CN204178078U - 一种检测用探针块及其检测装置 - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 234
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 40
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 19
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000000741 silica gel Substances 0.000 claims description 3
- 229910002027 silica gel Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 9
- 239000002699 waste material Substances 0.000 abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 238000001467 acupuncture Methods 0.000 description 2
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000035807 sensation Effects 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 description 1
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- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
本实用新型的实施例提供一种检测用探针块及其检测装置，涉及显示技术领域，解决了现有的探针块用于检测显示面板时会出现探针之间发生短路的问题，避免无法检测出显示面板的不良的情况出现，提高了显示面板的不良检出率，保证了显示面板的画面的显示质量，进而，避免对生产材料的浪费，降低了生产成本。该探针块包括：应用于显示面板的检测中，探针块上包括有探针，探针块上具有与显示面板中的引线对应的第一探针区域，其中：第一探针区域中的探针设置在与显示面板中相连引线中的第一引线对应的位置处，且，与第一引线相邻的引线对应的位置未设置探针；其中，第一引线为相连引线中的任意一根引线。本实用新型应用于显示面板的检测中。
Description
技术领域
本实用新型涉及显示技术领域，尤其涉及一种检测用探针块及其检测装置。
背景技术
液晶面板在成盒后，为了检测制作工艺中出现的不良产品，避免不良面板投入后续的工序中，减少生产资源的浪费需进行成盒检测。在面板大尺寸、高分辨率、高刷新频率发展的趋势下，为了降低检测设备对不良检出率的影响，在大尺寸面板中一般采用杆状短路Shorting Bar布线设计。
为了提高显示器的分辨率，需要减小面板中的引线的间距，这样用于面板检测的探针块中的探针的间距也会减小。由于探针块中相邻的探针的间距减小，从而相邻探针之间很容易发生短路，从而无法检测出显示面板的不良，导致生产出的显示面板的不良率增大，从而造成生产材料的浪费。
实用新型内容
本实用新型的实施例提供一种检测用探针块及其检测装置，解决了现有的探针块用于检测显示面板时会出现探针之间发生短路的问题，避免无法检测出显示面板的不良的情况出现，提高了显示面板的不良检出率，保证了显示面板的画面的显示质量，进而，可以避免对生产材料的浪费，降低了生产成本。
为达到上述目的，本实用新型的实施例采用如下技术方案：
第一方面，提供一种检测用探针块，所述探针块应用于显示面板的检测中，所述探针块上包括有探针，所述探针块上具有与所述显示面板中的引线对应的第一探针区域，其中：
所述第一探针区域中的探针设置在与所述显示面板中相连引线中的第一引线对应位置处，且，与所述第一引线相邻的引线对应的位置未设置探针；
所述第一引线为所述相连引线中的任意一根引线。
可选的，所述探针块上还具有与所述显示面板中的驱动电路中的线路对应的第二探针区域，其中：
所述第二探针区域中的探针设置在与具有相同驱动信号的线路中的第一线路对应的位置处，且，所述探针块上的与所述第一线路相邻的线路对应的位置处未设置探针；
所述第一线路为所述具有相同驱动信号的线路中的任意一根线路。
可选的，所述显示面板中的引线与所述驱动电路中的线路中相邻设置的引线和线路中，只在引线或者线路对应的位置处设置有探针。
可选的，所述探针块中还包括：压力支撑体，其中：
