向高度调节机构去调整转向导模与吸嘴机构之间的距离，适用于对不同厚度的IC元件测试规格；其又通过设置有测试工位，使其可以灵活布局测试设备，以满足不同IC元件的测试要求，整机通用性强；其还设置有电性 次品第一排料站与电性 次品第二排料站，电性 次品第一排料站与电性 次品第二排料站均设置有分选排料机构、排料盒，其可按电性 测试不良种类分门别类地对不良IC元件进行分选，并归类到不同的排料盒，而根据电性 测试不良种类又可设有多个电性 次品排料站，以满足不同类型的不良IC元件进行归类，效率高，效果好；其还通过视觉外观检测机构检测IC元件的外观好坏，溢料站可对外观不良产品及清机未测试产品进行回收下料； IC定位站设置有定位高度调节机构和定位导模，吸嘴机构对IC元件吹落到定位导模，吸嘴机构下移再次吸取IC元件，对IC元件重新吸取定位，满足封装精准定位的要求，定位高度调节机构调节了定位导模和吸嘴机构之间的距离，适应对不同厚度的IC元件进行定位规格，及通过吸嘴机构对IC元件投放孔进行投放合格IC元件，热封合机构对装有IC元件的载带和盖带进行热封合处理，热封合机构对载带和盖带进行压合稳固处理，压合后，载带随封合载带导向槽输送回收，全程智能化操作程度高，功能多样化，扩展性强，维护简单方便，成本低的一种基于视觉的IC测试QFN一体机确属必要。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种可对输送中的IC元件进行除静电处理，可对IC元件的极性进行识别，通过转向电机转动转向导模对IC元件极性方向进行转变，使测试的IC元件满足极性方向一致，并且通过转向高度调节机构去调整转向导模与吸嘴机构之间的距离，满足不同厚度IC元件的测试规格；其又设置有测试工位，可以灵活布局测试设备，以满足不同IC元件的测试要求，整机通用性强，可按电性 测试不同的种类分别对不良的IC元件进行分选并归类到不同的排料盒，同时，根据电性 测试不良种类可以设置多个电性次品排料站，以满足对不同类型的不良IC元件进行归类，效率高，效果好，可适应对不同厚度的IC元件进行定位定规格，并可对良品或不良品或清机未测试产品进行下料分开回收，及对良品进行热封合处理，全程自动化操作，智能化程度高，扩展性强，维护简单方便，成本低的基于视觉的IC测试QFN一体机。本发明是通过以下技术方案来实现的：

一种基于视觉的IC测试QFN一体机，包括机台，及设置在机台中心的IC圆周送料机构，及设置在机台上、环绕IC圆周送料机构的外圆周设置有测试工位与电性次品排料站工位，及与IC圆周送料机构连接的IC上料机构，及设置在IC上料机构右侧的IC极性视觉识别机构，及设置在IC极性视觉识别机构右侧的转向定位机构，及设置在转向定位机构右侧的第一照明光源，及设置在第一照明光源右侧的电性 次品第一排料站，及设置在电性 次品第一排料站右侧的电性 次品第二排料站，及设置在电性 次品第二排料站右侧的视觉外观检测机构，及设置在视觉外观检测机构右侧的IC定位站，及设置在IC定位站右侧的第二照明光源，及设置在第二照明光源右侧的封装站，及设置在封装站右侧的溢料站；所述IC上料机构、IC极性视觉识别机构、转向定位机构、第一照明光源、电性 次品第一排料站、电性 次品第二排料站、视觉外观检测机构、IC定位站、第二照明光源、封装站与溢料站以一定的间隙环绕IC圆周送料机构的外圆周分布；所述测试工位设置有二个以上，所述电性次品排料站工位也设置有二个以上，二个所述测试工位之间设置有一个电性次品排料站工位。

作为优选，所述IC上料机构设置包括上料底座，及设置在上料底座前端的离子风扇支架，及设置在离子风扇支架上端的离子风扇，及设置在上料底座上面的震动盘，及设置在震动盘右侧上方的料斗，及设置在震动盘后面的凸轮分离送料机构。

作为优选，所述转向定位机构设置包括转向底座，及设置在转向底座中部上的转向高度调节机构，及连接设置在转向高度调节机构后面的转向电机，及设置在转向电机上面的转向导模。

