CN104764674A - 全水分测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种全水分测试装置，包括箱体和烘烤样品的烘烤机构，烘烤机构设置于箱体内或箱体外，箱体开设有接样口和弃样口。箱体内设有称量机构、用于存放样盘的存放机构和用以从存放机构夹取样盘并将样盘依序运送至接样口、称量机构、烘烤机构和弃样口的样盘运送机构。样盘运送机构包括安装部、相对于安装部水平旋转的框架以及设置于框架上的夹持部。夹持部包括固定部和夹爪，固定部通过升降部与框架连接，升降部在框架上沿框架的转动轴向升降，夹爪与固定部伸缩连接。上述全水分测试装置可完成夹取样盘，样盘接样，样品称量，夹持样盘送样，样品送样烘烤，烘烤称重，样盘弃置等操作，无需手动操作，自动化程度高，提高了测试效率。

Description

全水分测试装置

技术领域

本发明涉及分析仪器领域，特别地，涉及一种全水分测试装置。

背景技术

在很多分析仪器中，自动化程度不高，很多过程都要人工操作，如用于测试固定物质水分的水分测试仪。当前使用的各种水分测试仪器，虽然大部分都叫作全自动水分测试仪，但其测试时并没有实现全过程自动化，其中有很多地方都需要人工进行参与。如空样盘的取放、样盘接样、送样称量和送样烘烤需要手动操作，操作繁琐，需要大量人力资源。

