CN104697927A - 容器的印迹或涂层的固化程度的测量 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及容器的印迹或涂层的固化程度的测量。在此提出一种用于测量容器的具有辐射固化颜料或辐射固化漆的印迹或涂层(10)的固化程度的方法,其特征在于,光学地在容器(4)上进行该测量,以及本发明还涉及用于执行这样的方法的装置以及具有用于控制这样的方法的执行的计算机可读指令的计算机可读介质。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于测量容器的具有辐射固化颜料或辐射固化漆的印迹或涂层的固化程度的方法、用于执行这样的方法的装置以及具有用于控制这样的方法的执行的计算机可读指令的计算机可读介质。
背景技术
辐射固化颜料和漆,例如UV固化颜料和漆,经常用于涂漆或文字说明。这样的颜料和漆通常掺入了光引发剂,在照射时光引发剂形成自由基,进而开始聚合,亦即固化,由此使颜料/漆快速固化。通常在此,光引发剂的光谱的敏感度和辐射源的光谱相调谐。
存在有很多种光引发剂和辐射源,例如UV源。颜料/漆的固化依赖于多种因素。例如,它依赖于辐射源的辐射剂量和光谱分布,依赖于光引发剂的种类和数量,依赖于热输入和散发、层厚度、存在的自由基捕捉剂(如氧)、所使用的单体、官能团的交联点、色素含量以及另外的因素。在体系中,通常将所使用的组分相调谐,从而降低了对所使用的辐射源的辐射剂量的依赖性。该固化又依赖于辐射强度和颜料/漆在辐射的强度场中的停留时间,停留时间例如可以与生产速度和/或与辐射源的距离相关。
这样的辐射固化颜料和漆也用于对容器的印刷或涂覆。如果现在在这样的容器中,例如由于辐射源强度的遗失或波动或生产速度的变化而没有固化或仅是不完全地固化了印迹或涂层,就会涂脏印迹或涂层。也会发生未固化的颜料/未固化的漆通过容器向里移位到内容物中,从而通过颜料/漆而污染了内容物。
迄今为止,在容器的情况下,仅随机地、间接地和/或在破坏容器或印迹或涂层的情况下对颜料/漆的固化进行检验。常见的是,例如对所施加的UV剂量,例如经由UV测试条(例如具有tesa UV测试条的好乐UV扫描仪)进行抽样检查,随后调整至所需的剂量测量值。经由此,于是间接地给出对固化程度的结论。
发明内容
本发明的任务在于,使得对容器的印迹或涂层的固化程度的改进的测量成为可能。
本发明包括根据权利要求1的用于测量印迹或涂层的固化程度的方法、根据权利要求14的装置以及根据权利要求15的计算机可读介质。有利的实施方式在从属权利要求中被描述。
根据本发明的用于测量容器的具有辐射固化颜料或辐射固化漆(下面也称为颜料或漆)的印迹或涂层的固化程度的方法光学地在容器上进行。在下文中,术语颜料或漆也包括由一种或多种颜料和/或一种或多种漆的组合。在这里,术语“漆”也可以包括有色的或无色的涂层,例如由底漆或其它功能层组成的层。
通常,颜料或漆是UV固化的。但是,附加地或者替选地,颜料或漆可以在不同于UV的光谱区域中进行固化。
在本发明中,容器可以包括玻璃、塑料、金属和/或纸板。它们尤其可以是饮料容器,例如由玻璃或塑料,如例如PET制成的瓶子、例如由金属制成的罐子,或者由纸板制成的饮料容器。
直接在容器上进行测量是有利的,这是因为由此避免了经常是费时的和/或使测量不精确的中间步骤。此外,因此可以在一些实施方式中进行100%的检查,亦即进行对每个单一容器在至少一个部位上的检查,和/或对产品进行追踪。
通常,在根据本发明的方法中进行光学测量,在该方法中,利用来自辐射源的辐射,例如来自在UV与远红外之间的光谱区域的,例如来自中红外区域(MIR)、近红外区域(NIR)或可见光区域(Vis)或UV区域(UV)的光来对印迹或涂层进行照射。随后,于是可以测量相互作用,亦即例如探测所反射的辐射并且从中确定,亦即测量固化程度。在此,照射可以例如在平的角度下进行。于是对所反射的辐射的探测可以相对于入射的辐射错开了45°与135°之间的,例如75°与105°之间的,例如大约90°的角度地进行。在其它实施方式中,可以对透射的辐射进行检测并且从中确定(测量)固化程度。例如可以关于参比地对测量进行评估。
