CN104006949A - 一种透过率检测设备 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种透过率检测设备，该设备设置有用于提供支撑的框架支杆，该框架支杆由低到高支撑有发光件支撑架、待测件支撑架和收光件支撑架；其中，发光件支撑架用于放置能够发光的发光件；待测件支撑架用于固定触摸传感器；收光件支撑架上设置有面向待测件支撑架的收光件。本发明可使发光件、触摸传感器以及收光件的位置相对固定，因此不会像现有技术中的手动测量那样极易出现变动，因此在这种稳定的测量环境下能够得到稳定、准确的测量值，进而能够得到触摸传感器的稳定、准确的透过率，相对于现有技术明显提高了针对触摸传感器透过率的测量准确性；并且，本发明的透过率检测设备还具有检测触摸传感器的不良等其它功能，实现了检测多元化。

Description

一种透过率检测设备
技术领域
本发明涉及液晶显示领域，具体涉及一种透过率检测设备。
背景技术
目前，在测试液晶显示器中的触摸传感器的透过率时，通常采用CA-210设备进行手动测量，测量过程中一般随机选定触摸传感器上的5个点进行测量。上述手动测量方式无法保证CA-210设备与触摸传感器之间的位置、距离的一致性，因此测量准确性差。
发明内容
有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种透过率检测设备，提高针对触摸传感器透过率的测量准确性。
为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：
一种透过率检测设备，该设备设置有用于提供支撑的框架支杆，该框架支杆由低到高支撑有发光件支撑架、待测件支撑架和收光件支撑架；其中，发光件支撑架用于放置能够发光的发光件；待测件支撑架用于固定触摸传感器；收光件支撑架上设置有面向待测件支撑架的收光件。
在待测件支撑架上还设置有用于调整待测件支撑架在框架支杆上的高度的待测件高度调节旋钮；和/或，
在收光件支撑架上还设置有用于调整收光件支撑架在框架支杆上的高度的收光件高度调节旋钮。
在框架支杆上待测件支撑架与发光件支撑架之间的位置上，还设置有标尺。
在收光件支撑架上还设置有用于控制收光件相对于触摸传感器在水平面内移动的水平坐标调节器；和/或，
在待测件支撑架上还设置有用于控制触摸传感器相对于收光件在水平面内移动的水平坐标调节器。
水平坐标调节器包括X向坐标调节件和Y向坐标调节件。
还设置有覆盖X向坐标调节件移动位置的标尺；和/或，
还设置有覆盖Y向坐标调节件移动位置的标尺。
触摸传感器通过固定夹固定于待测件支撑架上。
还在框架支杆上设置有套，该套通过显微镜连杆与显微镜相连；
所述套能够在框架支杆上转动以及上下滑动，显微镜连杆是能够轴向旋转的可伸缩连杆。
还在框架支杆上设置有套，该套通过探针连杆与探针相连；所述套能够在框架支杆上转动以及上下滑动，探针连杆是能够轴向旋转的可伸缩连杆。
还在待测件支撑架上设置有与触摸传感器相连的用于将触控信号导入触摸传感器的柔性线路板FPC。
本发明的透过率检测设备，可使发光件、触摸传感器以及收光件的位置相对固定，因此不会像现有技术中的手动测量那样极易出现变动，因此在这种稳定的测量环境下能够得到稳定、准确的测量值，进而能够得到触摸传感器的稳定、准确的透过率，相对于现有技术明显提高了针对触摸传感器透过率的测量准确性。并且，本发明的透过率检测设备还具有检测触摸传感器的不良等其它功能，实现了检测多元化。
附图说明
图1为本发明实施例的透过率检测设备结构图；
图2为本发明实施例的透过率检测设备的俯视位置示意图；
图3a至图3c为图2中不同的俯视位置所对应的不同俯视图；
附图标记说明：
1、框架支杆；2、收光件支撑架；3、待测件支撑架；4、发光件支撑架；5、收光件X向坐标调节件；6、收光件高度调节旋钮；7、收光件；8、光传输筒；9、收光件Y向坐标调节件；10、待测件高度调节旋钮；11、固定夹；12、柔性线路板（FPC）；13、LCD显示模组（LCM）；14、标尺；15、套；16、显微镜连杆；17、显微镜；18、套；19、探针连杆；20、探针；21、线路端口；22、FPC调节器；23、水平仪；24、触摸传感器；25、标尺。
具体实施方式
