CN104125990B - 具有多种组分的安全特征 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种安全特征,其具有发光组分和隐蔽该发光组分的组分。本发明从具有拥有至少一种由掺杂主晶格组成的发光团的发光组分和隐蔽该发光组分的组分的安全特征出发,为了隐蔽该发光组分,用隐蔽组分通过发光组分的相关性质隐蔽用于鉴别发光组分所需的相关性质,发光组分的相关性质即为发光组分的主晶格的结构、发光组分的主晶格的化学计量、发光组分的主晶格的元素组成、发光组分的一种或多种掺杂剂和发光组分的发光性质,通过具有与发光组分的各相关性质对应的相关性质的隐蔽组分,所述发光组分的相关性质被隐蔽组分在所述相关性质的至少两种、特别优选至少三种、非常特别优选至少四种方面隐蔽,由此妨碍或阻止发光组分的识别。

Description

具有多种组分的安全特征
本发明涉及一种具有发光组分(luminescent component)和隐蔽(camouflage)该发光组分的组分的安全特征(security feature)。
名称“有价文件”在本发明的框架内将理解为表示钞票(bank note)、支票、股票、代价券、身份证、信用卡、护照和其它文件以及标签、封缄、包裹或用于产品鉴定的其它元件。
通过具有发光组分的安全特征保护有价文件免受伪造知晓已久。发光组分在这里通过下文中也将命名为发光团(luminophore)的物质形成,所述物质由掺杂有作为发光离子的过渡金属或稀土金属的主晶格形成。这样的离子具有以下优势:在受到适当激发后,它们表现出一种或多种特征性窄带发光,其促进可靠的检测和相对于其它光谱的定界。对于掺杂,有人已经讨论了过渡金属和/或稀土金属的组合。这样的物质具有以下优势:除了上述的发光外,还观察到所谓的能量转移过程,其可导致更加复杂的发射光谱。在这种能量转移过程中,一个离子可将其能量转移至另一个离子,于是光谱可由若干条为两种离子所特有的窄带线组成。
所述的用于保护有价文件的安全特征具有单独的发光团作为发光组分,就其光谱和/或时间(temporal)性质而言,所述单独的发光团的发射是不同的。安全特征以不同的使用形式引入和/或施加于有价文件。对于发光组分,还可使用发光团的组合。所使用的发光团的发射带构成光谱编码。若干种不同的发光团可组合成体系,其中单独的体系是彼此独立的。所使用的发光团的发射也称作为发光,由此这可能涉及荧光和/或磷光。
还已知的是,所描述的安全特征不是单独由发光组分形成的。作为进一步的组分,一些安全元件具有用于隐蔽发光组分的组分。例如,DE 30 48 734 A1描述了具有保护鉴定特征的隐蔽物质的安全纸。隐蔽组分的隐蔽物质在此基本上对应于发光组分,即非常相似或同类型(like-kind)的主晶格和掺杂剂既用于发光组分又用于隐蔽组分。然而,当制造用于隐蔽组分的隐蔽物质时,确保隐蔽物质没有发光性质。出于此目的,与发光组分的制造相反,对于隐蔽组分,在退火或研磨过程中的参数例如被改变。或者,使用所谓的发光抑制剂(killer)。这防止使用常规的分析技术方法将发光组分和隐蔽组分区分开。通过这种方式主要隐藏了发光组分的位置,因为其不能使用常规方法和隐蔽组分区分开。
由于发光组分和隐蔽组分包含非常相似或甚至相同的物质,无法实现对发光组分的基于物质身份(identity)的隐蔽,因为隐蔽组分的使用增加了在待保护的有价文件中的安全特征的材料的总的可研究数量,因此趋向于促进而不是妨碍安全特征或发光组分的可分析性。
从该现有技术出发,本发明基于以下目的:详细说明具有发光组分和隐蔽该发光组分的组分的安全特征,其中将阻止或至少基本上妨碍对于发光组分所采用的主晶格的类型和掺杂的分析。
因此,隐蔽组分的作用是使得这些方面中的一个或多个更难以分析,以由此妨碍对安全特征的仿制。
本文优选想要既在元素分析方面又在结构分析方面实现对发光组分的隐蔽。在如下情况中也会妨碍对发光组分的鉴别:安全特征在引入到有价文件中之前以纯的形式存在、或者例如通过真实有价文件的灰化以稀释的形式存在,然后可通过例如XRF(X-射线荧光分析)或ICP-AES(电感耦合等离子体光学发射光谱法)的元素分析方法或者例如X-射线粉末衍射测定法的结构分析方法进行研究。
在优选的实施方式中,替代地或额外地,将隐蔽安全特征的光谱性质,使得在简单光谱分析时,例如,在有价文件的连续和/或非特定激发和出现的发光发射的检测时,其不是被测量的发光组分的正确光谱信号。
如此做,还将实现,安全特征的品质不受制造相关的波动的影响,并且是随后毫无疑义地可鉴别的,使得其能够例如和特定的制造者联系起来。
该目的的实现将在独立权利要求中体现。从属权利要求是对主题的发展。
本发明从具有发光组分和隐蔽该发光组分的组分的安全特征出发,该发光组分具有至少一种由掺杂主晶格组成的发光团,其中为了隐蔽该发光组分,用隐蔽组分通过发光组分的相关性质隐蔽用于鉴别发光组分所需的相关性质,发光组分的相关性质即为发光组分的主晶格的结构、发光组分的主晶格的化学计量、发光组分的主晶格的元素组成、发光组分的一种或多种掺杂剂和发光组分的发光性质,通过具有与发光组分的各相关性质对应的相关性质的隐蔽组分,所述发光组分的相关性质被隐蔽组分在所述相关性质的至少两种、特别优选至少三种、非常特别优选至少四种方面隐蔽,由此妨碍或阻止发光组分的识别。
