KR20080000999A

KR20080000999A - 평판 디스플레이 패널의 검사 장치

Info

Publication number: KR20080000999A
Application number: KR1020060058977A
Authority: KR
Inventors: 이은중
Original assignee: 엘지.필립스 엘시디 주식회사
Priority date: 2006-06-28
Filing date: 2006-06-28
Publication date: 2008-01-03

Abstract

본 발명은 평판 디스플레이 패널의 검사 장치에 관한 것이다. 본 발명의 평판 디스플레이 패널의 검사 장치는, 전기 신호를 전달하는 평판형 도전성 전극 패드, 및 도전성 전극 패드의 일측면에 형성된 다수의 돌기부를 포함한다. 본 발명에 의하면, 프로브의 전극 패드 상에 다수의 돌기부를 형성시킴으로써 평판 디스플레이 패널의 전극과 프로브의 전극 패드 사이의 전기적 접속을 안정되게 하여 접속불량에 의한 검사 오류를 방지할 수 있고, 프로브와 평판 디스플레이 패널의 전극 패드를 접속할 때 과다한 압력을 가하지 않아도 되기 때문에 검사중에 전극 패드가 파손되는 것을 방지할 수 있다.

평판, 디스플레이, 패널, 시험, 테스트, 전극 패드

Description

평판 디스플레이 패널의 검사 장치{Testing Apparatus of Flat Display Panel}

도 1은 종래의 평판 디스플레이 패널의 검사 장치를 개략적으로 나타낸 도면이다.

도 2는 도 1에 도시된 평판 디스플레이 패널의 검사 장치의 프로브와 평판 디스플레이 패널의 전극 패드의 접속 상태의 예를 나타낸 단면도이다.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 평판 디스플레이 패널의 검사 장치를 개략적으로 나타낸 도면이다.

도 4a 및 도 4b는 도 3에 도시된 평판 디스플레이 패널의 검사 장치에서 프로브의 전극 패드와 평판 디스플레이 패널의 전극 패드가 접속되는 예를 나타낸 도면이다.

도 5a 및 도 5b는 도 3에 도시된 평판 디스플레이 패널의 검사 장치에서 프로브의 전극 패드의 예를 나타낸 도면이다.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>

10, 110 : 제어장치 30, 40, 130, 140 : 프로브

31, 41, 51, 52, 151, 152 : 전극 패드

50, 150 : 평판 디스플레이 패널 51a ~ 51n, 151a ~ 151n : 전극

131a ~ 131n : 돌기부

본 발명은 평판 디스플레이 패널의 검사 장치에 관한 것으로, 특히 평판 디스플레이 패널의 전극과 프로브의 전극 패드 사이의 전기적 접속을 위한 평판 디스플레이 패널의 검사 장치에 관한 것이다.

근래에 다양한 평판 디스플레이 장치에 대한 요구에 따라 LCD(Liquid Crystal Display Device), PDP(Plasma Display Panel), VFD(Vacuum Fluorescent Display) 등 다양한 소자가 개발되어 사용되고 있다. 이와 같은 평판 디스플레이 장치는 대화면 및 고화질의 요구에 따라 구조가 고정밀화되고 있다. 따라서, 평판 디스플레이 장치의 품질을 안정되게 확보하기 위해서는 다양한 평판 디스플레이 장치에 대해 다양한 검사를 수행하게 된다.

도 1에 도시된 바와 같이, 평판 디스플레이 패널의 검사 장치의 제어장치(10)는 다수의 프로브(30, 40)와 전선(20a, 20b)을 통해 접속된다. 여기서 상기 프로브 30은 예컨대 평판 디스플레이 패널의 스캔 전극에 전기 신호를 인가하기 위한 스캔 프로브이고, 프로브 40은 평판 디스플레이 패널의 데이터 전극에 전기 신호를 인가하기 위한 데이터 프로브이다. 이와 같은 프로브(30, 40)에는 전극 패 드(31, 41)가 구성된다. 한편, 평판 디스플레이 패널(50)은 패널의 일측 방향에는 스캔 전극 패드(51)가 형성되어 있고, 타측에는 데이터 전극 패드(52)가 형성되어 있다.

이와 같은 검사 장치를 통해 평판 디스플레이 패널(50)을 시험하기 위해서는 먼저 상기 평판 디스플레이 패널(50)의 스캔 전극 패드(51) 및 데이터 전극 패드(52)를 대응되는 프로브(30, 40)의 전극 패드와 각각 접속시킨다. 이어서, 제어장치(10)를 통해 프로브(30, 40)에 전기 신호를 인가하여 평판 디스플레이 패널(50)을 시험하게 된다. 이때, 예를 들어 상기 제어장치(10)는 프로브(30, 40)를 통해 평판 디스플레이 패널(50)에 온오프(On/Off) 전기 신호를 인가하여 평판 디스플레이 패널의 픽셀이 정상적으로 표시되는지를 검사하게 된다.