发明内容

本发明提供了一种全水分测试装置，以解决现有的全水分测试装置需要手动操作，自动化程度低的问题。

本发明采用的技术方案如下：

一种全水分测试装置，包括箱体和烘烤样品的烘烤机构，烘烤机构设置于箱体内或箱体外，箱体开设有接样口和弃样口。

箱体内设有称量机构、用于存放样盘的存放机构和用以从存放机构夹取样盘并将样盘依序运送至接样口、称量机构、烘烤机构和弃样口的样盘运送机构。

样盘运送机构包括用于将样盘运送机构固定于箱体底面的安装部、在第一驱动机构的作用下相对于安装部水平旋转的框架以及设置于框架上的夹持部。

夹持部包括固定部和用于夹持样盘的夹爪，固定部通过升降部与框架连接，升降部在框架上沿框架的转动轴向升降，夹爪与固定部伸缩连接，以夹取和运送样盘。

进一步地，箱体的侧壁均设置有箱门，接样口和弃样口开设在同一个或不同的箱门上。

烘烤装置设置在箱体外，对应烘烤装置的箱门开设有夹爪夹持样盘通行的烘烤开口，以使夹爪将样盘送入和取离烘烤装置。

进一步地，箱体的横截面为正方形，框架的旋转中心线与箱体在底面的中心线重合。

存放机构通过支撑架与箱体的底部连接，以提供夹持部跟随框架旋转时的空间。

进一步地，存放机构包括相对设置的第一存放机构和第二存放机构。

第一存放机构和第二存放机构均包括底板和多个垂直固定于底板上的直杆，多根直杆围 绕形成用于装载多个样盘并防止多个样盘倾倒的区域。

进一步地，样盘为圆柱形结构，样盘的开口设有便于夹持的上凸缘，样盘的开口和底部分别设有便于夹持的上凸缘和下凸缘。

进一步地，设置弃样口的箱门外还设置有用于引导弃样口弃置的样盘的弃样滑道。

弃样滑道包括用于接受样盘的平台和向下倾斜用于样盘滑落的斜台。

进一步地，全水分测试装置还设有用于将加入样盘内的样品刮平的刮平机构，刮平机构包括叶片和驱动叶片转动的转动电机。

刮平机构设置于箱体内；或刮平机构设置于接样口上方。

进一步地，升降部包括第二驱动电机、用于安装固定部的第一拖动块以及沿框架的转动轴向延伸的第一导轨。

第一拖动块通过滑块与第一导轨滑动连接，并在第二驱动电机的驱动下在第一导轨上滑动。

固定部包括第二安装板，第二安装板上设有第三驱动电机、与框架的转动轴向垂直设置的第二导轨、用于安装夹爪的第二拖动块。

第二拖动块通过滑块与第二导轨滑动连接，并在第三驱动电机的驱动下在第二导轨上滑动。

进一步地，烘烤装置为烘箱，烘箱内设有多层加热区域，烘箱的烘箱门设有与多个加热区域一一对应的活动门。

对应箱门上的烘烤开口与多个活动门一一对应设置。

进一步地，多个箱门可交换安装位置。

本发明具有以下有益效果：上述全水分测试装置包括称量机构、烘烤机构和样盘运送机构。样盘运送机构包括安装部、框架和第一驱动机构，框架上设有升降部，夹持部设置于升降部上。升降部沿框架的转动轴向升降，带动夹持部相应升降，框架沿转动轴向转动，带动夹持部相应转动。待夹持部的转动角度和高度合适之后，由于夹持部的夹爪与固定部可伸缩设置，夹爪运动至样盘位置夹紧样盘。然后升降部升降、框架轴向旋转配合夹爪伸缩将样盘运送至目标位置后松开样盘。上述样盘运送机构结构简单，紧凑，夹持部的转动角度和高度以及夹爪的伸缩长度均可调节，夹爪的运动范围大。样盘运送机构从存放机构夹持样盘后将样盘送至称量机构称量样盘重量，然后送至接样口接样，在称量机构上称重后，样盘送至烘烤机构烘烤样品，而后称重后从弃样口将样盘丢弃。上述全水分测试装置可完成夹取样盘，样盘接样，样品称量，夹持样盘送样，样品送样烘烤，烘烤称重，样盘弃置等操作，无需手动操作，自动化程度高，提高了测试效率。

除了上面所描述的目的、特征和优点之外，本发明还有其它的目的、特征和优点。下面 将参照图，对本发明作进一步详细的说明。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是本发明优选实施例的全水分测试装置的结构示意图；

图2是本发明优选实施例的全水分测试装置的另一视角结构示意图；

图3是本发明优选实施例的全水分测试装置的内部结构示意图；

图4是本发明优选实施例的全水分测试装置的另一视角内部结构示意图；

图5是本发明优选实施例的样盘运送机构的结构示意图；

图6是本发明优选实施例的框架的结构示意图；

图7是本发明优选实施例的框架的另一视角结构示意图；

图8是本发明优选实施例的夹持部的另一视角结构示意图；

图9是本发明优选实施例的烘烤机构的结构示意图；

图10是本发明优选实施例的烘烤机构的内部结构示意图；

图11是本发明优选实施例的烘烤机构的另一视角内部结构示意图；

图12是本发明优选实施例的烘烤机构的烘箱门结构示意图。

附图标记说明：1000、箱体；2000、烘烤机构；3000、接样口；4000、弃样口；5000、存放机构；6000、样盘运送机构；7000、称量机构；8000、箱门；2100、烘箱本体；2200、烘箱门；2300、加热区域；2400、活动门；2410、第四驱动电机；2420、联轴器；2430、定位转盘；2440、光槽板；2450、安装架；2460、轴承；2470、隔离板；3100、刮平机构；3110、叶片；3120、转动电机；4100、弃样滑道；5100、支撑架；5200、第一存放机构；5300、第二存放机构；6100、安装部；6200、框架；6300、第一驱动机构；6400、升降部；6500、夹持部；6600、固定部；6700、夹爪；6110、安装座；6120、第一安装板；6210、第二驱动电机；6220、第一拖动块；6230、第一导轨；6240、丝杆；6221、第一定位片；6222、第一定位光耦；6610、第二安装板；6620、第三驱动电机；6630、第二导轨；6640、第二拖动块；6650、主动带轮；6660、从动带轮；6670、齿形同步带；6641、第二定位片；6642、第二定位光耦；6611、支撑板；6612、连接孔；6613、导向轴承；6614、导向杆；6615、连接杆；6710、光电开关。 

具体实施方式

以下结合附图对本发明的实施例进行详细说明，但是本发明可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。

参照图1～图4，本发明的优选实施例提供了一种全水分测试装置，包括箱体1000和烘烤样品的烘烤机构2000，烘烤机构2000设置于箱体1000内或箱体1000外，箱体1000开设有接样口3000和弃样口4000。箱体1000内设有称量机构7000、用于存放样盘的存放机构5000和用以从存放机构5000夹取样盘并将样盘依序运送至接样口3000、称量机构7000、烘烤机构2000和弃样口4000的样盘运送机构6000。样盘运送机构6000包括用于将样盘运送机构6000固定于箱体1000底面的安装部6100、在第一驱动机构6300的作用下相对于安装部6100水平旋转的框架6200以及设置于框架6200上的夹持部6500。夹持部6500包括固定部6600和用于夹持样盘的夹爪6700，固定部6600通过升降部6400与框架6200连接，升降部6400在框架6200上沿框架6200的转动轴向升降，夹爪6700与固定部6600伸缩连接，以夹取和运送样盘。