出于此目的,特别提供了通过以下列关系为特征的隐蔽组分的性质和发光组分的相应的同类型性质妨碍或阻止发光组分的鉴别:
a)隐蔽组分具有与发光组分的X-射线衍射图至少部分重叠的X-射线衍射图,以隐蔽发光组分的结构,
b)隐蔽组分包含至少一种同样包含于发光组分的主晶格中的阳离子元素,但不是包含于该主晶格中的全部阳离子元素,以隐蔽发光组分的化学计量,
c)隐蔽组分包含至少一种未包含于发光组分的主晶格中的阳离子元素,以隐蔽发光组分的该主晶格的元素组成,
d)隐蔽组分包含至少一种未包含于发光组分中作为掺杂剂的掺杂剂,以隐蔽发光组分的一种或多种掺杂剂,
e)隐蔽组分包含至少一种发光团,该发光团具有比包含于发光组分中的发光团短的衰减时间,以隐蔽发光组分的光谱性质,
其中隐蔽组分和发光组分的性质满足在a)至e)中所述的关系中的至少两种、特别优选至少三种、非常特别优选至少四种。
隐蔽组分具有结构、光谱和元素性质以隐蔽发光组分的可比较的性质。隐蔽组分可由一种物质组成,或者由多种物质组成。隐蔽组分可具有遮掩发光组分的X-射线衍射图的X-射线衍射图。通过这种方式,妨碍了对安全特征的基体的结构的鉴别。除X-射线衍射测定法外,还可应用进一步的结构分析方法以另外分析或代替X-射线衍射图分析进一步的结构特征,例如核磁共振谱方法如SS-NMR、电子自旋共振方法、或通过拉曼和红外光谱方法的分析。然而,这些进一步的方法只是在非常有限的程度上适合于无机发光团的结构分析,这是由于低的灵敏度或待测量的物质的高的要求的定量比例、小数目的特定元素/结构组(structural group)的限制、或结果不够清楚。最多,它们提供关于特定结构片段例如结构组、插入位置或具有特定信号位置的配位层的信息,但未提供对总的结构的洞察。为了隐蔽结构,因此优选适合于发光组分的X-射线衍射图的隐蔽组分。
当安全特征由于使用一些元素或元素组而在一些结构分析方法中具有特别具体的、明确的或容易地鉴别的信号时,通过隐蔽组分可建立额外的保护,该隐蔽组分同样在相应的一些结构分析方法中产生重叠或额外的信号,以由此妨碍通过这些方法的结构分析。
隐蔽组分可优选地同样包含妨碍安全特征的元素分析的物质,由此必须区分待隐蔽的不同的局部方面,即包含于基体中的元素、基体的化学计量和基体的掺杂剂。
例如通过增加可能的元素组合,即通过以更大的量包含于安全特征的隐蔽组分中的额外的化学元素(在元素分析时,其妨碍发光组分的基体元素的正确分配),可实现包含于基体中的元素的隐蔽。
通过其元素全部或部分匹配安全特征的基体的单独元素的隐蔽组分的物质可实现基体的化学计量的隐蔽。这使在发光组分的单独元素之间的可通过元素分析确定的比例失真(distort)。
通过以小的量加入进一步的稀土金属化合物或过渡金属化合物,实现了分别由稀土元素和/或过渡金属组成的基体的掺杂剂的隐蔽。这增加了所使用的发光团和敏化剂的可能组合的数量,由此妨碍了正确的分析。
通过隐蔽组分的同类型发光信号,可实现发光组分的光谱性质的隐蔽。然而,其在应用的情形下将是不利的,因为额外的、同时可检测的发光信号会妨碍或阻止发光组分的精确检测和评估。当这样的额外的发光信号位于与发光组分的发光信号相似或相同的光谱区域中(对于有效隐蔽,这将是必需的)时,情况尤其如此。因此,隐蔽组分优选不包含额外的无机发光团。优选地,可使用具有显著更短的衰减时间的有机发光团以完全或部分遮掩发光组分的发光发射。在持续激发时,无机发光组分的特定发光光谱由此被有机发光团的发光光谱所隐藏,并由此被隐蔽。在脉冲激发时,由于有机发光团的快的衰减时间,可测量无机发光组分的发光并由此在没有干扰的情况下测试。因此,当不知道精确的测量参数(例如脉冲激发)时,不能够正确地识别发光组分的光谱性质。
尽管有机发光团同样称为发光团,但是在本发明的框架内,它们将不分类为发光组分,因为发光组分唯一地指代用于真实性检测的无机发光团。
优选地,隐蔽组分由此包含一种或多种有机发光团,其发光发射隐藏了发光组分的发光发射。
优选地,隐蔽组分的单独物质同时执行若干种隐蔽功能。例如,隐蔽X-射线衍射图的隐蔽组分物质可同时包含发光组分的元素并由此隐蔽发光组分的基体的化学计量。
除隐蔽组分外,安全特征可包含一种或多种额外的功能性组分,例如用于将发光组分的发光信号强度调节至能预设的标称值的制造组分,或者用于法律上(forensically)标记安全特征的编码组分。优选地,这些组分同样执行隐蔽功能或者是隐蔽组分的成分。
优选地,选择隐蔽组分和/或额外组分的单独物质,使得类似于发光组分,这些物质中的一种或多种在结构或元素分析中被隐蔽组分的其它物质隐蔽。例如,隐蔽发光组分的化学计量的物质可同时隐蔽编码组分的化学计量。隐蔽化学计量的物质在这里既包含至少一种与发光组分相同的元素由包含至少一种与编码组分相同的元素。同样,制造组分的X-射线衍射图可例如具有与隐蔽发光团基体的元素组成的隐蔽组分物质部分重叠的X-射线衍射图。这妨碍了隐蔽元素组成的物质和制造组分两者的结构分析。
