CN104849569B - 一种介质损耗测量方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种介质损耗测量方法，该方法在准同步DFT基础上改进实现，包括如下步骤：同时采样被试件上施加的电压信号V和流过的电流信号I；应用准同步DFT谐相角线性修正方法获取施加电压的基波相角应用准同步DFT谐相角线性修正方法获取被试件中流过的电流信号基波初相角根据公式

Description

一种介质损耗测量方法

技术领域

本发明涉及一种高精度的介质损耗测量方法。

背景技术

智能介质损耗测量仪是测量介质损耗角正切和电容值的自动化仪器，其可以在工频高电压下，现场测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗角正切和电容值。该仪器也适用于车间、试验室、科研单位测量高压电器设备的介质损耗角正切及电容值；配以绝缘油杯可测量绝缘油介质损耗。

智能介质损耗测量仪的工作原理：当电介质上施加交流电压时，电介质中的电压和电流间成在相角差的余角δ称为介质损耗角，δ的正切tgδ称为介质损耗角正切。tgδ值是用来衡量电介质损耗的参数。该仪器的测量线路包括一路标准回路(Cn)和一路被试回路(Cx)。标准回路由内置高稳定度标准电容器与测量线路组成，被试回路由被试品和测量线路。测量线路由取样电阻与前置放大器和A/D转换器组成，由于并联在取样电阻两端的前置放大器输入电阻远远大于取样电阻，因此可认为回路电流全部流过取样电阻。通过测量线路将电流信号转换为数字信号，再由单片机运用数字化实时采集方法，分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位差，通过矢量运算便可得出试品的电容值和介质损耗。

谐波分析技术在电能质量监控、电子产品生产检验、电器设备监控等众多领域应用广泛，是进行电网监控、质量检验、设备监控的重要技术手段。目前谐波分析应用最广泛的技术是离散傅里叶变换(DFT)和快速傅里叶变换(FFT)。准同步采样技术和DFT技术相结合的谐波分析技术能够提高谐波分析的精度，其算式为：

式中：k为需要获得的谐波的次数(如基波k＝1，3次谐波k＝3)；sin和cos分别为正弦和余弦函数；而a_k和b_k分别为k次谐波的实部和虚部；n为迭代次数；W由积分方法决定，采用复化梯形积分方法时，W＝nN；γ_i为一次加权系数；为所有加权系数之和；f(i)为分析波形的第i个采样值；N为周期内采样次数。

在工程应用中，谐波分析总是进行有限点的采样和难以做到严格意义的同步采样。这样，在应用准同步DFT进行谐波分析时，就会存在由于截断效应导致的长范围泄漏和由于栅栏效应导致的短范围泄漏，使得分析结果精度不高，甚至不可信。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种高精度的介质损耗测量方法，以有效改进准同步DFT谐波分析技术的分析误差，获得高精度的谐波分析结果，从而提高介质损耗测量的可靠性。

实现本发明目的的技术方案是提供一种介质损耗测量方法，包括如下几个步骤：

(1)等间隔同步采样被试件上施加的电压信号V和电流信号I的W+2个采样点数据：{f_V(i)，f_I(i)，i＝0，1，...，W+1}；

(2)从所述电压信号V的采样点i＝0开始应用准同步DFT公式：

分析W+1个数据获得所述电压信号V的 基波信息和

从所述电压信号V的采样点i＝1应用准同步DFT公式：

分析W+1个数据获得所述电压信号V的 基波信息和

应用公式：计算所述电压信号V的频率漂移μ_V；

应用公式计算所述电压信号V的基波初相角；

应用公式线性修正所述电压信号V的基波初相角。

(3)从所述电流信号I的采样点i＝0开始应用准同步DFT公式：

分析W+1个数据获得所述电流信号I的基 波信息和

从所述电流信号I的采样点i＝1应用准同步DFT公式：

分析W+1个数据获得所述电流信号I的基 波信息和

应用公式：计算所述电流信号I的频率漂移μ_j；

应用公式计算所述电流信号I的基波初相角；

应用公式线性修正所述电流信号I的基波初相角。

(4)根据公式计算介质损耗角正切。

准同步DFT谐波分析可以有效地抑制长范围泄漏，其频谱泄漏的主要原因是信号频率漂移导致的短范围泄漏，本发明公开一种能够有效抑制短范围泄漏的谐相角线性修正方法，从而获得高精度的谐相角信息和介质损耗因数。

N为一个理想周期内的采样点数。所述的等间隔采样是根据进行谐波分析的理想信号的周期T和频率I(如工频信号频率f为50Hz，周期为20mS)，在一个周期内采样N点，即采样频率为f_s＝Nf，且N≥64。

所述的采样W+2个采样点数据是根据所选择的积分方法而作相应选择，若采用复化梯形积分方法，则W＝nN；若采用复化矩形积分方法，则W＝n(N-1)；若采用复化辛普森积分方法，则W＝n(N-1)/2；然后根据采样频率f_s＝Nf，获得采样点数据序列；n为迭代次数，一般n≥3。

