CN104334081A - X射线ct成像器的运动层分解校准 - Google Patents

Abstract

一种X射线计算机断层摄影系统，包括机架(15)、多个元件(18)和一个或多个处理器(28)。所述机架(15)运动到不同取向并且生成包括为多个所述取向的图像投影数据的X射线数据。所述多个元件(18)连接到所述机架并且引起所生成的投影数据的X射线衰减。所述一个或多个处理器(28)被编程为接收(60)所生成的X射线数据并且将接收到的图像投影数据分解(62)为对处于所述机架的不同位置的所述多个元件的相对位置的指示。

Description

X射线CT成像器的运动层分解校准

技术领域

下文总体上涉及X射线计算机断层摄影。其特别应用于与扫描器校准及图像伪影补偿相结合，并且特别参考扫描器校准及图像伪影补偿来进行描述。然而，应当理解，本发明也应用于其他使用情形，而不必限于上述应用。

背景技术

诸如锥形束计算机断层摄影(CBCT)、3D旋转血管造影、X射线CT(XCT)、介入X射线、C型臂之类的X射线计算机断层摄影系统发射X射线并且探测穿过对象之后的所发射的X射线，以重建图像。空气校准或旋转增益校准投影图像通常在没有对象时在多个机架位置中的每个处被收集并且被存储以进行针对对应位置的均匀性校正。存储的针对每个机架位置的均匀性校正数据被用在图像重建中。空气校准确定不是由对象引起、而是由其他源和扫描器的元件引起的X射线衰减及强度改变。理论、理想成像系统在每个机架角度处的空气投影图像是均匀空白图像。在实践中，空气投影图像包括：来自于射束路径中的衰减结构的非均匀性、X射线源的非均匀照射、不均匀的探测器敏感性等。当对患者成像时，这些非均匀性重叠在所述患者的吸收外观上。通过利用每个机架角度处的空气投影图像来规一化在相同机架角度处的患者投影图像来补偿非均匀性，以产生校正的患者投影图像。来自围绕患者的多个机架角度的经校正的投影图像能够被重建为3D图像。

由于CT系统发展出诸如C型臂系统及更简单、更为灵活(less rigid)的机架的更开放的系统，可以发现一个采集之内以及在不同采集之间的非均匀性(以及相应的空气投影图像)的改变。改变不必是可重现的。开放系统中的空气投影图像的一些改变是由相对彼此运动的元件引起的。例如，定位于一个臂的元件可以与在另一个臂上的元件不同地运动。在一端处的源可以与在另一端的探测器不同地运动。在系统磨损臂运动、意外冲击、热膨胀/收缩及其他环境因素的情况下，即使处于相同的臂上的个体元件也能相对于彼此运动。例如，尽管防散射光栅固定于探测器，探测器的倾斜引起由光栅的薄板引起的阴影的改变。针对每次运动能够发生位置的不同改变，当对对象成像时，这能够导致未补偿的图像伪影机不精确地重建吸收系数。从生成空气校准的时间到对对象成像的时间，校正由于扫描器元件而产生的衰减和强度改变的空气校准可能并不仍然有效。

发明内容

下文公开了新的并且改进的断层摄影图像校准的系统和方法，其解决了上述及其他问题。

根据一个方面，一种X射线计算机断层摄影系统包括机架、多个元件和一个或多个处理器。所述机架运动到不同取向并且生成包括为多个所述取向的图像投影数据的X射线数据。所述多个元件连接到所述机架并且引起所生成的投影数据的X射线衰减。所述一个或多个处理器被编程为接收所生成的X射线数据，并且将接收到的图像投影数据分解为对处于所述机架的不同位置的所述多个元件的相对位置的指示。

根据另一个方面，一种X射线计算机断层摄影校准的方法包括接收X射线数据，所述X射线数据包括为绕成像区域的多个机架取向中的每个的图像投影数据。对接收到的图像投影数据进行分解，以导出处于一个或多个机架取向的多个元件的相对位置，所述元件中的每个引起接收到的图像投影数据中可归因于所述元件的X射线衰减。基于所述多个元件的所述相对位置来生成对测量到的衰减的校正。