本发明的透过率检测设备可以设置成如图1所示的结构。图1中，框架支杆1由低到高能够固定支撑水平的发光件支撑架4、待测件支撑架3和收光件支撑架2。其中，发光件支撑架4上可以放置能够发光的LCM 13等发光件；待测件支撑架3上设置有一个或一个以上固定夹11，固定夹11能够将触摸传感器等待测件水平固定在待测件支撑架3上；收光件支撑架2上设置有面向待测件支撑架3的收光件7，收光件7与待测件支撑架3之间设置有与收光件7紧密连接并且面向待测件支撑架3的光传输筒8。收光件7与光传输筒8可以是一个整体。收光件7可以是CA-210设备等用于进行透过率检测的设备。
假设待测件支撑架3上固定的待测件为触摸传感器，LCM 13发出的光在透过待测件支撑架3上固定的触摸传感器后会被收光件7通过光传输筒8接收，之后可以根据由收光件7接收的光量以及LCM 13最初发出的光量确定所述触摸传感器的透过率。
可见，由于框架支杆1能够固定支撑发光件支撑架4、待测件支撑架3和收光件支撑架2，因此在最初设计时就可以设置发光件支撑架4与待测件支撑架3之间，以及待测件支撑架3与收光件支撑架2之间的距离，以使得发光件支撑架4上的LCM 13与待测件支撑架3上的触摸传感器之间具备合适的光传输距离；还使得待测件支撑架3上的触摸传感器与收光件支撑架2上的光传输筒8之间的距离足够近，以保证LCM 13发出的光在透过触摸传感器后能够被收光件7通过光传输筒8有效接收。在上述情况下，LCM 13、触摸传感器以及收光件7的位置都是固定的，因此不会像现有技术中的手动测量那样极易出现变动，因此在这种稳定的测量环境下能够得到稳定、准确的测量值，进而能够得到触摸传感器的稳定、准确的透过率，相对于现有技术明显提高了针对触摸传感器透过率的测量准确性。
在实际应用中，为了增加本发明透过率检测设备的操作灵活性，可以在待测件支撑架3上设置待测件高度调节旋钮10，通过该待测件高度调节旋钮10调整待测件支撑架3在框架支杆1上的高度，使得待测件支撑架3上固定的触摸传感器与发光件支撑架4上的LCM 13之间的距离可调。另外，还可以在框架支杆1上待测件支撑架3与发光件支撑架4之间的位置设置标尺14，以便将待测件支撑架3上固定的触摸传感器与发光件支撑架4上的LCM 13之间的距离精确量化。
还可以在收光件支撑架2上设置收光件高度调节旋钮6，通过该收光件高度调节旋钮6调整收光件支撑架2在框架支杆1上的高度，使得收光件支撑架2上的光传输筒8与待测件支撑架3上固定的触摸传感器之间的距离可调。
为了使透过率检测结果更准确，可以对触摸传感器进行多点测量，这时可以在收光件支撑架2上设置水平坐标调节器，以使得收光件7能够相对于固定夹11所固定的触摸传感器在水平面内移动。水平坐标调节器的实现方式很多，只要能够调节收光件7在水平面的坐标即可。这样，收光件7就能够在待测件支撑架3上固定的触摸传感器上进行水平面内的移动，因此能够接收触摸传感器上不同位置所透过的光，实现对触摸传感器的多点测量。
具体而言，水平坐标调节器可以包括设置在收光件支撑架2中的收光件X向坐标调节件5和收光件Y向坐标调节件9；其中，收光件X向坐标调节件5能够调节收光件7在X轴上的坐标，收光件Y向坐标调节件9能够调节收光件7在Y轴上的坐标。还可以在收光件支撑架2上设置标尺25，以便将水平坐标调节器的移动位置量化，比如：设置覆盖收光件X向坐标调节件5移动位置的标尺25，以便将收光件X向坐标调节件5的移动位置量化；和/或，设置覆盖收光件Y向坐标调节件9移动位置的标尺25，以便将收光件Y向坐标调节件9的移动位置量化。
需要说明的是，可以不在收光件支撑架2上设置上述的水平坐标调节器，而是应用同样原理在待测件支撑架3上设置水平坐标调节器，用于调节固定夹11在水平面的坐标，以使得固定夹11所固定的触摸传感器能够相对于收光件7在水平面内移动；当然，也可以在收光件支撑架2以及待测件支撑架3上均设置水平坐标调节器。
为了实现本发明透过率检测设备的多功能性，还可以在框架支杆1上设置套15，该套15通过显微镜连杆16与显微镜17相连。套15能够在框架支杆1上转动以及上下滑动，显微镜连杆16是能够轴向旋转的可伸缩连杆。这样，显微镜17就可以通过套15的转动以及上下滑动移动到待测件支撑架3上固定的触摸传感器的上方，甚至可以通过显微镜连杆16的旋转以及伸缩进行位置微调，操作人员可以通过显微镜17观察触摸传感器，以检测触摸传感器的不良。
另外，还可以在框架支杆1上设置套18，该套18通过探针连杆19与探针20相连。套18能够在框架支杆1上转动以及上下滑动，探针连杆19是能够轴向旋转的可伸缩连杆。这样，探针20就可以通过套18的转动以及上下滑动移动到待测件支撑架3上固定的触摸传感器的上方，甚至可以通过探针连杆19的旋转以及伸缩进行位置微调，操作人员可以通过探针20探测触摸传感器的Pin位置。