作为优选，所述电性 次品第一排料站与所述电性 次品第二排料站分别包括排料箱，及设置在排料箱顶部的分选排料机构，及设置在排料箱后面的排料盒；所述排料盒设置有二个以上。

作为优选，所述IC定位站设置包括定位座，及设置在定位座上的定位高度调节机构，及设置在定位高度调节机构顶部的定位导模。

作为优选，所述IC圆周送料机构设置包括转盘主轴机构，及环绕转盘主轴机构上端的外径设置有转盘，及与转盘安装设置有吸嘴机构，及设置在转盘上面的真空仓机构；所述吸嘴机构设置有十五个以上。

作为优选，所述封装站设置包括封合底座，及设置在封合底底座上面的封装座，及设置在封装座前侧的下载带卷盘，及设置在下载带卷盘右侧的载带导向槽，及设置在载带导向槽上方的载带电机，及设置在封装座右端上的IC元件投放孔，及设置在封装座顶面的第二热封压合机构，及设置在第二热封压合机构上方的上盖带卷盘，及设置在第二热封压合机构左侧的封合载带导向槽，及设置在第二热封压合机构右侧的第一热封压合机构。

作为优选，所述溢料站设置包括溢料箱，及设置在溢料箱顶部的溢料管，及设置在溢料箱后面的溢料盒。

本发明的一种基于视觉的IC测试QFN一体机，包括机台，及设置在机台中心的IC圆周送料机构，及设置在机台上、环绕IC圆周送料机构的外圆周设置有测试工位与电性次品排料站工位，及与IC圆周送料机构连接的IC上料机构，及设置在IC上料机构右侧的IC极性视觉识别机构，及设置在IC极性视觉识别机构右侧的转向定位机构，及设置在转向定位机构右侧的第一照明光源，及设置在第一照明光源右侧的电性 次品第一排料站，及设置在电性 次品第一排料站右侧的电性 次品第二排料站，及设置在电性 次品第二排料站右侧的视觉外观检测机构，及设置在视觉外观检测机构右侧的IC定位站，及设置在IC定位站右侧的第二照明光源，及设置在第二照明光源右侧的封装站，及设置在封装站右侧的溢料站；所述IC上料机构、IC极性视觉识别机构、转向定位机构、第一照明光源、电性 次品第一排料站、电性 次品第二排料站、视觉外观检测机构、IC定位站、第二照明光源、封装站与溢料站以一定的间隙环绕IC圆周送料机构的外圆周分布；所述测试工位设置有二个以上，所述电性次品排料站工位也设置有二个以上，二个所述测试工位之间设置有一个电性次品排料站工位。本发明可对输送中的IC元件进行除静电处理，可对IC元件的极性进行识别，通过转向电机转动转向导模对IC元件极性方向进行转变，使测试的IC元件满足极性方向一致，并且通过转向高度调节机构去调整转向导模与吸嘴机构之间的距离，满足不同厚度IC元件的测试规格；其又设置有测试工位，可以灵活布局测试设备，以满足不同IC元件的测试要求，整机通用性强，可按电性 测试不同的种类分别对不良的IC元件进行分选并归类到不同的排料盒，同时，根据电性 测试不良种类可以设置多个电性 次品排料站，以满足对不同类型的不良IC元件进行归类，效率高，效果好，可适应对不同厚度的IC元件进行定位定规格，并可对良品或不良品或清机未测试产品进行下料分开回收，及对良品进行热封合处理，全程自动化操作，智能化程度高，扩展性强，维护简单方便，成本低。