根据另一个方面，一种X射线计算机断层摄影系统包括可旋转机架、存储器、分解单元以及校正单元。所述可旋转机架承载元件，所述元件包括X射线源、X射线滤波器、快门/准直器、X射线探测器以及防散射光栅，并且所述机架运动到不同取向。所述存储器存储可归因于所述元件中的每个的衰减。所述分解单元将为所述不同取向的空气扫描投影图像分解为所述元件中的每个的相对位置。所述校正单元基于所述元件中的每个的所述相对位置，来针对投影图像数据调整对衰减的校正。

一个优点是伪影降低。

另一个优点在于在成像会话期间动态调整的动态伪影补偿。

另一个优点在于用于校正由于扫描器元件运动而产生的伪影的后处理技术。

另一个优点在于更精确地重建吸收系数。

另一个优点在于并入已存在的系统和程序。

另一个优点在于灵活地适应于已存在的和新的更开放CT机架设计。

本领域的普通技术人员在阅读并理解了下面的具体实施方式后将意识到进一步的优点。

附图说明

本发明可以采取各种部件和各部件的布置的形式，并且可以采取各种步骤和各步骤安排形式。附图仅是为了图示优选实施例而不应被解释为对本发明的限制。

图1示意性图示了示范性现有技术X射线成像系统的元件。

图2示出了图1的系统的一个机架位置处的示范性空气校准投影图像。

图3描绘了C型臂成像系统的实施例。

图4示意性图示了在一个实施例中在分解之后在多层中包含衰减以及由个体系统部件引起的非均匀性的成像数据。

图5示意性图示了系统及分解的系统元件运动的实施例。

图6以流程图示出使用系统的实施例的一种方法。

具体实施方式

参考图1，典型的平板X射线计算机断层摄影系统包括源2、滤波器4、快门/准直器6、探测器8及防散射光栅10。源2例如是X射线管阳极发射X射线。X射线滤波器4包括对X射线进行过滤的波束整形器或过滤单元。快门/准直器6限定穿过所述对象并且冲击所述探测器的X射线波束的范围。源2、滤波器4、快门/准直器6通常定位于系统的一个臂上或在系统的臂的末端处。然而，也预期诸如环等的其他几何结构。在穿过对象12之后，所述X射线穿过防散射光栅10并且被X射线探测器8所探测。探测器8和防散射光栅10通常定位于源2、滤波器4、快门/准直器6的对侧，例如，在所述系统的所述臂的另一端或另一个臂上。所述准直器通常将X射线束的横断面限制于探测器的横断面或限制于感兴趣解剖区域，以限制患者对于X射线的暴露。X射线探测器8探测穿过在视场中的患者的X射线。探测器8通常包括探测器单元的阵列，所述探测器单元探测在均对应于像素的区中的X射线。诸如薄板组件或盘组件的、通常垂直于探测器表面的防散射光栅10而限制在成像中的散射的冲击。

参考图2，示出了在典型空气校准扫描的一个机架位置处的投影图像。空气校准扫描在每个探测器元件或每个像素测量从源2接收的X射线的强度。生成针对多个机架取向的空气校准投影图像。图2的投影图像在右侧上示出了暗区，其中，滤波器4是最薄的并且X射线是最强的。左侧的亮区指示滤波器4最厚的部分，其中，X射线是最不强的。尽管难以辨别，但是空气校准图像在防散射光栅的薄板阻挡X射线并且将阴影投射在探测器处具有一系列均匀分隔的细白线。空气投影图像表示诸如图1的偏离中心的探测器。来自于具有对称探测器的系统的空气校准投影图像将在两端示出亮区，而强区居中。

参考图3，示出了系统14的C型臂实施例。所示系统包括机架15，机架15在这一范例中包括“C”型臂16。系统元件18包括设置于一端的源2、滤波器4、快门/准直器6，以及设置于相对端的探测器8及防散射光栅10。所述C型臂附着于具有枢轴22的水平臂20。驱动器(不可见)沿围绕所述枢轴的轴线的轨迹24旋转C型臂16，以使源和探测器组件围绕所述C型臂的相对端之间的成像区运动(通常为360°)。患者的要成像的区域被支撑在成像区中的患者桌或患者支撑体上。C型臂16安装在水平臂中的滑块25中，所述水平臂承载驱动器(不可见)，所述驱动器(不可见)用于沿轨迹26运动所述C型臂，以选择性地在大约180°的投影方向上对所述对象成像。通过处理一个或多个校准采集来获取校准信息。所述校准信息用于校正在对受试者的扫描期间采集的图像，例如，在创建断层摄影横断面图像中。