安装部6100与测试仪器固定连接，框架6200与安装部6100转动连接，并在第一驱动机构6300的作用下沿自身的轴向转动。框架6200轴向转动，夹持部6500跟随转动，以调节夹爪6700的夹持方向。升降部6400可沿框架6200轴向升降，夹持部6500跟随升降部6400升降，以调节夹爪6700的高度。以夹紧样盘为例进行说明，框架6200转动和夹持部6500升降可同时进行，或根据仪器内部空间框架6200先转动或夹持部6500先升降。为方便理解，以框架6200先转动进行说明。框架6200轴向转动，使得夹爪6700、框架6200及样盘在同一平面内，即样盘沿框架6200轴向的投影位于夹爪6700的伸缩方向上。接着升降部6400升降带动夹持部6500升降，调整夹爪6700的高度与样盘高度相适应，使得样盘位于夹爪6700的伸缩方向上。然后夹爪6700伸至样盘位置后夹爪6700夹紧以夹持样盘。在样盘夹持后，如安装样盘运送机构6000的测试仪器空间较小，夹爪6700可以缩回，以减小框架6200转动过程中样盘的旋转半径，避免触碰到其它机构。样盘夹紧后可由框架6200转动、夹持部6500升降及夹爪6700伸缩，将样盘运送至各位置，如样盘接样位置、样品称量位置、样品烘烤位置、样盘弃置位置。到达各位置后，夹爪6700松开或夹紧样盘以完成相应操作。

夹爪6700从存放机构5000夹取样盘并称重后，将样盘从接样口3000伸出，接受外界导入的样品。然后再将样盘运送至称量机构7000称重，继续运送至烘烤机构2000烘烤，待烘烤过程完成后，将样盘取出至称量机构7000称重，最后将样盘从弃样口4000丢弃。由样盘重量、样盘加样后重量以及样品烘烤后样盘重量可计算得到样品的相关参数，如水分含量等。称量机构7000可以为精密天平。

安装部6100可两端分别固定在测试仪器的顶部和底部。框架6200垂直安装在测试仪器内，框架6200的两端通过轴承座分别连接于安装座6110和第一安装板6120上，转动更为灵活。第一驱动电机可驱动框架6200相对安装部6100旋转，第一驱动电机安装于安装座6110或第一安装板6120上，优选为设置安装座6110上，安装座6110位于测试仪器顶部，方便对第一驱动电机进行安装和检修。第一驱动电机优选为步进电机，以更好和更精确的控制框架6200的转动角度。

本发明具有以下有益效果：上述全水分测试装置包括称量机构7000、烘烤机构2000和样 盘运送机构6000。样盘运送机构6000包括安装部6100、框架6200和第一驱动机构6300，框架6200上设有升降部6400，夹持部6500设置于升降部6400上。升降部6400沿框架6200的转动轴向升降，带动夹持部6500相应升降，框架6200沿转动轴向转动，带动夹持部6500相应转动。待夹持部6500的转动角度和高度合适之后，由于夹持部6500的夹爪6700与固定部6600可伸缩设置，夹爪6700运动至样盘位置夹紧样盘。然后升降部6400升降、框架6200轴向旋转配合夹爪6700伸缩将样盘运送至目标位置后松开样盘。上述样盘运送机构6000结构简单，紧凑，夹持部6500的转动角度和高度以及夹爪6700的伸缩长度均可调节，夹爪6700的运动范围大。样盘运送机构6000从存放机构5000夹持样盘后将样盘送至称量机构7000称量样盘重量，然后送至接样口3000接样，在称量机构7000上称重后，样盘送至烘烤机构2000烘烤样品，而后称重后从弃样口4000将样盘丢弃。上述全水分测试装置可完成夹取样盘，样盘接样，样品称量，夹持样盘送样，样品送样烘烤，烘烤称重，样盘弃置等操作，无需手动操作，自动化程度高，提高了测试效率。

