CN209102856U - 测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种测试装置，包括测试座和测试电路板，所述测试座用于与一芯片器件连接，所述测试座上设置有若干排排针，所述排针的针脚与所述测试电路板连接；所述测试电路板用于测试所述芯片器件是否为良品，所述测试电路板上设置有用于判断所述芯片器件的I/O端口是否正常的发光二极管。该测试装置通过测试座上的排针将芯片器件的端口与测试电路板连接，采用测试电路板一次对芯片器件所有端口进行测试，并通过测试电路板上的发光二极管是否正常工作来判断芯片器件的端口是否正常，从而判断芯片器件为良品或不良品；采用该测试装置测试电路，大大减少测试人员的工作量，提高测试工作效率。

Description

测试装置

技术领域

本实用新型涉及测试手机的电路板技术领域，具体地，涉及一种测试装置。

背景技术

手机电路板上的芯片器件包含众多的I O端口，每个端口的功能都不一样，但是有个共性，就是输入端都是处于高阻状态很容易被静电击穿，芯片器件造成报废。因此芯片器件在生产时都会在端口与地之间内置一颗二极管，从而保护芯片器件的端口不被静电击穿，现有测试芯片器件的装置是通过测量这个端口对地之间的二极体值(端口与地之间的阻值或者是端口对地测数值叫做二极体值)判断芯片器件的端口是否被损坏。

现有的手机电路板上的电路密集，其芯片器件的端口繁多，采用现有的二极体值测试方式一个一个对芯片器件端口进行测试，从而判断芯片器件是否为良品，测试工作量大，测试效率低。

因此，需提供一种测试装置，以解决现有技术的不足。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型提供了一种测试装置，该测试装置将电路的端口通过排针与测试电路板连接，采用测试电路板上的发光二极管是否正常工作来判断电路端口是否正常，测试工作效率。

本实用新型的技术方案如下：

一种测试装置，包括测试座和测试电路板，

所述测试座用于与一芯片器件连接，所述测试座上设置有若干排排针，所述排针的针脚与所述测试电路板连接；

所述测试电路板用于测试所述芯片器件是否为良品，所述测试电路板上设置有用于判断所述芯片器件的I/O端口是否正常的发光二极管。

优选地，所述测试电路板上设置有若干个与所述排针的针脚连接的测试连接接口，每个所述测试连接接口上串联有一个所述发光二极管。其中，所述排针与所述测试连接接口连接将所述芯片器件与所述测试连接接口连接一起。

进一步地，若干个所述发光二极管并联连接。

进一步地，所述测试电路板上还设置有电源，所述电源用于给所述发光二极管供电。其中，所述电源为电池。

进一步地，所述电源的正极与所述测试连接接口的一端连接，另一端的所述测试连接接口与所述发光二极管的阳极连接，所述发光二极管的阴极串联一电阻后接地。

优选地，所述芯片器件端口的针脚直接插接在所述排针的线端接口上将所述芯片器件连接在所述测试座上。

优选地，所述排针的线端接口通过一连接线与所述芯片器件的端口连接将所述芯片器件连接在所述测试座上。

本实用新型的有益效果为：与现有技术相比，该测试装置通过测试座上的排针将芯片器件的端口与测试电路板连接，采用测试电路板一次对芯片器件所有端口进行测试，并通过测试电路板上的发光二极管是否正常工作来判断芯片器件的端口是否正常，从而判断芯片器件为良品或不良品；采用该测试装置测试电路，大大减少测试人员的工作量，提高测试工作效率。

附图说明：

图1为本实用新型所述测试装置的测试电路板电路原理图。

图2为本实用新型所述测试装置的测试电路板结构示意图。

图3为本实用新型所述测试装置的结构框架图。

具体实施方式

为了使本实用新型的实用新型目的，技术方案及技术效果更加清楚明白，下面结合具体实施方式对本实用新型做进一步的说明。应理解，此处所描述的具体实施例，仅用于解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