系统元件18生成并且探测穿过成像区的X射线。由探测器探测的X射线被传达到在所述机架中经由电路连接的分解单元28。能够由一个或多个处理器来实现分解单元28。在所述空气校准扫描期间，X射线被系统元件接收并且被传送到分解单元。所述分解单元使用空气扫描采集并且选择性地处理来自于几何模型采集的结果，以将一系列投影图像分解为针对不同机架取向的所述元件中的每个的相对位置。所述相对位置是基于与从设计信息获取的它们的目标位置相比不具有变形或未对准的系统中的理想位置的。参考单元29存储并且保存参考图像及诸如设计信息、系统保存信息等的其他信息。所述系统包括显示设备30及至少一个输出设备32。医疗保健从业者能够通过输入设备32控制系统的操作。显示设备30显示图像、菜单、面板及用户控制，并且显示设备30包括以下中的一个或多个：LCD显示器、LED显示器、等离子显示器、投影显示器、触摸屏显示器等。所述显示设备及所述输入设备能够充当诸如台式计算机、便携式电脑、平板电脑、移动计算设备、智能手机等的计算机的一部分。输入设备能够是键盘、鼠标、麦克风等。所述系统能够包括诸如存储器、磁盘、连接于网络的存储设备等的存储设备34。

参考扫描包括由参考单元或参考存储器29存储并且保存的投影图像。在对对象扫描期间，X射线投影数据被系统元件接收并且被传送到校正单元。一个或多个传感器36与所述X射线投影数据一起提供诸如操作温度、应变测量、机架位置测量、系统磨损测量等的数据。任选地，能够通过分析所述X射线投影数据来实施这样的传感器，以确定并且更新位置测量。测量单元37接收测量数据并且基于测量到的数据来确定所述元件中的每个的相对位置。与来自于所述参考单元29的X射线投影数据一起，能够包括其他数据，例如，基于系统类型或系统的历史的期望机械漂移、工程说明书、基于制造商的参考扫描等。校正单元38生成用于针对所述系统元件中的每个的每个位置的校正。校正单元能够将生成的校正存储在存储设备34中或者实时地或追溯地计算其。针对每个机架取向及每个元件的校正能够包括针对通常被表述为探测器像素的元件的部分或每个元件的叠加或向量平移、强度调整等。组合校正形成均匀性校正。重建单元39使用从分解单元28接收到并由校正单元38校正的X射线数据来重建图像，所述X射线数据包括投影数据、传感器数据等。能够由所述校正单元将均匀性校正生成为完全调整或相对调整。在图像重建期间，重建单元39使用均匀性校正，所述均匀性校正基于来自于校正单元38的针对不同机架取向的各元件的组合校正。

由以下来适合地实现各种单元：电子数据处理设备，例如分解单元的电子处理设备或电子处理器；或通过网络操作性地与系统连接的基于网路的服务器计算机，等等。此外，所公开的校准技术适于被实施为存储指令的非瞬态存储介质(例如，软件)，所述指令可以由电子数据处理设备读取并且可以由电子数据处理设备执行的，以执行所公开的校准技术。

图4示意性图示了用于分解系统元件运动的图像投影数据的一个实施例。诸如在图2中所示的采集的空气扫描校准投影图像被分解为用于各元件的校准投影图像，例如，滤波器空气扫描投影图像38、快门空气扫描投影图像40以及防散射光栅空气扫描投影图像42。所述分解使用已知图像处理技术，所述已知图像处理技术考虑系统部件的已知属性，例如，其空间尺度或重复空间图样。备选地，系统部件的单独空气扫描投影图像能够被创建为初始制造过程的部分。然后例如每日、在每个患者之前等，能够从对空气扫描校准图像的分解来更新单独校准图像。