视印迹/涂层中现有的分子而定地,未固化的颜料或未固化的漆示出了不同于已固化的颜料或已固化的漆的反射(透射)的辐射或光谱。例如,可以反射(透射)具有对于固化程度而言是典型的、变化了的光谱分布(例如特定光谱区域的衰减)的光。
例如已知,光引发剂在其分解之前在反射(透射)的光中的特定光谱区域中引发表征性的信号,但是如果在辐射固化时分解,则在固化的颜料或漆中,该表征性的信号应当比在未固化的颜料或者未固化的漆中出现得要小。附加地或替选地,也可以依据单体和/或其它组分,如特定的分子基团或连接基团做分析,它们对由容器反射的辐射的光谱产生影响,并且在未固化的和固化的状态下在反射(透射)的辐射中示出不同的表征性的信号,例如,这是因为在未固化的状态下示出了能配属于在固化时分解的特定分子基团的、反射(透射)的光谱。由此,在固化后,表征性的信号通常表现得并不明显。同时,在光谱中会显露出新的表征性的信号,该新的表征性的信号由辐射与分解产物和/或聚合产物的相互作用所引发。基本上,通常通过与电磁辐射的相互作用来激发电子的或波动状态。
在用于测量固化程度的方法中,可以使用校定系列(Eichreihe)用于校准,该校定系列具有对所使用的未固化的、部分固化的和完全固化的颜料或所使用的未固化的、部分固化的和完全固化的漆的测量。
作为用于光学测量的辐射源,可以使用相干光源,如例如激光,以及非相干光源,如例如LED灯、汞灯或通常的白炽灯。
可以非接触地进行测量。这意味着,在测量期间,容器不被测量设备碰触。这会是有利的,这是因为由此可以更快速地执行测量和/或可以排除机械损伤。
在其它实施方式中,利用通过一个或多个测量设备碰触容器进行测量,例如可以让光波导体或类似物碰触容器。
可以无破坏地进行测量。尤其地,例如不通过用于测量的辐射损伤印迹或涂层和容器。由此,在一些实施方式中,不是抽样式的检验,而是可以进行对每个单一容器的100%的检验。
上述的方法可以如此进行,即,测量的结果能配属于容器的印刷过程或涂覆过程。例如,在方法中可以测量以特定顺序递送的容器,该顺序允许配属于印刷过程或涂覆过程。因此,可以如此进行对固化程度的测量,即,针对每个受测量的容器已知或能确认,该容器何时进行涂覆或印刷。这会是有利的,这是因为由此在出现故障,例如出现辐射源的强度、生产速度和/或印刷/涂覆用料量的波动的情况下,可以简单地推断出故障原因或故障步骤的时间点。
例如,可以首先对容器进行印刷或涂覆,然后利用来自辐射源(例如UV源)的辐射对印迹或涂层进行固化,并且随后,执行对容器的印迹或涂层的固化程度的测量。印刷或涂覆以及固化可以包括在根据本发明的方法中。在根据本发明的方法的其它实施方式中则不包括。
在根据本发明的方法的一些实施方式中,可以测量多个容器。例如,可以对数个容器进行印刷或涂覆,然后利用辐射对印迹或涂层进行固化。固化程度可以针对每个经印刷的或涂覆的容器进行测量或者以有规律的间隔,例如针对每十个印刷的或涂覆的容器进行测量。
在用于测量固化程度的方法中,可以包括分拣出其中印迹或涂层的固化程度不足的容器的步骤。
替选地或者附加地,测量的结果可以用于控制在针对接下来的容器的印刷或涂覆时和/或固化颜料或漆时的参数。例如,可以在固化颜料或漆时将辐射源的强度和/或印迹或涂层的层厚度和/或经印刷或涂覆的容器在辐射源的辐射场中的停留时间,例如经由调节生产速度和/或调节容器与辐射源之间的距离,来匹配用于固化颜料或漆。因此,如果例如在一个容器的情况下测量到印迹或涂层的固化程度过小,则可以如此匹配上述的参数,即,例如降低印迹/涂层的层厚度、提高辐射源的强度和/或提高在用于固化的在辐射源的强度场中的停留时间,使接下来的容器示出足够的固化程度。
由此,在方法中,可以实行用于优化参数的调节循环。在此,印迹或涂层的固化程度可以以有规律的间隔,例如针对每十个容器或者针对每个容器进行测量。
利用其进行对容器的印迹或涂层的固化层度的测量的频率可以大于0.02Hz。例如,它可以大于0.1Hz,例如大于1Hz,例如大于10Hz,例如大于20Hz,例如大于30Hz。
利用根据本发明的方法,可以例如针对每小时高达120000个容器、例如针对每小时高达3600个容器、例如针对每小时高达3000个容器,测量印迹或涂层的固化程度。