一次迭代系数γ_i由积分方法、理想周期采样点N和迭代次数n决定，具体推导过程参见文献【戴先中.准同步采样应用中的若干问题[J].电测与仪表，1988，(2)：2-7.】。

为所有加权系数之和。

信号频率的漂移μ_V和μ_I是根据相邻采样点基波相角差与理想周期内采样点数N的固定关系而获得的，信号频率的漂移也可用于修正基波和高次谐波的频率f₁和高次谐波的频率f_k。

本发明具有积极的效果：(1)本发明具有高精度的介质损耗测量结果。

(2)本发明所述的方法从根本上解决了准同步DFT谐相角分析精度低的问题，而无需进行复杂的反演和修正，算法简单。

(3)相对于准同步DFT，本发明所述的谐波分析技术只需要增加一个采样点就解决了准同步DFT分析误差大的问题，易于实现。

(4)应用本发明来改进现有的仪器设备，技术上是可行，并且不需要增加任何的硬件开销就可使分析结果可以提高到10^-8级。

(5)本方法也同样也适用于进行多次迭代而非一次迭代的谐波分析过程，此时只需要把一次迭代分解成多次迭代实现就可以了。一次迭代和多次迭代本质上是一样的，只是在计算时多次迭代进行分步计算，而一次迭代是把多次迭代的过程合并到迭代系数γ_i中一次计算完成，所以本发明同样适用于多次迭代过程。

具体实施方式

(实施例1)

本实施例的一种介质损耗测量方法，包括以下步骤：

(1)等间隔同步采样被试件上施加的电压信号V和电流信号I的W+2个采样点数据：{f_V(i)，f_I(i)，i＝0，1，...，W+1}。W根据所选择的积分方法而作相应选择，若采用复化梯形积分方法，则W＝nN；若采用复化矩形积分方法，则W＝n(N-1)；若采用复化辛普森积分方法，则W＝n(N-1)/2；然后根据采样频率f_s＝Nf，获得采样点数据序列；n为迭代次数，一般n≥3。

(2)从所述电压信号V的采样点i＝0开始应用准同步DFT公式：

分析W+1个数据获得所述电压信号V的 基波信息和一次迭代系数γ_i由积分方法、理想周期采样点N和迭代次数n决 定；为所有加权系数之和；

从所述电压信号V的采样点i＝1应用准同步DFT公式：

分析W+1个数据获得所述电压信号V的 基波信息和

应用公式：计算所述电压信号V的频率漂移μ_V；

应用公式计算所述电压信号V的基波初相角；

应用公式线性修正所述电压信号V的基波初相角。

(3)从所述电流信号I的采样点i＝0开始应用准同步DFT公式：

分析W+1个数据获得所述电流信号I的基 波信息和

从所述电流信号I的采样点i＝1应用准同步DFT公式：

分析W+1个数据获得所述电流信号I的基 波信息和

应用公式：计算所述电流信号I的频率漂移μ_j；

应用公式计算所述电流信号I的基波初相角；

应用公式线性修正所述电流信号I的基波初相角。

(4)根据公式计算介质损耗角正切。

本技术领域的普通技术人员应当认识到，以上的实施例仅是用来说明本发明，而并非作为对本发明的限定，本发明还可以变化成更多的方式，只要在本发明的实质精神范围内，对以上所述实施例的变化、变型都将落在本发明的权利要求书范围内。

Claims (1)

1.一种介质损耗测量方法，其特征在于包括以下步骤：

(1)等间隔同步采样被试件上施加的电压信号V和电流信号I的W+2个采样点数据：{f_V(i),f_I(i),i＝0,1,…,W+1}；

(2)从所述电压信号V的采样点i＝0开始应用准同步DFT公式：

分析W+1个数据获得所述电压信号V的基波信息和

从所述电压信号V的采样点i＝1应用准同步DFT公式：

分析W+1个数据获得所述电压信号V的基波信息和

应用公式：计算所述电压信号V的频率漂移μ_v；

应用公式计算所述电压信号V的基波初相角；

应用公式线性修正所述电压信号V的基波初相角；

(3)从所述电流信号I的采样点i＝0开始应用准同步DFT公式：

分析W+1个数据获得所述电流信号I的基波信息和

从所述电流信号I的采样点i＝1应用准同步DFT公式：

分析W+1个数据获得所述电流信号I的基波信息和

应用公式：计算所述电流信号I的频率漂移μ₁；

应用公式计算所述电流信号I的基波初相角；

应用公式线性修正所述电流信号I的基波初相角；

(4)根据公式计算介质损耗角正切；

式中：k为需要获得的谐波的次数；sin和cos分别为正弦和余弦函数；而a_k和b_k分别为k次谐波的实部和虚部；n为迭代次数；W由积分方法决定，采用复化梯形积分方法时，W＝nN；γ_i为一次加权系数；为所有加权系数之和；f(i)为分析波形的第i个采样值；N为周期内采样次数。