在范例图像中，滤波器扫描投影图像40示出滤波器4的非均匀性质。图示的滤波器是不对称的并且在右侧示出更大的强度，其向左逐渐减小并且更强地向左下逐渐减小。范例快门扫描投影图像42在中心中示出最大的强度。尽管肉眼并不容易看到，但是如果存在，则快门和准直器的边缘中的不一致展现在所述图像中。防散射光栅空气扫描投影图像44在所述薄板或光栅将阴影投射在探测器处示出均匀分隔的线。薄板相对于探测器的移位或X射线源相对于薄板的移位使所述线移位。此外，如果所述移位引起薄板与X射线源的未对准，则所述线变得更宽并且通过所述防散射光栅的辐射的整体通过量在探测器上非均匀地减小。在分解中，使用针对其当前位置的传感器信息来将各元件分开或分解。例如，当使用图像分析来实施这一传感器时，那么能够基于以下来使用最小平方误差最小化来确定薄板的相对布置和取向：初始空气扫描校准投影图像的个体像素值和/或防散射光栅的已知几何结构以及不同机架位置处的随后的空气扫描。多层分解例如基于空气扫描校准投影图像中的线和阴影，来测量防散射光栅的探测的位置。针对滤波器和快门/准直器，执行类似的分解。

图5示意性图示了系统及分解的系统元件运动的实施例。几何模型44用于校准诸如源2和探测器8元件的一些元件18的例如相对于扫描器的等量点的位置。来自于几何模型的信息也能够用于优化或校正每个元件的相对位置。例如，防散射光栅牢固地附着于探测器，但是光栅能够改变其相对于所述源的聚焦点的位置。在另一个范例中，滤波器或射束整形器附着于具有已知机械自由度或调位精确性的源室或管。能够从诸如以下的数据来确定每个元件相对于中心的运动：空气扫描校准投影图像、几何校准投影图像、对对象的成像、传感器等。例如，能够测量来自于对对象的成像的图像特征，从而捕捉个体元件的位置。能够从图像移除由于诸如防散射光栅薄板、射束整形轮廓或准直器边缘而产生的伪影效应。

能够图表地示出所述分解，针对每个元件，y轴为距离理想中心的偏差或偏移量，并且x轴表示从诸如位置传感器、几何模型等的各种源确定的机架旋转角。

再次参考图4，在对患者成像之前或在固定的使用间隔，实施空气校准扫描和几何校准扫描。在每个角度步骤处生成空气投影图像和几何投影图像，首先执行几何校准扫描并且在从X射线系统移除几何校准模型之后，执行空气校准扫描。在每个角度步骤或角度步骤的子集处的空气投影图像存储在存储器34中。备选地，使用系统知识及图像模拟方法来生成每个系统元件的理想空气投影图像。从几何校准扫描导出并还存储几何校准信息，即，针对每个需要的机架位置的X射线源及探测器相对于等量点的位置。对于每个角度步骤而言，从以下选择表示一个或多个系统元件的一幅或多幅参考图像：理想空气投影图像、存储在存储器34中的空气投影图像的子集或在这一角度步骤处采集的空气投影图像。

分解单元28生成校准数据。分解单元28使用图像处理分析方法来确定针对每个系统元件的空气投影图像与这些空气投影图像的几何变换的组合，所述组合最好地表示在每个角度步骤处采集的空气投影图像。空气投影图像与几何变换的确定的组合用于生成校准数据。针对每个角度步骤，能够与几何变换一起将校准数据存储为一系列针对如图4所示的每个系统元件的一幅或多幅空气校准投影图像。在图5中利用图表来表示几何变换的确定的参数及其在机架旋转过程中的改变。为了根据对对象的采集校正投影数据，校正单元38：选择针对每个系统元件及机架位置的空气投影图像；执行在校准期间由分解单元28确定的几何变换；并且利用这些校正图像来执行对象投影图像的均匀性校正。