在对于隐蔽发光组分所述的相关性质,即
发光组分的基体的结构,
发光组分的基体的化学计量,
发光组分的基体的元素组成,
发光组分的掺杂剂,和
发光组分的发光性质之中,
所述性质中的至少两种、特别优选至少三种、非常特别优选至少四种被隐蔽组分隐蔽。
在进一步的优选的实施方式中,通过隐蔽组分至少隐蔽基体的化学计量、基体的元素组成和发光组分的掺杂剂。
在进一步的优选的实施方式中,通过隐蔽组分至少隐蔽X-射线衍射图和发光组分的化学计量。特别优选地,在这里额外地隐蔽发光组分的基体元素和掺杂剂。
在进一步的优选的实施方式中,通过隐蔽组分至少隐蔽光谱性质及化学计量、基体的元素组成和发光组分的掺杂剂。
在进一步的优选的实施方式中,隐蔽光谱性质以及X-射线衍射图。特别优选地,除光谱性质和X-射线衍射图外,隐蔽化学计量、基体的元素组成和发光组分的掺杂剂。
本文中不同的优选实施方式考虑到,取决于发光组分的性质,对于不同的安全特征,不同的隐蔽方面可取得优先。例如,当发光组分包括其中通过改变两种基体成分的相对比例可改变发光性质的化合物时,通过元素分析检测到的化学计量比例的变化是特别有利的。同样,在具有与不同的元素形成同型结构的晶体结构的发光组分的情形下,经由隐蔽组分添加这样的额外元素中的若干种可为特别有利的。在该情形下,即使当发光组分的晶体结构被完全破解(decrypt)时,也无法获得关于发光组分的元素的简单推断。
同样,在发光团具有高度结构依赖性的发射光谱(如例如在用过渡金属掺杂时典型地发生的)的情形下,主要隐蔽X-射线衍射图可为特别有利的,因为在这里该结构构成用于鉴别发光团的特别重要的因素。
同样,在发光组分具有特别专属于一些材料或晶体结构组的发射光谱的情形下,可优选对隐蔽光谱性质赋予特别的重要性,使得只有通过更加复杂的光谱分析才能够识别发光组分的发射的实际性质。
本发明具有以下优点:通过隐蔽组分的单独成分或物质,在不依赖于各发光组分的特别性质的情况下隐蔽发光组分的组成、结构或光谱性质中的不同方面,使得发光组分的鉴别和仿制被妨碍或是不能的。
在从属权利要求和实施方式的以下描述中将发现本发明的进一步的优点。
例如从WO 81/03507 A1、EP 0 966 504 B1、WO 2011/084663 A2、DE 198 04 021A1和DE 101 11 116 A1得知了具有以发光团为基础的发光组分的用于保护或标记有价文件的安全特征,所述发光团由掺杂有作为发光离子的过渡金属或稀土金属的主晶格构成并在其发射和/或激发方面具有特定的性质。这样的安全特征在造纸时以粉末形式直接添加至纸浆中,或者添加至有价文件的其它基底材料例如塑料。替代地或额外地,将粉末添加至印刷油墨中,该印刷油墨随后印在有价文件的基底上。该安全特征还可包含于有价文件的其它组件中,例如线(thread)、造币坯(planchet)、补片(patch)等中,所述线、造币坯、补片等又引入有价文件中或施加到其上。
具有上述发光团形式的发光组分的粉末状安全特征还包含隐蔽该发光组分的组分。本文中选择隐蔽组分,使得它导致发光组分的遮掩或隐蔽和/或它在开头所陈述的结构和元素分析方法时遮掩其发光发射。出于此目的,隐蔽组分具有例如与发光组分的X-射线衍射图至少部分重叠的X-射线衍射图,如将在下文更准确地解释的。通过发光组分和隐蔽组分的X-射线衍射图在显著峰(significant peak)方面的至少部分重合,因此使用通常的结构分析方法例如X-射线粉末衍射测定法来推断存在于安全特征中的发光组分是不可能的或至少是具有显著困难的。
对安全特征进行元素分析的目的是通过定量分析安全特征的成分来得到关于所使用的主晶格的身份的推断。例如XRF的方法使得特别“困难的”元素能够被容易地检测出。成问题的特别是对氧进行定量,其不能通过XRF或通过ICP-AES或类似方法检测到。因为在检测主晶格的其它成分之后,氧通常形成基体的“剩余部分”(例如作为氧离子(oxideion)),然而,其检测对于鉴别主晶格不一定是必需的。当已经对主晶格的阳离子成分进行定量时,所包含的主晶格可通过形成各成分的比例来鉴别,即使在不同物质的混合物中也是如此。因此,例如,ZnAl2O4和BaMnO4的混合物总是包含比例为1:2的Al和Zn以及比例总是为1:1的Ba和Mn,所述比例不依赖于所述两种元素的混合比。因此,分别将这些成分指认到主晶格是明了的,通过这样,可鉴别主晶格。
为了阻止或至少妨碍这样的程序,其化学计量将被隐蔽的各物质、特别是发光组分必须具有至少一种与隐蔽组分的另一种物质共同的元素。各化学元素的比例在这里必须以足够的数量级存在以使来自元素分析的比例的形成显著失真。例如,在ΖnΜn2O4和BaMnO4的混合物中,不会发现在Zn和Mn的比例之间或在Ba和Mn的比例之间的正确积分比,因为Mn在两种形成主晶格的组分或物质中都存在。优选地,化合物的重叠化学元素的所检测的定量比例相对于纯化合物提高至少30%、优选至少50%、特别优选至少100%。所述定量比例也可提高至少200%。
