CN104808030B - 一种测试探头及带有该测试探头的测试治具 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种测试探头，其包括有一支架及一测试针，所述测试针穿设于支架，且该测试针能够相对所述支架而往复弹性滑动，所述支架上设有用于将该支架安装于测试治具预设位置的紧固机构。本发明公开的测试探头，其在紧固机构的作用下，能使测试针的数量和间距得以调节，具有较好的可调性和通用性。
Description
技术领域
本发明涉及电子产品测试装置，尤其涉及一种测试探头及带有该测试探头的测试治具。
背景技术
测试探头是用于对电池、PCB板等部品进行测试时的弹性连接装置，其使用时，通过驱动机构带动测试探头前后移动，使得测试探头的触头能够与电池、PCB板等部品的触点接触，进而实现电性连接。请参见公开号为CN104330593A、名称为“测试针头和半导体测试治具”的发明专利申请的说明书及附图，其中，多个测试针头并行固定在测试治具的基底上，进而实现与待测部品的电性连接，但是这种测试针头及测试治具存在以下缺陷：
1、测试针头的数量以及多个测试针头之间的距离是固定不变的，由于测试针头的数量和间距无法调节，所以其仅适用于连接待测部品上指定数量和指定间距的触点，不具有可调性和通用性；
2、现有测试针头大多是铜材质，易氧化且耐磨性差，导致测试针头的使用寿命较短；
3、为保证相邻两个测试针头间的距离足够小，通常将测试针头制成较小尺寸，因而容易造成弹性不足、虚接等不良影响。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足，提供一种能灵活调 整测试针数量、间距的测试探头及带有该测试探头的测试治具。
为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案。
一种测试探头，其包括有一支架及一测试针，所述测试针穿设于支架，且该测试针能够相对所述支架而往复弹性滑动，所述支架上设有用于将该支架安装于测试治具预设位置的紧固机构。
优选地，所述紧固机构包括有形成于支架上的螺孔及与该螺孔相配合的螺丝，所述螺丝穿过测试治具的预设位置而螺合于所述螺孔。
优选地，所述支架是由两个支臂及一横梁构成的倒U形支架，所述测试针依次穿过两个支臂，且该测试针能够相对两个支臂而往复弹性滑动。
优选地，所述测试针的前端形成有一触头，所述触头呈圆柱形。
优选地，所述测试针位于两个支臂之间的部分形成有一限位块，所述测试针位于两个支臂之间的部分还套设有一弹簧，所述弹簧靠近触头的一端抵接于限位块，所述弹簧远离触头的一端抵接于支臂。
优选地，所述测试针为锡青铜测试针，且该测试针的表面设有24K金电镀层，所述触头为S990银材质触头。
一种测试治具，其包括有至少两个测试探头以及一用于驱动所述测试探头沿测试针的轴向往复移动的驱动机构。
优选地，所述驱动机构包括有气缸及设于气缸驱动端的滑块，所述滑块上开设有条形孔，所述螺丝穿过条形孔而对应螺合于支架的螺孔内。
优选地，所述测试探头的数量是三个，靠近边缘的两个测试针的前端相对弯折而分别形成有弯折部，靠近边缘的两个触头分设于两个弯折部上，三个触头并行设置且相邻两个触头之间形成有预设距离。
优选地，所述测试探头的数量是四个，靠近边缘的两个测试针的前端相对 弯折而分别形成有弯折部，靠近边缘的两个触头分设于两个弯折部上，四个触头并行设置且相邻两个触头之间形成有预设距离。
本发明公开的测试探头中，支架通过紧固机构安装于测试治具的预设位置，用户在使用时，可以根据需求灵活调整测试针的数量和间距，进而适用于与多种型号的电池、PCB板等部品相连，例如在实际应用中，可以将三个测试探头并行固定于测试治具上，进而连接于具有三个触点的电池，此外，可以将四个测试探头并行固定于测试治具上，进而连接于具有四个触点的电池。结合以上所述可以看出，本发明公开的测试探头，其在紧固机构的作用下，能使测试针的数量和间距得以调节，具有较好的可调性和通用性。
附图说明
图1为本发明测试探头的立体图。
图2为本发明测试治具的立体图。
图3为图2中A部分的放大图。
图4为本发明第一实施例中测试治具的三个测试探头的立体图。
图5为本发明第二实施例中测试治具的四个测试探头的立体图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作更加详细的描述。
本发明公开了一种测试探头，结合图1至图3所示，其包括有一支架10及一测试针11，所述测试针11穿设于支架10，且该测试针11能够相对所述支架10而往复弹性滑动，所述支架10上设有用于将该支架10安装于测试治具预设位置的紧固机构。
上述测试探头中，支架10通过紧固机构安装于测试治具的预设位置，用户在使用时，可以根据需求灵活调整测试针11的数量和间距，进而适用于与多种型号的电池、PCB板等部品相连，例如在实际应用中，可以将三个测试探头并行固定于测试治具上，进而连接于具有三个触点的电池，此外，可以将四个测试探头并行固定于测试治具上，进而连接于具有四个触点的电池。结合以上所述可以看出，本发明公开的测试探头，其在紧固机构的作用下，能使测试针11的数量和间距得以调节，具有较好的可调性和通用性。