能够在校准期间获取几何变换参数，并且在对象成像期间使用从外部传感器或对象成像自身获取的数据来更新几何变换参数。能够使用其他测量，来确定在校准期间的几何变换与在对受试者的采集期间的几何变换之间的差异。元件位置是参考测量结果和每个机架取向处的图像与参考图像之间的差异的函数。例如，臂的操作温度的增加可以引起膨胀，所述膨胀引起与元件的相对运动相关的差异。取决于每个臂上的元件的重量，与横向轨道有关的系统磨损可以改变元件的相对位置。系统磨损能够在每个取向处的图像与参考图像之间的差异方向进行考虑，或者可以包括从传感器测量的系统磨损、操作时间表等。对在每个取向处的参考图像的位置调整能够存储在存储器中。校准单元38或处理器从分解单元28接收移位信息或位置改变信息，将由每个元件引起的衰减校正，例如，基于当前测量结果利用调整对图像进行反演。校正单元相应地调整参考均匀性校正并且将其存储在存储器中。

当对患者进行扫描时，在一个或多个机架取向处生成投影图像。由参考单元从存储器获得对应于所述机架取向的空气扫描校正，或由校正单元使用来自于测量单元的当前信息来计算对应于所述机架取向的空气扫描校正。能够通过根据患者扫描的投影图像来确定系统部件的相对移位并且使用这些移位生成更精确的校正图像，来改善所述校正。所述校正改善使用已知图像处理方法，所述已知图像处理方法考虑了系统部件的几何特性。

均匀性校正投影图像能够被显示在显示单元30上或存储在存储器或诸如图像存档及通信系统(PACS)、放射信息系等的数据存储设备中。重建单元或重建处理器39将投影图像重建为一幅或多幅图像，例如，切片图像、2D图像、3D图像、数字重建放射图等。

在图6中，以流程图示出了系统的实施例。在步骤60中，接收X射线校准数据。所述X射线校准数据能够包括由分解单元接收的空气扫描校准投影图像及几何扫描校准投影图像。X射线校准数据能够包括由测量单元从诸如应变规、温度传感器、位置传感器等的一个或多个传感器接收的数据。X射线校准数据能够包括系统磨损效应、温度效应、机架取向、期望机械漂移、系统规格以及由参考单元存储并保存的制造扫描(manufacturing scan)。

在步骤62中，使用多层分解来分解X射线校准数据，这生成特定于每个元件的投影图像。例如，能够对图2的扫描投影图像进行分解，以生成图4的特定于每个元件的投影图像。每个元件的投影图像能够被存储为参考投影图像或存储为对已存在的参考投影图像的更新。

在步骤64中，将来自于所述分解的针对每个元件的投影图像与其他X射线校准数据相组合，以确定每个元件的参考位置。针对每个元件的参考位置能够被表示为诸如图5的图表。确定的参考位置能够包括针对在机架的运动范围内的每个位置的平移和旋转。每个元件与机架角度有关的位置的改变能够存储在存储设备中。

在步骤66中，接收对象X射线数据。对象X射线数据包括由分解单元接收的具有对象的图像投影数据。对象X射线数据能够包括由测量单元从诸如应变规、温度传感器、位置传感器等的一个或多个传感器接收的数据。

在步骤68中，类似于对校准X射线数据的分解，使用多层分解来分解对象X射线图像投影数据。所述分解生成特定于每个元件的投影图像。系统使用分解投影图像、对象X射线数据以及来自于参考单元的诸如每个单元的参考位置的参考信息，来确定每个元件的实际位置。例如，能够基于来自于参考单元的先前参考扫描及来自于测量单元的当前测量或基于图像处理方法，来将对象的X射线数据或毗邻与所述对象的图像区域的X射线数据分解为按照个体元件地起效应。将薄板阴影用作范例，所述线能够用于计算估计的薄板阴影图案与实际图案之间的相对差异。能够针对每个元件执行相同的比较，以得出针对多个元件的方差组。

在步骤72中每个元件的实际位置能够用于更新参考位置，或能够被记录以进一步分析系统的性能。还能够基于对包括所述对象的当前投影图像的投影的分解，来调整由测量调整过的参考扫描的比较。

在步骤74中，从每个元件的实际位置或参考位置生成均匀性校正。可以在成像过程期间动态更新校正，例如利用对象的X射线数据或利用对来自于用来自测量单元的测量结果调整的参考单元的参考相对位置的获取来动态地使用变化的集合。所述校正能够包括强度调整值或均匀性校正值。在一个实施例中，使用针对每个元件的叠加来构造校正，所述叠加包括对针对体积位置的每个单元的强度的相对调整。