为了通过隐蔽组分实现发光组分的化学计量的隐蔽,隐蔽组分具有形成发光组分的物质的至少一种元素。在这里元素将理解为既包含于形成发光组分的物质中又包含于形成隐蔽组分的物质中的化学元素。特别地,元素或化学元素将不被理解为表示一种或多种相同原子是两种组分的成分。当形成发光组分的物质具有例如元素A和B时,形成隐蔽组分的物质可以具有元素A和C、或B和C,其中元素A、B和C不由氧或氢形成。除元素A、B和C外,所述物质可具有进一步的元素,特别是还可具有氧和/或氢。然而,氧和氢将不被视为实现如本发明所想要的物质交错(interlacing)的元素。合适的元素为特别是阳离子基体成分,特别是金属、过渡金属、半金属和稀土元素的阳离子。通过额外包含氧,元素阳离子还可形成阴离子子组作为基体成分,其同样适合用于交错。因此,例如,磷和硅的阳离子可例如以磷酸盐和硅酸盐的形式存在于基体中。如本发明所想要的物质的交错可由主族元素Li、Be、B、Na、Mg、Al、Si、P、S、K、Ca、Ga、Ge、As、Se、Rb、Sr、In、Sn、Sb、Te、Cs、Ba、Tl、Pb、Bi和由过渡金属和稀土元素中的任意元素形成。
因此,如本发明所想要的上述元素或化学元素也替代地称作阳离子元素、阳离子基体成分、主晶格的阳离子成分、或元素阳离子。这应该清楚地表达了特别是化学元素氧和/或氢不视为实现如本发明所想要的物质交错的化学元素。
为了隐蔽发光组分的基体的元素组成,还可通过隐蔽组分的物质向安全特征中加入至少一种未包含于基体中的新的阳离子元素。这增加了在元素分析中所检测的化学元素的数量,由此使得确定基体的组成更加困难。优选地,以阳离子基体元素、优选最常用的阳离子基体元素的摩尔量的至少30%、优选至少50%、特别优选至少80%的量向发光组分中加入额外的阳离子元素。如此做,通过隐蔽组分添加了至少一种、优选至少两种、特别优选至少三种额外的阳离子元素。
为了隐蔽发光组分的基体的一种或多种掺杂剂,向隐蔽组分加入额外的发光团和/或敏化剂,使得在元素分析时增加发光团基体的掺杂剂的可能组合。因此,为了隐蔽稀土元素掺杂剂,优选使用稀土元素Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb。这些是在NIR区域中发光的发光团或者敏化剂或掺杂剂,所述感光剂或掺杂剂可通过它们的电子结构例如通过能量转移或猝灭效应对稀土元素发光团的发光性质具有影响,并由此将常常被发现为共掺杂(codoping)。为了隐蔽过渡金属发光团,例如Cr3+,还可优选使用除上述稀土元素外的其它已知为发光团的过渡金属。例如,在Cr作为发光团的情形中,可优选加入Mn或Fe化合物用于实现隐蔽。
为了隐蔽发光组分的基体的掺杂剂,加入至少一种额外的掺杂剂元素、优选至少两种额外的元素。加入至隐蔽组分用于隐蔽掺杂剂的元素应该以相对于发光组分的掺杂剂可比较的摩尔量存在。这里的可比较的旨在表示加入的摩尔量总计达发光组分的掺杂剂的摩尔量的至少30%。在这里稀土金属可稳固地插入另一物质的晶格中,或者,例如如果直接插入物质的基体中证明是技术上不利的或是棘手的,那么稀土金属可优选作为额外的单独的物质掺和至隐蔽组分。当使用单独的含稀土元素的物质时,其在总的混合物中的比例优选总计达0.5~4%、特别优选1~2%。
为了隐蔽发光组分的发光性质,优选使用有机或金属有机发光团。这些应该具有小于10μs、优选小于1μs的短的衰减时间,以不损害无机发光组分的检测。它们的发光发射应该全部或部分遮掩无机发光组分的发光发射区域。有机发光团的发光发射还可以是宽的和/或无结构的(unstructured),这与无机发光团的发光发射相反。优选地,有机发光团仅在非可见区域内发光,以不导致有价文件的任何不想要的可见发光。有机发光团可以包括例如激光染料、金属络合物或其它NIR发光体例如安全标记物。例如从出版物WO 2009/005733 A2、US 6,174,400 B1和US 2011/0079733 A1中得知金属有机安全标记物和有机NIR发光体。有机发光团在这里可作为纯的物质使用,或以稀释形式施加到载体材料。通常,当安全特征用于印刷油墨、漆(lacquer)和聚合物中时,纯的物质是优选的,且当安全特征嵌入纸浆中时,在载体材料中的施加是优选的。为了在载体材料中的稳定化,有机发光团可例如以聚合物微球的形式嵌入例如聚合物中。同样,使有机发光团附着于具有高的内或外表面的无机介质(例如层状硅酸盐、沸石或多孔氧化物如介孔硅石)是可能的。安全特征中的有机发光团或结合到载体材料中的有机发光团的优选比例总计达1~30%、优选5~20%。
安全特征具有20%~80%、优选25%~60%、特别优选30%~50%的发光组分(全部百分比以及以下的和前述的百分比以重量计)。本文所涉及的发光团是在非可见光谱区域中发光且由掺杂主晶格组成的发光团。优选地,所述发光团具有高的量子产率或信号强度以及合适的衰减时间以保证无差错可测试性(error-free testability),即使在有价文件中所使用的量少的情况下和如例如在具有最高达每秒40张钞票或更高的处理速度的钞票处理机中发生的高的移动速度下也是如此。用于发光组分的合适的发光团例如为掺杂有稀土元素和/或过渡金属且具有在50μs和10ms之间范围内的衰减时间的无机结晶基体,例如氧化物(例如以石榴石、尖晶石或钙钛矿的形式)以及氧硫化物、硫化物、硅酸盐、磷酸盐、铝酸盐、铌酸盐、钽酸盐、钒酸盐、锗酸盐、砷酸盐、锆酸盐或钨酸盐。
