CN109738360A - 显微透过率测试仪及显微透过率测试支架 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种显微透过率测试仪及显微透过率测试支架,显微透过率测试仪包括显微透过率测试支架、光谱仪、相机、控制器及用于发射测试光的测试光源,显微透过率测试支架包括安装架、产品台、背景光源及光接收件。安装架形成有用于安装测试光源的安装口,产品台开设有通光孔,背景光源用于发射背景光,背景光源与光接收件均位于产品台背向于安装口的一侧,背景光源能够相对于产品台移动,以使背景光通过通光孔,光接收件能够相对于产品台移动,以使光接收件接收通过通光孔的测试光。光谱仪与光接收件连接,相机朝向通光孔,控制器与光谱仪及相机电连接。上述显微透过率测试仪及显微透过率测试支架可使产品较容易地对准通光孔。
Description
技术领域
本发明涉及透过率测试技术领域,特别是涉及一种显微透过率测试仪及显微透过率测试支架。
背景技术
显微透过率测试仪是在传统光谱分析基础上发展起来的一种采集空间微米区域光信号的分析装置。对于许多产品,透过率是判别是否合格的重要指标,像手机盖板的IR(Infrared Radiation,红外线)孔、遥控器等产品,对光线的透过率要求非常严格。对于这种小孔径或者异形小材料的透过率测试,由于尺寸较小,通常采用显微透过率测试仪进行测量。
显微透过率测试仪包括显微透过率测试支架及设置于显微透过率测试支架上的测试光源,显微透过率测试支架上开设有通光孔,测试光源用于发射测试光。测试前,需要将产品放置于显微透过率测试支架上,并使产品对准通光孔,以使测试光能够经由产品通过通光孔。在传统技术中,由于产品的尺寸通常相对较小,存在产品不易对准通光孔的问题。
发明内容
基于此,有必要针对上述问题,提供一种显微透过率测试仪及显微透过率测试支架,旨在使产品较容易地对准通光孔。
一种显微透过率测试支架,包括:
安装架,形成有安装口,所述安装口用于安装发射测试光的测试光源;
产品台,开设有通光孔;
背景光源,用于发射背景光,所述背景光源位于所述产品台背向于所述安装口的一侧,所述背景光源能够相对于所述产品台移动,以使所述背景光通过所述通光孔;及
光接收件,位于所述产品台背向于所述安装口的一侧,所述光接收件能够相对于所述产品台移动,以使所述光接收件接收通过所述通光孔的所述测试光。
上述显微透过率测试支架至少具有以下优点:
测试前,将测试光源安装于安装口处,使背景光源相对于产品台移动,以使背景光通过通光孔,在背景光的作用下,测试人员可较容易地判断通光孔及产品的位置,以使产品较容易地对准通光孔。测试光源发射测试光,将背景光源移动至初始位置,使光接收件相对于产品台移动,以使光接收件接收通过通光孔的测试光。测试时,将产品放置于产品台上,光接收件接收通过产品与通光孔的测试光,将光接收件接收到的测试光导出,以便于测试产品的透过率。
下面进一步对技术方案进行说明:
在其中一个实施例中,所述显微透过率测试支架还包括遮光筒,所述遮光筒罩设于所述背景光源外,所述遮光筒靠近所述产品台的一端上开设有出光口。
在其中一个实施例中,所述光接收件包括积分球,所述积分球上开设有用于使所述测试光进入的收光口,所述积分球用于与光谱仪连接。
在其中一个实施例中,所述显微透过率测试支架还包括底座及可移动地设置于所述底座上的移动平台,所述背景光源及所述光接收件均设置于所述移动平台上。
在其中一个实施例中,所述显微透过率测试支架还包括设置于所述底座上的限位件,所述限位件包括分别位于所述移动平台相对两侧的第一限位部及第二限位部,所述第一限位部及所述第二限位部均用于与所述移动平台相抵,以对所述移动平台限位。
在其中一个实施例中,所述显微透过率测试支架还包括第一磁吸件及第二磁吸件,所述第一磁吸件及所述第二磁吸件均用于吸合所述移动平台,所述第一磁吸件设置于所述第一限位部上,所述第二磁吸件设置于所述第二限位部上。
在其中一个实施例中,所述安装架包括导光筒及物镜,所述物镜设置于所述导光筒的一端上,所述导光筒的另一端形成所述安装口。
在其中一个实施例中,所述显微透过率测试支架还包括遮光套,所述遮光套套设于所述物镜外,所述遮光套至所述产品台的距离小于所述物镜至所述产品台的距离。
在其中一个实施例中,所述导光筒包括外筒及内筒,所述内筒的一端伸入所述外筒内,所述内筒伸入所述外筒内的长度可改变。
一种显微透过率测试仪,包括:
如上述所述的显微透过率测试支架;
测试光源,安装于所述安装口处;
光谱仪,与所述光接收件连接;
相机,设置于所述安装架上,所述相机朝向所述通光孔;及
控制器,与所述光谱仪及所述相机电连接。
上述显微透过率测试仪至少具有以下优点:
测试前,将测试光源安装于安装口处,将相机设置于安装架上,并使相机朝向通光孔,以便于利用相机拍摄通光孔处,从而便于测试人员判断测产品是否已经对准通光孔。将光谱仪与光接收件连接,以便于利用光谱仪测试产品的透过率,使光谱仪及相机均与控制器电连接,以便于通过控制器控制光谱与及相机。