도 2에 도시된 바와 같이, 평판 디스플레이 패널(50)의 전극 패드(51)에는 다수의 전극(51a ~ 51n)이 형성되어 있다. 한편, 상기 평판 디스플레이 패널(50)의 전극 패드(51) 상의 전극(51a ~ 51n)과 전기적으로 접속하기 위한 프로브(30)의 전극 패드(31)는 일반적으로, 평판형 도전성 패드로 구성된다.

이와 같은 평판 디스플레이 패널(50)을 정상적으로 시험하기 위해서는 상기 평판 디스플레이 패널(50)의 전극 패드(51) 상의 모든 전극(51a ~ 51n)과 프로브(30)의 전극 패드(31)가 모두 전기적으로 접속되어야 한다.

그러나 상기와 같은 평판 디스플레이 패널의 검사 장치에 의하면 프로브(30) 의 전극 패드(31)와 평판 디스플레이 패널(50)의 전극 패드(51) 상의 모든 전극(51a ~ 51n)이 전기적으로 완전하게 접속되지 않는 문제가 있다. 특히 평판 디스플레이 패널(50)의 전극 패드(51) 상의 모든 전극의 높이가 일정하지 않게 되면 전극과 프로브(30)의 전극 패드(31) 사이에 간격(G)이 발생하게 된다. 이와 같이 평판 디스플레이 패널(50)의 전극과 프로브(30)의 전극 패드(31) 사이에 간격(G)이 발생하게 되면, 검사 장치는 평판 디스플레이 패널(50)이 정상이더라도 불량이라고 판정하게 되는 문제점이 있다.

이와 같은 문제점을 해결하기 위해 종래에는 프로브(30)에 기계적 압력을 세게 줌으로써 프로브의 전극 패드(31)와 평판 디스플레이 패널(50)의 전극 사이가 밀착되도록 하는 방법이 있으나, 이와 같이 프로브(30)에 의해 기계적 압력을 인가하게 되면 평판 디스플레이 패널(50)의 전극 패드(51, 52)가 기계적 충격에 의해 파손되거나 손상되는 문제점이 있다.

이러한 종래기술의 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은, 평판 디스플레이 패널의 전극과 프로브의 전극 패드 사이의 전기적 접속을 안정되게 함으로써 접속불량에 의한 검사 오류를 방지할 수 있고, 검사중에 평판 디스플레이 패널의 전극 패드의 파손을 방지할 수 있는 평판 디스플레이 패널의 검사 장치를 제공하는 것이다.

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 평판 디스플레이 패널의 검사 장 치는 전기 신호를 전달하는 평판형 도전성 전극 패드, 및 상기 도전성 전극 패드의 일측면에 형성된 다수의 돌기부를 포함하는 것을 특징으로 한다.

여기서, 상기 도전성 전극 패드는 다수로 분할된 것을 특징으로 한다.

여기서, 상기 돌기부는 도전성 고무로 형성된 것을 특징으로 한다.

여기서, 상기 돌기부는 단면이 원형 모양으로 형성된 것을 특징으로 한다.

여기서, 상기 돌기부는 단면이 다각형 모양으로 형성된 것을 특징으로 한다.

여기서, 상기 돌기부는 도전성 전극 패드 상에 그물 모양으로 배열되어 형성된다.

여기서, 상기 돌기부는 도전성 전극 패드 상에 불규칙한 모양으로 배열되어 형성된다.

이하, 본 발명의 일실시예에 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.

도 3에 도시된 바와 같이, 평판 디스플레이 패널의 검사 장치의 제어장치(110)는, 다수의 프로브(130, 140)와 전선(120a, 120b)을 통해 접속된다. 상기 프로브 130은 다수의 서브 프로브, 프로브 140은 다수의 서브 프로브(141 ~ 143)로 구성되어 있다. 여기서 상기 프로브 130은 예컨대 평판 디스플레이 패널의 스캔 전극에 전기 신호를 인가하기 위한 스캔 프로브이고, 프로브 140은 평판 디스플레이 패널의 데이터 전극에 전기 신호를 인가하기 위한 데이터 프로브이다. 상기와 같은 프로브에는 전극 패드가 각각 구성된다.

한편, 평판 디스플레이 패널(150)은 일측 방향에 스캔 전극 패드(151)가 형성되고, 타측 방향에 데이터 전극 패드(152)가 형성되어 있다.

이와 같은 본 발명의 평판 디스플레이 패널의 검사 장치를 통해 평판 디스플레이 패널(150)을 시험하기 위해서는 먼저 상기 평판 디스플레이 패널(150)의 스캔 전극 패드(151)와 데이터 전극 패드(152)를 대응되는 프로브(131 ~ 133, 141 ~ 143)와 각각 접속시킨다. 상기 프로브는 다수의 서브 프로브로 구성되어 있기 때문에 시험하고자 하는 평판 디스플레이 패널(150)의 전극 패드의 구조에 대응시켜 접속시킬 수 있다.

이어서, 제어장치(110)를 통해 프로브(130, 140)에 전기 신호를 인가하여 평판 디스플레이 패널(150)을 시험하게 된다. 이때, 예를 들어 상기 제어장치(110)는 프로브(130, 140)를 통해 평판 디스플레이 패널(150)에 온오프(On/Off) 전기 신호를 인가하여 평판 디스플레이 패널의 픽셀이 정상적으로 표시되는지를 검사하게 된다.