所述压力支撑体设置在所述探针块的最左侧和最右侧；
所述探针块中的和所述压力支撑体相邻设置的探针与所述压力支撑体之间的间距大于或者等于50um。
可选的，所述压力支撑体的宽度大于或者等于100um。
可选的，所述压力支撑体的材料为合金材料、硅胶材料或者陶瓷材料。
可选的，所述探针块上的所述第一探针区域中的探针的宽度小于所述显示面板中的相邻引线之间的间距。
可选的，所述探针块上的所述第二探针区域中的探针的宽度小于所述显示面板中的驱动电路的相邻线路之间的间距。
可选的，所述探针块中的所述探针的材料与所述压力支撑体的材料相同。
第二方面，提供一种检测装置，所述检测装置包括第一方面所述的任一探针块。
本实用新型的实施例提供的检测用探针块及其检测装置，通过将探针块上的与显示面板中的引线对应的第一探针区域中的探针，设置在与显示面板中相连引线中的第一引线对应位置处，且，与第一引线相邻的引线对应的位置未设置探针，最终形成的用于检测显示面板的探针块相比于现有技术中的探针块，相邻探针之间的间距远远大于现有技术中的相邻探针之间的间距，从而使用该探针块进行显示面板的检测时不会相邻探针短接的情况，解决了现有的探针块用于检测显示面板时会出现探针之间发生短路的问题，避免无法检测出显示面板的不良的情况出现，提高了显示面板的不良检出率，保证了显示面板的画面的显示质量，进而，可以避免对生产材料的浪费，降低了生产成本。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型的实施例提供的一种检测用探针块的结构示意图；
图2为本实用新型的实施例提供的一种检测用探针块用于检测的结构示意图；
图3为本实用新型的实施例提供的另一种检测用探针块的结构示意图；
图4为本实用新型的实施例提供的又一种检测用探针块的结构示意图；
图5为本实用新型的一种实施例提供的一种检测用探针块的结构示意图；
图6为本实用新型的实施例提供的另一种检测用探针块用于检测的结构示意图。
附图标记：1、9、10-探针；2-第一探针区域；3-栅线引线；4-数据线引线；5-接触孔；6-短接棒电路设计区域；7-扎针区域；8-第二探针区域；11-压力支撑体；12-驱动电路的线路；13-显示面板中的引线。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型的实施例提供一种检测用探针块，该探针块应用于显示面板的检测中，参照图1和图2所示，该探针块上包括有探针1，并且该探针块上具有与显示面板中的引线13对应的第一探针区域2，其中：
如图2中所示，探针块上的第一探针区域2中的探针1，设置在与显示面板中相连的引线中的第一引线对应的位置处，且，与第一引线相邻的引线对应的位置处未设置有探针1。
其中，第一引线为相连引线中的任意一根引线。
具体的，如图2中所示，本实施例中以6D短接棒电路设计为例进行说明，在显示面板测试用的短接棒电路设计区域6中，栅线引线3与数据线引线4在接触孔5处相交，与栅线引线3相交的数据线引线4中的第一根数据线的引线与第六根数据线的引线相连，则只在第一根数据线的引线或者第六根数据线的引线对应的探针块的第一探针区域中设置探针。且，只在相邻的数据线的引线中的一根数据线的引线对应的探针块的第一探针区域中设置探针，例如只在第一根数据线引线对应的第一探针区域的位置处设置探针，同时不在第二根数据线引线对应的位置处设置探针。如此，可以保证最终形成的探针块中的相邻探针之间的间距大于或者等于50um，从而保证在进行显示面板的检测时，显示面板的扎针区域7中的探针之间不会因为灰尘等原因的存在而发生短路。
需要说明的是，本实施例中只是以6D的短路棒电路设计为例进行说明，并没有限定进行显示面板的检测时只能是采用6D的短路棒电路设计，在实际的应用中探针块中的探针的设计只要是满足本实施例中的原则即可，具体的探针的位置不作唯一的限定。
本实用新型的实施例提供的检测用探针块，通过将探针块上的与显示面板中的引线对应的第一探针区域中的探针，设置在与显示面板中相连的引线中的第一引线对应位置处，且，与第一引线相邻的引线对应的位置未设置探针，最终形成的用于检测显示面板的探针块相比于现有技术中的探针块，相邻探针之间的间距远远大于现有技术中的相邻探针之间的间距，从而使用该探针块进行显示面板的检测时不会相邻探针短接的情况，解决了现有的探针块用于检测显示面板时会出现探针之间发生短路的问题，避免无法检测出显示面板的不良的情况出现，提高了显示面板的不良检出率，保证了显示面板的画面的显示质量，进而，可以避免对生产材料的浪费，降低了生产成本。
进一步，参照图3和图6所示，该探针块上还具有与显示面板中的驱动电路中的线路12对应的第二探针区域8，其中：