再有，还可以在待测件支撑架3上设置与触摸传感器相连的FPC 12，由该FPC 12将触控信号导入触摸传感器，导入了触控信号的触摸传感器很可能与发光件支撑架4上放置的LCM 13之间存在贴合信号干扰，操作人员可以通过显微镜17、探针20等器件检测所述贴合信号干扰。为了支持触控信号的导入以及有可能需要的其它信号处理器件，可以在框架支杆1上设置用于走线的线路端口21，以支持信号传输。还可以在框架支杆1等位置上设置FPC调节器，用于对FPC 12的信号量等具体参数以及应用进行控制。
还可以在发光件支撑架4、待测件支撑架3、收光件支撑架2中至少之一上放置水平仪23。
为了使上述描述更清楚，基于图2所示的不同透过率检测设备的俯视位置，提供相应的俯视图：图3a至图3c。图3a至图3c中的器件的相关描述已在上述内容中提供，在此不再赘述。
结合以上描述可知，本发明的透过率检测设备，可使发光件、触摸传感器以及收光件的位置相对固定，因此不会像现有技术中的手动测量那样极易出现变动，因此在这种稳定的测量环境下能够得到稳定、准确的测量值，进而能够得到触摸传感器的稳定、准确的透过率，相对于现有技术明显提高了针对触摸传感器透过率的测量准确性；并且，本发明的透过率检测设备还具有检测触摸传感器的不良等其它功能，实现了检测多元化。
以上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种透过率检测设备，其特征在于，该设备设置有用于提供支撑的框架支杆，该框架支杆由低到高支撑有发光件支撑架、待测件支撑架和收光件支撑架；其中，发光件支撑架用于放置能够发光的发光件；待测件支撑架用于固定触摸传感器；收光件支撑架上设置有面向待测件支撑架的收光件。
2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，
在待测件支撑架上还设置有用于调整待测件支撑架在框架支杆上的高度的待测件高度调节旋钮；和/或，
在收光件支撑架上还设置有用于调整收光件支撑架在框架支杆上的高度的收光件高度调节旋钮。
3.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，在框架支杆上待测件支撑架与发光件支撑架之间的位置上，还设置有标尺。
4.根据权利要求1至3任一项所述的设备，其特征在于，
在收光件支撑架上还设置有用于控制收光件相对于触摸传感器在水平面内移动的水平坐标调节器；和/或，
在待测件支撑架上还设置有用于控制触摸传感器相对于收光件在水平面内移动的水平坐标调节器。
5.根据权利要求4所述的设备，其特征在于，水平坐标调节器包括X向坐标调节件和Y向坐标调节件。
6.根据权利要求5所述的设备，其特征在于，
还设置有覆盖X向坐标调节件移动位置的标尺；和/或，
还设置有覆盖Y向坐标调节件移动位置的标尺。
7.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，触摸传感器通过固定夹固定于待测件支撑架上。
8.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，还在框架支杆上设置有套，该套通过显微镜连杆与显微镜相连；
所述套能够在框架支杆上转动以及上下滑动，显微镜连杆是能够轴向旋转的可伸缩连杆。
9.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，还在框架支杆上设置有套，该套通过探针连杆与探针相连；所述套能够在框架支杆上转动以及上下滑动，探针连杆是能够轴向旋转的可伸缩连杆。
10.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，还在待测件支撑架上设置有与触摸传感器相连的用于将触控信号导入触摸传感器的柔性线路板FPC。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107014589A (zh) * 2017-03-01 2017-08-04 中国科学院光电研究院 一种光学测量台架装置
CN111896226A (zh) * 2019-05-06 2020-11-06 深圳市杰普特光电股份有限公司 透过率检测系统及其控制方法
CN112525864A (zh) * 2020-10-14 2021-03-19 温州市质量技术检测科学研究院 一种用于塑料激光透射率检测的调节装置

