CN104502373B - 装有双重升降功能c型臂的x射线检测装置 - Google Patents

Abstract

一种装有双重升降功能C型臂的X射线检测装置，由X射线管、射线管升降伺服驱动机构、射线管横向调整机构、横臂机构、齿条支架杆机构、平板探测器、平板横向调整机构、平板升降伺服驱动机构、滑块和滑轨构成C型臂装置，射线管安装在齿条支架杆机构上，平板探测器与齿条支架杆机构及滑轨连接，升降架机构与C型臂升降驱动机构连接，摆动机构分别与横臂机构和升降板连接。C型臂前端增加可以单独升降的齿条支架杆机构，增加X射线管和平板探测器的升降行程，增加检测范围，向下伸长的齿条支架杆机构可以将X射线管或平板探测器深入到被检零部件的内部一定深度，可准确地对工件检测。降低射线防护铅房高度，减少占地空间，节约成本。

Description

装有双重升降功能 C 型臂的 X 射线检测装置

技术领域

本发明涉及一种X射线检测装置，尤其涉及一种可降低防护铅房高度、增加检测范围的装有双重升降功能C型臂的X射线检测装置。

背景技术

随着X射线无损检测技术的发展及应用范围及领域的不断扩大，越来越多的用户对于检测设备的功能范围提出更多的要求，相当多的用户提出要以尽可能低的成本来检测更多规格的工件，提高设备的利用效率，实现更大的经济效益，本套装置就是在用户提出的使用X射线检测装置在一套设备上扩大检测范围，可检测多种形状规格的工件的前提下进行的开发设计。

发明内容

针对用户需求，本发明提供了一种符合用户检测要求，在一套X射线检测设备上实现涵盖用户所需检测多种零部件、可降低防护铅房高度的装有双重升降功能C型臂的X射线检测装置。

解决上述问题所采取的技术方案是：

一种装有双重升降功能C型臂的X射线检测装置，其特征在于：由X射线管1、射线管固定架2、齿条支架杆机构3、射线管升降伺服驱动机构4、射线管横向调整机构5、射线管支架合件6、横臂机构7、平板支架合件11、平板横向调整机构12、平板升降伺服驱动机构13、平板探测器14、射线管升降滑块15、射线管升降滑轨16、平板升降滑块22和平板升降滑轨23构成C型臂装置17，其中：射线管支架合件6的后端通过射线管横向调整机构5与横臂机构7相连接，射线管支架合件6前端的端面与射线管升降滑块15连接，射线管支架合件6的侧面与射线管升降伺服驱动机构4连接，平板支架合件11的后端通过平板横向调整机构12与横臂机构7连接，平板支架合件11前端的端面与平板升降滑块22连接，平板支架合件11的侧面与平板升降伺服驱动机构13连接，X射线管1安装在射线管固定架2上，射线管固定架2安装在齿条支架杆机构3上，齿条支架杆机构3上连接射线管升降滑轨16，与射线管支架合件6前端连接的射线管升降滑块15滑动连接在射线管升降滑轨16上，平板探测器14与齿条支架杆机构3连接，齿条支架杆机构3与平板升降滑轨23连接，与平板支架合件11前端连接的平板升降滑块22滑动连接在平板升降滑轨23上；C型臂装置17的中间位置与回转支承机构10的前端面连接，回转支承机构10的后端面与升降板20连接，升降板20的后端面与升降滑块19连接，升降架机构9的立面与升降滑轨18连接，升降滑块19滑动连接在升降滑轨18上，升降架机构9的顶部与C型臂升降驱动机构21连接，摆动机构8的前面与横臂机构7连接，摆动机构8的右侧面与升降板20连接。

本发明 的有益效果：本发明所采用的结构完全满足了用户提出的要求，在C型臂整体升降移动的基础上，C型臂的前端增加可以单独升降的齿条支架杆机构，在不增加设备总体高度的前提下，增加X射线管和平板探测器的升降行程，加大检测行程，增加检测范围，向下伸长的齿条支架杆机构可以将X射线管或平板探测器深入到被检零部件的内部一定深度，更加准确地对工件进行检测。同时降低了射线防护铅房的高度，减少了占地空间，也节约了成本。

