CN105022178B - 基于平面波导的石墨烯相位型光调制器 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于平面波导的石墨烯相位型光调制器,该光调制器包括衬底层、光波导、第一电介质填充层、第二电介质填充层及电极结构;第一电介质填充层、第二电介质填充层及光波导均位于衬底层上端,光波导由从下往上依次设置的第一矩形波导、第一隔离介质层、第一石墨烯层、第二隔离介质层、第二石墨烯层、第三隔离介质层、第二矩形波导组成;电极结构包括第一金属层和第二金属层,第一金属层和第二金属层分别沉积在第一石墨烯层、第二石墨烯层的延伸部分的上端面。本发明的石墨烯层内嵌于光波导中,增强了石墨烯与光的相互作用,降低了系统的电阻,提高了调制器的调制速率,可以有效调控波导中的有效折射率变化,实现对光场相位的动态调制。
Description
技术领域
本发明涉及一种光调制器,属光电子技术领域,更具体的说是涉及一种基于平面波导的石墨烯相位型光调制器。
背景技术
相位型光调制器是改变通过光调制器光场的相位信息,实现将电信号调制到光载波上。传统的相位型光调制器实现主要包括:Si基材料的载流子色散效应、聚合物材料的热光效应、铌酸锂材料的电光效应和特殊材料的电致或磁致伸缩特性。但传统的调制器受自身材料特性的局限性,Si基光调制器和铌酸锂光调制器的调制速率已达到瓶颈,突破40GHz极为困难,且器件体积较大、调制电压较高;聚合物光调制器的热和化学稳定性较差;InP基光调制器工艺复杂、成本高,且有较大的啁啾;电致或磁致伸缩材料虽可以减小器件的体积和插入损耗,但调制带宽较小(见文献Wei-Chao Chiu, et al. Optical phasemodulators using deformable waveguides actuated by micro-electro-mechanicalsystems. Optics Letter, 2011, Vol 36, p1089-1091)。
石墨烯材料具有超宽光谱的吸收范围和超高的载流子迁移率,其光学特性可以被人为调控,并且其工艺具有与传统CMOS工艺兼容的特性,被认为是未来Si材料的替代者,是制作光调制器的理想材料(见文献Kinam Kim, et al. A role for graphene insilicon-based semiconductor devices. Nature, 2011, Vol 479, p338-344)。目前,基于石墨烯材料的光学调制器已经得到广泛的研究,大多是M-Z型电光调制器和吸收型光调制,在传统的SOI光波导表面水平铺设石墨烯层,将偏置电压施加在石墨烯层上,以改变石墨烯本身的复折射率来改变波导对入射光的折射率或吸收率,最终达到对入射光的强度调制,而针对相位型石墨烯光调制的报道还较少。
传统相位型光调制器体积较大,功耗较高,调制带宽较小,不易用于高度集成光学器件中,满足不了未来高度集成光子学和高速信号处理的需求,本领域技术人员亟需解决该技术问题。
发明内容
本发明克服了现有技术的不足,提供了一种基于平面波导的石墨烯相位型光调制器,解决了以往光调制器调制速率低、体积大及兼容性差的问题。
为解决上述的技术问题,本发明采用以下技术方案:
基于平面波导的石墨烯相位型光调制器,该光调制器包括衬底层、光波导、第一电介质填充层、第二电介质填充层及电极结构;所述第一电介质填充层、第二电介质填充层及光波导均位于衬底层上端,且第一电介质填充层和第二电介质填充层分别位于光波导的两侧;所述光波导由从下往上依次设置的第一矩形波导、第一隔离介质层、第一石墨烯层、第二隔离介质层、第二石墨烯层、第三隔离介质层、第二矩形波导组成,所述第一隔离介质层和第一石墨烯层向外延伸并覆盖在第一电介质填充层上端,所述第二隔离介质层和第二石墨烯层向外延伸并覆盖在第二电介质填充层上端;所述电极结构包括第一金属层和第二金属层,所述第一金属层和第二金属层分别沉积在第一石墨烯层、第二石墨烯层的延伸部分的上端面。