在用于测量固化程度的方法中,可以在一(水平的)行的印迹或涂层中进行测量。尤其地,可以在行的点上、在行的部分区域中或在整个容器圆周上测量固化程度。在此,可以针对整个测量区域形成平均的固化程度,或者针对多个部分区域分别确定单一的固化程度。
在其它实施方式中,测量可以在竖直方向上包括更大的区域和/或面式地进行。例如,可以在多个行上进行测量。在这里,可以针对每个被测量的行来测量在点上、在区域中或在整个容器圆周上的固化程度。针对整个被测量的区域可以形成平均的固化程度,或者针对多个部分区域分别确定单一的固化程度。在竖直方向上在更大区域上的测量或者面式的测量会是有利的,这是因为可以得知例如由于印迹/涂层的不同层厚度所产生的有波动的固化程度。在其它实施方式中,在印迹或涂层的(水平)行中进行测量就足够了。
在根据本发明的方法中,自动地,例如借助评估软件进行评估。因此,可以例如经由显示屏将固化程度是否足够和/或在多个容器上是否恒定的信息作为结果呈现给使用者。这会是有利的,这是因为由此为使用者降低了复杂性。自动的评估可以例如根据由使用者预先给定的准则,如将频率区域的积分谱彼此比较和/或与参比进行比较和/或基于校定系列来进行。附加地或替选地,在一些实施方式中,可以手动地进行评估。这可以使得根据使用者给出的信息进行差别化的评估成为可能。
在根据本发明的方法中,测量可以与参比(例如校定系列,该校定系列具有带完全固化的印迹或涂层的容器、带有完全未固化的印迹或涂层的容器以及可选的带有部分固化的印迹或涂层的容器)进行对比,并且由此导出结果。在其它实施方式中,不带参比地进行对结果的说明,例如基于对不同频率范围的积分的相互间比较。
在根据本发明的方法中,测量可以得出关于固化程度的定量的结论。例如,可以通过对一个或多个反射光谱(或透射光谱)的特定频率范围的比较来给出关于未(完全)固化的颜料或漆的占比的结论,并且由此给出关于固化程度的定量的结论。
根据本发明的方法可以包括训练步骤,在该训练步骤中,将测量值或测量结果或者由此产生的解释根据待测量的容器种类和/或所使用的颜料或所使用的漆和/或印迹或涂层的层厚度来校准。这可以例如通过如上所述的校定系列来进行。然后,测量值或测量结果可以例如与来自校定系列的参比进行比较,并且由此确定固化程度,从而可以进行正确的解释和结果输出。
根据本发明的方法可以包括NIR和MIR分光术、利用一个或多个NIR相机采集一个或多个图像、UV-Vis分光术、荧光分光术和/或拉曼分光术,NIR相机可以进行例如面式采集,并且因此例如能够可视地呈现出固化程度的面式的分布,UV-Vis分光术例如可以捕获共轭或芳香体系,例如单体和/或光引发剂中的激发,荧光分光术可以捕获例如单体和/或光引发剂的荧光或磷光,拉曼分光术可以捕获特定的分子波动。
在用于测量印迹或涂层的固化程度的方法中,容器可以在测量期间做运动。例如,容器可以线性地输送经过执行测量的位置或按生产节拍地引导经过执行测量的位置,并且在此,例如在水平方向上自转一次,例如转动半圈或一整圈。因此,用于测量的辐射的入射点可以水平地探测水平区域,例如容器的半个或者整个圆周,并且使测量对该区域进行捕获。
在此,可以给运动附加地叠加另一种、例如线性的运动。因此,可以例如针对具有椭圆形基面的容器将转动期间与光源的距离保持大致恒定。
附加地或替选地,来自辐射源的用于测量的辐射的一个或多个入射位置在测量期间可以在竖直的和/或水平的方向上变化。例如,当辐射经由一个或多个光波导体引导向印迹或涂层时,让一个或多个光波导体可以竖直地和/或水平地例如以摆动运动的方式进行运动,和/或让辐射的一个焦点/多个焦点竖直地和/或水平地进行运动。
在一些实施方式中,例如线状地(在竖直方向上)或者面式地拓宽辐射的入射位置。
在光学测量的情况下,反射(透射)的辐射的检测可以经由一个或多个通道或面式地进行。经由通道采集光谱使得可以简单且快速地确认结果。经由多个通道或面式的评估使得可以针对特定的点或区域或面积制定固化程度的明确的方针。
本发明还包括一种装置,该装置包括用于执行上述方法的器件。该装置包括一个、两个或更多个针对用于测量的辐射的辐射源以及一个、两个、三个或更多个针对由印迹或涂层反射(透射)的辐射的探测器。该装置也可以包括用于执行另外的方法步骤的器件,例如用以利用辐射固化的颜料或辐射固化的漆对容器进行印刷或涂覆和/或对颜料或漆进行固化。