可选地，参照图1～图4，箱体1000的侧壁均设置有箱门8000，接样口3000和弃样口4000开设在同一个或不同的箱门8000上。烘烤装置设置在箱体1000外，对应烘烤装置的箱门8000开设有夹爪6700夹持样盘通行的烘烤开口，以使夹爪6700将样盘送入和取离烘烤装置。

箱体1000的侧壁均设置有箱门8000，根据操作环境，如用于导入样品的自动制样机的位置，以及接受弃置样盘和样品的容器的位置，设置接样口3000和弃样口4000的位置。使得全水分测试装置安装和使用更为灵活，减少空间对全水分测试装置的限制。由于烘烤装置体积较大，将其设置在箱体1000外，便于全水分测试装置组装和运输，并且可减少其热量对称量机构7000和样盘运送机构6000的影响，可能造成称量机构7000和样盘运送机构6000失灵或灵敏度降低。

可选地，参照图1～图4，箱体1000的横截面为正方形，框架6200的旋转中心线与箱体1000在底面的中心线重合。存放机构5000通过支撑架5100与箱体1000的底部连接，以提供夹持部6500跟随框架6200旋转时的空间。

框架6200的一端垂直设置于箱体1000底面的中心，箱体1000的横截面设置为正方形，框架6200设置于箱体1000在竖直方向的中心轴线上，并以其为旋转中心线，因此整个装置结构紧凑，箱体1000占据空间较小。箱体1000底部设有支撑架5100，支撑架5100的支脚可纵向设置于箱体1000底面的边缘或水平连接于箱体1000的纵向。由于设置了支撑架5100，箱体1000底部空间较大，为夹持部6500旋转提供了空间。夹持部6500可在箱体1000底部旋转调整好角度，再升高位置，避免夹持部6500升高后，由于空间的限制，夹持部6500不能旋转。

进一步地，参照图1～图4，存放机构5000包括相对设置的第一存放机构5200和第二存放机构5300。第一存放机构5200和第二存放机构5300均包括底板和多个垂直固定于底板上的直杆，多根直杆围绕形成用于装载多个样盘并防止多个样盘倾倒的区域。

第一存放机构5200和第二存放机构5300优选为并排设置，以方便添加样盘，以及夹持 部6500可旋转较小角度夹持另一个存放机构5000内的样盘。当样盘叠放较多时，若无外物支撑容易倾倒。多根直杆垂直设置在底板上，围绕形成一个区域。当样盘叠放在该区域内，样盘的边缘与各直杆相抵，限制样盘在水平面移动，防止样盘倾倒。第一存放机构5200和第二存放机构5300与箱体1000的顶部有一定空间，并且夹持部6500可在此处旋转，使得夹爪6700对准样盘，夹持部6500升降使得夹爪6700与样盘高度对应，然后夹爪6700伸出夹持样盘。夹爪6700夹取样盘后向上移动从第一存放机构5200或第二存放机构5300取出样盘。取出样盘后，夹爪6700旋转一定角度使样盘对应称量机构7000的位置，继而夹爪6700下降将样盘放置在称量机构7000上称重。

进一步地，参照图1～图4，样盘为圆柱形结构，样盘的开口设有便于夹持的上凸缘，样盘的底部设有便于夹持的下凸缘。

夹爪6700夹持样盘时，上凸缘的底部与夹爪6700相抵，可避免夹爪6700夹持力较小时，样盘从夹爪6700上垂直滑落。多个样盘叠放时，上个样盘下凸缘与下个样盘的上凸缘相抵，可避免上个样盘的底部套入下个样盘的开口中使得相邻的样盘之间的距离较小，不便于夹爪6700夹持样盘。

进一步地，参照图1～图4，设置弃样口4000的箱门8000外还设置有用于引导弃样口4000弃置的样盘的弃样滑道4100。弃样滑道4100包括用于接受样盘的平台和向下倾斜用于样盘滑落的斜台。

夹爪6700夹持样盘从弃样口4000伸出，夹爪6700松开将样盘丢弃，样盘跌落至斜台滑落。弃样滑道4100可对样盘的滑落进行缓冲并对滑落方向进行引导，避免样盘直接跌落造成样盘损坏。

