CN104360510A - 一种检测用探针块及其检测装置 - Google Patents

一种检测用探针块及其检测装置 Download PDF

Info

Publication number
CN104360510A
CN104360510A CN201410686133.9A CN201410686133A CN104360510A CN 104360510 A CN104360510 A CN 104360510A CN 201410686133 A CN201410686133 A CN 201410686133A CN 104360510 A CN104360510 A CN 104360510A
Authority
CN
China
Prior art keywords
probe
display panel
probe block
lead
wire
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201410686133.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104360510B (zh
Inventor
盛化鹏
吴松
张�林
韦传兵
田林山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd, Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN201410686133.9A priority Critical patent/CN104360510B/zh
Publication of CN104360510A publication Critical patent/CN104360510A/zh
Priority to US14/889,279 priority patent/US10540919B2/en
Priority to PCT/CN2015/076956 priority patent/WO2016082439A1/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN104360510B publication Critical patent/CN104360510B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733—Geometry aspects
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals

Abstract

本发明的实施例提供一种检测用探针块及其检测装置，涉及显示技术领域，解决了现有的探针块用于检测显示面板时会出现探针之间发生短路的问题，避免无法检测出显示面板的不良的情况出现，提高了显示面板的不良检出率，保证了显示面板的画面的显示质量，进而，避免对生产材料的浪费，降低了生产成本。该探针块包括：应用于显示面板的检测中，探针块上包括有探针，探针块上具有与显示面板中的引线对应的第一探针区域，其中：第一探针区域中的探针设置在与显示面板中相连引线中的第一引线对应的位置处，且，与第一引线相邻的引线对应的位置未设置探针；其中，第一引线为相连引线中的任意一根引线。本发明应用于显示面板的检测中。