隐蔽组分以20~80%、优选40~70%、特别优选50~70%的比例包含于安全特征中。除隐蔽组分外,进一步地,非隐蔽组分也可包含于安全特征中。
当隐蔽组分包含遮掩发光组分的X-射线图的物质时,其用量取决于发光组分的量和相对结晶度。这意味着隐蔽组分在与发光组分的混合物的衍射图中的相对强度在重叠区域内将发光组分充分地遮掩。当发光组分例如由于晶粒(grain)尺寸小或在混合物中的比例小而在衍射图中只表现出低的信号时,或者当隐蔽组分由于其高的结晶度或合适的组成而在衍射图中具有特别高的信号时,必须总共使用较少的隐蔽组分的材料、或隐蔽组分中包含的具有重叠的X-射线衍射图的物质的材料以实现所需的隐蔽效果。为了获得对于隐蔽是充足的X-射线衍射图的失真,隐蔽组分在发光组分的衍射图的重叠区域中造成至少20%、优选至少40%、特别优选至少60%、非常特别优选至少80%的发光组分重叠峰的面积分的相对变化。
本文中必须以使得在安全特征的X-射线粉末衍射测定时隐蔽组分和发光组分的各自的峰是可以比较地(comparably)强的这样的量向安全特征中加入隐蔽组分。本文中隐蔽组分和发光组分的X-射线衍射图不得相同或高度相似,因为这不会妨碍,而是促进分析。因此,所使用的物质不应该是结构上相关的。然而,当两个X-射线衍射图的峰位置未表现出匹配时同样是不利的,因为在这种情形下其特别容易分离成单一组分。优选地,隐蔽组分以使得隐蔽组分的至少一个、优选两个、特别优选三个相关峰位置与发光组分的对应峰位置相匹配的这样的形式使用。本文中的“匹配”将理解为表示发光组分和隐蔽组分的两个峰的峰最大值相差至多1°、优选至多0.5°、特别优选至多0.2°(2Θ)。本文中的“相关的”将理解为表示峰是足够强的以对于鉴别物质是重要的。优选地,两个到三个重叠峰具有主峰高度的至少20%、特别优选至少50%。特别优选地,匹配峰中的一个是形成发光组分和隐蔽组分的物质的一个主峰或全部两个主峰(a main peak or both main peaks)。这种部分重叠妨碍单独的X-射线衍射图的鉴别和分离。当隐蔽组分具有至少一种其X-射线衍射图不是通常已知的,即未包含于常用的结构数据库中的物质时,情况尤其如此。除结构类型本身之外,从单独峰的相对高度获得关于化学计量或非化学计量混合的化合物的元素含量或分布程度的推断同样是可能的。例如,许多结构可在元素在一些晶体位置交换时与在结构上、特别是在晶胞尺寸上只有少许差异但可通过它们不同的相对峰高度来鉴别的不同元素形成均匀的混合系列。因此,作为额外的优点,即使在单独的X-射线衍射图的成功鉴别和分离时,局部重叠也隐藏了单独峰高度之间的精确的相对比例,由此基本上妨碍了关于被隐蔽的基体的精确化学计量的推断。
为了得到发光组分和隐蔽组分的物质的一些峰位置的这种匹配,可能有必要具体采用隐蔽组分的物质的晶格常数。这优选通过用合适比例的具有较大和/或较小半径的原子部分地取代晶格组分来进行。在一些物质的结构中,这使得获得晶格参数的连续变化是可能的,例如通过插入具有较大原子半径的原子加宽晶格,由此又使X-射线衍射图的峰位置偏移。作为进一步的优点,这种被部分地取代的物质的峰位置常常存在于仅对于一些单独取代比例的通常的X-射线结构数据库中,由此进一步妨碍了分析。例如,对于由B取代A的物质A2SiO4,常常发现完全取代B2SiO4、半取代ABSiO4和没有取代A2SiO4的变体,但并非任意比例都被发现,例如A0.21B1.79SiO4。例如,同构化合物Ba2SiO4、BaCaSiO4和Ca2SiO4的衍射图是已知的。本文中两个最强XRD峰的位置对于Ba2SiO4分别是29.4°和30.4°、对于BaCaSiO4分别是30.6°和31.5°、以及对于Ca2SiO4分别是32.0°和32.5°。然而,可制造任意中间态以采用峰的位置。这使得改善与发光组分的衍射图的重叠是可能的。同时,妨碍了通过利用X-射线结构数据库找到化合物。
同样,通过用较轻和/或较重的原子类型的取代来强烈影响X-射线衍射图的单独峰的相对强度比例是可能的,即使当它们的位置由于不变的晶格参数而不变化和只是微弱地变化时也是如此。与发光和隐蔽组分的物质的混合物的一些峰的部分匹配结合,可因此产生特别难以分析的X-射线衍射图。
优选地,发光组分和隐蔽组分还具有相同或至少相似的密度,使得它们不能容易地被分离,例如通过沉降。优选地,本文中隐蔽组分的密度与发光组分的密度的偏差总计小于50%、特别优选小于30%。
通过使用具有不同功能性的进一步的组分,可实现安全特征的额外的有利性质,由此可额外地获得抵抗仿制的提高的安全性。所述进一步的组分以及发光组分和隐蔽组分可在其量和元素组成方面以及额外地在结构方面相互配合。