测试光源发射测试光,使背景光源相对于产品台移动,以使背景光通过通光孔,在背景光的作用下,测试人员可较容易地判断通光孔及产品的位置,以使产品较容易地对准通光孔。参考相机所拍摄的画面,判断产品是否已经对准通光孔。测试光源发射测试光,将背景光源移动至初始位置,使光接收件相对于产品台移动,以使光接收件接收通过通光孔的测试光。
测试时,将产品放置于产品台上,光接收件接收通过产品与通光孔的测试光,将光接收件接收到的测试光导出至光谱仪,以便于测试产品的透过率。测试过程中,可根据产品的不同,利用控制器设置相机与光谱仪的相关参数,以便利利用上述透过率测试对不同产品的透过率进行测试。
附图说明
图1为一实施例中显微透过率测试仪的示意图;
图2为图1中显微透过率测试支架的示意图。
附图标记说明:
1、显微透过率测试仪,10、显微透过率测试支架,20、测试光源,30、光谱仪,40、相机,50、控制器,61、第一光纤,100、安装架,101、安装口,110、导光筒,111、外筒,112、内筒,120、物镜,130、第一螺杆,140、立柱,150、连接件,160、第二螺杆,170、遮光套,180、第三螺杆,200、产品台,210、通光孔,310、背景光源,320、遮光筒,330、调节器,400、光接收件,410、积分球,420、第二光纤,510、底座,520、移动平台,600、限位件,610、第一限位部,620、第二限位部。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进,因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。
需要说明的是,当元件被称为“设置于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“下方”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一的实施方式。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本发明。以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
请参阅图1,一实施例中的显微透过率测试仪1,用于测试产品的透过率,以便于判断含有该产品的器件是否合格,其中,产品可以是手机盖板的IR(Infrared Radiation,红外线)孔、手机键盘发光孔、平板面板小孔、光学元件、平面玻璃、滤光片、IR(InfraredRadiation,红外线)油墨孔镀膜镜片、显示屏或触摸面板等。利用该显微透过率测试仪1,可较容易地将产品放置于指定位置。具体地,显微透过率测试仪1包括显微透过率测试支架10、测试光源20、光谱仪30、相机40及控制器50。
测试光源20及相机40均设置于显微透过率测试支架10上,光谱仪30与显微透过率测试支架10连接,控制器50与光谱仪30及相机40电连接。测试光源20用于发射测试光,相机40用于拍摄产品,以便于根据相机40所拍摄的画面,判断产品是否已经放置于指定位置,显微透过率测试支架10用于放置产品。测试时,将通过产品的测试光导出至光谱仪30,以便于测试产品的透过率。
测试过程中,可根据产品的不同,利用控制器50设置相机40与光谱仪30的相关参数,以便利利用上述透过率测试对不同产品的透过率进行测试。在本实施例中,相机40所拍摄的画面可通过控制器50显示,光谱仪30处测得的产品的透过率也可通过控制器50显示,以提高测试人员的测试便利性。
请一并参阅图2,一实施例中的显微透过率测试支架10,包括安装架100、产品台200、背景光源310及光接收件400,安装架100用于安装测试光源20,产品台200开设有通光孔210。该显微透过率测试支架10可使产品较容易地对准通光孔210,以便于减少测试时间。可以理解地,产品的指定位置应为产品台200上的通光孔210处,当产品放置于指定位置后,测试光可依次通过产品与通光孔210。
安装架100形成有安装口101,安装口101用于安装发射测试光的测试光源20。测试光源20可以为可见光光源或红外光光源等,测试光源20可通过插接或螺纹连接等方式安装于安装口101处。在本实施例中,显微透过率测试支架10还包括第一光纤61,第一光纤61的一端设置于测试光源20上,另一端伸入安装口101内。利用第一光纤61将测试光源20安装于安装口101处的方式简单方便,可便于实现测试光源20与安装架100的可拆卸连接。
安装架100包括导光筒110及物镜120,物镜120设置于导光筒110的一端上,导光筒110的另一端形成安装口101。测试时,测试光先进入导光筒110内,然后经由物镜120射出导光筒110外。物镜120的存在可使测试光的光斑直径较小,以便于对产品上微米区域的透过率进行测试。