参照图1，本实用新型的测试装置，包括测试座1和测试电路板 2。

测试座1主要用于与芯片器件连接。具体地，测试座1上设置有若干排排针11，排针11的针脚与测试电路板2连接，排针11的线端接口与芯片器件连接。

其中一个实施例中，芯片器件端口的针脚直接插接在排针11的线端接口上将芯片器件与测试座1连接。

另一个实施例中，排针11的线端接口通过一连接线(图未标) 与芯片器件的端口连接将芯片器件与测试座1连接。

参照图2，测试电路板2主要用于测试芯片器件是否为良品。具体地，测试电路板2上设置有若干个测试连接接口21，每个测试连接接口21上串联有发光二极管22，发光二极管22用于判断测试芯片器件的I/O端口是否正常；排针11与测试连接接口21连接将芯片器件与测试连接接口21连接一起。其中，两两发光二极管22之间并联连接。在本实施例中，发光二极管22优选为额定电流是20mA、额定电压为3V的二极管。

参照图1，测试电路板2上还设置有电源23，电源23主要用于给发光二极管22供电，电源23优选为电池，并且为型号为2023的锂锰纽扣电池。具体地，电源的正极与测试连接接口21的一端连接，另一端的测试连接接口21与发光二极管22的阳极连接，发光二极管 22的阴极串联一电阻R1后接地。

参照图1和图3，本实用新型的测试装置的工作原理是：当芯片器件的端口与测试连接接口21连接，当芯片器件的端口为开路状态时，电源23与发光二极管22断开连接，测试装置中电源23不给发光二极管22供电，发光二极管22不工作，即是灯不亮，则可通过发光二极管22灯不亮判断芯片器件该端口是断路的，该芯片器件是损坏的即是不良品；当芯片器件的端口为短路状态时，电源23经过芯片器件的端口流入发光二极管22的电流大于发光二极管22正常工作的电流(20mA)，则发光二极管22工作并且发光二极管22的灯亮度明显正常工作时的亮度，则通过发光二极管灯亮度异常可判断芯片器件该端口是短路的，该芯片器件是损坏的即是不良品；当芯片器件为良品，电源23与发光二极管22连接，测试装置中电源23给发光二极管22供电，发光二极管22工作，即是发光二极管22的灯亮，则可通过发光二极管22灯亮来判断芯片器件的端口是正常的，该芯片器件是没有被损坏的即是良品。具体地，采用该测试装置可以一起测试芯片器件所有的端口，将芯片器件所有的端口均与测试装置的测试连接接口21连接，并且将芯片器件的端口通过测试连接接口21与发光二极管22连接，当发光二极管22工作，并且芯片器件的每个端口连接的发光二极管22发光亮度一致，则芯片器件的端口均正常，可判断该芯片器件为良品；发光二极管22工作，并且芯片器件上的端口连接的发光二极管22发光亮度不一致，有些发光二极管22的发光亮度特别亮或者有些发光二极管22的灯不亮，则芯片器件上的有些端口已被损坏，可判断该芯片器件为不良品。

本实用新型的测试装置通过测试座上的排针将芯片器件的端口与测试电路板连接，采用测试电路板一次对芯片器件所有端口进行测试，并通过测试电路板上的发光二极管是否正常工作来判断芯片器件的端口是否正常，从而判断芯片器件为良品或不良品；采用该测试装置测试电路，大大减少测试人员的工作量，提高测试工作效率。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，其架构形式能够灵活多变，可以派生系列产品。只是做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型由所提交的权利要求书确定的专利保护范围。

Claims (8)

1.一种测试装置，包括测试座和测试电路板，其特征在于，

所述测试座用于与一芯片器件连接，所述测试座上设置有若干排排针，所述排针的针脚与所述测试电路板连接；

所述测试电路板用于测试所述芯片器件是否为良品，所述测试电路板上设置有用于判断所述芯片器件的I/O端口是否正常的发光二极管。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试电路板上设置有若干个与所述排针的针脚连接的测试连接接口，每个所述测试连接接口上串联有一个所述发光二极管。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，若干个所述发光二极管并联连接。

4.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述测试电路板上还设置有电源，所述电源用于给所述发光二极管供电。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述电源为电池。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述电源的正极与所述测试连接接口的一端连接，另一端的所述测试连接接口与所述发光二极管的阳极连接，所述发光二极管的阴极串联一电阻后接地。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述芯片器件端口的针脚直接插接在所述排针的线端接口上将所述芯片器件连接在所述测试座上。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述排针的线端接口通过一连接线与所述芯片器件的端口连接将所述芯片器件连接在所述测试座上。