CN104625457A - 一种用于芯片焊接质量检验的铁镍框架固定平台 - Google Patents

一种用于芯片焊接质量检验的铁镍框架固定平台 Download PDF

Info

Publication number
CN104625457A
CN104625457A CN201510043214.1A CN201510043214A CN104625457A CN 104625457 A CN104625457 A CN 104625457A CN 201510043214 A CN201510043214 A CN 201510043214A CN 104625457 A CN104625457 A CN 104625457A
Authority
CN
China
Prior art keywords
framework
frame
platform
iron nickel
welding quality
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201510043214.1A
Other languages
English (en)
Inventor
龚启洪
徐小波
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chengdu Advanced Power Semiconductor Co Ltd
Original Assignee
Chengdu Advanced Power Semiconductor Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chengdu Advanced Power Semiconductor Co Ltd filed Critical Chengdu Advanced Power Semiconductor Co Ltd
Priority to CN201510043214.1A priority Critical patent/CN104625457A/zh
Publication of CN104625457A publication Critical patent/CN104625457A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K31/00—Processes relevant to this subclass, specially adapted for particular articles or purposes, but not covered by only one of the preceding main groups
    • B23K31/12—Processes relevant to this subclass, specially adapted for particular articles or purposes, but not covered by only one of the preceding main groups relating to investigating the properties, e.g. the weldability, of materials
    • B23K31/125—Weld quality monitoring
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B25—HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
    • B25H—WORKSHOP EQUIPMENT, e.g. FOR MARKING-OUT WORK; STORAGE MEANS FOR WORKSHOPS
    • B25H1/00—Work benches; Portable stands or supports for positioning portable tools or work to be operated on thereby
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M13/00—Testing of machine parts
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N19/00—Investigating materials by mechanical methods
    • G01N19/04—Measuring adhesive force between materials, e.g. of sealing tape, of coating

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

本发明公开了一种用于芯片焊接质量检验的铁镍框架固定平台，它包括框架放置平台（1）、支撑座（2）和磁力吸盘（3），所述的磁力吸盘（3）固定安装在支撑座（2）上，所述的框架放置平台（1）安装在磁力吸盘（3）上方，所述的框架放置平台（1）上放置有框架（4），框架（4）通过磁力吸盘（3）的吸力固定。本发明的有益效果是：利用磁铁原理对铁镍材质的框架进行固定，用于完成焊线的拉力机焊球推力测试，并能对磁力进行开关控制，方便框架的取放，和传统机械压板式的平台相比，有效的保证框架中每个管脚都被固定，避免压板变形或损坏时局部压力不均问题，降低测试误差。

Description

一种用于芯片焊接质量检验的铁镍框架固定平台
技术领域
本发明涉及铁镍框架固定平台，特别是一种用于芯片焊接质量检验的铁镍框架固定平台。
背景技术
半导体电子元件的封装生产中必不可少的要进行焊接质量抽样检查。焊接质量的主要评估指标是焊线的拉力测试及焊球的推力测试。这两种测试通常都采用SPC（统计工艺控制）的方式来进行监控的，不仅仅只是对产品规格进行控制，还对生产线的稳定性有非常高的要求，因此测量系统的稳定是非常重要的。目前测试机的供应商都是采用压板式的平台将框架压紧固定在测试平台上。这种传统平台因为压板有较多的筋条，所以加工较为困难，并且由于筋条非常细，极易变形而造成框架压不好，且不能保证每种框架都能良好的压稳，必须每种封装类型的框架都要设计新的压板，因此操作时针对不同的框架就必须更换压板，兼容性非常低，操作复杂，多个压板的设计和制作又要花费多余的人力财力，而且这样的方式不仅对压板的加工及材料要求比较高，更加不利的是当产品切换时相应也必须进行压板的转换。并且测试时测试员必须操作测试头避让压板的筋条。测试效率较低，必须准备多套压板增加成本，压板的使用寿命也较短容易造成测量误差。
为了增加测试的稳定性及效率等问题，必须研发一种测试稳定性高、操作方便和测试效率高的铁镍框架固定平台。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的缺点，提供一种测试稳定性高、操作方便和测试效率高的用于芯片焊接质量检验的铁镍框架固定平台。
本发明的目的通过以下技术方案来实现：一种用于芯片焊接质量检验的铁镍框架固定平台，它包括框架放置平台、支撑座和磁力吸盘，所述的磁力吸盘固定安装在支撑座上，所述的框架放置平台安装在磁力吸盘上方，所述的框架放置平台上放置有框架，框架通过磁力吸盘的吸力固定。
所述的框架放置平台的后侧边安装有一定位板。
所述的支撑座底部备有用于固定较小测试样品的辅助压块。
所述的磁力吸盘为开关式磁力吸盘。
本发明具有以下优点：本发明采用磁力吸附的设计思想避免了传统接触式压板受力不均的造成框架浮动的问题；同时平台表面无筋条，减少了测试头移动时避让筋条的上下动作，使操作更加简单有效；该固定平台的部件都极易加工且不用担心变形问题，可同时兼容多种封装形式的框架，不用频繁更换压板。
附图说明
图1 为本发明的结构示意图；
图2 为本发明的主视示意图；
图中，1-框架放置平台，2-支撑座，3-磁力吸盘，4-框架，5-定位板，6-辅助压块。
具体实施方式
下面结合附图对本发明做进一步的描述，本发明的保护范围不局限于以下所述：
如图1和图2所示，一种用于芯片焊接质量检验的铁镍框架固定平台，它包括框架放置平台1、支撑座2和磁力吸盘3，所述的磁力吸盘3固定安装在支撑座2上，所述的框架放置平台1安装在磁力吸盘3上方，所述的框架放置平台1上放置有框架4，框架4通过磁力吸盘3的吸力固定，在本实施例中，磁力吸盘3的吸力强度非常高吸力能达到200g/cm2，能确保框架4稳固的吸附在平台上，且由于磁力吸盘3的磁场分布有均匀的特性，所以框架4与框架放置平台1没有间隙存在，而框架放置平台1具有很高的平整度，从而保证工件在测试时，框架平稳移动且不发生抖动，提高测试稳定性，同时，框架放置平台1上也就可以放置比其宽度窄的框架4。
在本实施例中，所述的框架放置平台1的后侧边安装有一定位板5，放置框架4时，让框架4的侧边与定位板5的侧边紧贴，从而避免框架4放置偏斜，影响测试的精准度。
在本实施例中，所述的支撑座2底部备有辅助压块6，辅助压块6用于固定较小的测试样品。
在本实施例中，所述的磁力吸盘3为开关式磁力吸盘，当框架4放置好后，打开磁力吸盘3，磁力吸盘3的吸力牢牢吸住框架，使框架4不会上、下、左、右移动，且框架4底部与框架放置平台1之间无间隙，避免因框架4与框架放置平台1之间的间隙导致测试头测量时推刀接触到芯片表面出现测试值异常偏大的问题（注：测试头在测量推力时推刀应高于芯片表面1/4焊球厚度），从而提高了测试稳定性。