进一步地，参照图1～图4，全水分测试装置还设有用于将加入样盘内的样品刮平的刮平机构3100，刮平机构3100包括叶片3110和驱动叶片3110转动的转动电机3120。刮平机构3100设置于箱体1000内；或刮平机构3100设置于接样口3000上方。

样盘接受样品后可运动至刮平机构3100处，转动电机3120驱动叶片3110转动，叶片3110将样盘内的样品刮平，使得样品的厚度一致，便于烘烤，使得样品的水分容易挥发，缩短了测试时间，并且测试数据更准确和真实。

可选地，参照图4～图8，升降部6400包括第二驱动电机6210、用于安装固定部6600的第一拖动块6220以及沿框架6200的转动轴向延伸的第一导轨6230。第一拖动块6220通过滑块与第一导轨6230滑动连接，并在第二驱动电机6210的驱动下在第一导轨6230上滑动。固定部6600包括第二安装板6610，第二安装板6610上设有第三驱动电机6620、与框架6200的转动轴向垂直设置的第二导轨6630、用于安装夹爪6700的第二拖动块6640。第二拖动块6640通过滑块与第二导轨6630滑动连接，并在第三驱动电机6620的驱动下在第二导轨6630上滑动。

第一拖动块6220由第一导轨6230和滑块配合滑动，摩擦力较小，而且第一拖动块6220的运动方向不会发生偏移。夹持部6500安装在第一拖动块6220上，跟随第一拖动块6220运 动。设置两根第一导轨6230使其与第一拖动块6220结合更为稳定，第一拖动块6220的运动方向更不易发生偏移，且减小了每根第一导轨6230的负载，增强了使用寿命。丝杆6240可设置在两个第一导轨6230中间，丝杆6240的螺母与第一拖动块6220连接，在第二驱动电机6210的作用下，驱动第一拖动块6220滑动。丝杆6240传动精确平稳，使得夹持部6500的升降高度调节精确。

优选地，参照图4～图8，第一拖动块6220上设有第一定位片6221，框架6200沿转动轴向设有多个和第一定位片6221配合的用于控制升降部6400停动高度的第一定位光耦6222。

由于样盘运送机构6000需要完成多个操作，夹爪6700将样盘运送至各位置，如样盘接样位置、样品称量位置、样品烘烤位置、样盘弃置位置。各位置的高度不一样，因此夹持部6500需要停在不同的高度，以将样盘精确送至相应操作位置。根据夹持部6500所需的停止高度，框架6200沿轴向相应设有多个第一定位光耦6222，第一定位光耦6222接收第一定位片6221的信号，将信号输出至第一驱动机构6300，以控制升降部6400高度。上述设计可使升降部6400精确停动，夹爪6700将样盘精确运送至操作位置。

优选地，参照图4～图8，固定部6600包括第二安装板6610，第二安装板6610上设有第三驱动电机6620、与框架6200的转动轴向垂直设置的第二导轨6630、用于安装夹爪6700的第二拖动块6640。第二拖动块6640通过滑块与第二导轨6630滑动连接，并在第三驱动电机6620的驱动下在第二导轨6630上滑动。

第二安装板6610用于安装在升降部6400上。当样盘运送机构6000垂直安装在测试仪器上时，第二导轨6630水平设置。第二拖动块6640由第二导轨6630和滑块配合滑动，摩擦力较小，而且第二拖动块6640的运动方向不会发生偏移。夹爪6700安装在第二拖动块6640上，跟随第二拖动块6640运动。

优选地，参照图4～图8，第二安装板6610凸设有支撑板6611，支撑板6611上开设有连接孔6612和导向轴承6613。第二拖动块6640端部设有连接杆6615和导向杆6614，连接杆6615和导向杆6614均与第二导轨6630平行设置，连接杆6615和导向杆6614分别穿过连接孔6612和导向轴承6613与夹爪6700的固定端连接。

导向杆6614和连接杆6615更好的控制第二拖动块6640的运行路径，同时导向杆6614和导向轴承6613配合可避免夹爪6700上下晃动。优选地，可设置两根导向杆6614，使其与第二拖动块6640结合更为稳定，第二拖动块6640的运动方向更不易发生偏移，且减小了每根导向杆6614的负载，增强了使用寿命。

优选地，参照图4～图8，固定部6600还设有主动带轮6650、从动带轮6660以及张紧于主动带轮6650和从动带轮6660上的齿形同步带6670。第三驱动电机6620连接于主动带轮6650以带动齿形同步带6670运转，第二拖动块6640与齿形同步带6670啮合，跟随齿形同步带6670运动。

