CN104464583B - 一种点灯检测装置以及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种点灯检测装置以及方法，通过设置用于向显示面板的表面施加作用力，使显示基板的表面从具有第一高度差的第一形状变化到具有第二高度差的第二形状，所述第一高度差大于第二高度差，使得所述探针能够在第二形状下对显示面板进行点灯检测的压平器件，从而可在探针抵触显示面板之前，对显示面板进行平坦度处理，以减少探针损耗，提高探针使用寿命，确保点灯检测效果。

Description

一种点灯检测装置以及方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体可以涉及一种点灯检测装置以及方法。

背景技术

在显示面板制造过程中，需要多道检测工序来检查制作工程中产生的不良。例如，显示面板成盒后的点灯检测。

点灯检测过程中，需要将每一个数据(Data)信号和栅极(Gate)信号单独传输至显示面板上每一个相应的触点(Pad)上，在具体检测时，利用点灯检测装置中探头模块(Block)11里的探针12抵触在显示面板14上对应的触点上，从而实现将检测信号从导线到显示面板14的传输。

由于点灯检测时所使用探针12硬度较低，这就要求显示面板14有足够的平坦度，才能保证检测信号能够均匀的输入到显示面板14内部，实现显示面板14的点亮。

图1所示为现有技术中点灯检测装置示意图，其中探头模块11固定在探头模块基板(Probe Unit Base)13上，然后探头模块11中的探针12抵触在显示面板的触点上，给显示面板传输检测信号，实现显示面板的点亮，以检查显示面板是否为良品。

探头模块11的结构很精密，其外观结构可如图2所示，而探头模块11中探针12的正视图具体可如图3所示，通常，探针12针尖的厚度约10微米，宽度约20微米，材质为金，由于探针12厚度和宽度值比较小，所以每一次与显示面板中触点的接触与分开都会对探针12产生一定的损伤。

目前，显示面板尺寸越来越大，对于大尺寸显示面板，如果平坦度不够高，例如显示面板边角翘起，显示面板侧边中间凹陷，点灯检测时就会使探头模块11中的探针12受力不同，造成一些探针12过度挤压，从而造成损伤，降低寿命，同时还会影响检查效果。

发明内容

本发明提供一种点灯检测装置以及方法，从而可在探针抵触显示面板之前，对显示面板进行平坦度处理，以减少探针损耗，提高探针使用寿命，确保点灯检测效果。

本发明提供方案如下：

本发明实施例提供了一种点灯检测装置，用于测试显示面板，所述装置包括基板、设置有探针并与基板连接的探头模块，还包括：

用于向显示面板的表面施加作用力，使显示基板的表面从具有第一高度差的第一形状变化到具有第二高度差的第二形状，使得所述探针能够在第二形状下对显示面板进行点灯检测的压平器件，所述第一高度差大于第二高度差。

优选的，所述装置还包括：

用于支撑所述压平器件的支撑模块，所述支撑模块的第一端与所述基板连接，所述支撑模块的第二端与所述压平器件连接。

优选的，所述装置中包括多个支撑模块；

所述多个支撑模块中的每一个支撑模块的第二端均连接有一压平器件，或者，所述多个支撑模块连接同一个压平器件。

优选的，所述压平器件设置于所述探头模块面向探针所抵触的显示面板区域的一侧。

优选的，所述装置中包括多个探头模块；

所述多个探头模块中的每一个探头模块中均设置有一压平器件，或者所述多个探头模块连接同一压平器件。

优选的，所述压平器件为刚性或具有弹性的绝缘材质。

优选的，所述压平器件为防静电橡胶。

优选的，所述压平器件内设置有贯穿孔，所述探针容置于所述贯穿孔内。

优选的，所述压平器件具有几何形状。

本发明实施例还提供了一种点灯检测方法，该方法具体可利用上述本发明实施例提供的点灯检测装置对显示面板进行点灯检测；

所述点灯检测方法包括：

利用压平器件向显示面板的表面施加作用力，使显示基板的表面从具有第一高度差的第一形状变化到具有第二高度差的第二形状，所述第一高度差大于第二高度差；

利用探针在第二形状下对显示面板进行点灯检测。

从以上所述可以看出，本发明提供的点灯检测装置以及方法，通过设置用于向显示面板的表面施加作用力，使显示基板的表面从具有第一高度差的第一形状变化到具有第二高度差的第二形状，所述第一高度差大于第二高度差，使得所述探针能够在第二形状下对显示面板进行点灯检测的压平器件，从而可在探针抵触显示面板之前，对显示面板进行平坦度处理，以减少探针损耗，提高探针使用寿命，确保点灯检测效果。