作为进一步的组分,制造组分可包含于安全特征中。安全特征具有0~30%、优选0~20%的制造组分。使用制造组分以保证安全特征或其中包含的发光组分的不变品质或信号强度。取决于制造条件,例如所使用的原材料批次和其中包含的杂质、退火参数、研磨参数等,可出现发光组分的发光信号的强度波动。为了补偿这种波动,以一定比例向安全元件中加入制造组分以将由此得到的安全元件的发光信号调节至规定的标称大小。当在上述波动时向有价文件中引入安全特征时,这避免了使用安全特征时改变各自的计量的需要。与隐蔽组分相反,制造组分的比例相对于发光组分是可变的,因为安全特征中制造组分的所需比例取决于各自的生产条件,如上文中所描述的。
制造组分包括结晶物质不是绝对必需的但是优选的。在这种情形下,进一步优选,制造组分和隐蔽或发光组分的X-射线衍射图的峰位置以上述方式至少部分重叠。通过这种方式,可额外地妨碍X-射线分析。
此外,可提供:也阻止或至少妨碍了发光组分、隐蔽组分和制造组分的元素分析和分离。出于此目的,制造组分可具有形成发光组分的物质的至少一种元素和/或形成隐蔽组分的物质的至少一种元素两者。当发光组分和隐蔽组分具有例如上述的元素A、B和C时,制造组分具有元素A、B或C中的至少一种。制造组分可另外具有一种或多种进一步的元素D以及氧和/或氢。
安全特征的进一步组分可由编码组分形成。编码组分以0~10%、优选0.5~4%、特别优选1~3%的比例包含于安全特征中。编码组分包括用作法律特征的物质,通过该法律特征,可标记例如不同的制造批次、交付(delivery)、制造商或加工者(processor)。优选地,编码组分由发光团形成。然而,发光团不是必须像发光组分一样在非可见光谱区域内发光,而是可例如优选在可见光谱区域内发光。由于编码组分被设计为法律特征,所以它不是必须具有用于在钞票处理机中以高的传输速度的评估的上述性质。然而,应该确定,发光组分的评估不受编码组分的不利影响。优选地,编码组分因此在激发和发射上与发光组分尽可能大地不同。编码组分的检测可经由法律方法,例如通过使用荧光显微镜或借助于专业实验室设备的测量实现,由此与发光组分相比显著更长的测量时间(例如,若干分钟直至数小时)对于可靠的检测也可为必需的。
作为编码组分,存在如描述于例如DE 100 56 462 A1中的优选使用的负载有稀土金属和/或过渡金属的坍塌沸石结构。这些提供沸石可通过离子交换容易地负载多种阳离子的优点。同样优选使用在可见光区域具有窄带光谱的掺杂有稀土金属和/或过渡金属的基体。优选地,本文所使用的掺杂剂是在可见光区域发光的镨、钐、铕、铽和镝的三价稀土阳离子,且所使用的基体是氧化物(例如以石榴石、尖晶石或钙钛矿的形式)、以及氧硫化物、硫化物、硅酸盐、磷酸盐、铝酸盐、铌酸盐、钽酸盐、钒酸盐、锗酸盐、砷酸盐、锆酸盐或钨酸盐。这样的和进一步的物质的实例描述于出版物US 3,980,887、US 4,014,812、US 3,981,819和WO 2006/047621 A1中。除激发光谱或发射光谱外,还可测试发光寿命。本文中编码组分中的稀土离子和/或过渡金属的比例可如此高,使得在安全特征的元素分析时其可与发光组分的掺杂剂的稀土金属和/或过渡金属的浓度相比。这妨碍了对用于发光组分的掺杂剂的鉴别。如在上文中关于其它组分所解释的,优选编码组分和发光组分的掺杂也用不同的元素实现,因为否则化学分析不是被妨碍,而是被促进。此外,可将发光中未涉及的进一步的阳离子嵌入沸石结构或发光团基体材料中以影响编码组分的元素组成。
稀土金属和/或过渡金属不仅可添加至编码组分,还可添加至制造组分和/或隐蔽组分,以额外地保护发光组分的掺杂剂。此处的稀土金属和/或过渡金属的量如上文中关于掺杂剂的隐蔽或关于编码组分所描述的,即所添加的稀土金属和/或过渡金属的量是可与发光组分的掺杂剂的量比较的。
除制造组分和编码组分外,安全特征还可具有向其中加入的进一步的功能性组分,其同样不是必须具有隐蔽效果。这样的额外组分的实例为例如用于修改安全特征的颜色的染料、抑制安全特征的不想要的可见荧光的发光吸收剂、或用于调整形成安全特征的粉末的流变能力的助熔剂。
同样,发光组分可具有超过一种物质,即超过一种发光团。在这种情形下,优选对于发光组分的各个发光团提供隐蔽组分中的相应物质。如果这例如出于技术原因是不可能的或牵涉增加的努力,那么只隐蔽发光团组合中的单一发光团可为足够的,因为为了成功仿制安全特征,通常必须鉴别发光团组合的全部发光团。在这样的情形下,若干种发光团中的优选仅一种受到隐蔽组分的保护。如果对于发光团使用类似的物质,例如具有不同掺杂剂的同类型基体,那么对于发光组分的类似物质在隐蔽组分中仅分别提供一种单独的物质,以分别得到两种发光团的结构或组成的隐蔽可为足够的。
安全特征可用在有价文件中用于确保它们的真实性和/或代表一些性质(例如流通(currency)和/或面额等,若有价文件是钞票的话)的编码。
实施例1
使用由掺杂有钕的铌酸钙主晶格(基体)组成的发光物质CaNb2O6:Nd作为发光组分(M),其是通过将2.675g CaCO3、7.234g Nb2O5和0.092g Nd2O3的混合物在1150℃下退火10小时而制造的。在以532nm激发时,该发光组分在1061nm下发光。在这里发光组分的衍射图中的主峰位于29.2°。