여기서 도 4a는 프로브의 전극 패드와 평판 디스플레이 패널의 전극 패드가 접속되기 이전의 상태를 나타낸 것이다.

먼저, 도 4a에 도시된 바와 같이, 평판 디스플레이 패널의 전극 패드(151) 상에는 다수의 전극(151a ~ 151n)이 일정한 간격을 두고 배치되어 있다. 그러나 상기 평판 디스플레이 패널의 전극 패드(151) 상에 형성된 전극(151a ~ 151n)은 높이가 일정하지 않은 모양을 나타내고 있다. 한편, 프로브의 전극 패드(131)는 상기 평판 디스플레이 패널의 전극 패드(151)과 마주보도록 위치되게 된다. 이때 상기 프로브의 전극 패드(131) 상에는 상기 평판 디스플레이 패널의 전극 패드(151) 상에 형성된 전극 배치와 일치되도록 다수의 돌기부(131a ~ 131n)가 형성된다. 상기 프로브의 전극 패드(131) 상에 형성되는 다수의 돌기부(131a ~ 131n)는 탄성을 갖는 도전성 고무에 의해 형성된다. 상기 도 4a에서는 프로브의 전극 패드(131) 상에 형성되는 다수의 돌기부(131a ~ 131n)는 상기 평판 디스플레이 패널의 전극 패드(151) 상에 형성된 전극의 배치와 일치되도록 형성된 경우를 예로 들었으나, 일치시키지 않고 돌기부를 조밀하게 구성할 수도 있다.

도 4b는 프로브의 전극 패드와 평판 디스플레이 패널의 전극 패드가 접속된 상태를 나타낸 것이다.

도 4b에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 의하면 평판 디스플레이 패널의 전극 패드(151) 상에 형성된 전극의 높이가 일정하지 않더라도 평판 디스플레이 패널의 전극 패드(151) 상의 전극과 프로브의 전극 패드(131)가 다수의 돌기부(131a ~ 131n)에 의해 전기적으로 안정되게 접속되게 된다.

즉, 프로브의 전극 패드(131)에 소정의 압력을 가하게 되면, 프로브의 전극 패드(131) 상에 형성된 다수의 돌기부(131a ~ 131n)는 탄성에 의해 평판 디스플레이 패널의 전극 패드(151) 상의 전극(151a ~ 151n)과 안정되게 접속된다.

이와 같은 본 발명의 실시예에 의하면, 프로브의 전극 패드 상에 다수의 돌기부를 형성시킴으로써 전기적 접속을 안정되게 할 수 있고, 프로브에 과다한 압력을 가하지 않아도 되기 때문에 평판 디스플레이 패널의 전극 패드의 파손을 방지할 수 있다.

도 5a에 도시된 바와 같이, 프로브의 전극 패드(131) 상에는 다수의 돌기부가 형성되어 있다. 여기서 돌기부는 소정의 간격으로 배열되어 형성되게 된다. 또한, 상기 돌기부는 예를 들어 단면이 원형이 되도록 형성되고 그물 모양으로 규칙적으로 배열되게 된다.

한편, 도 5b는 프로브의 전극 패드(131) 상에 다수의 돌기부가 형성되되, 불규칙하게 배열된 경우를 나타낸 것이다. 따라서 돌기부는 불규칙한 간격으로 배열되어 형성되게 된다. 더욱이 상기 돌기부는 단면을 다각형 모양으로 형성시킬 수 있다.

이와 같이, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.

그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 하고, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다 는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타나며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리 고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면 프로브의 전극 패드 상에 다수의 돌기부를 형성시킴으로써 평판 디스플레이 패널의 전극과 프로브의 전극 패드 사이의 전기적 접속을 안정되게 하여 접속불량에 의한 검사 오류를 방지할 수 있다. 또한, 프로브와 평판 디스플레이 패널의 전극 패드를 접속할 때 과다한 압력을 가하지 않아도 되기 때문에 검사중에 전극 패드가 파손되는 것을 방지할 수 있다.

Claims

전기 신호를 전달하는 평판형 도전성 전극 패드; 및

상기 도전성 전극 패드의 일측면에 형성된 다수의 돌기부

를 포함하는 평판 디스플레이 패널의 검사 장치.
제1항에 있어서,

상기 도전성 전극 패드는 다수로 분할된 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 검사 장치.
제1항에 있어서,

상기 돌기부는 도전성 고무로 형성된 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 검사 장치.
제1항에 있어서,

상기 돌기부는 단면이 원형 모양으로 형성된 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 검사 장치.
제1항에 있어서,

상기 돌기부는 단면이 다각형 모양으로 형성된 것을 특징으로 하는 평판 디 스플레이 패널의 검사 장치.
제1항에 있어서,

상기 돌기부는 도전성 전극 패드 상에 그물 모양으로 배열되어 형성된 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 검사 장치.
제1항에 있어서,

상기 돌기부는 도전성 전극 패드 상에 불규칙한 모양으로 배열되어 형성된 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 검사 장치.