作为本发明的第一个优化方案,所述电极结构还包括第三金属层和第四金属层,所述第三金属层和第四金属层分别沉积在第一金属层、第二金属层的上端面。第三金属层和第四金属层分别沉积在第一金属层、第二金属层的上端面,从而与第一金属层和第二金属层共同组成电极结构,加强电极结构的导电性能和承压范围。
作为本发明的第二个优化方案,所述第一隔离介质层、第三隔离介质层的厚度为5~12nm,第二隔离介质层的厚度为5~65nm。第一隔离介质层、第二隔离介质层及第三隔离介质层将石墨烯层隔开,形成电容器结构,使石墨烯层的吸收效率最大化,并能够大大提高调制性能。其中,第二隔离介质层的厚度应较大,减少调制器的电容。
作为本发明的第三个优化方案,所述第一隔离介质层、第二隔离介质层及第三隔离介质层均由绝缘材料构成。第一隔离介质层、第二隔离介质层及第三隔离介质层采用绝缘材料能最大化的起到隔离效果,提高调制器调制效率。
作为本发明第三个优化方案的进一步优化,所述绝缘材料为硅氧化物、硅氮氧化物或硼氮化物。
作为本发明的第四个优化方案,所述第一矩形波导和第二矩形波导的材料为硅、锗、锗硅合金、III-V族半导体或II-IV族半导体。
作为本发明的第五个优化方案,所述的衬底层、第一电介质填充层及第二电介质填充层均由低折射率电介质材料制成,所述低折射率电介质材料的光折射率均小于第一矩形波导和第二矩形波导的光折射率。
作为本发明第五个优化方案的进一步优化,所述低折射率电介质材料为半导体氧化物。
作为本发明的第六个优化方案,所述第一金属层和第二金属层的材料为钛、镍、钴或钯。钛、镍、钴或钯的附着性较好,能加强第一金属层61和第二金属层62与石墨烯的连接强度,减少间隙,从而降低系统电阻,提高调制速率。
作为本发明的第七个优化方案,所述第三金属层和第四金属层的材料为金、银、铂或铜。金、银、铂或铜的导电性能优良,可以降低器件的电阻。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
1、本发明的石墨烯层内嵌于光波导中间,增强了石墨烯与光的相互作用,减小了器件体积,可以有效调控波导中的有效折射率变化,实现对光场相位的动态调制。
2、本发明将金属沉积在石墨烯层上,作为引出金属电极形成电极结构,降低了系统的电阻,提高了调制器的调制速率,且石墨烯层数少,降低了加工制造的难度和成本。
3、本发明在制备工艺上可与传统的SOICMOS工艺相兼容,集成化程度高。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细说明。
图1为本发明的三维结构示意图;
图2为本发明图1的横截面结构示意图;
图3为本发明实施例TE模的有效折射率在不同外加偏置电压下的变化图;
图4为本发明实施例TE模光的相位改变随着外加偏置电压变化的变化图;
图中的标号分别表示为:1-衬底层;21-第一电介质填充层;22-第二电介质填充层;31-第一矩形波导;32-第二矩形波导;4-隔离介质层;41-第一隔离介质层;42-第二隔离介质层;43-第三隔离介质层;51-第一石墨烯层;52-第二石墨烯层;61-第一金属层;62-第二金属层;71-第三金属层;72-第四金属层。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步的说明。本发明的实施方式包括但不限于下列实施例。
实施例
如图1、图2所示,基于平面波导的石墨烯相位型光调制器,该光调制器包括衬底层1、光波导、第一电介质填充层21、第二电介质填充层22及电极结构;所述第一电介质填充层21、第二电介质填充层22及光波导均位于衬底层1上端,且第一电介质填充层21和第二电介质填充层22分别位于光波导的两侧;所述光波导由从下往上依次设置的第一矩形波导31、第一隔离介质层41、第一石墨烯层51、第二隔离介质层42、第二石墨烯层52、第三隔离介质层43、第二矩形波导32组成,所述第一隔离介质层41和第一石墨烯层51向外延伸并覆盖在第一电介质填充层21上端,所述第二隔离介质层42和第二石墨烯层52向外延伸并覆盖在第二电介质填充层22上端;所述电极结构包括第一金属层61和第二金属层62,所述第一金属层61和第二金属层62分别沉积在第一石墨烯层51、第二石墨烯层52的延伸部分的上端面。
