CN104008743B - 一种静电放电保护芯片及驱动电路 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种静电放电保护芯片,包括:静电释放模块,用于对所述驱动芯片的异常静电进行释放;以及至少一检测模块,用于通过检测所述静电释放模块在所述驱动电路中的等效电阻,以判断所述静电释放模块是否异常;本发明还提供一种驱动电路,解决了所述静电释放模块异常状态难以检测,以及工作效率低下、生产成本较高的技术问题。
Description
【技术领域】
本发明涉及液晶显示器技术领域,特别涉及一种应用于薄膜场效应晶体管液晶显示器中的静电放电保护芯片及驱动电路。
【背景技术】
TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,薄膜场效应晶体管液晶显示器)是当前平板显示的主要品种之一,已经成为了现代IT、视讯产品中重要的显示平台。TFT-LCD主要驱动原理是,系统主板将R/G/B(红绿蓝)压缩信号、控制信号及电源通过线材与印刷电路板上的连接器connector相连接,连接器与液晶显示面板中的驱动芯片ASIC相连接、以向驱动芯片提供输入电源、驱动信号等。
但是在实际过程中,由于连接器在插拔过程中会产生静电,对驱动芯片ASIC造成损坏,因此一般需要在连接器与驱动芯片连接处对重要信号进行静电放电保护,即在驱动芯片与连接器对应连接的连接脚之间,连接一个静电放电保护芯片。该静电放电保护芯片具有多个连接脚,以及地连接脚(GND)和电源脚(VDD)。
如图1,是现有技术中的静电放电保护芯片连接结构示意图,当静电放电保护芯片工作时等效为图2中的连接结构,由于静电放电保护芯片连接在连接器和驱动芯片之间,相当于在连接器和驱动芯片之间提供了多个等效电阻(譬如R3和R4),因此降低了驱动芯片连接脚上输入的电流,从而对驱动芯片起到保护作用。
但是现有技术中静电放电保护芯片自身存在损耗,当静电放电保护芯片损耗时,不能对驱动芯片ASIC进行很好的保护。这种损耗在正常出货检查时无法检出,仅能通过万用表量测阻值进行甄别。而通过万用表量测检验,效率低下且需要对检测人员进行长时间的培训,没有量产价值。
【发明内容】
本发明的一个目的在于提供一种静电放电保护芯片,以解决所述静电释放模块异常状态难以检测,以及工作效率低下、生产成本较高的技术问题。
为解决上述技术问题,本发明构造了一种静电放电保护芯片,设置在液晶显示装置中,所述液晶显示装置包括液晶显示面板以及用于驱动所述液晶显示面板的驱动电路,所述驱动电路包括驱动芯片以及与所述液晶显示面板连接的连接器;所述静电放电保护芯片包括:
静电释放模块,用于对所述驱动芯片的异常静电进行释放;以及
至少一检测模块,用于通过检测所述静电释放模块在所述驱动电路中的等效电阻,以判断所述静电释放模块是否异常;
所述静电放电保护芯片分别与所述驱动芯片以及所述连接器连接。
在本发明的静电放电保护芯片中,所述检测模块包括直流电源、第一电阻、第二电阻、参考电阻以及检测元件;
所述第一电阻的一端与所述直流电源正极连接,其另一端与所述等效电阻的一端连接,所述等效电阻的另一端与所述直流电源的负极连接;
所述第二电阻的一端与所述直流电源正极连接,所述第二电阻的另一端与所述参考电阻串联后与所述直流电源负极连接;
所述检测元件一端连接在所述等效电阻和所述第一电阻之间,所述检测元件的另一端连接在所述参考电阻和所述第二电阻之间,所述检测元件通过检测所述等效电阻和所述参考电阻之间的电压差,确定所述等效电阻是否异常,其中所述第一电阻与所述等效电阻的比值等于所述第二电阻与所述参考电阻的比值。
在本发明的静电放电保护芯片中,所述检测元件为发光二极管,所述发光二极管的负极连接在所述等效电阻和所述第一电阻之间,所述发光二极管的正极连接在所述参考电阻和所述第二电阻之间;当所述发光二极管发光时,所述等效电阻异常;当所述发光二极管不发光时,所述等效电阻正常。
在本发明的静电放电保护芯片中,所述第一电阻等于所述第二电阻。
在本发明的静电放电保护芯片中,所述参考电阻为可变电阻。
本发明的另一个目的在于提供一种驱动电路,以解决所述静电释放模块异常状态难以检测,以及工作效率低下、生产成本较高的技术问题。
为解决上述技术问题,本发明构造了一种驱动电路,所述驱动电路包括驱动芯片以及与液晶显示面板连接的连接器;所述驱动电路还包括静电放电保护芯片,所述静电放电保护芯片包括:
静电释放模块,用于对所述驱动芯片的异常静电进行释放;以及
至少一检测模块,用于通过检测所述静电释放模块在所述驱动电路中的等效电阻,以判断所述静电释放模块是否异常;
所述静电放电保护芯片分别与所述驱动芯片以及所述连接器连接。
在本发明的驱动电路中,所述检测模块包括直流电源、第一电阻、第二电阻、参考电阻以及检测元件;
所述第一电阻的一端与所述直流电源正极连接,其另一端与所述等效电阻的一端连接,所述等效电阻的另一端与所述直流电源的负极连接;
所述第二电阻的一端与所述直流电源正极连接,所述第二电阻的另一端与所述参考电阻串联后与所述直流电源负极连接;
所述检测元件一端连接在所述等效电阻和所述第一电阻之间,所述检测元件的另一端连接在所述参考电阻和所述第二电阻之间,所述检测元件通过检测所述等效电阻和所述参考电阻之间的电压差,确定所述等效电阻是否异常,其中所述第一电阻与所述等效电阻的比值等于所述第二电阻与所述参考电阻的比值。
在本发明的驱动电路中,所述检测元件为发光二极管,所述发光二极管的负极连接在所述等效电阻和所述第一电阻之间,所述发光二极管的正极连接在所述参考电阻和所述第二电阻之间;当所述发光二极管发光时,所述等效电阻异常;当所述发光二极管不发光时,所述等效电阻正常。
在本发明的驱动电路中,所述第一电阻等于所述第二电阻。
在本发明的驱动电路中,所述参考电阻为可变电阻。本发明通过增加可以检测静电释放模块是否异常的检测模块,所述检测模块通过检测所述静电释放模块在所述驱动电路中的等效电阻,来判断所述静电释放模块是否异常,本发明可以降低生产成本,提高生产效率。
【附图说明】
图1是现有技术中静电放电保护芯片连接结构示意图;
图2是图1静电放电保护芯片的等效连接结构示意图;
图3是本发明中静电放电保护芯片的连接结构示意图;
图4是本发明中实施例中第一实施例的静电放电保护芯片的连接结构示意图;
图5是本发明中实施例中第二实施例的静电放电保护芯片的连接结构示意图;
图6是本发明中驱动电路的连接结构示意图;
图7是本发明中实施例中第一实施例的驱动电路的连接结构示意图;
图8是本发明中实施例中第二实施例的驱动电路的连接结构示意图;
【具体实施方式】
以下各实施例的说明是参考附加的图式,用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语,例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等,仅是参考附加图式的方向。因此,使用的方向用语是用以说明及理解本发明,而非用以限制本发明。在图中,结构相似的单元是以相同标号表示。
请参照图3,图3是本发明中静电放电保护芯片的结构示意图;
如图3所示,本发明的静电放电保护芯片包括静电释放模块,所述静电释放模块为现有技术中的静电放电保护芯片,同时本发明的静电放电保护芯片还包括检测模块,用于通过检测所述静电释放模块在所述驱动电路中的等效电阻,以判断所述静电释放模块是否异常。所述检测模块可以根据所述静电释放模块中的连接脚的个数设置多个。譬如结合图1,所述检测模块包括两个检测端,所述检测模块的一个检测端与所述静电释放模块的地连接脚2连接,所述检测模块的另一个检测端与所述静电释放模块中的连接脚3连接,在所述静电释放模块中的连接脚3和地连接脚2之间形成的等效电阻R3。
具体如图4所示,所述检测模块包括直流电源、第一电阻R5、第二电阻R6、参考电阻R7以及检测元件;
所述第一电阻R5的一端与所述直流电源正极连接,其另一端与所述等效电阻R3的一端连接,所述等效电阻R3的另一端与所述直流电源的负极连接;
所述第二电阻R6的一端与所述直流电源正极连接,所述第二电阻R6的另一端与所述参考电阻R7串联后与所述直流电源负极连接;
所述检测元件(所述检测元件譬如为发光二极管LED)一端连接在所述等效电阻R3和所述第一电阻R5之间,所述检测元件的另一端连接在所述参考电阻R7和所述第二电阻R6之间,所述检测元件通过检测所述等效电阻R3和所述参考电阻R7之间的电压差,也就是检测元件两端之间的电压差,确定所述等效电阻R3是否异常(即是否损耗),其中所述第一电阻R5与所述等效电阻R3的比值等于所述第二电阻R6与所述参考电阻R7的比值。
所述检测元件譬如为发光二极管LED;所述发光二极管的负极连接在所述等效电阻R3和所述第一电阻R5之间,所述发光二极管的正极连接在所述参考电阻R7和所述第二电阻R6之间;所述发光二极管的负极电压等于所述等效电阻R3的电压,所述发光二极管的正极电压等于所述参考电阻R7的电压,由于所述第一电阻R5与所述等效电阻R3的比值等于所述第二电阻R6与所述参考电阻R7的比值,所述发光二极管负极的电压等于所述发光二极管正极的电压。因此,当所述静电释放模块无损耗时,所述等效电阻R3的阻值不变,所述发光二极管负极的电压不变,所述发光二极管正负极之间不会形成电压差,所述发光二极管不发光。当所述静电释放模块损耗时,所述等效电阻R3的阻值降低,所述发光二极管负极的电压变小,所述发光二极管正负极之间形成电压差,所述发光二极管发光。
优选地,所述参考电阻R7的阻值可以设定为在所述静电释放模块无损耗时所述等效电阻R3的阻值,所述第一电阻R5等于所述第二电阻R6。所述参考电阻R7譬如为可变电阻
所述检测模块可以根据所述静电释放模块中的连接脚的个数设置多个。譬如,所述检测模块为2个时,其中一个所述检测模块连接所述等效电阻R3,如图4所示,鉴于在上文已有详细的描述,在此不详述,另一所述检测模块如图5所示:
譬如结合图1,所述检测模块包括两个检测端,所述检测模块的一个检测端与所述静电释放模块的地连接脚2连接,所述检测模块的另一个检测端与所述静电释放模块中的连接脚4连接,在所述静电释放模块中的连接脚4和地连接脚2之间形成的等效电阻R4。
如图5所述,所述检测模块包括直流电源、第一电阻R5、第二电阻R6、参考电阻R7以及检测元件;
所述第一电阻R5的一端与所述直流电源正极连接,其另一端与所述等效电阻R4的一端连接,所述等效电阻R4的另一端与所述直流电源的负极连接;
所述第二电阻R6的一端与所述直流电源正极连接,所述第二电阻R6的另一端与所述参考电阻R7串联后与所述直流电源负极连接;
所述检测元件(所述检测元件譬如为发光二极管LED)一端连接在所述等效电阻R4和所述第一电阻R5之间,所述检测元件的另一端连接在所述参考电阻R7和所述第二电阻R6之间,所述检测元件通过检测所述等效电阻R4和所述参考电阻R7之间的电压差,也就是检测元件两端之间的电压差,确定所述等效电阻R4是否异常(即是否损耗),其中所述第一电阻R5与所述等效电阻R4的比值等于所述第二电阻R6与所述参考电阻R7的比值。
所述检测元件譬如为发光二极管LED;所述发光二极管的负极连接在所述等效电阻R4和所述第一电阻R5之间,所述发光二极管的正极连接在所述参考电阻R7和所述第二电阻R6之间;所述发光二极管的负极电压等于所述等效电阻R4的电压,所述发光二极管的正极电压等于所述参考电阻R7的电压,由于所述第一电阻R5与所述等效电阻R4的比值等于所述第二电阻R6与所述参考电阻R7的比值,所述发光二极管负极的电压等于所述发光二极管正极的电压。因此,当所述静电释放模块无损耗时,所述等效电阻R4的阻值不变,所述发光二极管负极的电压不变,所述发光二极管正负极之间不会形成电压差,所述发光二极管不发光。当所述静电释放模块损耗时,所述等效电阻R4的阻值降低,所述发光二极管负极的电压变小,所述发光二极管正负极之间形成电压差,所述发光二极管发光。
优选地,所述参考电阻R7的阻值可以设定为在所述静电释放模块无损耗时所述等效电阻R4的阻值,所述第一电阻R5的阻值等于所述第二电阻R6的阻值。所述参考电阻R7譬如为可变电阻。
本发明通过增加可以检测静电释放模块是否异常的检测模块,所述检测模块通过检测所述静电释放模块在所述驱动电路中的等效电阻,来判断所述静电释放模块是否异常,本发明可以降低生产成本提高生产效率。
请参照图6,图6是本发明中驱动电路的连接结构示意图;
如图6所示,本发明还提供一种驱动电路,所述驱动电路设置在液晶显示装置中用于驱动所述液晶显示面板,所述驱动电路包括驱动芯片ASIC以及与所述液晶显示面板连接的连接器connector;所述驱动电路还包括静电放电保护芯片,所述静电放电保护芯片分别与所述驱动芯片以及所述连接器连接,所述静电放电保护芯片包括静电释放模块,所述静电释放模块为现有技术中的静电放电保护芯片,同时本发明的静电放电保护芯片还包括至少一检测模块,用于通过检测所述静电释放模块在所述驱动电路中的等效电阻,以判断所述静电释放模块是否异常(是否损耗)。
如图7,所述驱动芯片ASIC与所述连接器connector连接,在驱动芯片的连接脚N1及连接器上的连接脚n1之间还包括一接地电阻R1,所述静电放电保护芯片包括两个检测端,所述静电放电保护芯片的一个检测端连接在驱动芯片的连接脚N1及连接器上的连接脚n1之间,所述静电放电保护芯片的另一个检测端连接在所述驱动芯片的地连接脚(GND)与连接器上的地连接脚(GND)之间。
所述检测模块包括直流电源、第一电阻R5、第二电阻R6、参考电阻R7以及检测元件;
所述直流电源的正极、所述第一电阻R5、所述接地电阻R1和等效电阻R3构成的电阻集合、以及所述直流电源的负极,形成第一回路(如图中加粗部分所示)。
所述第一电阻R5的一端与所述直流电源正极连接,其另一端与所述第一待测电阻的一端连接(所述静电释放模块中的等效电阻R3与所述接地电阻R1并联形成所述第一待测电阻,图中未示出),所述第一待测电阻的另一端与所述直流电源的负极连接;
所述第二电阻R6的一端与所述直流电源正极连接,所述第二电阻R6的另一端与所述参考电阻R7串联后与所述直流电源负极连接;
所述检测元件(所述检测元件譬如为发光二极管LED)一端连接在所述第一待测电阻和所述第一电阻R5之间,所述检测元件的另一端连接在所述参考电阻R7和所述第二电阻R6之间,所述检测元件通过检测所述第一待测电阻和所述参考电阻R7之间的电压差,也就是检测元件两端之间的电压差,确定所述等效电阻R3是否异常(即是否损耗),其中所述第一电阻R5的阻值与所述第一待测电阻的阻值的比值等于所述第二电阻R6的阻值与所述参考电阻R7的阻值的比值。
其中,所述第一待测电阻的阻值等于所述等效电阻R3与所述接地电阻R1的并联阻值,通常情况下,所述接地电阻R1的阻值固定不变,因此所述第一待测电阻的阻值与所述等效电阻R3的阻值成正比。即通过检测所述第一待测电阻的变化确定出所述等效电阻R3的变化,从而判断所述静电释放模块是否异常(是否损耗)。
所述检测元件譬如为发光二极管LED;所述发光二极管的负极连接在所述第一待测电阻和所述第一电阻R5之间,所述发光二极管的正极连接在所述参考电阻R7和所述第二电阻R6之间;所述发光二极管的负极电压等于所述第一待测电阻的电压,所述发光二极管的正极电压等于所述参考电阻R7的电压,由于所述第一电阻R5的阻值与所述第一待测电阻的阻值的比值等于所述第二电阻R6的阻值与所述参考电阻R7的阻值的比值,所述发光二极管负极的电压等于所述发光二极管正极的电压。因此,当所述静电释放模块无损耗时,所述等效电阻R3的阻值不变,此时所述第一待测电阻的阻值也不变,所述发光二极管负极的电压不变,所述发光二极管正负极之间不会形成电压差,所述发光二极管不发光。当所述静电释放模块损耗时,所述等效电阻R3的阻值降低,此时所述第一待测电阻的阻值也降低,所述发光二极管负极的电压变小,所述发光二极管正负极之间形成电压差,所述发光二极管发光。
优选地,所述参考电阻R7的阻值可以设定为在所述静电释放模块无损耗时所述第一待测电阻的阻值,所述第一电阻R5的阻值等于所述第二电阻R6的阻值。所述参考电阻R7譬如为可变电阻。
所述检测模块可以根据所述静电释放模块中的连接脚的个数设置多个。譬如,所述检测模块为2个时,其中一个所述检测模块连接所述等效电阻R3,如图7所示,鉴于在上文已有详细的描述,在此不详述,另一所述检测模块如图8所示:
如图8,所述驱动芯片ASIC与所述连接器connector连接,在驱动芯片的连接脚N2及连接器上的连接脚n2之间还包括一接地电阻R2,所述静电放电保护芯片包括两个检测端,所述静电放电保护芯片的一个检测端连接在驱动芯片的连接脚N2及连接器上的连接脚n2之间,所述静电放电保护芯片的另一个检测端连接在所述驱动芯片的地连接脚(GND)与连接器上的地连接脚(GND)之间。
所述检测模块包括直流电源、第一电阻R5、第二电阻R6、参考电阻R7以及检测元件;
所述直流电源的正极、所述第一电阻R5、所述接地电阻R2和等效电阻R4构成的电阻集合、以及所述直流电源的负极,形成第二回路(如图中加粗部分所示)。所述第一电阻R5的一端与所述直流电源正极连接,其另一端与所述第二待测电阻的一端连接(所述静电释放模块中的等效电阻R4与所述接地电阻R2并联形成所述第二待测电阻),所述第二待测电阻的另一端与所述直流电源的负极连接;
所述第二电阻R6的一端与所述直流电源正极连接,所述第二电阻R6的另一端与所述参考电阻R7串联后与所述直流电源负极连接;
所述检测元件(所述检测元件譬如为发光二极管LED)一端连接在所述第二待测电阻和所述第一电阻R5之间,所述检测元件的另一端连接在所述参考电阻R7和所述第二电阻R6之间,所述检测元件通过检测所述第二待测电阻和所述参考电阻R7之间的电压差,也就是检测元件两端之间的电压差,确定所述等效电阻R4是否异常(即是否损耗),其中所述第一电阻R5与所述第二待测电阻的比值等于所述第二电阻R6与所述参考电阻R7的比值。
其中,所述第二待测电阻的阻值等于所述等效电阻R4与所述接地电阻R2的并联阻值,通常情况下,所述接地电阻R2的值固定不变,因此所述第二待测电阻的阻值与所述等效电阻R4的阻值成正比。即通过检测所述第二待测电阻的变化确定出所述等效电阻R4的变化,从而判断所述静电释放模块是否异常(是否损耗)。
所述检测元件譬如为发光二极管LED;所述发光二极管的负极连接在所述第二待测电阻和所述第一电阻R5之间,所述发光二极管的正极连接在所述参考电阻R7和所述第二电阻R6之间;所述发光二极管的负极电压等于所述第二待测电阻的电压,所述发光二极管的正极电压等于所述参考电阻R7的电压,由于所述第一电阻R5的阻值与所述第二待测电阻的阻值的比值等于所述第二电阻R6的阻值与所述参考电阻R7的阻值的比值,所述发光二极管负极的电压等于所述发光二极管正极的电压。因此,当所述静电释放模块无损耗时,所述等效电阻R4的阻值不变,此时所述第二待测电阻的阻值也不变,所述发光二极管负极的电压不变,所述发光二极管正负极之间不会形成电压差,所述发光二极管不发光。当所述静电释放模块损耗时,所述等效电阻R4的阻值降低,此时所述第二待测电阻的阻值也降低,所述发光二极管负极的电压变小,所述发光二极管正负极之间形成电压差,所述发光二极管发光。
优选地,所述参考电阻R7的阻值可以设定为在所述静电释放模块无损耗时所述第二待测电阻的阻值,所述第一电阻R5的阻值等于所述第二电阻R6的阻值。所述参考电阻R7譬如为可变电阻。鉴于所述静电放电保护芯片在上文已有详细的描述,此处不再赘述。
本发明通过增加可以检测静电释放模块是否异常的检测模块,所述检测模块通过检测所述静电释放模块在所述驱动电路中的等效电阻,来判断所述静电释放模块是否异常,本发明可以降低生产成本,提高生产效率。
综上所述,虽然本发明已以优选实施例揭露如上,但上述优选实施例并非用以限制本发明,本领域的普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,均可作各种更动与润饰,因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。
Claims (8)
1.一种静电放电保护芯片,设置在液晶显示装置中,所述液晶显示装置包括液晶显示面板以及用于驱动所述液晶显示面板的驱动电路,所述驱动电路包括驱动芯片以及与所述液晶显示面板连接的连接器;其特征在于:所述静电放电保护芯片包括:
静电释放模块,用于对所述驱动芯片的异常静电进行释放;以及
至少一检测模块,用于通过检测所述静电释放模块在所述驱动电路中的等效电阻,以判断所述静电释放模块是否异常;
所述静电放电保护芯片分别与所述驱动芯片以及所述连接器连接;
其中所述检测模块包括直流电源、第一电阻、第二电阻、参考电阻以及检测组件;
所述第一电阻的一端与所述直流电源正极连接,其另一端与所述等效电阻的一端连接,所述等效电阻的另一端与所述直流电源的负极连接;
所述第二电阻的一端与所述直流电源正极连接,所述第二电阻的另一端与所述参考电阻串联后与所述直流电源负极连接;
所述检测组件一端连接在所述等效电阻和所述第一电阻之间,所述检测组件的另一端连接在所述参考电阻和所述第二电阻之间,所述检测组件通过检测所述等效电阻和所述参考电阻之间的电压差,确定所述等效电阻是否异常,其中所述第一电阻与所述等效电阻的比值等于所述第二电阻与所述参考电阻的比值;
所述检测模块包括两个检测端,所述检测模块的一个检测端与所述静电释放模块的一地连接脚连接,所述检测模块的另一个检测端与所述静电释放模块中的一连接脚连接,在所述连接脚和所述地连接脚之间形成所述等效电阻;
所述驱动芯片的连接脚及所述连接器上的连接脚之间还包括一接地电阻,所述静电放电保护芯片包括两个检测端,所述静电放电保护芯片的一个检测端连接在驱动芯片的连接脚及连接器上的连接脚之间,所述静电放电保护芯片的另一个检测端连接在所述驱动芯片的地连接脚与连接器上的地连接脚之间;所述等效电阻与所述接地电阻的并联阻值等于一第一待测电阻的阻值。
2.根据权利要求1所述的静电放电保护芯片,其特征在于:所述检测组件为发光二极管,所述发光二极管的负极连接在所述等效电阻和所述第一电阻之间,所述发光二极管的正极连接在所述参考电阻和所述第二电阻之间;当所述发光二极管发光时,所述等效电阻异常;当所述发光二极管不发光时,所述等效电阻正常。
3.根据权利要求1或2所述的静电放电保护芯片,其特征在于:所述第一电阻等于所述第二电阻。
4.根据权利要求1或2所述的静电放电保护芯片,其特征在于:所述参考电阻为可变电阻。
5.一种驱动电路,所述驱动电路包括驱动芯片以及与液晶显示面板连接的连接器;其特征在于:所述驱动电路还包括静电放电保护芯片,所述静电放电保护芯片包括:
静电释放模块,用于对所述驱动芯片的异常静电进行释放;以及
至少一检测模块,用于通过检测所述静电释放模块在所述驱动电路中的等效电阻,以判断所述静电释放模块是否异常;
所述静电放电保护芯片分别与所述驱动芯片以及所述连接器连接;
其中所述检测模块包括直流电源、第一电阻、第二电阻、参考电阻以及检测组件;
所述第一电阻的一端与所述直流电源正极连接,其另一端与所述等效电阻的一端连接,所述等效电阻的另一端与所述直流电源的负极连接;
所述第二电阻的一端与所述直流电源正极连接,所述第二电阻的另一端与所述参考电阻串联后与所述直流电源负极连接;
所述检测组件一端连接在所述等效电阻和所述第一电阻之间,所述检测组件的另一端连接在所述参考电阻和所述第二电阻之间,所述检测组件通过检测所述等效电阻和所述参考电阻之间的电压差,确定所述等效电阻是否异常,其中所述第一电阻与所述等效电阻的比值等于所述第二电阻与所述参考电阻的比值;
所述检测模块包括两个检测端,所述检测模块的一个检测端与所述静电释放模块的一地连接脚连接,所述检测模块的另一个检测端与所述静电释放模块中的一连接脚连接,在所述连接脚和所述地连接脚之间形成所述等效电阻;
所述驱动芯片的连接脚及所述连接器上的连接脚之间还包括一接地电阻,所述静电放电保护芯片包括两个检测端,所述静电放电保护芯片的一个检测端连接在驱动芯片的连接脚及连接器上的连接脚之间,所述静电放电保护芯片的另一个检测端连接在所述驱动芯片的地连接脚与连接器上的地连接脚之间;所述等效电阻与所述接地电阻的并联阻值等于一第一待测电阻的阻值。
6.根据权利要求5所述的驱动电路,其特征在于:所述检测组件为发光二极管,所述发光二极管的负极连接在所述等效电阻和所述第一电阻之间,所述发光二极管的正极连接在所述参考电阻和所述第二电阻之间;当所述发光二极管发光时,所述等效电阻异常;当所述发光二极管不发光时,所述等效电阻正常。
7.根据权利要求5或6所述的驱动电路,其特征在于:所述第一电阻等于所述第二电阻。
8.根据权利要求5或6所述的驱动电路,其特征在于:所述参考电阻为可变电阻。
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