第三驱动电机6620带动主动带轮6650转动，主动带轮6650带动齿形同步轮运转。由于第二拖动块6640与齿形同步带6670啮合，因此第二拖动块6640将跟随齿形同步带6670运 动。第三驱动电机6620正反转动，使得第二拖动块6640往复运动，夹爪6700跟随第二拖动块6640运动，实现相对第二安装板6610伸缩运动。齿形同步带6670传动结构简单，传动平稳，传动效率较高。

优选地，参照图4～图8，第二拖动块6640上设有第二定位片6641，框架6200沿第二导轨6630的延伸方向设有多个和第二定位片6641配合的用于控制夹爪6700停动位置的第二定位光耦6642。由于样盘运送机构6000需要进行多个操作，夹爪6700将样盘运送至各位置，如样盘接样位置、样品称量位置、样品烘烤位置、样盘弃置位置。各位置距离框架6200的距离不一样，因此整个夹持部6500需要不同的伸缩长度，以精确将样盘送至相应操作位置。根据夹持部6500所需的伸缩长度，框架6200沿第二导轨6630的延伸方向相应设有多个第二定位光耦6642，第二定位光耦6642接收第二定位片6641的信号，将信号输出至第三驱动电机6620，以控制夹持部6500的伸缩长度。上述设计可使第二拖动块6640精确停动，夹爪6700将样盘精确运送至操作位置。

优选地，参照图4～图8，夹爪6700为气动夹爪6700，夹爪6700的两个夹臂之间设有检测样盘的传感器6710。传感器6710为红外探测器，红外探测器用于检测样盘。如图3所示，夹爪6700从上至下下降，当光电开关6710检测到有样盘时，夹爪6700停止下降以夹取样盘。气动夹爪6700夹持力大，能够较好的夹紧样盘，并且可根据接收的信号松开或夹紧，以夹持或松开样盘。

可选地，参照图8～图11，烘烤装置为烘箱，烘箱内设有多层加热区域2300，烘箱的烘箱门2200设有与多个加热区域2300一一对应的活动门2400。对应箱门8000上的烘烤开口与多个活动门2400一一对应设置。

一般样品的烘烤时间较长，因此在一个样品烘烤时，样盘运送机构6000可继续运转，从所述存放机构5000夹取所述样盘并将所述样盘运送至接样口3000、称量机构7000、烘烤机构2000和弃样口4000的样盘运送机构6000。如烘箱门2200只有一个活动门2400，该活动门2400需频繁开启，将影响测试准确度。

烘箱包括内腔设有加热装置的烘箱本体2100和转动连接于烘箱本体2100的烘箱门2200，烘箱本体2100的内腔由隔离板2470分隔为多层加热区域2300，其特征在于，隔离板2470上设有用以将通入的氮气限制在相应层加热区域2300的载气盒，烘箱门2200设有多个活动连接于烘箱门2200上的活动门2400。任一活动门2400和内腔的至少一个加热区域2300对应设置。烘箱门2200转动连接于烘箱本体2100，可开启或关闭。当活动门2400或烘箱本体2100出现故障时，可将烘箱门2200打开修理，并且方便对烘箱本体2100进行日常清洗和维护。烘箱本体2100分隔为多层加热区域2300，每层加热区域2300均可放置样品。可根据测试时间的不同将样品分层放置，测试时间一致的样品放置在同一层加热区域2300进行干燥。活动门2400可通过转动方式开闭，也可以通过推拉的方式开闭。一个活动门2400可以对应一层加热区域2300，也可以对应多层如两层加热区域2300，即两层加热区域2300共用一个活动门2400取放样品。

当某一层的样品需要通入氮气的时候，可在该层加热区域2300放置载气盒。载气盒一端 开口与活动门2400处配合，活动门2400开启后进入载气盒开口内，另一端与气源如氮气泵相连。载气盒将通入氮气的加热区域2300与其它加热区域2300隔离开，将氮气限制在特定的加热区域2300，避免整个用于烘烤样品的烘箱通入气体，造成氮气浪费。