Description

一种检测用探针块及其检测装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种检测用探针块及其检测装置。
背景技术
液晶面板在成盒后，为了检测制作工艺中出现的不良产品，避免不良面板投入后续的工序中，减少生产资源的浪费需进行成盒检测。在面板大尺寸、高分辨率、高刷新频率发展的趋势下，为了降低检测设备对不良检出率的影响，在大尺寸面板中一般采用杆状短路Shorting Bar布线设计。
为了提高显示器的分辨率，需要减小面板中的引线的间距，这样用于面板检测的探针块中的探针的间距也会减小。由于探针块中相邻的探针的间距减小，从而相邻探针之间很容易发生短路，从而无法检测出显示面板的不良，导致生产出的显示面板的不良率增大，从而造成生产材料的浪费。
发明内容
本发明的实施例提供一种检测用探针块及其检测装置，解决了现有的探针块用于检测显示面板时会出现探针之间发生短路的问题，避免无法检测出显示面板的不良的情况出现，提高了显示面板的不良检出率，保证了显示面板的画面的显示质量，进而，可以避免对生产材料的浪费，降低了生产成本。
为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：
第一方面，提供一种检测用探针块，所述探针块应用于显示面板的检测中，所述探针块上包括有探针，所述探针块上具有与所述显示面板中的引线对应的第一探针区域，其中：
所述第一探针区域中的探针设置在与所述显示面板中相连引线中的第一引线对应位置处，且，与所述第一引线相邻的引线对应的位置未设置探针；
所述第一引线为所述相连引线中的任意一根引线。
可选的，所述探针块上还具有与所述显示面板中的驱动电路中的线路对应的第二探针区域，其中：
所述第二探针区域中的探针设置在与具有相同驱动信号的线路中的第一线路对应的位置处，且，所述探针块上的与所述第一线路相邻的线路对应的位置处未设置探针；
所述第一线路为所述具有相同驱动信号的线路中的任意一根线路。
可选的，所述显示面板中的引线与所述驱动电路中的线路中相邻设置的引线和线路中，只在引线或者线路对应的位置处设置有探针。
可选的，所述探针块中还包括：压力支撑体，其中：
所述压力支撑体设置在所述探针块的最左侧和最右侧；
所述探针块中的和所述压力支撑体相邻设置的探针与所述压力支撑体之间的间距大于或者等于50um。
可选的，所述压力支撑体的宽度大于或者等于100um。
可选的，所述压力支撑体的材料为合金材料、硅胶材料或者陶瓷材料。
可选的，所述探针块上的所述第一探针区域中的探针的宽度小于所述显示面板中的相邻引线之间的间距。
可选的，所述探针块上的所述第二探针区域中的探针的宽度小于所述显示面板中的驱动电路的相邻线路之间的间距。
可选的，所述探针块中的所述探针的材料与所述压力支撑体的材料相同。
第二方面，提供一种检测装置，所述检测装置包括第一方面所述的任一探针块。
本发明的实施例提供的检测用探针块及其检测装置，通过将探针块上的与显示面板中的引线对应的第一探针区域中的探针，设置在与显示面板中相连引线中的第一引线对应位置处，且，与第一引线相邻的引线对应的位置未设置探针，最终形成的用于检测显示面板的探针块相比于现有技术中的探针块，相邻探针之间的间距远远大于现有技术中的相邻探针之间的间距，从而使用该探针块进行显示面板的检测时不会相邻探针短接的情况，解决了现有的探针块用于检测显示面板时会出现探针之间发生短路的问题，避免无法检测出显示面板的不良的情况出现，提高了显示面板的不良检出率，保证了显示面板的画面的显示质量，进而，可以避免对生产材料的浪费，降低了生产成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明的实施例提供的一种检测用探针块的结构示意图；
图2为本发明的实施例提供的一种检测用探针块用于检测的结构示意图；
图3为本发明的实施例提供的另一种检测用探针块的结构示意图；
图4为本发明的实施例提供的又一种检测用探针块的结构示意图；
图5为本发明的一种实施例提供的一种检测用探针块的结构示意图；
图6为本发明的实施例提供的另一种检测用探针块用于检测的结构示意图。
附图标记：1、9、10-探针；2-第一探针区域；3-栅线引线；4-数据线引线；5-接触孔；6-短接棒电路设计区域；7-扎针区域；8-第二探针区域；11-压力支撑体；12-驱动电路的线路；13-显示面板中的引线。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明的实施例提供一种检测用探针块，该探针块应用于显示面板的检测中，参照图1和图2所示，该探针块上包括有探针1，并且该探针块上具有与显示面板中的引线13对应的第一探针区域2，其中：
如图2中所示，探针块上的第一探针区域2中的探针1，设置在与显示面板中相连的引线中的第一引线对应的位置处，且，与第一引线相邻的引线对应的位置处未设置有探针1。
其中，第一引线为相连引线中的任意一根引线。