Claims (4)

1.一种用于芯片焊接质量检验的铁镍框架固定平台，其特征在于：它包括框架放置平台（1）、支撑座（2）和磁力吸盘（3），所述的磁力吸盘（3）固定安装在支撑座（2）上，所述的框架放置平台（1）安装在磁力吸盘（3）上方，所述的框架放置平台（1）上放置有框架（4），框架（4）通过磁力吸盘（3）的吸力固定。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片焊接质量检验的铁镍框架固定平台，其特征在于：所述的框架放置平台（1）的后侧边安装有一定位板（5）。
3.根据权利要求1所述的一种用于芯片焊接质量检验的铁镍框架固定平台，其特征在于：所述的支撑座（2）底部备有用于固定较小测试样品的辅助压块（6）。
4.根据权利要求1所述的一种用于芯片焊接质量检验的铁镍框架固定平台，其特征在于：所述的磁力吸盘（3）为开关式磁力吸盘。
CN201510043214.1A 2015-01-28 2015-01-28 一种用于芯片焊接质量检验的铁镍框架固定平台 Pending CN104625457A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510043214.1A CN104625457A (zh) 2015-01-28 2015-01-28 一种用于芯片焊接质量检验的铁镍框架固定平台

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510043214.1A CN104625457A (zh) 2015-01-28 2015-01-28 一种用于芯片焊接质量检验的铁镍框架固定平台

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN104625457A true CN104625457A (zh) 2015-05-20

Family

ID=53204939

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510043214.1A Pending CN104625457A (zh) 2015-01-28 2015-01-28 一种用于芯片焊接质量检验的铁镍框架固定平台

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN104625457A (zh)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7004373B1 (en) * 2003-04-07 2006-02-28 West Bond, Inc. Wire bond fault detection method and apparatus
CN202399070U (zh) * 2011-12-30 2012-08-29 济南天辰机器集团有限公司 一种数控机床的工件电永磁固定装置
CN203804941U (zh) * 2014-02-14 2014-09-03 爱发科豪威光电薄膜科技(深圳)有限公司 金属基片装卡工作台
CN204019287U (zh) * 2014-08-26 2014-12-17 赵夫超 液化气钢瓶封头毛坯打磨机

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7004373B1 (en) * 2003-04-07 2006-02-28 West Bond, Inc. Wire bond fault detection method and apparatus
CN202399070U (zh) * 2011-12-30 2012-08-29 济南天辰机器集团有限公司 一种数控机床的工件电永磁固定装置
CN203804941U (zh) * 2014-02-14 2014-09-03 爱发科豪威光电薄膜科技(深圳)有限公司 金属基片装卡工作台
CN204019287U (zh) * 2014-08-26 2014-12-17 赵夫超 液化气钢瓶封头毛坯打磨机

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN204053259U (zh) 一种试板焊接夹具
CN201380354Y (zh) 圆柱形电池之电芯自动点底焊接装置
CN204413445U (zh) 中板焊接治具
CN203490340U (zh) 一种pcba板测试台
CN211554256U (zh) 一种测试探针用治具
JP2009128190A (ja) 素子試験装置及び素子試験方法
CN203433003U (zh) 气动测试架
CN102519337A (zh) 继电器衔铁行程检测装置及方法
CN104625457A (zh) 一种用于芯片焊接质量检验的铁镍框架固定平台
CN105572561A (zh) 通用型芯片失效分析的测试设备
CN211402241U (zh) 一种二次离子质谱仪测试用样品架
CN110658470A (zh) 一种测试探针用治具
CN207623410U (zh) 一种电阻值测量工装
CN203156258U (zh) 一种线材定位夹具
CN210665817U (zh) 两边邮票孔封装模块测试夹具
CN202433640U (zh) 背光组件测试治具
CN204388779U (zh) 高效平面度检测装置
CN202977379U (zh) 一种用于集成电路封装的可弹性调整的压焊夹具
CN207665301U (zh) Pcb冲压零件的整体压接治具
KR20120108852A (ko) Ｌｅｄ 칩 검사용 지그 유닛
CN104865422A (zh) 旋转手轮式零插拔力老炼测试插座
KR100857374B1 (ko) 로드 셀을 이용한 접촉압력 측정방법과 그 장치
CN204596772U (zh) 一种qfn后贴膜球焊压板
CN205404614U (zh) 一种电机检测卡具
CN218964288U (zh) 一种极耳保护焊板

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20150520