用于测量固化程度的辐射源和探测器可以包括在一个独自的部件中,该部件可以加装到全部印刷装置的末尾或可以安装到印刷装置后面。在其它实施方式中,用于测量固化程度的辐射源和探测器包括在印刷装置中,并且在那里布置在用于颜料或漆的固化的辐射源之后。
此外,本发明包括计算机可读介质,该介质包括计算机可读指令,该指令当由计算机实施时可以控制对以上所述的方法的执行和/或以上所述的装置。
附图说明
参照附图描述有利的实施方式。其中:
图1示意性地示出示例性的装置的一部分;
图2示出容器和辐射源在示例性的装置中的可能的布置方案的细节;
图3a、3b示出示例性的装置的示意性的实施方式。
具体实施方式
图1示意性地并且不按比例地示出了根据本发明的装置的示例性实施方式的一部分。装置1作为示例性的装置的部分可以包括在根据本发明的装置中。尤其地,在该示例中所示的装置1包括两个辐射源2。在根据本发明的方法中,例如当在包括装置1的装置中执行该方法时,可以从容器4的相对置的两侧同时测量印迹或涂层。
在另外的、这里未示出的实施方式中,装置1仅包括一个辐射源,该辐射源的辐射可选地,例如经由光波导体或者聚焦从正好一侧传导到容器上,或者该辐射源的辐射可选地经由不同的光波导体或聚焦从两个或更多个的侧传导到容器上,或者装置包括多于2个辐射源。
同样地画出了从辐射源落到印迹或涂层上的辐射3a。
在这里,在容器轨迹6上的测量位置中示出容器4,在该测量位置中测量印迹或涂层的固化程度,在该容器轨迹上容器4能够输送穿过装置1。容器轨迹可以包括传送带或用于容器的其它的输送装置,例如该其它的输送装置具有用于容器的单个转盘,或者构造为这样的转盘。在其它实施方式中,容器可以以其它方式输送到装置1中并从该装置中输送出去。
在一些实施方式中,,在进行对固化程度的测量期间,容器4也在做运动。在该情况下就没有测量位置了,而是有面式的测量区域,在该测量区域中进行测量(这里未示出)。
用于检测反射(或透射)的辐射的一个、两个或更多个探测器未在图1中示出。
图2示出了在根据本发明的装置的实施方式中的容器和辐射源的可能的布置方案的细节的示意图。因此,布置方案可以包括在例如如图1中所示的装置部分中。在这里,容器4处于执行测量的位置上(测量位置中或者测量区域中)。示例性地,在图2中画出了一个辐射源。在其它实施方式中,可以存在有两个、三个或更多个辐射源,和/或来自一个或多个辐射源的辐射经由不同的光波导体或聚焦从两个或更多个的侧传导到容器上(未示出)。
落到印迹或涂层10上的辐射3a在入射位置11上入射在印迹或涂层10上(入射位置可以是点状的,如这里所示的那样,或者在竖直和/或水平方向上分别包括比点更大的区域,例如线或面)。落在印迹或涂层10上的辐射在所示的示例中反射为辐射3b。反射的辐射3b被一个、两个或更多个探测器5探测(示例性地画出了一个探测器)并且随后可以进行评估。由此可以针对一个、两个、三个或更多个点或区域测量印迹或者涂层的固化程度。
在图3a和图3b中示意性地画出了根据本发明的装置的实施方式。在此,图示既不是完整的也不是按比例的。
在这里,容器4分别在容器流9中首先引导穿过印刷装置(7、7a、7b、7c),印刷装置可以包括在根据本发明的装置中,在那里针对印迹或涂层施加颜料或漆。随后,利用来自辐射源8的辐射对颜料或漆进行固化。
随后,在这里所示的示例中,容器4在容器轨迹6上输送穿过装置1,在那里借助辐射源2和辐射3a测量容器4的印迹或涂层的固化程度。在图3a、b中所示的示例中,可以分别保持容器的顺序,从而在测量后能将测量结果配属于印刷过程。在图3a、b中所示的示例中,也可以针对此前已印刷或涂覆的每个单一的容器确定固化程度。
在装置的其它实施方式中,装置1构建在印刷装置7、7c上或集成到印刷装置7、7c中,更确切地说在用于固化颜料或漆的辐射源8之后(未示出)。在一些实施方式中,对颜料或漆的固化通过与测量固化程度相同的辐射源进行(未示出),例如通过探测UV辐射源的所反射(透射)的光谱的UV-Vis占比来进行。
在图3a中,在每个印刷装置7a、7b和7c中利用颜料或者颜料漆进行印刷。随后,(在该示例中的三种)涂装的颜料(或漆)一起通过来自辐射源8的辐射进行固化。