作为一种优选方式，所述紧固机构包括有形成于支架10上的螺孔100及与该螺孔100相配合的螺丝103，所述螺丝103穿过测试治具的预设位置而螺合于所述螺孔100。但是这仅是本发明的一个较佳的实施例，并不用于限制本发明，在本发明的其他实施例中，紧固机构还可以采用卡扣等具有同等功能的结构实现。
本实施例中，所述支架10是由两个支臂101及一横梁102构成的倒U形支架，使得支架10的结构更加稳固，所述测试针11依次穿过两个支臂101，且该测试针11能够相对两个支臂101而往复弹性滑动，进一步地，所述螺孔100位于横梁102顶部。
为了更好地与待测部品的触点连接，所述测试针11的前端形成有一触头110，所述触头110呈圆柱形。
作为实现测试针11相对支架10弹性滑动的优选结构，所述测试针11位于两个支臂101之间的部分形成有一限位块111，所述测试针11位于两个支臂101之间的部分还套设有一弹簧12，所述弹簧12靠近触头110的一端抵接于限位块111，所述弹簧12远离触头110的一端抵接于支臂101，当触头110与待测部品的触点接触时，弹簧12受力压缩，使得触头110与触点得以良好接触。
作为一种优选方式，所述测试针11为锡青铜测试针，且该测试针11的表面设有24K金电镀层，该电镀层不易氧化，其能使待测部品的内阻更低，功耗更小，所述触头110为S990银材质触头，其更加耐磨且使用寿命更长。
基于上述测试探头，本发明还公开一种测试治具，其包括有至少两个测试探头以及一用于驱动所述测试探头沿测试针11的轴向往复移动的驱动机构20。
进一步地，所述测试针11的末端用于焊接引线。
本实施例中，所述驱动机构20包括有气缸200及设于气缸200驱动端的滑块201，所述滑块201上开设有条形孔202，所述螺丝103穿过条形孔202而对应螺合于支架10的螺孔100内。进一步地，所述气缸200和滑块201均设于一基座203上，所述基座203上设有导轨204，所述气缸200与基座203固定连接，所述滑块201与导轨204滑动连接。
上述测试治具连接电池时，可根据电池触点的数量和间距将测试探头按如下实施例设置：
实施例一
请参照图4，为连接具有三个触点的电池，所述测试探头的数量是三个，靠近边缘的两个测试针11的前端相对弯折而分别形成有弯折部112，靠近边缘的两个触头110分设于两个弯折部112上，三个触头110并行设置且相邻两个触头110之间形成有预设距离。
实施例二
请参照图5，为连接具有四个触点的电池，所述测试探头的数量是四个，靠近边缘的两个测试针11的前端相对弯折而分别形成有弯折部113，靠近边缘的两个触头110分设于两个弯折部113上，四个触头110并行设置且相邻两个触头110之间形成有预设距离。
上述两个实施例中，为了缩短触头间的距离，靠近边缘的两个测试针的前端相对弯折而分别形成有弯折部，靠近边缘的两个触头分设于两个弯折部上，其中，触头、弯折部和测试针的主体部分三者构成Z字形结构，在该结构特点下，使得相邻触头能够进一步靠近，进而满足电池触点的小间距要求，同时，触头间的距离受支架和测试针大小的影响较小，基于该特性，支架和测试针的主体结构能够做到更大，并且可以选用弹力更强的弹簧，使得测试探头的整体结构更加稳固，使用寿命更长，此外，本发明中的测试针优选为锡青铜材料制成，进而取得更优的耐磨性能。
以上所述只是本发明较佳的实施例，并不用于限制本发明，凡在本发明的技术范围内所做的修改、等同替换或者改进等，均应包含在本发明所保护的范围内。
Claims (5)
1.一种测试治具，其特征在于，包括有至少两个测试探头以及一用于驱动所述测试探头沿测试针的轴向往复移动的驱动机构，所述测试探头包括有一支架及一测试针，所述支架是由两个支臂及一横梁构成的倒U形支架，所述测试针依次穿过两个支臂，所述测试针位于两个支臂之间的部分形成有一限位块，所述测试针位于两个支臂之间的部分还套设有一弹簧，所述弹簧靠近所述测试针的一端抵接于限位块，所述弹簧远离所述测试针的一端抵接于支臂，所述测试针能够相对两个支臂而往复弹性滑动，所述支架上设有紧固机构，所述紧固机构包括有形成于支架上的螺孔及与该螺孔相配合的螺丝，所述螺丝穿过测试治具的预设位置而螺合于所述螺孔；所述驱动机构包括有气缸及设于气缸驱动端的滑块，所述滑块上开设有条形孔，所述螺丝穿过条形孔而对应螺合于支架的螺孔内。
2.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试针的前端形成有一触头，所述触头呈圆柱形。
3.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述测试针为锡青铜测试针，且该测试针的表面设有24K金电镀层，所述触头为S990银材质触头。
4.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试探头的数量是三个，靠近边缘的两个测试针的前端相对弯折而分别形成有弯折部，靠近边缘的两个触头分设于两个弯折部上，三个触头并行设置且相邻两个触头之间形成有预设距离。
5.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试探头的数量是四个，靠近边缘的两个测试针的前端相对弯折而分别形成有弯折部，靠近边缘的两个触头分设于两个弯折部上，四个触头并行设置且相邻两个触头之间形成有预设距离。
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