活动门2400和烘箱门2200可以滑动连接或转动连接。当二者为滑动连接时，活动门2400可通过推拉方式开启，活动门2400的移动轨迹为直线，所需操作空间小。本发明 具有以下有益效果：用于烘烤样品的烘箱的内腔有多层加热区域2300，样品可放置在多层加热区域2300上，加热装置对样品进行加热。烘箱门2200的活动门2400与内腔的加热区域2300对应设置。活动门2400与烘箱门2200活动连接，可通过开启对应的活动门2400将其中一层加热区域2300内的样品需取出或将样品放置于该层加热区域2300中，其余活动门2400无需开启。烘箱门2200开启的加热区域2300较小，因此对用于烘烤样品的烘箱内的温度的影响较小，可提高测试结果的准确性。上述用于烘烤样品的烘箱所需操作空间较小，适用性强。

进一步地，参照图8～图11，活动门2400的数量与加热区域2300的层数一致，活动门2400和加热区域2300一一对应设置。内腔的各加热区域2300配备独立的与之配合的活动门2400。当某层样品需取出时，开启对应的活动门2400即可，其它层加热区域2300未暴露在空气中，对其它层加热区域2300的影响较小，温度不容易出现下降和波动。

进一步地，参照图8～图11，任一活动门2400与烘箱门2200转动连接，活动门2400的转轴与烘箱门2200的转轴垂直。活动门2400的转轴与烘箱门2200的转轴垂直时，活动门2400为竖向转动，转动半径相比烘箱门2200横向转动的半径小，所需操作空间较小。活动门2400可在重力作用下自然下垂将活动门2400关闭，然后在外力推动下推动活动门2400转动开启。活动门2400也可以通过设置专门控制装置来实现开闭。

进一步地，参照图8～图11，任一活动门2400的转轴一端与第四驱动电机2410连接，并通过第四驱动电机2410的驱动旋转开启或关闭。通过第四驱动电机2410的驱动控制开启或关闭，使得活动门2400关闭时，活动门2400保持关闭状态具有较大的力度，不容易在外物的碰撞下误开启。而且用于烘烤样品的烘箱温度较高，活动门2400的温度较高，通过第四驱动电机2410控制活动门2400，无需手动触摸活动门2400，避免烫伤。

进一步地，参照图8～图11，转轴通过联轴器2420和第四驱动电机2410连接。设置联轴器2420，使得传动更为平稳。

进一步地，参照图8～图11，转轴上设有定位转盘2430，烘箱门2200内侧设有用于确定定位转盘2430转动角度的光槽板2440。定位转盘2430遮挡光槽板2440，光槽板2440接受到光强度变化的信号，信号经处理后输出至第四驱动电机2410，以控制第四驱动电机2410的转动方向和起停。该种设计可精确控制活动门2400的转动角度，以及控制活动门2400的开启和关闭。

进一步地，参照图8～图11，烘箱门2200内侧设置有安装架2450，活动门2400均设置安装架2450上，并与安装架2450转动连接。所有活动门2400可与安装架2450安装好之后，再将安装架2450安装于烘箱门2200，使得安装更为方便。

进一步地，参照图8～图11，任一活动门2400的转轴与安装架2450的连接处设有轴承2460。设置轴承2460可减小转轴转动时的摩擦力，使得活动门2400转动更为顺畅。轴承2460可以为深沟球轴承。

可选地，多个箱门8000可交换安装位置。当全水分测试装置设置接样口3000、弃样口4000和烘烤开口时，一般上述所有开口并不设置在同一箱门8000上，而是分布在多个箱门8000上。各箱门8000大小一致且均与箱体1000活动连接，以便相互交换安装位置。箱门8000交换安装位置，可根据需要设置布置各出口位置。如将弃样口4000的箱门8000设置在相对烘烤开口的箱门8000的左侧、右侧或相对侧，使得全水分测试装置安装和使用更为灵活，减少空间对全水分测试装置的限制。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种全水分测试装置，其特征在于，包括箱体(1000)和烘烤样品的烘烤机构(2000)，所述烘烤机构(2000)设置于所述箱体(1000)内或所述箱体(1000)外，所述箱体(1000)开设有接样口(3000)和弃样口(4000)；

所述箱体(1000)内设有称量机构(7000)、用于存放样盘的存放机构(5000)和用以从所述存放机构(5000)夹取所述样盘并将所述样盘依序运送至接样口(3000)、称量机构(7000)、烘烤机构(2000)和弃样口(4000)的样盘运送机构(6000)；