进一步的,所述电极结构还包括第三金属层71和第四金属层72,所述第三金属层71和第四金属层72分别沉积在第一金属层61、第二金属层62的上端面。
进一步的,所述第一隔离介质层41、第三隔离介质层43的厚度为5~12nm,第二隔离介质层42的厚度为5~65nm。
进一步的,所述第一隔离介质层41、第二隔离介质层42及第三隔离介质层43均由绝缘材料构成。
进一步的,所述绝缘材料为硅氧化物、硅氮氧化物或硼氮化物。
进一步的,所述第一矩形波导31和第二矩形波导32的材料为硅、锗、锗硅合金、III-V族半导体或II-IV族半导体。
进一步的,所述的衬底层1、第一电介质填充层21及第二电介质填充层22均由低折射率电介质材料制成,所述低折射率电介质材料的光折射率均小于第一矩形波导31和第二矩形波导32的光折射率。
进一步的,所述低折射率电介质材料为半导体氧化物。
进一步的,所述第一金属层61和第二金属层62的材料为钛、镍、钴或钯。
进一步的,所述第三金属层71和第四金属层72的材料为金、银、铂或铜。
本实施例中,波导的有效折射率包括有效折射率实部和有效折射率虚部,通过调谐波导的有效折射率实部的变化可改变光信号的相位,通过调谐波导的有效折射率虚部的变化可改变光信号的幅度。
本实施例的光调制器工作原理为:光调制器工作时,偏置电压通过电极作用在石墨烯层上,通过改变偏置电压,动态的调谐石墨烯的介电常数,从而调谐波导的有效折射率实部和虚部。有效折射率实部对应着光场的相位变化,而其虚部则对应着光场的衰减。石墨烯层内嵌于光波导中间,相对于水平铺设光波导表面的结构,增强了石墨烯与光的相互作用,减小了器件体积,可以有效调控波导中TE模光信号的有效折射率变化,可以实现对光场相位的动态调制。
本实施例将金属沉积在石墨烯层上,作为引出金属电极,再将导电性能优良的金属沉积在引出金属电极上,形成电极结构,降低了系统的电阻和系统RC常数,提高了调制器的调制速率。石墨烯之间形成零带隙结构,也使得石墨烯可以在非常宽的光波长范围内发挥作用,增加其工作范围;另外,在工艺方面,石墨烯与传统的CMOS工艺可很好的兼容,便于与CMOS工艺集成,集成化程度高。
下面,结合具体实验数据对本实施例作详细说明:
如图1、图2所示,本实施例采用波长为1.55µm的光波,衬底层1、第一电介质填充层21、第二电介质填充层22均采用半导体氧化物SiO2材料,第一矩形波导31和第二矩形波导32采用宽度为0.4µm、高度为0.17µm的Si材料,第一隔离介质层41、第三隔离介质层43采用5nm厚度的hBN(六方氮化硼)材料,第二隔离介质层42采用10nm厚度的hBN材料,SiO2、Si和hBN材料的光折射率分别为1.44、3.47和1.98;第一石墨烯层51和第二石墨烯层52的重叠部分的宽度为0.6µm;第一金属层61和第二金属层62的材料为钯,第三金属层71和第四金属层72的材料为金。由于钯金属与石墨烯有较强的附着性,在室温下,钯-石墨烯的接触电阻较小,可低于100Ω-µm,大大减小了系统的电阻,3dB调制带宽主要受限于RC常数的限制,预期实现的3dB调制带宽可达119GHz。
图3是本发明实施例波导中TE模的有效折射率随着外加偏置电压的变化图,图中,Neff表示有效折射率实部,即图中的实线;α表示有效折射率虚部,即图中的虚线。当电压从1V到5V区间变化时作用在石墨烯层上,对波导中TE模有效折射率实部的改变几乎呈线性递减的变化,而其虚部被抑制在一个很小的水平上,意味着此波导结构可以对TE模相位进行线性的动态调制。电压值为4.4V时,对TE模引起的有效折射率实部的改变量为ΔNeff =0.01025,此时只需要75.6µm长的石墨烯层就可以实现π相位的改变。