探针块上的第二探针区域8中中的探针1，设置在与具有相同驱动信号的线路中的第一线路对应的位置处，且，与第一线路相邻的线路对应的位置未设置探针1。
其中，在进行显示面板的测试中第二探针区域一般与显示面板中的驱动电路上的线路相对应，本实施例中的探针块上包括该第二探针区域时，相应的第二探针区域中的相邻探针之间的间距基于本实施例中的设计原则可以大于或者等于50um，保证在显示面板的测试中该第二区域的探针之间不会因为灰尘等原因而造成相连探针之间短接，从而避免出现无法测试给显示面板提供驱动信号的驱动电路是否性能良好的问题，保证了显示面板的性能的优良性。
具体的，参照图4所示，显示面板中的引线与驱动电路中的线路中相邻设置的引线和线路中，只在引线或者线路对应的位置处设置有探针。
其中，如图4中所示，本实施例中的探针快中的第一探针区域中的与第二探针区域中的探针相邻的探针9，在满足本实用新型中的探针的设计原则的基础上，最终形成的探针9与第二探针区域中的探针10之间的间距可以保证大于或者等于50um，同样的可以进一步的确保相邻探针之间发生短接的问题，保证可以使用探针块对显示面板进行检测，更加保证探针块的功能的完整性，进一步确保经过检测之后的显示面板的性能最优，保证了显示面板的画面的显示质量。
进一步，参照图5所示，探针块中还包括：压力支撑体11，其中：
压力支撑体11设置在探针块的最左侧和最右侧。
探针块中的和压力支撑体11相邻设置的探针与压力支撑体11之间的间距大于或者等于50um。
具体的，由于测试显示面板的工作台的中间是空心的，在进行大尺寸的显示面板的测试时，显示面板中会存在肉眼不可见的弯曲弧度，从而出现探针块两边的探针不能同时受力和受力不均的问题，严重的降低探针块的使用寿命。本实用新型实施例中的探针块，在探针块的最左侧和最右侧的位置处增加了压力支撑体11，这样，整个探针块可以很好的被压力支撑体11支撑，进而可以避免出现弯曲的情况，提高探针块的使用寿命。
其中，压力支撑体4的宽度大于或者等于100um。优选的，压力支撑体的宽度为100～150um。
压力支撑体4的材料为合金材料、硅胶材料或者陶瓷材料。
优选的，压力支撑体的材料可以与探针块中的探针的材料相同，例如选用合金材料。
优选的，探针块上的第一探针区域2中的探针1的宽度小于显示面板中的相邻引线之间的间距。
探针块上的第二探针区域8中的探针1的宽度小于显示面板中的驱动电路的相邻线路之间的间距。
具体的，在使用探针块进行显示面板的检测时，由于后续的显示面板与探针块的对位都是通过自动识别对位标识来实现的，在实际的测试中会出现由于一些不可控的因素导致显示面板或者安装探针块的检测装置出现移位，这样可能实现探针块中的探针放置在引线之间的位置或驱动电路的线路之间的位置的情况，同样会造成探针块发生短接的情况，则需要更换新的探针块进行测试。而本实施例中的探针块中第一探针区域中的探针的宽度优选的小于显示面板中的相邻引线之间的间距，第二探针区域中的探针的宽度小于显示面板中的驱动电路的相邻线路之间的间距，即使由于不可抗拒的因素出现探针落在引线之间或者驱动电路的线路之间的问题，本实施例中的探针块也不会出现短接，通过对探针块的位置的调整额可以重新进行检测而不需要更换新的探针块，提高生产效率，降低生产成本，进而最优的实现对显示面板的性能的检测。
本实用新型的实施例提供的检测用探针块，通过将探针块上的与显示面板中的引线对应的第一探针区域中的探针，设置在与显示面板中相连的引线中的第一引线对应位置处，且，与第一引线相邻的引线对应的位置未设置探针，最终形成的用于检测显示面板的探针块相比于现有技术中的探针块，相邻探针之间的间距远远大于现有技术中的相邻探针之间的间距，从而使用该探针块进行显示面板的检测时不会相邻探针短接的情况，解决了现有的探针块用于检测显示面板时会出现探针之间发生短路的问题，避免无法检测出显示面板的不良的情况出现，提高了显示面板的不良检出率，保证了显示面板的画面的显示质量，进而，可以避免对生产材料的浪费，降低了生产成本。
本实用新型的实施例提供一种检测装置，该检测装置包括附图中的图1～3对应的实施例提供的任一探针块。
本实用新型的实施例提供的检测装置，将检测装置中的探针块上的与显示面板中的引线对应的第一探针区域中的探针，设置在与显示面板中相连的引线中的第一引线对应位置处，且，与第一引线相邻的引线对应的位置未设置探针，最终形成的用于检测显示面板的探针块相比于现有技术中的探针块，相邻探针之间的间距远远大于现有技术中的相邻探针之间的间距，从而使用该探针块进行显示面板的检测时不会相邻探针短接的情况，解决了现有的探针块用于检测显示面板时会出现探针之间发生短路的问题，避免无法检测出显示面板的不良的情况出现，提高了显示面板的不良检出率，保证了显示面板的画面的显示质量，进而，可以避免对生产材料的浪费，降低了生产成本。