在步骤76中，使用利用生成的校正修改的对象X射线数据，来执行对具有受试者的图像或投影图像的重建。所述校正通过校正测量中的非均匀性效应来对用于重建对象的图像或投影图像的衰减进行校正。所述重建将诸如2D投影图像的图像重建为3D体积图像。从3D体积图像提取的切片图像、表面绘制图像等能够被显示在显示设备上和/或存储在数据存储设备或存储器中。

决策步骤考虑所述操作步骤，使得周期性地执行校准扫描，例如，在每个患者之前、每天、每周、每月等。即使在扫描每个患者之前执行校准扫描，关于一个或多个患者的一个或多个扫描能够发生在校准扫描之间。

应意识到，结合本文呈现的具体说明性实施例，某些结构和/或功能特征被描述为被并入限定的元件和/或部件。但是，预期这些特征，为了同样或类似的益处，也可类似地被并入合适的其它元件和/或部件中。也应意识到，选择性采用示范性实施例的不同方面以适当地完成适于期望应用的其它备选实施例，其它备选实施例从而实现并入本文的方面的各个优势。

还应意识到，本文描述的具体元件或部件可以令其功能经由硬件、软件、固件或其组合来适合地实施。此外，应意识到，一起并入的本文描述的某些元件可在合适的环境下是单机元件或以其它方式分开。类似地，描述为通过一个具体元件执行的多个具体功能可由单独起作用以执行个体功能的多个不同元件来执行，或某些单个功能可分开并由协同起作用的多个不同元件来执行。备选地，彼此不同的本文以其它方式描述和/或示出的一些元件或部件可物理上或功能上适当地组合。

简言之，已经参考优选实施例阐述了本说明书。显然，其他人在阅读和理解了本说明书后，可以做出修改和变化。本发明旨在被解释为包括所有这些修改和变化，只要它们落入权利要求书或其等价方案的范围内。换言之，应意识到，各种以上公开的和其他的特征和功能或其备选可令人满意地并入许多其他不同系统或应用中，另外，本领域技术人员可随后作出各种目前未预见或未料到的备选、修改、变化或改善，类似地，权利要求书也旨在涵盖其。

Claims (20)

1.一种X射线计算机断层摄影系统(14)，包括：

机架(15)，其运动到不同取向并且生成包括为多个所述取向的图像投影数据的X射线数据；

连接到所述机架的多个元件(18)，所述多个元件引起所生成的投影数据的X射线衰减；

一个或多个处理器(28)，其被编程为：

接收(60)所生成的X射线数据；

将接收到的图像投影数据分解(62)为对处于所述机架的不同位置的所述多个元件的相对位置的指示。

2.根据权利要求1所述的系统(14)，其中，所述多个元件包括：

X射线源(2)；

X射线滤波器(4)；

快门/准直器(6)；

X射线探测器(8)；以及

防散射光栅(10)。

3.根据权利要求1和2中的任一项所述的系统(14)，其中，所述一个或多个处理器还被编程为：

接收(60)X射线数据，所述X射线数据包括对象图像投影数据并且对应于所述多个取向；

基于处于每个取向的所述元件的所述相对位置，利用测量到的衰减的对应的校正，来校正(64)来自每个取向的所述对象图像投影数据；

将经校正的对象图像投影数据重建(66)为3D图像表示。

4.根据权利要求1-3中的任一项所述的系统(14)，其中，所生成的X射线数据包括对可归因于所成像的对象的衰减的测量结果和对可归因于所述元件的衰减的测量结果，并且可归因于所述元件的衰减随所述机架的所述取向而改变。