附图说明

为了易于说明，本发明由下述的较佳实施例及附图作以详细描述。

图1为本发明的一种基于视觉的IC测试QFN一体机的俯视图。

图2为本发明的一种基于视觉的IC测试QFN一体机的IC上料机构的立体图。

图3为本发明的一种基于视觉的IC测试QFN一体机的转向定位机构的立体图。

图4为本发明的一种基于视觉的IC测试QFN一体机的电性 次品排料站的立体图。

图5为本发明的一种基于视觉的IC测试QFN一体机的IC定位站的立体图。

图6为本发明的一种基于视觉的IC测试QFN一体机的IC圆周送料机构的立体图。

图7为本发明的一种基于视觉的IC测试QFN一体机的封装站的立体图。

图8为本发明的一种基于视觉的IC测试QFN一体机的溢料站的立体图。

具体实施方式

本实施例中，如图1至图8所示，本发明的一种基于视觉的IC测试QFN一体机，包括机台1，及设置在机台1中心的IC圆周送料机构2，及设置在机台1上、环绕IC圆周送料机构2的外圆周设置有测试工位3与电性次品排料站工位4，及与IC圆周送料机构2连接的IC上料机构5，及设置在IC上料机构5右侧的IC极性视觉识别机构6，及设置在IC极性视觉识别机构6右侧的转向定位机构7，及设置在转向定位机构7右侧的第一照明光源81，及设置在第一照明光源81右侧的电性 次品第一排料站91，及设置在电性 次品第一排料站91右侧的电性次品第二排料站92，及设置在电性 次品第二排料站92右侧的视觉外观检测机构10，及设置在视觉外观检测机构10右侧的IC定位站11，及设置在IC定位站11右侧的第二照明光源82，及设置在第二照明光源82右侧的封装站12，及设置在封装站12右侧的溢料站13；所述IC上料机构5、IC极性视觉识别机构6、转向定位机构7、第一照明光源81、电性 次品第一排料站91、电性 次品第二排料站92、视觉外观检测机构10、IC定位站11、第二照明光源82、封装站12与溢料站13以一定的间隙环绕IC圆周送料机构2的外圆周分布；所述测试工位3设置有二个以上，所述电性次品排料站工位4也设置有二个以上，二个所述测试工位3之间设置有一个电性次品排料站工位4。

其中，所述IC上料机构5设置包括上料底座51，及设置在上料底座51前端的离子风扇支架52，及设置在离子风扇支架52上端的离子风扇53，及设置在上料底座51上面的震动盘54，及设置在震动盘54右侧上方的料斗55，及设置在震动盘54后面的凸轮分离送料机构56。

其中，所述转向定位机构7设置包括转向底座71，及设置在转向底座71中部上的转向高度调节机构72，及连接设置在转向高度调节机构72后面的转向电机73，及设置在转向电机73上面的转向导模74。

其中，所述电性 次品第一排料站91与所述电性 次品第二排料站92分别包括排料箱93，及设置在排料箱93顶部的分选排料机构94，及设置在排料箱93后面的排料盒95；所述排料盒95设置有二个以上。

其中，所述IC定位站11设置包括定位座112，及设置在定位座112上的定位高度调节机构113，及设置在定位高度调节机构113顶部的定位导模114。

其中，所述IC圆周送料机构2设置包括转盘主轴机构21，及环绕转盘主轴机构21上端的外径设置有转盘22，及与转盘22安装设置有吸嘴机构23，及设置在转盘上面的真空仓机构24；所述吸嘴机构23设置有十五个以上。

其中，所述封装站12设置包括封合底座121，及设置在封合底底121座上面的封装座122，及设置在封装座122前侧的下载带卷盘123，及设置在下载带卷盘123右侧的载带导向槽124，及设置在载带导向槽124上方的载带电机125，及设置在封装座122右端上的IC元件投放孔126，及设置在封装座122顶面的第二热封压合机构127，及设置在第二热封压合机构127上方的上盖带卷盘128，及设置在第二热封压合机构127左侧的封合载带导向槽129，及设置在第二热封压合机构127右侧的第一热封压合机构1271。

其中，所述溢料站13设置包括溢料箱131，及设置在溢料箱131顶部的溢料管132，及设置在溢料箱131后面的溢料盒133。

按上述结构安装完毕后，该IC测试QFN一体机的操作流程为：步骤一、首先将待测IC元件放置在料斗55上，离子风扇53可对从料斗55向振动盘输送的IC元件进行除静电处理，震动盘54和凸轮分离送料机构56结合操作对除静电处理后的IC元件进行上料操作并传送至极性视觉识别机构的测试工位3上。

步骤二、所述极性视觉识别机构可对IC元件进行极性识别并将其传送到转向定位机构7的测试工位3上，转向电机73转动转向导模74可转变IC元件的极性方向，使测试的IC元件极性方向保持一致；转向电机73与转向导模74可通过转向高度调节机构72去调整转向导模74与吸嘴机构23之间的距离，以满足不同厚度的IC元件进行不同的测试规格，测试完成后，转向定位机构7把IC元件传送到下一个测试工位3上，多个测试工位3的设置可灵活布局测试设备，满足对不同IC元件的测试要求，整机通用性强。