附图说明

图1为现有技术中点灯检测装置结构示意图；

图2为现有技术中探头模块结构示意图；

图3为现有技术中探针结构示意图；

图4为本发明实施例提供的点灯检测装置结构示意图一；

图5为本发明实施例提供的点灯检测装置结构示意图二；

图6为本发明实施例提供的点灯检测装置结构示意图三；

图7为本发明实施例提供的点灯检测装置结构示意图四；

图8为本发明实施例提供的点灯检测装置结构示意图五；

图9为本发明实施例提供的点灯检测装置结构示意图六；

图10为本发明实施例提供的点灯检测装置结构示意图七；

图11为本发明实施例提供的点灯检测方法流程示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本发明的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

除非另作定义，此处使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明专利申请说明书以及权利要求书中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”或者“一”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也相应地改变。

本发明实施例提供了一种点灯检测装置，用于测试显示面板，如图4所示，该点灯检测装置具体可以包括基板13、设置有探针12并与基板13连接的探头模块11。

该点灯检测装置具体还可以还包括：

用于向显示面板14的表面施加作用力，使显示基板的表面从具有第一高度差的第一形状变化到具有第二高度差的第二形状，使得探针12能够在第二形状下对显示面板14进行点灯检测的压平器件15，所述第一高度差大于第二高度差。

本发明提供的点灯检测装置，在探针12抵触显示面板14之前，利用压平器件15对显示面板14进行平坦度处理，使探针12所抵触的显示面板14表面的平坦度处于一个合理的范围，例如与水平面平行，或者显示面板14表面的高度差在一预设范围内等，从而可减少探针12的损耗，提高探针12的使用寿命，并确保点灯检测效果。

如图4、5所示，本发明实施例所提供的点灯检测装置，具体还可以包括：

用于支撑压平器件15的支撑模块16，该支撑模块16的第一端与基板13连接，该支撑模块16的第二端与压平器件15连接。

本发明实施例中，点灯检测装置中具体可以包括多个支撑模块16，而且在一具体实施例中，如图4所示，多个支撑模块16中的每一个均可以在其第二端即临近显示面板14的一端，设置一个压平器件15。而在另一具体实施例中，如图5所示，本发明实施例所涉及的多个支撑模块16连接同一个压平器件15，即在如图5所示实施例中，在点灯检测装置靠近显示面板14一个侧边的一侧，点灯检测装置只设置一个长度相对较长的压平器件15，该压平器件15与点灯检测装置一个侧边所设置的全部支撑模块16连接。

无论图4或图5所示的点灯检测装置，都可在探针12抵触显示面板14之前，利用压平器件15对显示面板的表面进行平坦度处理，即使显示基板14的表面从具有第一高度差的第一形状变化到具有第二高度差的第二形状(第一高度差大于第二高度差)，以使探针12抵触在相对平坦的触点上，实现点灯检测，避免探针12因显示面板14表面不平坦而导致受力不均，减少探针12的损耗，提高探针12的使用寿命，并确保点灯检测效果。

为了实现压平器件15先于探针12接触显示面板14的表面，本发明实施例中，可以使压平器件15，相较于探针12，更靠近显示面板14一预设距离，即压平器件15需要抵触于显示面板14的一侧面，与探针12的针尖处存在一高度差，这样，当支撑模块16和探头模块11联动时，不但可以使压平器件15先于探针12抵触在显示面板14的表面，以便压平器件15对显示面板14的表面进行平坦度处理，还由于合理的高度差的设置，而不影响探针12可以抵触在显示面板14表面的触点上。

而在另一实施例中，支撑模块16与探头模块11也可以采用分动的方式分别与显示面板14接触，即利用一器件(附图未示出)驱动支撑模块16先于探头模块11向显示面板14移动，在压平器件15抵触显示面板14之后，再驱动探头模块11向显示面板14移动，以使探针11抵触显示面板14时，显示面板14的表面已经经过压平器件15的平坦度处理。

在本发明另一具体实施例中，如图6、7、8所示，压平器件15也可以设置于探头模块11中，具体的，该压平器件15可以设置于探头模块11面向探针12所抵触的显示面板区域的一侧，即与探针12同侧设置。