具体的，如图2中所示，本实施例中以6D短接棒电路设计为例进行说明，在显示面板测试用的短接棒电路设计区域6中，栅线引线3与数据线引线4在接触孔5处相交，与栅线引线3相交的数据线引线4中的第一根数据线的引线与第六根数据线的引线相连，则只在第一根数据线的引线或者第六根数据线的引线对应的探针块的第一探针区域中设置探针。且，只在相邻的数据线的引线中的一根数据线的引线对应的探针块的第一探针区域中设置探针，例如只在第一根数据线引线对应的第一探针区域的位置处设置探针，同时不在第二根数据线引线对应的位置处设置探针。如此，可以保证最终形成的探针块中的相邻探针之间的间距大于或者等于50um，从而保证在进行显示面板的检测时，显示面板的扎针区域7中的探针之间不会因为灰尘等原因的存在而发生短路。
需要说明的是，本实施例中只是以6D的短路棒电路设计为例进行说明，并没有限定进行显示面板的检测时只能是采用6D的短路棒电路设计，在实际的应用中探针块中的探针的设计只要是满足本实施例中的原则即可，具体的探针的位置不作唯一的限定。
本发明的实施例提供的检测用探针块，通过将探针块上的与显示面板中的引线对应的第一探针区域中的探针，设置在与显示面板中相连的引线中的第一引线对应位置处，且，与第一引线相邻的引线对应的位置未设置探针，最终形成的用于检测显示面板的探针块相比于现有技术中的探针块，相邻探针之间的间距远远大于现有技术中的相邻探针之间的间距，从而使用该探针块进行显示面板的检测时不会相邻探针短接的情况，解决了现有的探针块用于检测显示面板时会出现探针之间发生短路的问题，避免无法检测出显示面板的不良的情况出现，提高了显示面板的不良检出率，保证了显示面板的画面的显示质量，进而，可以避免对生产材料的浪费，降低了生产成本。
进一步，参照图3和图6所示，该探针块上还具有与显示面板中的驱动电路中的线路12对应的第二探针区域8，其中：
探针块上的第二探针区域8中中的探针1，设置在与具有相同驱动信号的线路中的第一线路对应的位置处，且，与第一线路相邻的线路对应的位置未设置探针1。
其中，在进行显示面板的测试中第二探针区域一般与显示面板中的驱动电路上的线路相对应，本实施例中的探针块上包括该第二探针区域时，相应的第二探针区域中的相邻探针之间的间距基于本实施例中的设计原则可以大于或者等于50um，保证在显示面板的测试中该第二区域的探针之间不会因为灰尘等原因而造成相连探针之间短接，从而避免出现无法测试给显示面板提供驱动信号的驱动电路是否性能良好的问题，保证了显示面板的性能的优良性。
具体的，参照图4所示，显示面板中的引线与驱动电路中的线路中相邻设置的引线和线路中，只在引线或者线路对应的位置处设置有探针。
其中，如图4中所示，本实施例中的探针快中的第一探针区域中的与第二探针区域中的探针相邻的探针9，在满足本发明中的探针的设计原则的基础上，最终形成的探针9与第二探针区域中的探针10之间的间距可以保证大于或者等于50um，同样的可以进一步的确保相邻探针之间发生短接的问题，保证可以使用探针块对显示面板进行检测，更加保证探针块的功能的完整性，进一步确保经过检测之后的显示面板的性能最优，保证了显示面板的画面的显示质量。
进一步，参照图5所示，探针块中还包括：压力支撑体11，其中：
压力支撑体11设置在探针块的最左侧和最右侧。
探针块中的和压力支撑体11相邻设置的探针与压力支撑体11之间的间距大于或者等于50um。
具体的，由于测试显示面板的工作台的中间是空心的，在进行大尺寸的显示面板的测试时，显示面板中会存在肉眼不可见的弯曲弧度，从而出现探针块两边的探针不能同时受力和受力不均的问题，严重的降低探针块的使用寿命。本发明实施例中的探针块，在探针块的最左侧和最右侧的位置处增加了压力支撑体11，这样，整个探针块可以很好的被压力支撑体11支撑，进而可以避免出现弯曲的情况，提高探针块的使用寿命。
其中，压力支撑体4的宽度大于或者等于100um。优选的，压力支撑体的宽度为100～150um。
压力支撑体4的材料为合金材料、硅胶材料或者陶瓷材料。
优选的，压力支撑体的材料可以与探针块中的探针的材料相同，例如选用合金材料。
优选的，探针块上的第一探针区域2中的探针1的宽度小于显示面板中的相邻引线之间的间距。
探针块上的第二探针区域8中的探针1的宽度小于显示面板中的驱动电路的相邻线路之间的间距。
具体的，在使用探针块进行显示面板的检测时，由于后续的显示面板与探针块的对位都是通过自动识别对位标识来实现的，在实际的测试中会出现由于一些不可控的因素导致显示面板或者安装探针块的检测装置出现移位，这样可能实现探针块中的探针放置在引线之间的位置或驱动电路的线路之间的位置的情况，同样会造成探针块发生短接的情况，则需要更换新的探针块进行测试。而本实施例中的探针块中第一探针区域中的探针的宽度优选的小于显示面板中的相邻引线之间的间距，第二探针区域中的探针的宽度小于显示面板中的驱动电路的相邻线路之间的间距，即使由于不可抗拒的因素出现探针落在引线之间或者驱动电路的线路之间的问题，本实施例中的探针块也不会出现短接，通过对探针块的位置的调整额可以重新进行检测而不需要更换新的探针块，提高生产效率，降低生产成本，进而最优的实现对显示面板的性能的检测。
