CN104296705A - 一种多测头集成测量方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种多测头集成测量方法及系统,属于测量技术领域。该方法包括:通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块,获取标定文件,确定当前设备的测量误差,该标定文件用于描述当前设备的误差;利用多个测头对待测物进行测量,获取待测物的多个测量数据,并保存至预设的目标文件;根据该当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标,确定该待测物是否为良品。本发明通过使用陶瓷量块对设备进行自动的精度校验,并将设备误差计入系统,在系统运行进行实际测量时自动进行误差补偿,将高效率的自动化与高精度的测量结合,使高精度测量应用到了自动化生产当中,既保证了测量的精度,同时也保证了生产的效率。
Description
技术领域
本发明涉及测量技术领域,特别涉及一种多测头集成测量方法及系统。
背景技术
随着手机等电子产品的高速发展,更高精度和集成度也是未来电子产品发展的必然趋势,在这种大背景下,对电子产品的元件的测量也提出了更高的要求,其中,对工件的测量产生多测量项目、高效率、自动化等测量需求。
目前已有测量系统往往存在测量项目单一,效率相对低下,且难以应对自动化测量的多变性。
发明内容
为了解决现有技术的问题,本发明实施例提供了一种多测头集成测量方法就系统。所述技术方案如下:
一方面,提供了一种多测头集成测量方法,所述方法包括:
通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块,获取标定文件,确定当前设备的测量误差,所述标定文件用于描述当前设备的误差;
利用多个测头对待测物进行测量,获取待测物的多个测量数据,并保存至预设的目标文件;
根据所述当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标,确定所述待测物是否为良品。
可选地,根据所述当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标,确定所述待测物是否为良品,包括:
利用所述当前设备的测量误差,对所述实际待测物的多个测量数据进行补偿,获取所述实际待测物的真实测量数据;
将所述实际待测物的真实测量数据与待测物的标准指标进行比较;
当所述实际待测物的真实测量数据与待测物的标准指标之间的差值大于预设值时,认为所述实际待测物不是良品;
当所述实际待测物的真实测量数据与待测物的标准指标之间的差值小于预设值时,认为所述实际待测物是良品。
可选地,通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块,获取标定文件,确定当前设备的测量误差,所述标定文件用于描述当前设备的误差包括:
运行所述陶瓷量块,对所述陶瓷量块进行测量,获取所述陶瓷量块的测量数据;
比较所述陶瓷量块的测量数据与所述陶瓷量块的实际数据,确定当前设备的测量误差。
可选地,根据所述当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标,确定所述待测物是否为良品之后,所述方法还包括:
记录实际待测物的测量数据。
可选地,所述方法还包括:
当添加测头时,根据接口开发相应组件,并将所述添加测头的测量数据按照接口规定的格式进行打包。
另一方面,提供了一种多测头集成测量系统,所述系统包括:
数据组件接口、界面控件接口、业务逻辑接口、配置文件系统、数据补偿接口、数据上传接口以及数据保存接口;其中,
所述数据组件接口用于利用多个测头对待测物进行测量,获取待测物的多个测量数据,并保存至预设的目标文件;
所述界面控件接口用于获取当前设备中界面的输入数据;
所述业务逻辑接口用于获取配置的逻辑;
所述配置文件系统用于将配置好的测量逻辑应用于所有的测量组件,使其联动,达到自动化测量的目的;
所述数据补偿接口用于通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块,获取标定文件,确定当前设备的测量误差,所述标定文件用于描述当前设备的误差,将自动标定得到的设备的误差与实际测量结果进行运算,以得到待测物体数据指标的真实值;
所述数据上传接口用于将数据上传至用户的指定服务器或者数据库;
所述数据保存接口用于保存测量得到的数据,数据可以用来进行自动标定、自动校验、或将生产线上的所有测量物体的测量结果存档或进行分析。
可选地,所述系统支持开放的数据接口,可以将测量数据保存为预设数据格式或常见数据格式。
本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是:
通过使用陶瓷量块在系统中自动运行后,将测量数据进行分析,对设备进行自动的精度校验,并将设备误差计入系统,在系统运行进行实际测量时自动进行误差补偿,将高效率的自动化与高精度的测量结合,使高精度测量应用到了自动化生产当中,既保证了测量的精度,同时也保证了生产的效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的多测头集成测量方法流程图;