为了结构隐蔽(R),可使用其主峰位于29.1°的单斜Zr(MoO4)2。同时,通过Zr(MoO4)2,引入了额外的阳离子元素Zr和Mo用于元素隐蔽(E)。为了隐蔽发光组分的化学计量(S),可加入Nb2O5。Nb2O5也可用于制造补偿物(production compensation)(P)。使用CaTa2O6:Sm0.03(在610nm下发光)作为编码组分(K)。为了隐蔽掺杂剂(D),使用少量的Er2O3和Yb2O3
于是,包括发光组分和隐蔽组分以及制造补偿物和编码组分的安全特征具有例如以下组成:
实施例2
发光组分与实施例1中所描述的发光团相同。结构未被隐蔽。通过加入Ca3(PO4)2实现化学计量(S)的隐蔽。物质Ca3(PO4)2的元素P还实现元素隐蔽(E)。通过加入SrAl2O4引入额外的阳离子元素(E)Sr和Al。使用Sr3(PO4)2作为制造补偿物(P)。对于制造补偿物所使用的物质的元素Sr和P还实现元素隐蔽(E)。为了隐蔽掺杂剂(D),使用少量的Yb2O3和Tm2O3。编码组分(K)与实施例1中的相同。
于是,包括隐蔽组分和隐蔽组分以及制造补偿物和编码组分的安全特征具有例如以下组成:
实施例3
在来自实施例1的物质的基础上,通过两种有机发光团(L)额外地隐蔽发光发射。这些涉及在1050~1100nm区域中发荧光的具有2-噻吩甲酰三氟丙酮(HTTA)作为配体的四核(tetranuclear)钕络合物和商业上可得到的在1020~1180nm区域中发光的多次甲基(polymethine)IR-1061(Sigma Aldrich)的混合物。
于是,包括发光组分和隐蔽组分以及制造补偿物和编码组分的安全特征具有例如以下组成:
实施例4
使用Y1.98Nd0.02SiO5作为发光组分(M),其是通过如下制造的:混合2.66g尿素、0.53g SiO2、6.72g Y(NO3)3·6H2O、0.08g Nd(NO3)3·5H2O和3mLH2O,在500℃下蒸发掉液体,并将所获得的材料在1500℃下退火10小时。在以532nm激发时,该发光组分在1075nm下发光。
X-射线衍射图中的显著峰((大于主峰的70%)位于22.8°。为了隐蔽X-射线衍射图(R),可使用其主峰位于22.8°的NaTaO3。元素Na和Ta还实现元素隐蔽(E)。通过加入YAlO3实现化学计量(S)的隐蔽和额外的阳离子元素(E)的引入。YAlO3还可以用作制造补偿物(P)。为了隐蔽掺杂剂(D),使用少量的Yb2O3和Ce2O3。使用LaOBr:Tb(在543nm下发射)作为编码组分(K)。
于是,包括发光组分和隐蔽组分以及制造补偿物和编码组分的安全特征具有例如以下组成:
实施例5
发光组分(M)与实施例4中所描述的发光团相同。为了隐蔽化学计量(S)和引入额外的阳离子元素(E),使用NaAlSiO4。作为制造补偿物(P)和为了引入额外的阳离子元素(E),使用BaSO4。为了隐蔽掺杂剂(D),使用少量的Tm2O3和Sm2O3。编码组分(D)与来自实施例4的相同。
于是,包括发光组分和隐蔽组分以及制造补偿物和编码组分的安全特征具有例如以下组成:
实施例6
在来自实施例4的物质的基础上,通过有机发光团(L)额外地隐蔽发光发射。有机发光团(L)为在1050~1150nm区域内发荧光的IR-1048(Sigma Aldrich)。
于是,包括发光组分和隐蔽组分以及制造补偿物和编码组分的安全特征具有例如以下组成:
实施例7
使用KTiO(PO4):Er作为发光组分(M),其是通过将18.78g KH2PO4、10.90g TiO2和0.61g Er2O3的混合物在800℃下退火12小时而制造的。在以520nm激发时,该发光组分在1540nm下发光。发光组分的衍射图中的主峰位于32.3°,其中紧邻的显著峰(大于主峰的70%)在32.6°处。为了隐蔽X-射线衍射图(R),可使用LaMnO3,其在衍射图中在32.3°和32.6°处具有两个显著峰(主峰的90~100%)。元素La和Mn还实现元素隐蔽(E)。为了隐蔽化学计量(S),可加入TiO2,其可同时用作制造补偿物(P)。为了隐蔽掺杂剂(D),可使用少量的Nd2O3、Ce2O3和Ho2O3。编码组分(K)为Y2SiO5:Ce,其在420nm下发射。
于是,包括发光组分和隐蔽组分以及制造补偿物和编码组分的安全特征具有例如以下组成:
实施例8
发光组分(M)与实施例7中描述的发光团相同。为了隐蔽化学计量(S)和引入额外的阳离子元素(E),使用CaTiO3。通过加入ZrSiO4引入额外的阳离子元素(E),ZrSiO4同时能够充当制造补偿物(P)。为了隐蔽掺杂剂(D),使用少量的Nd2O3、Ce2O3和Ho2O3。编码组分(K)与实施例7中的相同。
于是,包括发光组分和隐蔽组分以及制造补偿物和编码组分的安全特征具有例如以下组成:
实施例9
在来自实施例8的物质的基础上,通过有机发光团(L)额外地隐蔽发光发射。有机发光团(L)是在1480-1600nm的区域内发荧光的无环铒络合物acyc-H,其如文献来源"L.Slooff,A.Polman,M.Oude Wolbers,F.van Veggel,D.Reinhoudt,J.Hofstraat;J.Appl.Phys.83(1)1998,p.497-503"中所描述的。
于是,包括发光组分和隐蔽组分以及制造补偿物和编码组分的安全特征具有例如以下组成:

Claims (22)

1.一种具有发光组分和隐蔽该发光组分的组分的安全特征,该发光组分具有至少一种由掺杂主晶格组成的发光团,
其特征在于,所述发光组分的鉴别被以下列关系的至少两个为特征的所述隐蔽组分的性质和所述发光组分的相应的同类型性质妨碍或阻止:
a)所述隐蔽组分具有与所述发光组分的X-射线衍射图至少部分重叠的X-射线衍射图,以隐蔽所述发光组分的结构,
b)所述隐蔽组分包含至少一种同样包含于所述发光组分的主晶格中的阳离子元素,但不是包含于该主晶格中的全部阳离子元素,以隐蔽所述发光组分的化学计量,
c)所述隐蔽组分包含至少一种未包含于所述发光组分的主晶格中的阳离子元素,以隐蔽所述发光组分的该主晶格的元素组成,
d)所述隐蔽组分包含至少一种未包含于所述发光组分中作为掺杂剂的掺杂剂,以隐蔽所述发光组分的一种或多种掺杂剂,
e)所述隐蔽组分包含至少一种发光团,该发光团具有比包含于所述发光组分中的发光团短的衰减时间,以隐蔽所述发光组分的光谱性质,
所述安全特征的进一步特征在于,
所述隐蔽组分和所述发光组分满足关系a)和b),或者
所述隐蔽组分和所述发光组分满足关系a)和e),
其中所述发光组分以20重量%-80重量%的量包含于所述安全特征中,和所述隐蔽组分以20重量%-80重量%的量包含于所述安全特征中。
2.根据权利要求1所述的安全特征,其特征在于,所述隐蔽组分和所述发光组分满足关系a)、b)、c)和d)。
3.根据权利要求1所述的安全特征,其特征在于,所述隐蔽组分和所述发光组分满足关系a)、b)、c)、d)和e)。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的安全特征,其特征在于,所述发光组分的X-射线衍射图和所述隐蔽组分的X-射线衍射图具有显著峰的部分重叠,其中至少一个相关峰位置重叠。
5.根据权利要求4所述的安全特征,其特征在于,其中至少两个相关峰位置重叠。
6.根据权利要求5所述的安全特征,其特征在于,其中至少三个相关峰位置重叠。
7.根据权利要求4所述的安全特征,其特征在于,所述重叠峰具有主峰高度的至少30%。
8.根据权利要求7所述的安全特征,其特征在于,所述重叠峰具有主峰高度的至少50%。
9.根据权利要求4所述的安全特征,其特征在于,所述重叠峰为发光组分和隐蔽组分的主峰。
10.根据权利要求9所述的安全特征,其特征在于,所述重叠峰为发光组分和隐蔽组分的两个主峰。
11.根据权利要求1~3中任一项所述的安全特征,其特征在于,所述阳离子元素选自主族元素Li、Be、B、Na、Mg、Al、Si、P、S、K、Ca、Ga、Ge、As、Se、Rb、Sr、In、Sn、Sb、Te、Cs、Ba、Tl、Pb、Bi或过渡金属元素或稀土元素。
12.根据权利要求1~3中任一项所述的安全特征,其特征在于,所述发光组分的掺杂剂为稀土元素,并且所述隐蔽组分包含至少一种由稀土元素Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb组成的掺杂剂。
13.根据权利要求1~3中任一项所述的安全特征,其特征在于,所述发光组分的掺杂剂为周期系第四周期的过渡金属,并且所述隐蔽组分包含至少一种由周期系第四周期的元素组成的其它掺杂剂。
14.根据权利要求1~3中任一项所述的安全特征,其特征在于,所述隐蔽组分的发光团为非无机发光团。
15.根据权利要求14所述的安全特征,其特征在于,所述隐蔽组分的发光团为有机发光团。
16.根据权利要求15所述的安全特征,其特征在于,所述隐蔽组分的发光团为金属有机发光团。
17.根据权利要求1~3中任一项所述的安全特征,其特征在于,所述隐蔽组分的发光团具有小于10μs的衰减时间。
18.根据权利要求17所述的安全特征,其特征在于,所述隐蔽组分的发光团具有小于1μs的衰减时间。
19.根据权利要求1~3中任一项所述的安全特征,其特征在于,所述隐蔽组分除所述至少部分重叠的X-射线衍射图之外还具有,或者代替所述至少部分重叠的X-射线衍射图具有,至少部分地匹配所述发光组分的相应结构特征的进一步的结构特征,以隐蔽所述发光组分的结构。
20.具有根据权利要求1~18中任一项的安全特征的有价文件,其特征在于,所述有价文件由纸和/或塑料组成。
21.根据权利要求20所述的有价文件,其特征在于,所述安全特征引入所述有价文件的体积中和/或涂覆至所述有价文件上。
22.根据权利要求20所述的有价文件,其特征在于,所述安全特征作为看不见的、至少部分的涂层涂覆至所述有价文件上。
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