步骤三、所述第一照明光源81可对在测试工位3上的IC元件进行照明，以便于设备识别良口与不良产品，IC元件自动传送依次进入到电性 次品第一排料站91与电性 次品第二排料站92，第一排料站与电性 次品第二排料站92中的分选排料机构94按电性 测试不良IC元件的不良种类进行分类分选后并归集到不同的排料盒95，以满足对不同类型的不良IC元件进行归类，提高工作效率，操作完成后，IC元件自动传送进入到视觉外观检测机构10的测试工位3上。

步骤四、所述视觉外观检测机构10对IC元件的外观进行检测，以辨别良品或不良品，经视觉外观检测机构10检测后的IC元件自动传送进入到IC定位站11上，吸嘴机构23先把IC元件吹落到定位导模114上，定位高度调节机构113调节了定位导模114与吸嘴机构23之间的距离，吸嘴机构23再次吸取IC元件重新定位，以满足封装精准定位的要求及适合对不同厚度的IC元件定位规格，同时，第二照明光源82为IC定位站11的操作提供照明，提高精准率，定位完成后，IC元件自动传送进入到封装站12上。

步骤五、下载带卷盘123提供载带，载带电机125对载带随载带导向槽124进行输送，上盖带卷盘128提供盖带，吸嘴机构23对IC元件投放孔126进行投放合格的IC元件，第一热封合机构对装有IC元件的载带和盖带进行热封合处理，第二热封压合机构127对载带和盖带进行压合稳固处理，压合后，载带随封合载带导向槽129输送回收；由于每个测试工位3的两侧均设置有电性次品排料站工位4，当每个工序检测到不良品时可通过电性次品排料站工位4排分类排出次品，其最后通过溢料站13对外观不良的产品及清机未测试的产品进行回收下料。

本发明的一种基于视觉的IC测试QFN一体机，包括机台，及设置在机台中心的IC圆周送料机构，及设置在机台上、环绕IC圆周送料机构的外圆周设置有测试工位与电性次品排料站工位，及与IC圆周送料机构连接的IC上料机构，及设置在IC上料机构右侧的IC极性视觉识别机构，及设置在IC极性视觉识别机构右侧的转向定位机构，及设置在转向定位机构右侧的第一照明光源，及设置在第一照明光源右侧的电性 次品第一排料站，及设置在电性 次品第一排料站右侧的电性 次品第二排料站，及设置在电性 次品第二排料站右侧的视觉外观检测机构，及设置在视觉外观检测机构右侧的IC定位站，及设置在IC定位站右侧的第二照明光源，及设置在第二照明光源右侧的封装站，及设置在封装站右侧的溢料站；所述IC上料机构、IC极性视觉识别机构、转向定位机构、第一照明光源、电性 次品第一排料站、电性 次品第二排料站、视觉外观检测机构、IC定位站、第二照明光源、封装站与溢料站以一定的间隙环绕IC圆周送料机构的外圆周分布；所述测试工位设置有二个以上，所述电性次品排料站工位也设置有二个以上，二个所述测试工位之间设置有一个电性次品排料站工位。本发明可对输送中的IC元件进行除静电处理，及可对IC元件的极性进行识别，通过转向电机转动转向导模对IC元件极性方向进行转变，使其满足了测试的IC元件极性方向一致，并且通过转向高度调节机构去调整转向导模与吸嘴机构之间的距离，适用于对不同厚度的IC元件测试规格；其又通过设置有测试工位，使其可以灵活布局测试设备，以满足不同IC元件的测试要求，整机通用性强；其还设置有电性 次品第一排料站与电性 次品第二排料站，电性 次品第一排料站与电性 次品第二排料站均设置有分选排料机构、排料盒，其可按电性 测试不良种类分门别类地对不良IC元件进行分选，并归类到不同的排料盒，而根据电性 测试不良种类又可设有多个电性 次品排料站，以满足不同类型的不良IC元件进行归类，效率高，效果好；其还通过视觉外观检测机构检测IC元件的外观好坏，溢料站可对外观不良产品及清机未测试产品进行回收下料； IC定位站设置有定位高度调节机构和定位导模，吸嘴机构对IC元件吹落到定位导模，吸嘴机构下移再次吸取IC元件，对IC元件重新吸取定位，满足封装精准定位的要求，定位高度调节机构调节了定位导模和吸嘴机构之间的距离，适应对不同厚度的IC元件进行定位规格，及通过吸嘴机构对IC元件投放孔进行投放合格IC元件，热封合机构对装有IC元件的载带和盖带进行热封合处理，热封合机构对载带和盖带进行压合稳固处理，压合后，载带随封合载带导向槽输送回收，全程智能化操作程度高，功能多样化，扩展性强，维护简单方便，成本低。

