CN201271825Y - 探针研磨装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种探针研磨装置，用以研磨一探针座上的复数根探针。此探针研磨装置至少包含一基座、一载台以及一驱动装置。上述的基座具有一底板以及竖立于该底板上的立板，且该底板上表面具有一研磨片。载台具有一板块以及连接于该板块下端的一固定片，其中该板块设于该立板的一表面且沿该表面升降，而该固定片上设有该探针座。驱动装置则连结于该板块上端，以升降该载台。其中，当载台下降时，探针座上可与研磨片接触而对复数根探针进行研磨。

Description

探针研磨装置

技术领域

本实用新型关于一种探针研磨装置，特别是关于一种可利用驱动装置来升降探针座的探针研磨装置。

背景技术

随着科技进步，具有省电、无幅射、体积小、低耗电量、平面直角、高解析度、画质稳定等多项优势的液晶显示器，为原先处独占地位的传统映像管屏幕(简称CRT)带来了莫大的冲击，尤其是现今各式信息产品如：手机、笔记型计算机、数字相机、PDA、液晶屏幕等产品越来越普及，亦使得液晶显示器(LCD)的需求量大大提升。

液晶显示器主要由一液晶显示面板以及一背光模组(Backlight module)所组成。其中液晶显示面板是由一彩色滤光片基板(Color filtersubstrate)、一薄膜晶体管数组基板(TFT array substrate)以及配置于此两基板之间的液晶层所构成，而背光模组是用以提供此液晶显示面板所需的面光源，以使液晶显示器达到显示的效果。由此可知，「液晶显示面板」的优劣，直接影响了整个显示器的质量。因此，面板制造质量的优劣，自然占有决定性的地位。

一般而言，液晶显示面板的制造过程，通常是在一大型基板上，同时形成多个尺寸相同的面板。每个面板中具有多条垂直的源极线，与多条水平的栅极线，且源极线以与门极线的交点，乃构成了液晶显示面板的图素数组。当面板形成后，必须先对面板逐一进行检测，以了解所制造出来的面板其功能是否正常。

目前，业界最普遍使用的面板检测方法，乃是利用与面板相同尺寸的一探针组(Probe unit)。探针组具有复数个探针座(Block)，而复数根用以检测的探针便是装设于该探针座中。其中，探针座的位置可经由设计使其对应于该些源极线的复数个源极垫以与门极线的复数个栅极垫，再藉由探针与面板的源极垫以与门极垫的接触，检测个别的源极垫或门极垫是否导通，便可得知每一源极线以与门极线是否正常运作。在检测完成后，才会进一步切割为个别的面板。

请参阅图1A，为公知探针座1的侧视剖面示意图。此探针座1主要具有一电路板11，以及复数根与电路板11连接的探针12。其中，复数根探针12均分别具有一与电路板11固接的连接端121，以及一用于与面板的源极垫或门极垫做接触的接触端122。

当进行面板测试时，探针座1上的每一接触端122必须与其欲接触面板上的电极垫相互对应。同时，每一根探针12的接触端(即针尖)122到电路板11的垂直距离T皆须具有一致性，以使每一根探针12都能准确且平均地与面板上的每一个电极垫做电性接触，而进行不同的电性准位、参数或功能等种种测试，并得到精确且具有参考价值的测试结果。

为使探针座1在进行测试之前，每一根探针12的接触端122均具有一定程度的平坦度，且其到电路板11的垂直距离T都相同，故必须对探针12的接触端122进行研磨，使探针座1上的每一个接触端122均位于同一个平面上。

请参考图一B，其绘示一公知探针研磨方法。一般来说，以往探针研磨作业大多由操作人员手持一探针座1，将探针座1上的各个接触端122接触研磨片2(此处为砂纸)以进行研磨。由于各个探针12是呈细针状，且探针座1上皆设有为数众多的探针12，故操作人员在一一研磨其接触端122时，必须相当谨慎以使每一接触端122达同一平面，十分耗时且劳心费力。

然而，手工研磨探针12的方法，并无法使各接触端122皆以相同的角度被研磨。再者，操作人员亦无法精准地控制其研磨的力道。因此，对于探针12的接触端122而言，其每一刻所承受的研磨力量以及研磨角度等均有所不同，进而导致探针12的接触端122不能呈同一平面，如图一C所示。更甚者，探针12也可能会因为操作人员施力的不当致使发生歪折。

倘若探针12的接触端122不呈一水平面，亦即探针座1具有探针参差不齐的问题时，便有可能会在面板检测的过程中产生假情报，例如：栅极断路(Gate open)、源极断路(Source open)、源极线短路(Source line short)或门极线短路(Gate line short)等，而影响了整颗探针座1的测试精确度，亦或造成了探针座1的损坏而无法再于后续测试作业中使用等状况。此时，工厂必须买一颗新的探针座1来替换，反而增加了整体耗材成本。