为了不影响探针12抵触显示面板14，如图8所示，压平器件15可与探针12水平方向上依次排列设置。

该实施例中，压平器件15与显示面板14接触的一侧面，相较于探针12的针头，可更靠近显示面板14(同图4、5所示实施例类似)，即该侧面与针头12之间存在一高度差，该高度差不但可以确保压平器件15先于探针12抵触在显示面板14的表面，以便压平器件15对显示面板14的表面进行平坦度处理，还需要确保压平器件15抵触显示面板14之后，不影响探针12可以抵触在显示面板14表面的触点上。

本发明实施例中，点灯检测装置中可以包括多个探头模块12，且如图6所示，多个探头模块12中的每一个探头模块12中均设置有一压平器件15。或者，如图7所示，本发明实施例所涉及的多个探头模块12连接同一压平器件15，即在点灯检测装置靠近显示面板14一个侧边的一侧，点灯检测装置只设置一个压平器件15，该压平器件15与点灯检测装置一个侧边中全部的探头模块11连接。

在一具体实施例中，如图9所示，压平器件15内可设置有贯穿孔17，这样，可使压平器件15与探针12设置于探头模块11的同一位置(如图10所示)，并使探针11容置于贯穿孔17内，即压平器件15围绕探针12设置。

上述本发明实施例所涉及的压平器件15，具体可为刚性或具有弹性的绝缘材质，例如防静电橡胶。

当本发明实施例所涉及的压平器件15为弹性材质时，探针12的针尖距离显示面板14的距离，不但可以小于压平器件15与显示面板14接触的侧面距离显示面板14的距离，还可以使探针12的针尖与压平器件15的侧面平齐，这样，可使显示面板14表面的平坦度处理，探针12抵触显示面板14的操作同步实现。

本发明实施例中，可基于实际使用时的需要，使压平器件15具有任一几何形状，以使压平器件15适用于需要进行点灯检测的显示面板中。

本发明实施例还提供了一种点灯检测方法，该方法具体可利用上述本发明实施例提供的点灯检测装置对显示面板14进行点灯检测；

如图11所示，该点灯检测方法具体可以包括：

利用压平器件15向显示面板14的表面施加作用力，使显示面板14表面从具有第一高度差的第一形状变化到具有第二高度差的第二形状，所述第一高度差大于第二高度差；

利用探针12在第二形状下对显示面板14进行点灯检测。

从以上所述可以看出，本发明提供的点灯检测装置以及方法，通过设置用于向显示面板的表面施加作用力，使显示基板的表面从具有第一高度差的第一形状变化到具有第二高度差的第二形状，所述第一高度差大于第二高度差，使得所述探针能够在第二形状下对显示面板进行点灯检测的压平器件，从而可在探针抵触显示面板之前，对显示面板进行平坦处理，以减少探针损耗，提高探针使用寿命，确保点灯检测效果。

以上所述仅是本发明的实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (6)

1.一种点灯检测装置，用于测试显示面板，所述装置包括基板、设置有探针并与基板连接的探头模块，其特征在于，还包括：

用于向显示面板的表面施加作用力，使显示基板的表面从具有第一高度差的第一形状变化到具有第二高度差的第二形状，使得所述探针能够在第二形状下对显示面板进行点灯检测的压平器件，所述第一高度差大于第二高度差；

所述压平器件设置于所述探头模块面向探针所抵触的显示面板区域的一侧，所述压平器件内设置有贯穿孔，所述探针容置于所述贯穿孔内。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置中包括多个探头模块；

所述多个探头模块中的每一个探头模块中均设置有一压平器件，或者所述多个探头模块连接同一压平器件。

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述压平器件为刚性或具有弹性的绝缘材质。

4.如权利要求3所述的装置，其特征在于，所述压平器件为防静电橡胶。

5.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述压平器件具有几何形状。

6.一种点灯检测方法，其特征在于，利用如权利要求1至5任一项所述的点灯检测装置对显示面板进行点灯检测；所述点灯检测方法包括：

利用压平器件向显示面板的表面施加作用力，使显示基板的表面从具有第一高度差的第一形状变化到具有第二高度差的第二形状，所述第一高度差大于第二高度差；

利用探针在第二形状下对显示面板进行点灯检测。