5.根据权利要求1-4中的任一项所述的系统(14)，还包括：

至少一个传感器(36)，其测量所述元件中的任一个的运动，并且所生成的X射线数据包括测量到的运动。

6.根据权利要求5所述的系统(14)，其中，所述运动是通过对所述对象投影数据的图像分析来测量的。

7.根据权利要求1-6中的任一项所述的系统(14)，其中，所述处理器还被编程为：

生成对应于所述元件的相对位置的一系列校正叠加，并且所述叠加的对准随所述元件的所述相对位置的改变而移位。

8.根据权利要求1-7中的任一项所述的系统(14)，还包括：

测量单元(37)，其接收来自多个传感器的测量结果，并且基于接收到的测量结果来计算处于不同机架取向的所述元件的所述相对位置。

9.根据权利要求1-8中的任一项所述的系统(14)，还包括：

参考单元(39)，其按机架位置针对每个元件保存以下中的至少一个：

针对每个元件的空气投影图像；

针对每个元件的几何校准信息；以及

由设计、温度、系统磨损指标及时间造成的每个元件的相对位移；

10.根据权利要求1-9中的任一项所述的系统(14)，还包括：

校正单元(38)，其根据处于每个机架取向的所述元件的所分解的位置来执行对测量到的衰减的校正。

11.一种X射线计算机断层摄影校准的方法，包括：

接收(60)X射线数据，所述X射线数据包括来自绕成像区域的多个机架取向中的每个的图像投影数据；

对接收到的图像投影数据进行分解(62)，以提取处于一个或多个机架取向的多个元件的相对位置，所述元件中的每个引起接收到的图像投影数据中可归因于所述元件的X射线衰减；并且

基于所述多个元件的所述相对位置来生成(74)对测量到的衰减的校正。

12.根据权利要求11所述的方法，还包括：

接收(66)对象X射线数据，所述对象X射线数据包括来自所述不同机架取向的图像投影数据；

基于所述元件的所述相对位置，利用对应的校正来校正(74)处于每个取向的所述对象图像投影数据；

将经校正的对象图像投影数据重建(76)为3D图像表示。

13.根据权利要求11和12中的任一项所述的方法，还包括：

执行(40、42、44)空气校准扫描以按机架取向来生成空气投影参考图像；

执行几何校准扫描以按机架取向来测量至少一个X射线源以及X射线探测器的相对位置；

分解(62)所述空气投影参考图像，以生成至少针对X射线滤波器、X射线快门/准直器和防散射光栅的元件参考图像；

基于所分解的元件参考图像和所述几何校准扫描，来按机架取向确定所述X射线滤波器、所述X射线快门/准直器、所述防散射光栅、所述X射线源以及所述X射线探测器的相对位置。

基于所述X射线滤波器、所述X射线快门/准直器、所述防散射光栅、所述X射线源以及所述X射线探测器的所分解的相对位置，利用针对测量到的衰减的校正来校正(74)所述对象图像投影数据；以及

将经校正的对象图像投影数据重建(76)为3D图像表示。

14.根据权利要求11-13中的任一项所述的方法，还包括：

基于所述空气校准扫描和所述几何校准扫描，针对每个机架(15)取向计算相对于参考位置的每个元件(18)的距离和取向。

15.根据权利要求11-14中的任一项所述的方法，其中，分解还包括：

基于至少一次传感器(36)测量来调整至少一个元件(18)的所述相对位置。

16.根据权利要求11-15中的任一项所述的方法，其中，生成针对所述衰减测量的所述校正包括：

基于所述元件的所分解的相对位置来针对每个元件构建对所述图像投影数据的强度调整。

17.根据权利要求11-16中的任一项所述的方法，其中，生成针对所述衰减测量的校正包括：

构建针对每个元件的校正叠加；

根据所述元件的所述相对位置来对所述叠加进行移位，以形成针对每个机架取向的校正。

18.一种承载有软件的非瞬态计算机可读存储介质，所述软件控制一个或多个电子数据处理设备以执行根据权利要求11-17中的任一项所述的方法。

19.一种被配置为执行根据权利要求11-17中的任一项所述的方法的电子数据处理设备。

20.一种X射线计算机断层摄影系统(14)，包括：

承载元件的可旋转机架(15)，所述元件包括X射线源(2)、X射线滤波器(4)、快门/准直器(6)、X射线探测器(8)以及防散射光栅(10)，所述机架(15)能够运动到不同取向；

存储器(34)，其存储可归因于所述元件中的每个的对空气扫描投影图像的贡献；

分解单元(28)，其将为所述不同取向的所述空气扫描投影图像分解为所述元件中的每个的相对位置；

校正单元(38)，其基于所述元件中的每个的所述相对位置来针对投影图像数据调整所述校正。