图4为本发明实施例对TE模光的相位改变随着外加偏置电压的变化图,图中,★表示计算得到的相位该变量;实线表示相位该变量的拟合曲线。调制区长度为75.6µm,电压调控范围为(1V~5.5V),设置当电压值为1V时,其相位改变量为零,计算结果显示,当电压在(1V~5.5V)改变范围内,可以近似线性的对光场相位进行动态调制,调制长度为75.6µm,在电压值为4.4V时,即可实现一个π相位的改变量,其能量消耗在0.452 pJ量级。
如上所述即为本发明的实施例。前文所述为本发明的各个优选实施例,各个优选实施例中的优选实施方式如果不是明显自相矛盾或以某一优选实施方式为前提,各个优选实施方式都可以任意叠加组合使用,所述实施例以及实施例中的具体参数仅是为了清楚表述发明人的发明验证过程,并非用以限制本发明的专利保护范围,本发明的专利保护范围仍然以其权利要求书为准,凡是运用本发明的说明书及附图内容所作的等同结构变化,同理均应包含在本发明的保护范围内。
Claims (10)
1.基于平面波导的石墨烯相位型光调制器,其特征在于:该光调制器包括衬底层(1)、光波导、第一电介质填充层(21)、第二电介质填充层(22)及电极结构;所述第一电介质填充层(21)、第二电介质填充层(22)及光波导均位于衬底层(1)上端,且第一电介质填充层(21)和第二电介质填充层(22)分别位于光波导的两侧;所述光波导由从下往上依次设置的第一矩形波导(31)、第一隔离介质层(41)、第一石墨烯层(51)、第二隔离介质层(42)、第二石墨烯层(52)、第三隔离介质层(43)、第二矩形波导(32)组成,所述第一隔离介质层(41)和第一石墨烯层(51)向外延伸并覆盖在第一电介质填充层(21)上端,所述第二隔离介质层(42)和第二石墨烯层(52)向外延伸并覆盖在第二电介质填充层(22)上端;所述电极结构包括第一金属层(61)和第二金属层(62),所述第一金属层(61)和第二金属层(62)分别沉积在第一石墨烯层(51)、第二石墨烯层(52)的延伸部分的上端面。
2.根据权利要求1所述的基于平面波导的石墨烯相位型光调制器,其特征在于:所述电极结构还包括第三金属层(71)和第四金属层(72),所述第三金属层(71)和第四金属层(72)分别沉积在第一金属层(61)、第二金属层(62)的上端面。
3.根据权利要求1所述的基于平面波导的石墨烯相位型光调制器,其特征在于:所述第一隔离介质层(41)、第三隔离介质层(43)的厚度为5~12nm,第二隔离介质层(42)的厚度为5~65nm。
4.根据权利要求1或2或3所述的基于平面波导的石墨烯相位型光调制器,其特征在于:所述第一隔离介质层(41)、第二隔离介质层(42)及第三隔离介质层(43)均由绝缘材料构成。
5.根据权利要求4所述的基于平面波导的石墨烯相位型光调制器,其特征在于:所述绝缘材料为硅氧化物、硅氮氧化物或硼氮化物。
6.根据权利要求1所述的基于平面波导的石墨烯相位型光调制器,其特征在于:所述第一矩形波导(31)和第二矩形波导(32)的材料为硅、锗、锗硅合金、III-V族半导体或II-IV族半导体。
7.根据权利要求1所述的基于平面波导的石墨烯相位型光调制器,其特征在于:所述的衬底层(1)、第一电介质填充层(21)及第二电介质填充层(22)均由低折射率电介质材料制成,所述低折射率电介质材料的光折射率均小于第一矩形波导(31)和第二矩形波导(32)的光折射率。
8.根据权利要求7所述的基于平面波导的石墨烯相位型光调制器,其特征在于:所述低折射率电介质材料为半导体氧化物。
9.根据权利要求1所述的基于平面波导的石墨烯相位型光调制器,其特征在于:所述第一金属层(61)和第二金属层(62)的材料为钛、镍、钴或钯。
10.根据权利要求2所述的基于平面波导的石墨烯相位型光调制器,其特征在于:所述第三金属层(71)和第四金属层(72)的材料为金、银、铂或铜。
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