以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种检测用探针块，所述探针块应用于显示面板的检测中，所述探针块上包括有探针，所述探针块上具有与所述显示面板中的引线对应的第一探针区域，其特征在于，其中：
所述第一探针区域中的探针设置在与所述显示面板中相连引线中的第一引线对应位置处，且，与所述第一引线相邻的引线对应的位置未设置探针；
所述第一引线为所述相连引线中的任意一根引线。
2.根据权利要求1所述的探针块，其特征在于，所述探针块上还具有与所述显示面板中的驱动电路中的线路对应的第二探针区域，其中：
所述第二探针区域中的探针设置在与具有相同驱动信号的线路中的第一线路对应的位置处，且，与所述第一线路相邻的线路对应的位置未设置探针；
所述第一线路为所述具有相同驱动信号的线路中的任意一根线路。
3.根据权利要求2所述的探针块，其特征在于，
所述显示面板中的引线与所述驱动电路中的线路中相邻设置的引线和线路中，只在引线或者线路对应的位置处设置有探针。
4.根据权利要求1～3任一所述的探针块，其特征在于，所述探针块中还包括：压力支撑体，其中：
所述压力支撑体设置在所述探针块的最左侧和最右侧；
所述探针块中的和所述压力支撑体相邻设置的探针与所述压力支撑体之间的间距大于或者等于50um。
5.根据权利要求4所述的探针块，其特征在于，
所述压力支撑体的宽度大于或者等于100um。
6.根据权利要求4所述的探针块，其特征在于，
所述压力支撑体的材料为合金材料、硅胶材料或者陶瓷材料。
7.根据权利要求1所述的探针块，其特征在于，
所述探针块上的所述第一探针区域中的探针的宽度小于所述显示面板中相邻引线之间的间距。
8.根据权利要求2所述的探针块，其特征在于，
所述探针块上的所述第二探针区域中的探针的宽度小于所述显示面板中的驱动电路的相邻线路之间的间距。
9.根据权利要求4所述的探针块，其特征在于，
所述探针块中的所述探针的材料与所述压力支撑体的材料相同。
10.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置中包括权利要求1～9任一所述的探针块。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201420716108.6U CN204178078U (zh) | 2014-11-24 | 2014-11-24 | 一种检测用探针块及其检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201420716108.6U CN204178078U (zh) | 2014-11-24 | 2014-11-24 | 一种检测用探针块及其检测装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN204178078U true CN204178078U (zh) | 2015-02-25 |
Family
ID=52566879
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201420716108.6U Expired - Fee Related CN204178078U (zh) | 2014-11-24 | 2014-11-24 | 一种检测用探针块及其检测装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN204178078U (zh) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US11016139B2 (en) | 2018-09-14 | 2021-05-25 | Chongqing Hkc Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Test assembly and test device |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
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|
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