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20170118384A1 (en) * 2015-10-26 2017-04-27 National Applied Research Laboratories Adaptive lighting device for optical inspection
CN107389316B (zh) * 2017-07-19 2020-11-10 京东方科技集团股份有限公司 显示面板测试装置和显示面板测试方法
CN109445141B (zh) * 2018-12-27 2023-11-24 重庆汉朗精工科技有限公司 用于多稳态液晶调光玻璃透光性检测装置
CN109738360A (zh) * 2019-01-28 2019-05-10 广州玉科仪器有限公司 显微透过率测试仪及显微透过率测试支架
CN110095439B (zh) * 2019-06-06 2021-08-06 东莞市听雨轩服装有限公司 一种面料透光检测系统及检测方法
CN112525863A (zh) * 2020-10-13 2021-03-19 温州市质量技术检测科学研究院 一种塑料激光透射率检测装备

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5617213A (en) * 1995-03-22 1997-04-01 Shih; Sun-Fu Spot microdensitometer for spectral density analysis of film
US20050035311A1 (en) * 2003-05-16 2005-02-17 Jin Asakawa Inspection apparatus
TW200604644A (en) * 2004-05-14 2006-02-01 Photon Dynamics Inc Improved inspection of TFT LCD panels using on-demand automated optical inspection sub-system
US20090215347A1 (en) * 2008-02-21 2009-08-27 Chae-Hyun Lee Test apparatus for liquid crystal display device and test method using the same
CN102213848A (zh) * 2010-04-09 2011-10-12 北京京东方光电科技有限公司 液晶面板透过率的测量方法及系统
CN202024963U (zh) * 2011-01-21 2011-11-02 苏州汉朗光电有限公司 近晶态液晶显示屏用光透过率测量装置
CN203132817U (zh) * 2013-02-26 2013-08-14 北京京东方光电科技有限公司 一种透过率检测设备

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2267961A (en) * 1938-10-22 1941-12-30 American Optical Corp Means of testing lenses
US3758217A (en) * 1971-10-20 1973-09-11 P Stokstad Optical bench and components therefor
JPH06225676A (ja) * 1993-02-05 1994-08-16 Earth Chem Corp Ltd 屋内小動物の確認方法及びその装置
CA2113295A1 (en) * 1994-01-12 1995-07-13 Roger Dore Lens markings viewer
CN2251136Y (zh) * 1994-05-27 1997-04-02 地质矿产部宜昌地质矿产研究所 微束光源数控透射率测量仪
US5801822A (en) * 1997-02-06 1998-09-01 Pbh, Inc. Ophthalmic lens inspection system
DE19714221A1 (de) * 1997-04-07 1998-10-08 Zeiss Carl Fa Konfokales Mikroskop mit einem motorischen Scanningtisch
WO2011039900A1 (ja) * 2009-09-29 2011-04-07 シャープ株式会社 欠陥検査装置、欠陥検査方法
CN201765108U (zh) * 2010-05-25 2011-03-16 冠捷显示科技（厦门）有限公司 新型透光率检测仪
KR101914231B1 (ko) * 2012-05-30 2018-11-02 삼성디스플레이 주식회사 주사 전자 현미경을 이용한 검사 시스템

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5617213A (en) * 1995-03-22 1997-04-01 Shih; Sun-Fu Spot microdensitometer for spectral density analysis of film
US20050035311A1 (en) * 2003-05-16 2005-02-17 Jin Asakawa Inspection apparatus
TW200604644A (en) * 2004-05-14 2006-02-01 Photon Dynamics Inc Improved inspection of TFT LCD panels using on-demand automated optical inspection sub-system
US20090215347A1 (en) * 2008-02-21 2009-08-27 Chae-Hyun Lee Test apparatus for liquid crystal display device and test method using the same
CN102213848A (zh) * 2010-04-09 2011-10-12 北京京东方光电科技有限公司 液晶面板透过率的测量方法及系统
CN202024963U (zh) * 2011-01-21 2011-11-02 苏州汉朗光电有限公司 近晶态液晶显示屏用光透过率测量装置
CN203132817U (zh) * 2013-02-26 2013-08-14 北京京东方光电科技有限公司 一种透过率检测设备

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107014589A (zh) * 2017-03-01 2017-08-04 中国科学院光电研究院 一种光学测量台架装置
CN107014589B (zh) * 2017-03-01 2019-07-09 中国科学院光电研究院 一种光学测量台架装置
CN111896226A (zh) * 2019-05-06 2020-11-06 深圳市杰普特光电股份有限公司 透过率检测系统及其控制方法
CN112525864A (zh) * 2020-10-14 2021-03-19 温州市质量技术检测科学研究院 一种用于塑料激光透射率检测的调节装置
CN112525864B (zh) * 2020-10-14 2023-09-26 温州市质量技术检测科学研究院 一种用于塑料激光透射率检测的调节装置

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