上述实施例，只是本发明的一个实例，并不是用来限制本发明的实施与权利范围，凡与本发明权利要求所述内容相同或等同的技术方案，均应包括在本发明保护范围内。

Claims (4)

1.一种基于视觉的IC测试QFN一体机，其特征在于：包括机台，及设置在机台中心的IC圆周送料机构，及设置在机台上、环绕IC圆周送料机构的外圆周设置有测试工位与电性次品排料站工位，及与IC圆周送料机构连接的IC上料机构，及设置在IC上料机构右侧的IC极性视觉识别机构，及设置在IC极性视觉识别机构右侧的转向定位机构，及设置在转向定位机构右侧的第一照明光源，及设置在第一照明光源右侧的电性 次品第一排料站，及设置在电性 次品第一排料站右侧的电性 次品第二排料站，及设置在电性 次品第二排料站右侧的视觉外观检测机构，及设置在视觉外观检测机构右侧的IC定位站，及设置在IC定位站右侧的第二照明光源，及设置在第二照明光源右侧的封装站，及设置在封装站右侧的溢料站；所述IC上料机构、IC极性视觉识别机构、转向定位机构、第一照明光源、电性 次品第一排料站、电性 次品第二排料站、视觉外观检测机构、IC定位站、第二照明光源、封装站与溢料站以一定的间隙环绕IC圆周送料机构的外圆周分布；所述测试工位设置有二个以上，所述电性次品排料站工位也设置有二个以上，二个所述测试工位之间设置有一个电性次品排料站工位；

所述转向定位机构设置包括转向底座，及设置在转向底座中部上的转向高度调节机构，及连接设置在转向高度调节机构后面的转向电机，及设置在转向电机上面的转向导模；

所述电性 次品第一排料站与所述电性 次品第二排料站分别包括排料箱，及设置在排料箱顶部的分选排料机构，及设置在排料箱后面的排料盒；所述排料盒设置有二个以上；

所述IC定位站设置包括定位座，及设置在定位座上的定位高度调节机构，及设置在定位高度调节机构顶部的定位导模；

所述溢料站设置包括溢料箱，及设置在溢料箱顶部的溢料管，及设置在溢料箱后面的溢料盒。

2.根据权利要求1所述的一种基于视觉的IC测试QFN一体机，其特征在于：所述IC上料机构设置包括上料底座，及设置在上料底座前端的离子风扇支架，及设置在离子风扇支架上端的离子风扇，及设置在上料底座上面的震动盘，及设置在震动盘右侧上方的料斗，及设置在震动盘后面的凸轮分离送料机构。

3.根据权利要求1所述的一种基于视觉的IC测试QFN一体机，其特征在于：所述IC圆周送料机构设置包括转盘主轴机构，及环绕转盘主轴机构上端的外径设置有转盘，及与转盘安装设置有吸嘴机构，及设置在转盘上面的真空仓机构；所述吸嘴机构设置有十五个以上。

4.根据权利要求1所述的一种基于视觉的IC测试QFN一体机，其特征在于：所述封装站设置包括封合底座，及设置在封合底底座上面的封装座，及设置在封装座前侧的下载带卷盘，及设置在下载带卷盘右侧的载带导向槽，及设置在载带导向槽上方的载带电机，及设置在封装座右端上的IC元件投放孔，及设置在封装座顶面的第二热封压合机构，及设置在第二热封压合机构上方的上盖带卷盘，及设置在第二热封压合机构左侧的封合载带导向槽，及设置在第二热封压合机构右侧的第一热封压合机构。