因而，在国内面板产业发展蒸蒸日上，面板测试作业的精准度日益受到重视的同时，如何快速又精准地研磨探针座上的复数根探针，以准确地测量出面板的各项功能以及电性参数，并控管面板的制造质量，已然成为目前各相关领域的设计者亟思发展的目标。

实用新型内容

有鉴于此，为了有效解决上述问题，本实用新型提供一种探针研磨装置，用以研磨一探针座上的复数根探针，减少探针在研磨过程中因施力不均而导致的损坏状况。

此探针研磨装置至少包含一基座、一载台以及一驱动装置。上述的基座具有一底板以及竖立于该底板上的立板，且该底板上表面具有一研磨片。载台具有一板块以及连接于该板块下端的一固定片，其中该板块设于该立板的一表面且沿该表面升降，而该固定片上设有该探针座。驱动装置则连结于该板块上端，以升降该载台。其中，当载台下降时，探针座可与研磨片接触而对复数根探针进行研磨。

关于本实用新型的优点与精神，以及更详细的实施方式可以藉由以下的实施方式以及所附图式得到进一步的了解。

附图说明

图1A为公知探针座的侧视剖面示意图；

图1B为公知探针研磨方法的示意图；

图1C为利用公知探针研磨方法所研磨的探针侧面示意图；

图2为本实用新型一实施例的探针研磨装置的正面示意图；以及

图3为本实用新型一实施例的探针研磨装置的侧面示意图。

【主要组件符号说明】

1    探针座              11   电路板

12   探针                121  连接端

122  接触端              T    接触端至电路板的垂直距离

2    研磨片              3    探针研磨装置

31   基座                311  底板

312  立板                32   载台

321  板块                3211 滑套

322   固定片         3221   板面

3222  折曲部         323    第一锁合件

324   第二锁合件     325    夹持件

33    驱动装置       34     滑轨

35    支撑壁         361    连接件

362   支杆

3621  孔洞           a      支点

36    悬壁

具体实施方式

请参考图2，此图绘示了本实用新型一实施例的探针研磨装置3的正面示意图。如图所示，此探针研磨装置3主要包含一基座31、一载台32以及一驱动装置33。上述的基座31具有一底板311以及竖立于底板311上的立板312，且底板311上表面具有一研磨片2。载台32具有一板块321以及连接于板块321下端的一固定片322。其中，板块321设于立板312的一表面且沿该表面升降，而固定片322上设有探针座1。

一般而言，探针座1具有复数根探针12，而此处所指的探针12指直立式探针。然而，虽以直立式探针为一较佳实施例说明，但只要能符合本实用新型适用范围的探针种类均应包含在内。另外，研磨片2为一砂纸，当探针座1下降时，复数根探针12可透过与研磨片2的接触进行研磨。

在一较佳实施例中，固定片322包含一板面3221以及一折曲部3222。其中，折曲部3222可藉由一第一锁合件323将其锁固于板块321下端。而探针座1利用一第二锁合件324将其固定于板面3221的下表面。如图所示，第二锁合件324为一蝶型螺丝组，便于拆装探针座1。然而，第二锁合件324并不受限于此，亦可为其它具固定功能的组件。更甚者，固定探针座1的方式亦不受限于锁固，其它一般可用以固定，诸如：卡合、吸附、黏合等均可适用。

驱动装置33则连结于板块321上端，以升降载台32。其中，当载台32下降时，探针座1上可与研磨片2接触而对探针座1上的复数根探针12进行研磨。在一较佳实施例中，驱动装置33为一扳动杆。

在本实施例中，载台32的板块321上端还设置有一夹持件325，用以连结驱动装置33的一端与板块321上端。然而，此处所谓的连结，指限制驱动装置33一端的位置，但使用者仍可施力于驱动装置33的另一端，以上提或下压驱动装置33。换句话来说，当施力于驱动装置33的另一端时，便可控制载台32上升或下降。

另外，虽未图示，夹持件325与驱动装置33连接的方式可利用一枢轴穿过驱动装置33相对应设置的一孔洞，并将该枢轴两端固定于夹持件325的两夹臂等。必须说明的是，此处夹持件325的功能如前所述，仅在限制驱动装置33一端的位置，并不妨碍使用者将其上提或下压动作的进行，故其它一般可应用于此目的的方法自应包含在内，不再加以赘述。