图2是本发明实施例提供的多测头集成测量方法流程图;
图3是本发明实施例提供的自动标定方法流程图;
图4是本发明实施例提供的自动校验方法流程图;
图5是本发明实施例提供的多测头集成测量方法流程图;
图6是本发明实施例提供的多测头集成测量装置结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
图1是本发明实施例提供的多测头集成测量方法流程图。参见图1,该实施例包括:
101、通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块,获取标定文件,确定当前设备的测量误差,该标定文件用于描述当前设备的误差;
102、利用多个测头对待测物进行测量,获取待测物的多个测量数据,并保存至预设的目标文件;
103、根据该当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标,确定该待测物是否为良品。
本发明实施例提供的方法,通过使用陶瓷量块在系统中自动运行后,将测量数据进行分析,对设备进行自动的精度校验,并将设备误差计入系统,在系统运行进行实际测量时自动进行误差补偿,将高效率的自动化与高精度的测量结合,使高精度测量应用到了自动化生产当中,既保证了测量的精度,同时也保证了生产的效率。
可选地,根据该当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标,确定该待测物是否为良品,包括:
利用该当前设备的测量误差,对该实际待测物的多个测量数据进行补偿,获取该实际待测物的真实测量数据;
将该实际待测物的真实测量数据与待测物的标准指标进行比较;
当该实际待测物的真实测量数据与待测物的标准指标之间的差值大于预设值时,认为该实际待测物不是良品;
当该实际待测物的真实测量数据与待测物的标准指标之间的差值小于预设值时,认为该实际待测物是良品。
可选地,通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块,获取标定文件,确定当前设备的测量误差,该标定文件用于描述当前设备的误差包括:
运行该陶瓷量块,对该陶瓷量块进行测量,获取该陶瓷量块的测量数据;
比较该陶瓷量块的测量数据与该陶瓷量块的实际数据,确定当前设备的测量误差。
可选地,根据该当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标,确定该待测物是否为良品之后,该方法还包括:
记录实际待测物的测量数据。
可选地,该方法还包括:
当添加测头时,根据接口开发相应组件,并将该添加测头的测量数据按照接口规定的格式进行打包。
图2是本发明实施例提供的多测头集成测量方法流程图。参见图2,该实施例包括:
201、通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块,获取标定文件,确定当前设备的测量误差,该标定文件用于描述当前设备的误差;
在本发明实施例中,运行该陶瓷量块,对该陶瓷量块进行测量,获取该陶瓷量块的测量数据,比较该陶瓷量块的测量数据与该陶瓷量块的实际数据,确定当前设备的测量误差。
其中,该陶瓷量块,用陶瓷作原料加工而成的尺寸与标准待测物指标完全一致的被测量物,该陶瓷量块定义为:
陶瓷量块,材料为二氧化锆,经过转变韧化提高了强度,耐磨不怕划伤、耐酸、耐碱、不导磁、不导电,可用于特殊场合,使用和保管都不需特殊处理(比如上油防锈),尺寸稳定性好,可延长检定周期。检测机床的步距规使用的工作量块基本都采用陶瓷量块。其使用寿命是钢制量块的5-10倍、硬度为HV1100、精细材质,超精研磨,测量面光滑且研合性好,膨胀系数小,接近于钢,可替代钢制量块。
其中,该测量数据包括“长度”、“宽度”、“高度”、“直线度”、“平面度”等测量项,通过分析测量数据与陶瓷量块(陶瓷量块的高度、宽度等指标为所代表的产品的外观尺寸的标准值)的指标的差值来精确定位测量机台的自身误差,在实际生产应用中便可用测量值和机台自身的误差来求得待测物体的真实尺寸。
其中,该标定文件是一种特定的数据文件,用一种特定的能被此软件系统识别的格式来描述当前机台自身的误差。
如图3所示,本发明实施例使用陶瓷量块在系统中自动运行后,将测量数据进行分析,自动生成标定文件并保存在测量系统当中,在系统运行实际测量时自动加载标定文件。
202、利用多个测头对待测物进行测量,获取待测物的多个测量数据,并保存至预设的目标文件;
在本发明实施例中,多测头集成测量系统支持开放的数据接口,能够将测量结果保存为常见的数据格式,如CSV、Access,同时支持根据系统数据接口进行少量的开发就可以将测量数据保存为指定的数据格式。根据数据接口开发的动态库文件,在动态库中只需实现数据的保存格式与保存方法,将生成的动态库文件路径配置到系统当中,子系统运行时便会自动调用动态库进行数据保存,系统支持同事配置一个或多个数据保存功能的动态库。