本发明的实施例提供的检测用探针块，通过将探针块上的与显示面板中的引线对应的第一探针区域中的探针，设置在与显示面板中相连的引线中的第一引线对应位置处，且，与第一引线相邻的引线对应的位置未设置探针，最终形成的用于检测显示面板的探针块相比于现有技术中的探针块，相邻探针之间的间距远远大于现有技术中的相邻探针之间的间距，从而使用该探针块进行显示面板的检测时不会相邻探针短接的情况，解决了现有的探针块用于检测显示面板时会出现探针之间发生短路的问题，避免无法检测出显示面板的不良的情况出现，提高了显示面板的不良检出率，保证了显示面板的画面的显示质量，进而，可以避免对生产材料的浪费，降低了生产成本。
本发明的实施例提供一种检测装置，该检测装置包括附图中的图1～6对应的实施例提供的任一探针块。
本发明的实施例提供的检测装置，将检测装置中的探针块上的与显示面板中的引线对应的第一探针区域中的探针，设置在与显示面板中相连的引线中的第一引线对应位置处，且，与第一引线相邻的引线对应的位置未设置探针，最终形成的用于检测显示面板的探针块相比于现有技术中的探针块，相邻探针之间的间距远远大于现有技术中的相邻探针之间的间距，从而使用该探针块进行显示面板的检测时不会相邻探针短接的情况，解决了现有的探针块用于检测显示面板时会出现探针之间发生短路的问题，避免无法检测出显示面板的不良的情况出现，提高了显示面板的不良检出率，保证了显示面板的画面的显示质量，进而，可以避免对生产材料的浪费，降低了生产成本。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种检测用探针块，所述探针块应用于显示面板的检测中，所述探针块上包括有探针，所述探针块上具有与所述显示面板中的引线对应的第一探针区域，其特征在于，其中：
所述第一探针区域中的探针设置在与所述显示面板中相连引线中的第一引线对应位置处，且，与所述第一引线相邻的引线对应的位置未设置探针；
所述第一引线为所述相连引线中的任意一根引线。
2.根据权利要求1所述的探针块，其特征在于，所述探针块上还具有与所述显示面板中的驱动电路中的线路对应的第二探针区域，其中：
所述第二探针区域中的探针设置在与具有相同驱动信号的线路中的第一线路对应的位置处，且，与所述第一线路相邻的线路对应的位置未设置探针；
所述第一线路为所述具有相同驱动信号的线路中的任意一根线路。
3.根据权利要求2所述的探针块，其特征在于，
所述显示面板中的引线与所述驱动电路中的线路中相邻设置的引线和线路中，只在引线或者线路对应的位置处设置有探针。
4.根据权利要求1～3任一所述的探针块，其特征在于，所述探针块中还包括：压力支撑体，其中：
所述压力支撑体设置在所述探针块的最左侧和最右侧；
所述探针块中的和所述压力支撑体相邻设置的探针与所述压力支撑体之间的间距大于或者等于50um。
5.根据权利要求4所述的探针块，其特征在于，
所述压力支撑体的宽度大于或者等于100um。
6.根据权利要求4所述的探针块，其特征在于，
所述压力支撑体的材料为合金材料、硅胶材料或者陶瓷材料。
7.根据权利要求1所述的探针块，其特征在于，
所述探针块上的所述第一探针区域中的探针的宽度小于所述显示面板中相邻引线之间的间距。
8.根据权利要求2所述的探针块，其特征在于，
所述探针块上的所述第二探针区域中的探针的宽度小于所述显示面板中的驱动电路的相邻线路之间的间距。
9.根据权利要求4所述的探针块，其特征在于，
所述探针块中的所述探针的材料与所述压力支撑体的材料相同。
10.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置中包括权利要求1～9任一所述的探针块。
CN201410686133.9A 2014-11-24 2014-11-24 一种检测用探针块及其检测装置 Active CN104360510B (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410686133.9A CN104360510B (zh) 2014-11-24 2014-11-24 一种检测用探针块及其检测装置
US14/889,279 US10540919B2 (en) 2014-11-24 2015-04-20 Probe assembly and detecting device comprising the same
PCT/CN2015/076956 WO2016082439A1 (zh) 2014-11-24 2015-04-20 探针组件及包含其的检测装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410686133.9A CN104360510B (zh) 2014-11-24 2014-11-24 一种检测用探针块及其检测装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104360510A true CN104360510A (zh) 2015-02-18
CN104360510B CN104360510B (zh) 2018-02-16