所述样盘运送机构(6000)包括用于将所述样盘运送机构(6000)固定于所述箱体(1000)底面的安装部(6100)、在第一驱动机构(6300)的作用下相对于所述安装部(6100)水平旋转的框架(6200)以及设置于所述框架(6200)上的夹持部(6500)；

所述夹持部(6500)包括固定部(6600)和用于夹持样盘的夹爪(6700)，所述固定部(6600)通过升降部(6400)与所述框架(6200)连接，所述升降部(6400)在所述框架(6200)上沿所述框架(6200)的转动轴向升降，所述夹爪(6700)与所述固定部(6600)伸缩连接，以夹取和运送所述样盘。

2.根据权利要求1所述的全水分测试装置，其特征在于，所述箱体(1000)的侧壁均设置有箱门(8000)，所述接样口(3000)和所述弃样口(4000)开设在同一个或不同的所述箱门(8000)上；

所述烘烤装置设置在所述箱体(1000)外，对应所述烘烤装置的箱门(8000)开设有所述夹爪(6700)夹持所述样盘通行的烘烤开口，以使所述夹爪(6700)将样盘送入和取离所述烘烤装置。

3.根据权利要求1所述的全水分测试装置，其特征在于，所述箱体(1000)的横截面为正方形，所述框架(6200)的旋转中心线与所述箱体(1000)在底面的中心线重合；

所述存放机构(5000)通过支撑架(5100)与所述箱体(1000)的底部连接，以提供所述夹持部(6500)跟随所述框架(6200)旋转时的空间。

4.根据权利要求1所述的全水分测试装置，其特征在于，所述存放机构(5000)包括相对设置的第一存放机构(5200)和第二存放机构(5300)；

所述第一存放机构(5200)和所述第二存放机构(5300)均包括底板和多个垂直固定于所述底板上的直杆，所述多根直杆围绕形成用于装载多个所述样盘并防止多个所述样盘倾倒的区域。

5.根据权利要求1所述的全水分测试装置，其特征在于，所述样盘为圆柱形结构，所述样盘的开口和底部分别设有便于夹持的上凸缘和下凸缘。

6.根据权利要求2所述的全水分测试装置，其特征在于，设置所述弃样口(4000)的所述箱门(8000)外还设置有用于引导所述弃样口(4000)弃置的所述样盘的弃样滑道(4100)；

所述弃样滑道(4100)包括用于接受所述样盘的平台和向下倾斜用于所述样盘滑落的斜台。

7.根据权利要求2所述的全水分测试装置，其特征在于，所述全水分测试装置还设有用于将加入所述样盘内的样品刮平的刮平机构(3100)，所述刮平机构(3100)包括叶片(3110)和驱动所述叶片(3110)转动的转动电机(3120)；

所述刮平机构(3100)设置于所述箱体(1000)内；或所述刮平机构(3100)设置于所述接样口(3000)上方。

8.根据权利要求1所述的全水分测试装置，其特征在于，所述升降部(6400)包括第二驱动电机(6210)、用于安装所述固定部(6600)的第一拖动块(6220)以及沿所述框架(6200)的所述转动轴向延伸的第一导轨(6230)；

所述第一拖动块(6220)通过滑块与所述第一导轨(6230)滑动连接，并在所述第二驱动电机(6210)的驱动下在所述第一导轨(6230)上滑动；

所述固定部(6600)包括第二安装板(6610)，所述第二安装板(6610)上设有第三驱动电机(6620)、与所述框架(6200)的所述转动轴向垂直设置的第二导轨(6630)、用于安装所述夹爪(6700)的第二拖动块(6640)；

所述第二拖动块(6640)通过滑块与所述第二导轨(6630)滑动连接，并在所述第三驱动电机(6620)的驱动下在所述第二导轨(6630)上滑动。

9.根据权利要求2所述的全水分测试装置，其特征在于，所述烘烤装置为烘箱，所述烘箱内设有多层加热区域(2300)，所述烘箱的烘箱门(2200)设有与所述多个加热区域(2300)一一对应的活动门(2400)；

对应所述箱门(8000)上的所述烘烤开口与所述多个活动门(2400)一一对应设置。

10.根据权利要求2所述的全水分测试装置，其特征在于，多个所述箱门(8000)可交换安装位置。