本发明基于高度集中的软件集成,可以通过配置实现测量组件、数据保存组件与数据上传组件的任意组合。例如:将影像测量仪、激光测量仪、压力传感器测量仪集成至一套自动化系统当中,根据硬件设备的测量先后顺序对软件进行配置,软件将测量流程中获取的待测物体的边长(来自影像测量仪)、高度(来自压力传感器测量仪)以及上表面的平面度(来自激光测量仪)数据获取到并整合为一条信息,通过CSV文件保存组件将数据保存至指定的目标文件,并通用户定制的数据上传组件将数据上传至用户的数据库当中。
203、根据该当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标,确定该待测物是否为良品;
本发明实施例利用该当前设备的测量误差,对该实际待测物的多个测量数据进行补偿,获取该实际待测物的真实测量数据,将该实际待测物的真实测量数据与待测物的标准指标进行比较,当该实际待测物的真实测量数据与待测物的标准指标之间的差值大于预设值时,认为该实际待测物不是良品,当该实际待测物的真实测量数据与待测物的标准指标之间的差值小于预设值时,认为该实际待测物是良品。如图4所示,采用规格尺寸标准的量块来检验当前设备的标定文件是否精准,是否可以用于测量生产。
204、记录实际待测物的测量数据。
本发明实施例通过不断地提炼,将多测头集成测量系统实现了自动化,自动识别外观的良品与不良品,并在数据文件中记录所有良品与不良品的测量数据,将生产线上的所有测量物体的测量结果存档或进行分析,找到不符合标准的产品问题多处在产品的什么位置,以帮助生产线改进生产设备,中间无需人工干预,大大提高了生产效率,如图5所示。
可选地,当添加测头时,根据接口开发相应组件,并将该添加测头的测量数据按照接口规定的格式进行打包。
本发明对于新兴的测量组件,只需根据接口进行少量的开发即可与现有测量组件(如OMM、激光、PPG等)一同纳入到系统当中。
对于不同的生产线,不同的产品导致了需求的不同,需要定制化的设备来来满足生产线上的测量需求,自动化多测头集成测量系统软件框架可以根据硬件设备来配置与之对应的软件控制系统,而不需要再做新的开发,即可满足生产线的需求。
例如,添加一台特定的压力传感器测量仪,而原有系统并不包含次测量设备对应的软件,只需要根据接口开发相应组件,将测量结果数据按照接口规定的格式打包返回即可。
本发明实施例提供的方法,通过使用陶瓷量块在系统中自动运行后,将测量数据进行分析,对设备进行自动的精度校验,并将设备误差计入系统,在系统运行进行实际测量时自动进行误差补偿,将高效率的自动化与高精度的测量结合,使高精度测量应用到了自动化生产当中,既保证了测量的精度,同时也保证了生产的效率。
图6是本发明实施例提供的多测头集成测量系统。参见图6,该系统包括:
数据组件接口、界面控件接口、业务逻辑接口、配置文件系统、数据补偿接口、数据上传接口以及数据保存接口;其中,
该数据组件接口用于利用多个测头对待测物进行测量,获取待测物的多个测量数据,并保存至预设的目标文件;
该界面控件接口用于获取当前设备中界面的输入数据;
该业务逻辑接口用于获取配置的逻辑;
该配置文件系统用于将配置好的测量逻辑应用于所有的测量组件,使其联动,达到自动化测量的目的;
该数据补偿接口用于通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块,获取标定文件,确定当前设备的测量误差,该标定文件用于描述当前设备的误差,将自动标定得到的设备的误差与实际测量结果进行运算,以得到待测物体数据指标的真实值;
该数据上传接口用于将数据上传至用户的指定服务器或者数据库;
该数据保存接口用于保存测量得到的数据,数据可以用来进行自动标定、自动校验、或将生产线上的所有测量物体的测量结果存档或进行分析。
可选地,该系统支持开放的数据接口,可以将测量数据保存为预设数据格式或常见数据格式。
本发明实施例提供的系统,通过使用陶瓷量块在系统中自动运行后,将测量数据进行分析,对设备进行自动的精度校验,并将设备误差计入系统,在系统运行进行实际测量时自动进行误差补偿,将高效率的自动化与高精度的测量结合,使高精度测量应用到了自动化生产当中,既保证了测量的精度,同时也保证了生产的效率。
需要说明的是:上述实施例提供的多测头集成测量系统在多测头集成测量时,仅以上述各功能模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成,即将设备的内部结构划分成不同的功能模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。另外,上述实施例提供的多测头集成测量系统与多测头集成测量方法实施例属于同一构思,其具体实现过程详见方法实施例,这里不再赘述。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成,也可以通过程序来指令相关的硬件完成,该的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种多测头集成测量方法,其特征在于,所述方法包括:
通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块,获取标定文件,确定当前设备的测量误差,所述标定文件用于描述当前设备的误差;
利用多个测头对待测物进行测量,获取待测物的多个测量数据,并保存至预设的目标文件;
根据所述当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标,确定所述待测物是否为良品。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标,确定所述待测物是否为良品,包括:
利用所述当前设备的测量误差,对所述实际待测物的多个测量数据进行补偿,获取所述实际待测物的真实测量数据;
将所述实际待测物的真实测量数据与待测物的标准指标进行比较;
当所述实际待测物的真实测量数据与待测物的标准指标之间的差值大于预设值时,认为所述实际待测物不是良品;
当所述实际待测物的真实测量数据与待测物的标准指标之间的差值小于预设值时,认为所述实际待测物是良品。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块,获取标定文件,确定当前设备的测量误差,所述标定文件用于描述当前设备的误差包括:
运行所述陶瓷量块,对所述陶瓷量块进行测量,获取所述陶瓷量块的测量数据;
比较所述陶瓷量块的测量数据与所述陶瓷量块的实际数据,确定当前设备的测量误差。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标,确定所述待测物是否为良品之后,所述方法还包括:
记录实际待测物的测量数据。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
当添加测头时,根据接口开发相应组件,并将所述添加测头的测量数据按照接口规定的格式进行打包。
6.一种多测头集成测量系统,其特征在于,所述系统包括:数据组件接口、界面控件接口、业务逻辑接口、配置文件系统、数据补偿接口、数据上传接口以及数据保存接口;其中,
所述数据组件接口用于利用多个测头对待测物进行测量,获取待测物的多个测量数据,并保存至预设的目标文件;
所述界面控件接口用于获取当前设备中界面的输入数据;
所述业务逻辑接口用于获取配置的逻辑;
所述配置文件系统用于将配置好的测量逻辑应用于所有的测量组件,使其联动,达到自动化测量的目的;
所述数据补偿接口用于通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块,获取标定文件,确定当前设备的测量误差,所述标定文件用于描述当前设备的误差,将自动标定得到的设备的误差与实际测量结果进行运算,以得到待测物体数据指标的真实值;
所述数据上传接口用于将数据上传至用户的指定服务器或者数据库;
所述数据保存接口用于保存测量得到的数据,数据可以用来进行自动标定、自动校验、或将生产线上的所有测量物体的测量结果存档或进行分析。
7.根据权利要求6所述的系统,其特征在于,所述系统支持开放的数据接口,可以将测量数据保存为预设数据格式或常见数据格式。
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CN201410568751.3A CN104296705A (zh) | 2014-10-23 | 2014-10-23 | 一种多测头集成测量方法及系统 |
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CN201410568751.3A Pending CN104296705A (zh) | 2014-10-23 | 2014-10-23 | 一种多测头集成测量方法及系统 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN105136024A (zh) * | 2015-05-11 | 2015-12-09 | 上海交通大学 | 光路切换装置及集成多个测头的微纳米测量系统 |
CN111895940A (zh) * | 2020-04-26 | 2020-11-06 | 鸿富锦精密电子(成都)有限公司 | 标定文件生成方法、系统、计算机装置及存储介质 |
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2014
- 2014-10-23 CN CN201410568751.3A patent/CN104296705A/zh active Pending
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CN105136024B (zh) * | 2015-05-11 | 2017-11-21 | 上海交通大学 | 光路切换装置及集成多个测头的微纳米测量系统 |
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