Family

ID=52527787

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410686133.9A Active CN104360510B (zh) 2014-11-24 2014-11-24 一种检测用探针块及其检测装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US10540919B2 (zh)
CN (1) CN104360510B (zh)
WO (1) WO2016082439A1 (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016082439A1 (zh) * 2014-11-24 2016-06-02 京东方科技集团股份有限公司 探针组件及包含其的检测装置
CN106773178A (zh) * 2017-01-05 2017-05-31 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种探针部件及其制作方法、以及探针块和检测装置
CN109917569A (zh) * 2019-04-09 2019-06-21 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 面板检测装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007310130A (ja) * 2006-05-18 2007-11-29 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 表示素子
CN102109688A (zh) * 2009-12-29 2011-06-29 上海天马微电子有限公司 液晶显示面板、阵列基板及驱动线线缺陷检测方法
CN102193010A (zh) * 2010-01-22 2011-09-21 寇地斯股份有限公司 膜型探针单元及其制造方法
CN204178078U (zh) * 2014-11-24 2015-02-25 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种检测用探针块及其检测装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3350899B2 (ja) * 1999-08-31 2002-11-25 株式会社双晶テック プローブブロックの支持枠体
JP3698365B2 (ja) * 2002-08-29 2005-09-21 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション アレイ基板の検査装置および検査方法
KR100781379B1 (ko) * 2007-01-30 2007-11-30 안재일 프로브장치
JP2009133722A (ja) * 2007-11-30 2009-06-18 Tokyo Electron Ltd プローブ装置
CN102338943B (zh) 2010-07-27 2014-05-14 北京京东方光电科技有限公司 阵列基板、液晶面板和液晶显示器以及制造和检测方法
KR20140094723A (ko) * 2013-01-21 2014-07-31 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 기판, 그것의 검사 방법 및 그것을 포함하는 액정 표시 장치
CN104360510B (zh) * 2014-11-24 2018-02-16 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种检测用探针块及其检测装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007310130A (ja) * 2006-05-18 2007-11-29 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 表示素子
CN102109688A (zh) * 2009-12-29 2011-06-29 上海天马微电子有限公司 液晶显示面板、阵列基板及驱动线线缺陷检测方法
CN102193010A (zh) * 2010-01-22 2011-09-21 寇地斯股份有限公司 膜型探针单元及其制造方法
CN204178078U (zh) * 2014-11-24 2015-02-25 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种检测用探针块及其检测装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016082439A1 (zh) * 2014-11-24 2016-06-02 京东方科技集团股份有限公司 探针组件及包含其的检测装置
US10540919B2 (en) 2014-11-24 2020-01-21 Boe Technology Group Co., Ltd. Probe assembly and detecting device comprising the same
CN106773178A (zh) * 2017-01-05 2017-05-31 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种探针部件及其制作方法、以及探针块和检测装置
CN106773178B (zh) * 2017-01-05 2023-06-09 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种探针部件及其制作方法、以及探针块和检测装置
CN109917569A (zh) * 2019-04-09 2019-06-21 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 面板检测装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN104360510B (zh) 2018-02-16
US20160351091A1 (en) 2016-12-01
WO2016082439A1 (zh) 2016-06-02
US10540919B2 (en) 2020-01-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103217844B (zh) 一种显示面板和显示装置
CN101652705B (zh) 液晶显示面板及其检查方法
CN103293735B (zh) 触控式液晶显示装置
CN101382679B (zh) 液晶显示面板
CN204116461U (zh) 一种显示面板
CN102708771B (zh) 一种阵列基板及其制造方法、显示装置
CN104932164A (zh) 阵列基板及其制作方法、测试方法、显示面板、显示装置
CN105372857A (zh) 一种玻璃基板、液晶显示面板及液晶显示装置
CN104965321A (zh) 显示面板检测系统及检测方法
CN104571756A (zh) 一种触摸显示面板及其驱动方法、触摸装置
CN105116590B (zh) 阵列基板、显示装置及阵列基板修复方法
CN204178078U (zh) 一种检测用探针块及其检测装置
CN102650784B (zh) 一种阵列基板、液晶显示器件及其修复方法
CN105679215A (zh) 显示屏及其裂纹检测方法
CN104505045A (zh) 液晶显示面板、栅极驱动电路及其故障检测方法
CN104360510A (zh) 一种检测用探针块及其检测装置
CN102692740B (zh) 一种液晶显示装置及其阵列基板、制造方法
CN101201469B (zh) 液晶显示面板及其修补方法
CN105093729A (zh) 阵列基板及其制作方法、显示装置
CN103676243B (zh) 一种阵列基板组件及其测量方法和显示装置
CN103852922B (zh) 一种阵列基板检测方法及检测装置
CN102831852A (zh) 一种tft-lcd阵列基板及其测试方法
CN203733797U (zh) 阵列基板和显示装置
CN105549281A (zh) 阵列基板及修复方法、显示面板和显示装置
CN203350556U (zh) 一种阵列基板母板、阵列基板引线检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant