CN102937689B - Esd保护芯片数码显示检测系统 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种ESD保护芯片数码显示检测系统,包括:LVDS接口、显示系统、第一、第二及第三数据线路、电源及电阻,所述第一、第二及第三数据线路一端与LVDS接口电性连接,另一端与显示系统电性连接的,该显示系统包括:逻辑运算模块及与逻辑运算模块电性连接的数码显示模块,该逻辑运算模块与第一、第二及第三数据线路电性连接,当ESD保护芯片电性连接于该LVDS接口时,该逻辑运算模块采集该第一、第二及第三数据线路上的信号,并经过逻辑运算后驱动该数码显示模块显示字符,通过该显示信息可确定所述ESD保护芯片的连接是否异常,利用该数码显示检测系统可以提高产品合格率,节省生产成本,避免不良品给客户带来损失。

Description

ESD保护芯片数码显示检测系统
技术领域
本发明涉及一种液晶LVDS驱动电路的ESD保护电路,尤其涉及一种液晶LVDS驱动电路的ESD保护芯片数码显示检测系统。
背景技术
TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,薄膜晶体管液晶显示器)是当前平板显示的主要品种之一,已经成为了现代IT、视讯产品中重要的显示平台。
请参阅图1,其为TFT-LCD主要驱动原理结构示意图,其原理是系统PCB主板将R/G/B压缩信号、控制信号及驱动信号,通过线材与PCB板上的LVDS接口(connector)相连接,PCB板通过直接将LVDS数据处理芯片IC接续在可挠曲印刷电路板的源极端子和栅极端子上的方式(S-COF(Source-Chip on Film)和G-COF(Gate-Chip on Film))与显示区连接,利用该栅极端子和源极端子从而使得LCD获得所需的电源及信号。
利用该种方法驱动显示区的液晶显示系统传输到PCB主板上的信号主要为低压差分信号LVDS(Low Voltage Differential Signaling)格式,该种LVDS格式的信号电压较低、精度较高,对电压的变化比较敏感,任何的静电都会使该LVDS数据处理芯片IC发生损坏,但在插拔时会产生静电这是不可避免的。因此为了避免LVDS接口在插拔中产生的静电对LVDS数据处理芯片IC造成损坏,一般需在LVDS接口与LVDS数据处理芯片IC连接处对重要的信号进行ESD保护电路设置。
如图2所示,ESD保护电路采用一个ESD保护芯片60,该ESD保护芯片60采用稳压二极管和两个分别具有四个二极管串并联结构并联。为了说明ESD保护电路的作用,以LV1P0信号从LVDS接口20传输到LVDS数据处理芯片IC40为例子进行说明。所述LVDS接口20的LV1P0引脚、LV1N0引脚、LV1P1引脚及LV1N1引脚分别与所述LVDS数据处理芯片IC40相对应引脚连接,其中第一引脚LV1P0同时与所述ESD保护芯片60中的一个串并联支路相连,同样所述第一相对引脚LV1N0同时与所述ESD保护芯片60中的另一个串并联支路相连。
假设ESD保护芯片60内二极管特性相同,且正向导通时压降为UD+,反向截止压降为UD-,其中在该LVDS传输线路中,假设传输信号电压值U,则UD+<U<UD-(正常LVDS信号约为1.2v;UD-为3v;UD+为0.7v)。在正常状态下从LVDS接口20的LV1P0引脚输入正常的LVDS信号时,由于UD->U,ESD保护芯片60中二极管D0处于反向截止状态,该LVDS接口20LV1P0引脚上所加的电压不能通过二极管D0与LVDS接口20的GND引脚形成回路,故该LVDS接口20LV1P0引脚上所加的电压与所述LVDS数据处理芯片IC40的LV1P0引脚上电压相同,信号传输路线如图中所示,信号能够正常传输到LVDS数据处理芯片IC40的LV1P0引脚上。
如图3所示,当ESD保护芯片60在PCB板上焊接翻转时,从LVDS接口20的LV1P0引脚输入的正常LVDS信号,经由二极管D1后流入LVDS接口20的地线GND,此时LVDS数据处理芯片IC40中LV1P0引脚管压失真为该二极管D1的导通电压UD+,从而导致输出到显示屏显示区域的信号异常,造成画面的异常。另外,由于ESD保护芯片的正反标志难于辨别,因此单纯利用人眼很难将焊接异常品从正常品中分离出来,从而会导致不良产品外送到客户端,给客户造成损失,而且挑选焊接异常品需要花费大量人力、物力,造成生产成本的提高。
发明内容
本发明的目的在于提供一种ESD保护芯片数码显示检测系统,利用该系统检测LVDS接口上的三路信号,从而将ESD保护芯片焊接正常品与焊接异常品快速区别开来,并准确定位异常位置,节省人力、物力,降低生产成本,避免焊接异常品外流到客户端,给客户带来损失。
为实现上述目的,本发明提供一种ESD保护芯片数码显示检测系统,包括:LVDS接口、显示系统、第一、第二及第三数据线路、电源及电阻,所述第一、第二及第三数据线路一端与LVDS接口电性连接,另一端与显示系统电性连接,所述电阻一端电性连接显示系统,另一端与电源一端电性连接,所述电源另一端与LVDS接口电性连接,所述显示系统包括:逻辑运算模块及与逻辑运算模块电性连接的数码显示模块,所述逻辑运算模块与第一、第二及第三数据线路电性连接,当ESD保护芯片电性连接于该LVDS接口时,所述逻辑运算模块采集该第一、第二及第三数据线路上的信号,并经过逻辑运算后驱动该数码显示模块显示字符。
所述显示系统包括第一至第四引脚,所述第一数据线路一端电性连接于显示系统的第一引脚,所述第二数据线路一端电性连接于显示系统的第二引脚,所述第三数据线路一端电性连接于显示系统的第三引脚,所述电阻一端电性连接于显示系统的第四引脚。
所述LVDS接口包括:第五引脚、第五相对引脚、第六引脚及接地引脚,所述第一数据线路的另一端电性连接于第五引脚,所述第二数据线路另一端电性连接于第五相对引脚,所述第三数据线路另一端电性连接于第六引脚。
所述电源包括一正极及一负极,所述电阻另一端电性连接于电源的正极,所述电源的负极连接至LVDS接口的接地引脚,进而使得电源、电阻、显示系统、ESD保护芯片及LVDS接口形成一回路。
所述数码显示模块为七段共阳极数码显示管,所述数码显示模块包括:第七至第十三引脚,所述逻辑运算模块施加于所述第七至第十三引脚上的信号分别为A至G数字信号,所述数码显示模块根据该A至G数字信号显示不同字符。
所述七段共阳极数码显示管包括a至g七个显示字段,所述A至G数字信号对应a至g七个显示字段设置。
所述数码显示模块显示的字符包括:1、2、3及5,当第一数据线路单独导通时,该数码显示模块显示字符1,当第二数据线路单独导通时,该数码显示模块显示字符2,当第三数据线路单独导通时,该数码显示模块显示字符3,当多条数据线路同时导通时,该数码显示模块显示字符5。
所述逻辑运算模块具有若干数字非门、或门及与门逻辑运算单元,所述逻辑运算模块利用第一、第二、第三数据线路上的信号产生所述A至G数字信号。
所述逻辑运算模块采集第一数据线路上的信号得到的数字信号记为X,所述逻辑运算模块采集第二数据线路上的信号得到的数字信号记为Y,所述逻辑运算模块采集第三数据线路上的信号得到的数字信号记为Z,所述逻辑运算模块产生的A至G数字信号满足以下关系:
A = Y + Z &OverBar; ,
B = X &OverBar; Y &OverBar; Z + X &OverBar; Y Z &OverBar; + X Y &OverBar; Z &OverBar; &OverBar; ,
C = X + Z &OverBar; ,
D = Y + Z &OverBar; ,
E = X &OverBar; Y Z &OverBar; &OverBar; ,
F = XY + XZ + YZ &OverBar; ,
G = Y + Z &OverBar; .
所述数字信号由逻辑运算模块中的非门利用数字信号X运算产生,所述数字信号由逻辑运算模块中的非门利用数字信号Y运算产生,所述数字信号由逻辑运算模块中的非门利用数字信号Z运算产生。
本发明的有益效果:本发明ESD保护芯片数码显示检测系统通过检测LVDS接口引脚上的三路信号,并将采集得到的信号传送给逻辑运算模块进行逻辑运算,从而使得数码显示管中相应的二极管发光,进而显示不同的字符,通过数码显示管显示的字符来判断LVDS接口上的ESD保护芯片的焊接是否正常,可以将焊接正常品与焊接异常品快速区别开来,并准确定位异常位置,节省人力、物力,降低生产成本,避免焊接异常品外流到客户端,给客户带来损失,而且该系统可以根据需要拓展为多路检测系统。
为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容,请参阅以下有关本发明的详细说明与附图,然而附图仅提供参考与说明用,并非用来对本发明加以限制。
附图说明
下面结合附图,通过对本发明的具体实施方式详细描述,将使本发明的技术方案及其它有益效果显而易见。
附图中,
图1为现有TFT-LCD驱动原理结构示意图;
图2为现有LVDS线路ESD保护芯片正常接入电路示意图;
图3为现有LVDS线路ESD保护芯片反向异常接入电路示意图;
图4为本发明ESD保护芯片数码显示检测系统的电路示意图;
图5为本发明ESD保护芯片数码显示检测系统与ESD保护芯片的连接结构示意图;
图6为本发明ESD保护芯片数码显示检测系统中逻辑运算模块电路结构示意图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果,以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
请参阅图4及5,本发明提供一种ESD保护芯片数码显示检测系统,包括:LVDS接口20、显示系统30、一端与LVDS接口20电性连接,另一端与显示系统30电性连接的第一数据线路L1、第二数据线路L2及第三数据线路L3、电源50及一端与显示系统30电性连接,另一端与电源50电性连接的电阻R,所述电源50与LVDS接口20电性连接,所述显示系统30包括:逻辑运算模块301及与逻辑运算模块301电性连接的数码显示模块302,所述逻辑运算模块301与第一数据线路L1、第二数据线路L2及第三数据线路L3电性连接,当ESD保护芯片60电性连接于该LVDS接口20时,所述逻辑运算模块301采集该第一数据线路L1、第二数据线路L2及第三数据线路L3上的信号,并经过逻辑运算后驱动该数码显示模块302显示字符,用户可根据该数码显示模块302显示的字符可快速判断ESD保护芯片60的焊接是否正确,节省人力及物力,提高工作效率,降低生产成本。
所述显示系统30包括第一至第四引脚P1-P4,所述LVDS接口20包括第五引脚P51、第五相对引脚P52、第六引脚P6及接地引脚GND,所述电源50包括一正极及一负极。
所述第一数据线路L1一端电性连接于显示系统30的第一引脚P1,另一端电性连接于第五引脚P51;所述第二数据线路L2一端电性连接于显示系统30的第二引脚P2,另一端电性连接于第五相对引脚P52;所述第三数据线路L3一端电性连接于显示系统30的第三引脚P3,另一端电性连接于第六引脚P6;所述电阻R一端电性连接于显示系统30的第四引脚P4,另一端电性连接于电源50的正极;所述电源50的负极连接至LVDS接口20的接地引脚GND,进而使得电源50、电阻R、显示系统30、ESD保护芯片60及LVDS接口20形成一回路,所述电源50驱动显示系统30中的数码显示模块302显示字符。
所述逻辑运算模块301具有若干数字非门304、或门305及与门306逻辑运算单元,所述逻辑运算模块301利用第一至第三数据线路L1-L3上的信号产生A至G数字信号。
当ESD保护芯片60电性连接于该LVDS接口20时,该逻辑运算模块301采集该第一至第三数据线路(L1-L3)上的模拟信号为X′、Y′、Z′。
结合背景技术,当ESD保护芯片60焊接正常时,在检测时LVDS接口20的第五引脚P51上的电压为电源50的电压,在本实施例中,电源50的电压取值为1.2V;当ESD保护芯片60焊接异常时,该第五引脚P51上的电压为二极管的正向导通电压UD+=0.7V,因此我们可以在0.7V至电源50的电压之间取一标准电压作为逻辑运算模块中将模拟信号转换为数字信号的电压参考标准。在本较佳实施例中,优选标准电压为0.95V。下面以0.95V为标准电压进行说明:
当该第一数据线L1上电压大于0.95V时默认该线路正常工作在LVDS通信模式下,当该第一数据线L1上电压小于0.95V时默认该线路上ESD保护芯片60连接异常。
A)当X′<0.95V时,表示与该第一数据线L1连接的LVDS接口20第五引脚P51异常,该第一数据线路L1导通,逻辑运算模块301采集该第一数据线路L1上的模拟信号得到的数字信号为1;
当X′>0.95V时,表示与该第一数据线L1连接的LVDS接口20第五引脚P51正常,第一数据线路L1断开,逻辑运算模块301采集该第一数据线路L1上的模拟信号得到的数字信号为0。
所述该第一数据线路L1上的数字信号记为X,数字信号由逻辑运算模块301中经非门304对数字信号X做非运算产生。
B)当Y′<0.95V时,表示与该第二数据线L2连接的LVDS接口20第五相对引脚P52异常,该第二数据线路L2导通,逻辑运算模块301采集该第二数据线路上的的模拟信号得到数字信号为1;
当Y′>0.95V时,表示与该第二数据线L2连接的LVDS接口20第五相对引脚P52正常,第二数据线路L2断开,逻辑运算模块301采集该第二数据线路L2上的的模拟信号得到数字信号为0。
所述该第二数据线路L2上的数字信号记为Y,数字信号由逻辑运算模块301中经非门304对数字信号Y做非运算产生。
C)当Z′<0.95V时,表示与该第三数据线L3连接的LVDS接口20第六引脚P6异常,该第三数据线路L3导通,逻辑运算模块301采集该第三数据线路上L3的的模拟信号得到数字信号为1;
当Z′>0.95V时,表示与该第三数据线L3连接的LVDS接口20第六引脚P6正常,第三数据线路L3断开,逻辑运算模块301采集该第三数据线路L3上的的模拟信号得到数字信号为0。
所述该第三数据线路L3上的数字信号记为Z,数字信号由逻辑运算模块301中经非门304对数字信号Z做非运算产生。
所述逻辑运算模块301根据输入信号及以上定义产生的A至G数字信号满足以下关系:
A = Y + Z &OverBar; ,
B = X &OverBar; Y &OverBar; Z + X &OverBar; Y Z &OverBar; + X Y &OverBar; Z &OverBar; &OverBar; ,
C = X + Z &OverBar; ,
D = Y + Z &OverBar; ,
E = X &OverBar; Y Z &OverBar; &OverBar; ,
F = XY + XZ + YZ &OverBar; ,
G = Y + Z &OverBar; .
以数字信号B及C的产生为例说明与其逻辑运算输入模块的输入数字信号X、Y及Z的逻辑连接关系。
请结合参阅图6,首先分别将所述X、Y及Z信号并联一非门304逻辑运算单元,产生信号。
数字信号A的产生:由一个或门逻辑运算单元305将Y及Z信号进行或运算后,再通过一个非门逻辑运算单元304进行非运算,进而得到数字信号A;
数字信号B的产生:由一个与门逻辑运算单元将及Z信号进行与运算产生数字信号h,由一个与门逻辑运算单元306将Y及信号进行与运算产生数字信号i,由一个与门逻辑运算单元306将X、信号进行与运算产生数字信号j,然后将所述h、i及j信号接入一个或门逻辑运算单元305,再通过一个非门逻辑运算单元304进行非运算,进而得到数字信号B;
数字信号C的产生:由一个或门逻辑运算单元305将X及Z信号进行或运算后,再通过一个非门逻辑运算单元304进行非运算,进而得到数字信号C;
数字信号D的产生:由一个或门逻辑运算单元305将Y及Z信号进行或运算后,再通过一个非门逻辑运算单元304进行非运算,进而得到数字信号D;
数字信号E的产生:由一个与门逻辑运算单元将Y及信号进行与运算后,再通过一个非门逻辑运算单元304进行非运算,进而得到数字信号E;
数字信号F的产生:由一个与门逻辑运算单元将X及Y信号进行与运算产生数字信号k,由一个与门逻辑运算单元306将X及Z信号进行与运算产生数字信号l,由一个与门逻辑运算单元306将Y及Z信号进行与运算产生数字信号m,然后将所述k、l及m信号接入一个或门逻辑运算单元305,再通过一个非门逻辑运算单元304进行非运算,进而得到数字信号F;
数字信号G的产生:由一个或门逻辑运算单元将Y及Z信号进行或运算,再过一个非门逻辑运算单元304进行非运算,进而得到数字信号G。
所述数码显示模块302为七段共阳极数码显示管303,所述数码显示模块302包括:第七至第十三引脚,所述逻辑运算模块301施加于所述第七至第十三引脚上的信号分别为A至G数字信号,所述数码显示模块302根据该A至G数字信号显示不同字符。
所述数码显示管303具有七个显示字段a-g,A至G数字信号分别驱动所述a-g字段显示,由于该数码管是共阳极所以当所述A=0时显示字段a点亮,同样B=0时,显示字段b点亮,字段c、d、e、f、g同理。
所述数码显示模块302显示的字符包括:1、2、3及5,当第一数据线路L1单独导通时,该数码显示模块302显示字符1,当第二数据线路L2单独导通时,该数码显示模块302显示字符2,当第三数据线路L3单独导通时,该数码显示模块302显示字符3,当多条数据线路同时导通时(三条数据线路中任两条或三条数据线同时导通),该数码显示模块302显示字符5。
以第一数据线路L1单独导通为例说明该数码管显示字符1:当第一数据线路L1单独导通,即信号X=1、Y=0、Z=0、
则,
A = Y + Z &OverBar; = 1
B = X &OverBar; Y &OverBar; Z + X &OverBar; Y Z &OverBar; + X Y &OverBar; Z &OverBar; &OverBar; = 0
D = Y + Z &OverBar; = 0
D = Y + Z &OverBar; = 1
E = X &OverBar; Y Z &OverBar; &OverBar; = 1
F = XY + XZ + YZ &OverBar; = 1
G = Y + Z &OverBar; = 1
当B=0、C=0时,七段数码显示管303中对应b及c字段满足共阳极显示的基本条件与公共极形成回路,能够点亮,此时b及c字段共同显示出字符1。
本发明检测系统不仅限于三路检测,可以根据需要拓展为多路检测系统。
综上所述,本发明提供ESD保护芯片数码显示检测系统,通过检测LVDS接口引脚上的三路信号,并将采集得到的信号传送给逻辑运算模块进行逻辑运算,从而使得数码显示管中相应的二极管发光,进而显示不同的字符,通过数码显示管显示的字符来判断LVDS接口上的ESD保护芯片的焊接是否正常,可以将焊接正常品与焊接异常品快速区别开来,并准确定位异常位置,节省人力、物力,降低生产成本,避免焊接异常品外流到客户端,给客户带来损失,而且该系统可以根据需要拓展为多路检测系统。
以上所述,对于本领域的普通技术人员来说,可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形,而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (8)

1.一种ESD保护芯片数码显示检测系统,其特征在于,包括:LVDS接口、显示系统、第一、第二与第三数据线路、电源及电阻,所述第一、第二及第三数据线路一端与LVDS接口电性连接,另一端与显示系统电性连接,所述电阻一端电性连接显示系统,另一端与电源一端电性连接,所述电源另一端与LVDS接口电性连接,所述显示系统包括:逻辑运算模块及与逻辑运算模块电性连接的数码显示模块,所述逻辑运算模块与第一、第二、第三数据线路电性连接,当ESD保护芯片电性连接于该LVDS接口时,所述逻辑运算模块采集该第一、第二与第三数据线路上的信号,并经过逻辑运算后驱动该数码显示模块显示字符;
所述数码显示模块为七段共阳极数码显示管,所述数码显示模块包括:第七至第十三引脚,所述逻辑运算模块施加于所述第七至第十三引脚上的信号分别为A至G数字信号,所述数码显示模块根据该A至G数字信号显示不同字符;
所述逻辑运算模块具有若干数字非门、或门及与门逻辑运算单元,所述逻辑运算模块利用第一、第二、第三数据线路上的信号产生所述A至G数字信号。
2.如权利要求1所述的ESD保护芯片数码显示检测系统,其特征在于,所述显示系统包括第一至第四引脚,所述第一数据线路一端电性连接于显示系统的第一引脚,所述第二数据线路一端电性连接于显示系统的第二引脚,所述第三数据线路一端电性连接于显示系统的第三引脚,所述电阻一端电性连接于显示系统的第四引脚。
3.如权利要求2所述的ESD保护芯片数码显示检测系统,其特征在于,所述LVDS接口包括:第五引脚、第五相对引脚、第六引脚及接地引脚,所述第一数据线路的另一端电性连接于第五引脚,所述第二数据线路另一端电性连接于第五相对引脚,所述第三数据线路另一端电性连接于第六引脚。
4.如权利要求3所述的ESD保护芯片数码显示检测系统,其特征在于,所述电源包括一正极及一负极,所述电阻另一端电性连接于电源的正极,所述电源的负极连接至LVDS接口的接地引脚,进而使得电源、电阻、显示系统、ESD保护芯片及LVDS接口形成一回路。
5.如权利要求1所述的ESD保护芯片数码显示检测系统,其特征在于,所述七段共阳极数码显示管包括a至g七个显示字段,所述A至G数字信号对应a至g七个显示字段设置。
6.如权利要求1所述的ESD保护芯片数码显示检测系统,其特征在于,所述数码显示模块显示的字符包括:1、2、3及5,当第一数据线路单独导通时,该数码显示模块显示字符1,当第二数据线路单独导通时,该数码显示模块显示字符2,当第三数据线路单独导通时,该数码显示模块显示字符3,当多条数据线路同时导通时,该数码显示模块显示字符5。
7.如权利要求1所述的ESD保护芯片数码显示检测系统,其特征在于,所述逻辑运算模块采集第一数据线路上的信号得到的数字信号记为X,所述逻辑运算模块采集第二数据线路上的信号得到的数字信号记为Y,所述逻辑运算模块采集第三数据线路上的信号得到的数字信号记为Z,所述逻辑运算模块产生的A至G数字信号满足以下关系:
A = Y + Z &OverBar; ,
B = X &OverBar; Y &OverBar; Z + X &OverBar; Y Z &OverBar; + X Y &OverBar; Z &OverBar; &OverBar; ,
C = X + Z &OverBar; ,
D = Y + Z &OverBar; ,
E = X &OverBar; Y Z &OverBar; &OverBar; ,
F = XY + XZ + YZ &OverBar; ,
G = Y + Z &OverBar; .
8.如权利要求7所述的ESD保护芯片数码显示检测系统,其特征在于,所述数字信号X由逻辑运算模块中的非门利用数字信号X运算产生,所述数字信号Y由逻辑运算模块中的非门利用数字信号Y运算产生,所述数字信号Z由逻辑运算模块中的非门利用数字信号Z运算产生。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104749437B (zh) * 2013-12-25 2018-02-06 上海华虹宏力半导体制造有限公司 版图上io间esd电阻的检查方法
CN104008743B (zh) * 2014-05-28 2017-01-11 深圳市华星光电技术有限公司 一种静电放电保护芯片及驱动电路
CN105118412A (zh) * 2015-09-29 2015-12-02 京东方科技集团股份有限公司 Dvi信号转换装置和dvi信号输入测试板卡

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1124874A (zh) * 1995-07-31 1996-06-19 北京顺城电子技术公司 程控高压开关综合保护装置
US7250660B1 (en) * 2004-07-14 2007-07-31 Altera Corporation ESD protection that supports LVDS and OCT
CN201191197Y (zh) * 2008-03-20 2009-02-04 立碁电子工业股份有限公司 警示装置
CN201226551Y (zh) * 2008-06-26 2009-04-22 中国移动通信集团湖南有限公司 蓄电池防盗装置、基站及监控系统
CN101529263A (zh) * 2006-10-20 2009-09-09 夏普株式会社 静电放电耐受能力评价装置和静电放电耐受能力评价方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5376879A (en) * 1992-11-03 1994-12-27 Qrp, Incorporated Method and apparatus for evaluating electrostatic discharge conditions
US6414600B1 (en) * 2000-11-06 2002-07-02 Advanced Micro Devices, Inc. Ground check system for delta-flex test handler
KR100528697B1 (ko) * 2003-05-06 2005-11-16 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치의 검사방법 및 장치
US7683607B2 (en) * 2007-09-25 2010-03-23 Himax Display, Inc. Connection testing apparatus and method and chip using the same
JP5189007B2 (ja) * 2009-02-17 2013-04-24 株式会社ジャパンディスプレイイースト 表示装置およびその試験方法
CN102830323B (zh) * 2012-08-09 2014-10-22 深圳市华星光电技术有限公司 一种用于检测静电放电保护芯片焊接异常的装置及方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1124874A (zh) * 1995-07-31 1996-06-19 北京顺城电子技术公司 程控高压开关综合保护装置
US7250660B1 (en) * 2004-07-14 2007-07-31 Altera Corporation ESD protection that supports LVDS and OCT
CN101529263A (zh) * 2006-10-20 2009-09-09 夏普株式会社 静电放电耐受能力评价装置和静电放电耐受能力评价方法
CN201191197Y (zh) * 2008-03-20 2009-02-04 立碁电子工业股份有限公司 警示装置
CN201226551Y (zh) * 2008-06-26 2009-04-22 中国移动通信集团湖南有限公司 蓄电池防盗装置、基站及监控系统

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