请继续参考图二，探针研磨装置3还包含一滑轨34，贴合于立板312的一表面上。相对地，载台32的板块321具有一滑套3211用以与滑轨34结合，使板块321可沿着滑轨34升降。至于板块321上所设置的滑套3211与滑轨34，虽不一一说明其间的细部结构或是连接关系，但其可为：板块321与立板312相对的一侧设置一凸块，相对地立板312则设置有一凹槽(即滑轨道)，可与上述的凸块相互套合并限制其滑动的方向为上升或下降等方式。反之，倘若板块321上系设置一凹槽，则立板312上相对设置一凸块亦为另一实施方式，并不受限于上述任一方式为之。

另外，探针研磨装置3还包含一支撑壁35以及一悬臂36。其中，支撑壁35的一边与立板312上缘连结并向外延伸，且与底板311平行。而悬臂36系连结于支撑壁35的另一边，且向下延伸与驱动装置33连接。

在一较佳实施例中，悬臂36具有一连接件361以及两支杆362。其中，两支杆362具有一间距，用以容纳驱动装置33，且支杆362末端具有孔洞3621，可以一螺丝穿过驱动装置33相对应所设置的孔洞(未图示)，连接悬臂36与驱动装置33。

接着，请参考图三，其绘示本实用新型一实施例的探针研磨装置的侧面示意图。其中，驱动装置33以其与悬臂36的连结点a为支点，进行杠杆运动，亦即当使用者施力上提驱动装置33的另一端时，驱动装置33连接于板块321的一端会下降，进而带动载台32下降。反之，当使用者施力下压驱动装置33的另一端时，驱动装置33连接于板块321的一端会上升，进而带动载台32上升。

需特别说明的是，支杆362透过连接件361连结于支撑壁35的一端。且无论是支杆362与连接件361，或是连接件361与支撑壁35间的连接，均为活动式设置。因此，当驱动装置33上移时，会带动悬臂36朝立板312的方向接近，而驱动装置33下拉时，则会带动悬臂36远离立板312。

根据以上实施例所公开的方式研磨探针座上的复数根探针后，可使用光学显微镜观看探针座，明显地发现探针长度的一致性。或是使用测试基板进行测试，亦未有欠陷不良等假情报产生，即完成了探针的研磨与修复。综上所述，可以了解本发明的优势在于，直接使用一驱动装置，亦即前述所提的扳动杆，来升降固定于载台上的探针座，使探针由上而下进行同一方向的研磨。此举不仅仅能够解决公知技术上所面临的困难，降低探针参差不齐的情形发生。也可以避免公知技术中因为操作人员力道不同或施力不当所造成探针损坏的状况。相对地，降低了探针修复不良的问题，进而减少了探针座需求的成本。

虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本实用新型，任何熟习此技艺者，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本实用新型的保护范围当视权利要求书所界定者为准。

Claims (10)

1.一种探针研磨装置，用以研磨一探针座上的复数根探针，其特征在于，该探针研磨装置包括：

一基座，具有一底板以及竖立于该底板上的立板，其中该底板上表面具有一研磨片；

一载台，具有一板块以及连接于该板块下端的一固定片，其中该板块设于该立板的一表面且沿该表面升降，而该固定片上设有该探针座；以及

一驱动装置，连结于该板块上端以升降该载台。

2.如权利要求1所述的探针研磨装置，其特征在于，该复数根探针为直立式探针。

3.如权利要求1所述的探针研磨装置，其特征在于，该驱动装置为一扳动杆，其一端连接于该板块上。

4.如权利要求3所述的探针研磨装置，其特征在于，还包含一支撑壁，其一边与该立板上缘连结并向外延伸，且与该底板平行。

5.如权利要求4所述的探针研磨装置，其特征在于，还包含一悬臂，连结于该支撑壁的另一边，且向下延伸与该扳动杆连接。

6.如权利要求5所述的探针研磨装置，其特征在于，该悬臂具有两支杆，该两支杆具有一间距，用以容纳该扳动杆，且该些支杆末端具有孔洞。

7.如权利要求1所述的探针研磨装置，其特征在于，还包含一滑轨，贴合于该立板的一表面上。

8.如权利要求7所述的探针研磨装置，其特征在于，该载台的该板块具有一用以与该滑轨结合的滑套，使该板块可沿着该滑轨升降。

9.如权利要求1所述的探针研磨装置，其特征在于，该固定片包含一板面以及一折曲部，该折曲部通过一第一锁合件将其锁固于该板块下端，该探针座以一第二锁合件将其固定于该板面的下表面。

10.如权利要求1所述的探针研磨装置，其特征在于，该驱动装置为一可驱动该载台升降的电动滑轨组。

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