在图3b中在装置7中利用所有颜料或漆进行印刷,随后,颜料或漆通过来自辐射源8的辐射进行固化。
在图3b中所示的示例中,经由转运装置12,容器流9从容器轨迹6引向印刷装置7,该转运装置在该示例中示例性地构造为转运旋转机(Transferkarussell)。容器从印刷装置的引出同样经由转运装置12进行,该转运装置在该示例中示例性地形成为转运旋转机。
随后,在容器流9中的容器4被输送穿过装置1,在那里确定印迹或涂层的固化程度。
Claims (15)
1.用于测量容器(4)的具有辐射固化颜料或辐射固化漆的印迹或涂层(10)的固化程度的方法,其特征在于,光学地在容器(4)上进行所述测量。
2.根据权利要求1所述的用于测量容器(4)的印迹或涂层(10)的固化程度的方法,其中,非接触式地进行所述测量。
3.根据权利要求1或2所述的用于测量容器(4)的印迹或涂层(10)的固化程度的方法,其中,无破坏地进行所述测量。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的用于测量容器(4)的印迹或涂层(10)的固化程度的方法,其中,结果能离散地配属于所述容器的印刷过程或涂覆过程。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的用于测量容器(4)的印迹或涂层(10)的固化程度的方法,其中,分拣出所述印迹或涂层(10)的固化程度不足的容器(4)。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的用于测量容器(4)的印迹或涂层(10)的固化程度的方法,其中,测量的结果用于控制在针对接下来的容器(4)的印刷或涂覆和/或固化辐射固化颜料或辐射固化漆时的参数。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的用于测量容器(4)的印迹或涂层(10)的固化程度的方法,其中,重复测量固化程度的频率大于0.02Hz。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的用于测量容器(4)的印迹或涂层(10)的固化程度的方法,其中,所述测量捕获所述印迹或涂层(10)的点、行、更大的行区域或者面式的区域。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的用于测量容器(4)的印迹或涂层(10)的固化程度的方法,其中,自动地进行评估。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的用于测量容器(4)的印迹或涂层(10)的固化程度的方法,其中,所述测量允许得出关于固化程度的定量的结论。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的用于测量容器(4)的印迹或涂层(10)的固化程度的方法,其中,所述方法包括训练步骤,在所述训练步骤中,将测量值根据待测量的容器种类和/或一种或多种辐射固化颜料和/或一种或多种辐射固化漆和/或所述印迹或涂层(10)的厚度来校准。
12.根据权利要求1至11中任一项所述的用于测量容器(4)的印迹或涂层(10)的固化程度的方法,其中,在所述测量时,应用一种或多种下列技术或器件:
NIR和/或MIR分光术;
NIR相机;
UV-Vis分光术;
荧光分光术;
拉曼分光术。
13.根据权利要求1至12中任一项所述的用于测量容器(4)的印迹或涂层(10)的固化程度的方法,其中,所述容器(4)在测量过程期间做运动并且/或者来自辐射源(2)的用于测量的辐射(3)的入射位置(11)在测量期间在竖直和/或水平方向上变化。
14.包括用于执行根据权利要求1至13中任一项所述的方法的器件的装置,所述装置具有针对用于测量的辐射(3a)的辐射源(2)以及针对辐射(3b)的探测器(5)。
15.计算机介质,其包括计算机可读指令,所述指令当由计算机实施时能够控制根据权利要求1至13中任一项所述的方法的执行和/或控制根据权利要求14所述的装置。
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