附图说明

图1是本发明的结构示意图；

图2是图1的左视图；

图3是图1的俯视图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明做进一步说明。

一种装有双重升降功能C型臂的X射线检测装置，如图1至图3所示，利用X射线对铝铸件进行检测，适用于以尽可能小的成本和占地空间进行比常规件扩大范围的实时成像检测。其主要发明点是既可以使C型臂装置整体做升降移动，又可以使C型臂装置前端的机构单独升降，增加检测行程。具体结构是：由X射线管1、射线管固定架2、齿条支架杆机构3、射线管升降伺服驱动机构4、射线管横向调整机构5、射线管支架合件6、横臂机构7、平板支架合件11、平板横向调整机构12、平板升降伺服驱动机构13、平板探测器14、射线管升降滑块15、射线管升降滑轨16、平板升降滑块22和平板升降滑轨23构成C型臂装置17，其中：射线管支架合件6的后端通过射线管横向调整机构5与横臂机构7相连接，射线管支架合件6前端的端面与射线管升降滑块15连接，射线管支架合件6的侧面与射线管升降伺服驱动机构4连接，平板支架合件11的后端通过平板横向调整机构12与横臂机构7连接，平板支架合件11前端的端面与平板升降滑块22连接，平板支架合件11的侧面与平板升降伺服驱动机构13连接，X射线管1安装在射线管固定架2上，射线管固定架2安装在齿条支架杆机构3上，齿条支架杆机构3上连接射线管升降滑轨16，与射线管支架合件6前端连接的射线管升降滑块15滑动连接在射线管升降滑轨16上，由射线管升降伺服驱动机构4带动齿条支架杆机构3沿着由射线管升降滑块15和射线管升降滑轨16组成的滑动配合做升降移动；平板探测器14与齿条支架杆机构3连接，齿条支架杆机构3与平板升降滑轨23连接，与平板支架合件11前端连接的平板升降滑块22滑动连接在平板升降滑轨23上；由平板升降伺服驱动机构13带动齿条支架杆机构3沿着由平板升降滑块22和平板升降滑轨23组成的滑动配合做升降移动；平板横向调整机构12驱动平板支架合件11，带动平板探测器14左右横向移动；X射线管1和平板探测器14在单独升降时的同步性由射线管升降伺服驱动机构4和平板升降伺服驱动机构13来保证，以上部件组成了C型臂装置17。C型臂装置17的中间位置与回转支承机构10的前端面连接，回转支承机构10的后端面与升降板20连接，升降板20的后端面与升降板滑块19连接，升降架机构9的立面与升降板滑轨18连接，升降板滑块19滑动连接在升降板滑轨18上，滑轨18和滑块19组成滑动配合，升降架机构9的顶部与C型臂升降驱动机构21连接，由C型臂升降驱动机构21驱动C型臂装置17升降移动。摆动机构8的前面与横臂机构7连接，摆动机构8的右侧面与升降板20连接，控制C型臂装置17整体绕回转支承机构10做一定角度的摆动。

检测工件时，从工件的最上端开始向下检测，先将C型臂装置17由C型臂升降驱动机构21升高到最高位置，带动X射线管1和平板探测器14升到最高位置，根据工件的尺寸不同由射线管横向调整机构5和平板横向调整机构12来调节X射线管1和平板探测器14的焦距，调整好后由C型臂升降驱动机构21驱动C型臂装置17带动X射线管1和平板探测器14开始向下移动检测工件，C型臂装置17走到最低点后，再由射线管升降伺服驱动机构4和平板升降伺服驱动机构13分别驱动X射线管1和平板探测器14继续向下同步移动，将工件余下的部分检测完成。另外，向下伸长的齿条支架杆机构3可以将X射线管14或平板探测器14深入到空心零部件内部的一定深度，更加准确地对工件进行检测。

Claims (1)

1.一种装有双重升降功能C型臂的X射线检测装置，其特征在于：由X射线管（1）、射线管固定架（2）、齿条支架杆机构（3）、射线管升降伺服驱动机构（4）、射线管横向调整机构（5）、射线管支架合件（6）、横臂机构（7）、平板支架合件（11）、平板横向调整机构（12）、平板升降伺服驱动机构（13）、平板探测器（14）、射线管升降滑块（15）、射线管升降滑轨（16）、平板升降滑块（22）和平板升降滑轨（23）构成C型臂装置（17），其中：射线管支架合件（6）的后端通过射线管横向调整机构（5）与横臂机构（7）相连接，射线管支架合件（6）前端的端面与射线管升降滑块（15）连接，射线管支架合件（6）的侧面与射线管升降伺服驱动机构（4）连接，平板支架合件（11）的后端通过平板横向调整机构（12）与横臂机构（7）连接，平板支架合件（11）前端的端面与平板升降滑块（22）连接，平板支架合件（11）的侧面与平板升降伺服驱动机构（13）连接，X射线管（1）安装在射线管固定架（2）上，射线管固定架（2）安装在齿条支架杆机构（3）上，齿条支架杆机构（3）上连接射线管升降滑轨（16），与射线管支架合件（6）前端连接的射线管升降滑块（15）滑动连接在射线管升降滑轨（16）上，平板探测器（14）与齿条支架杆机构（3）连接，齿条支架杆机构（3）与平板升降滑轨（23）连接，与平板支架合件（11）前端连接的平板升降滑块（22）滑动连接在平板升降滑轨（23）上； C型臂装置（17）的中间位置与回转支承机构（10）的前端面连接，回转支承机构（10）的后端面与升降板（20）连接，升降板（20）的后端面与升降滑块（19）连接，升降架机构（9）的立面与升降滑轨（18）连接，升降滑块（19）滑动连接在升降滑轨（18）上，升降架机构（9）的顶部与C型臂升降驱动机构（21）连接，摆动机构（8）的前面与横臂机构（7）连接，摆动机构（8）的右侧面与升降板（20）连接。