导光筒110包括外筒111及内筒112,内筒112的一端伸入外筒111内,内筒112伸入外筒111内的长度可改变,以便于调节测试光的光斑直径。在本实施例中,外筒111相对于内筒112靠近产品台200,内筒112远离产品台200的一端形成安装口101。当然,在其他实施例中,可使外筒111相对于内筒112远离产品台200,外筒111远离产品台200的一端形成安装口101。或者,可以将导光筒110的长度固定,从而使调节测试光的光斑直径不可调节。
在本实施例中,安装架100还包括第一螺杆130,外筒111上开设有第一螺纹孔,第一螺杆130的一端穿过第一螺纹孔与内筒112相抵。使用时,拧动第一螺杆130,使第一螺杆130离开内筒112,拉动或推动内筒112使内筒112伸入外筒111内的长度改变,从而使测试光的光斑直径改变,当测试光的光斑直径符合测试需求时,朝相反方向拧动第一螺杆130,使第一螺杆130与内筒112相抵。当然,在其他实施例中,还可通过在内筒112上设置外螺纹,在外筒111上设置内螺纹等方式实现测试光的光斑直径的调节。
安装架100还包括立柱140及设置于立柱140上的连接件150,导光筒110设置于连接件150上。立柱140可将导光筒110支撑至一定高度,便于将产品放置于导光筒110的下方,连接件150的存在,便于使导光筒110设置有物镜120的一端朝向产品台200。
连接件150能够沿立柱140的长度方向移动,以便于调节导光筒110的高度,一方面可方便产品的取放,另一方面可调节试光的光斑大小。在本实施例中,连接件150上开设有穿柱孔,立柱140穿设于穿柱孔内。安装架100还包括第二螺杆160,连接件150上还开设有与穿柱孔相连通的第二螺纹孔,第二螺杆160的一端穿过第二螺纹孔与立柱140相抵。其调节原理与导光筒110的长度调节原理类似,在此不再赘述。
显微透过率测试支架10还包括遮光套170,遮光套170套设于物镜120外,遮光套170至产品台200的距离小于物镜120至产品台200的距离,以减少外界光线的影响。在本实施例中,显微透过率测试支架10还包括第三螺杆180,遮光套170上开设有第三螺纹孔,第三螺杆180的一端穿过第三螺纹孔与物镜120相抵,以便于调节遮光套170靠近产品台200的一端凸出物镜120的程度。遮光套170的外壁上可覆有黑色遮光层,以进一步增强遮光效果,提高测试准确性。
产品台200用于放置产品。在本实施例中,产品台200位于安装口101的下方,通光孔210位于安装口101的正下方,以便于测试光源20安装后,测试光源20发出的测试光能够通过通光孔210。当然,在其他实施例中,通光孔210的位置可灵活设置,使产品台200能够相对于安装口101移动,以便于测试光在测试时通过通光孔210。
显微透过率测试支架10还包括产品夹(图未示),产品夹设置于产品台200上,产品夹用于将产品固定在产品台200上。产品夹可对产品进行定位,当第一个产品对准通光孔210后,可记录产品夹的状态,当对后续的产品进行测试时,可使后续的产品直接放置于该状态下的产品夹上,就能使后续的产品对准通光孔210,以便于实现同一规格、同一种类的产品的批量化测试。
背景光源310用于发射背景光,背景光源310位于产品台200背向于安装口101的一侧,背景光源310能够相对于产品台200移动,以使背景光通过通光孔210。在背景光的作用下,测试人员可较容易地判断通光孔210及产品的位置,以使产品较容易地对准通光孔210。放置产品时,使背景光源310相对于产品台200移动,以使背景光通过通光孔210,从而便于使产品较容易地对准通光孔210。产品放置后,将背景光源310移动至初始位置,以便于光接收件400接收测试光。背景光源310可以为LED灯珠等。
显微透过率测试支架10还包括遮光筒320,遮光筒320罩设于背景光源310外,遮光筒320靠近产品台200的一端上开设有出光口。开设有出光口的遮光筒320的存在可使背景光沿特定方向射出,以减少或避免背景光对测试结果的影响。在本实施例中,背景光源310位于遮光筒320远离出光口的一端,遮光筒320的外壁上可覆有黑色遮光层,以增进一步强遮光效果。
显微透过率测试支架10还包括调节器330,调节器330与背景光源310电连接,调节器330用于调节背景光源310的亮度。调节器330的存在可便于显微透过率测试支架10适应于亮度不同的外界环境,当界环境的亮度较低时,可通过调节器330将背景光源310的亮度调至较低的水平,以减少背景光对测试结果的影响,当界环境的亮度较高时,可通过调节器330将背景光源310的亮度调至较高的水平,以使产品较容易地对准通光孔210。
光接收件400位于产品台200背向于安装口101的一侧,光接收件400能够相对于产品台200移动,以使光接收件400接收通过通光孔210的测试光。测试时,可将光接收件400接收到的测试光导出至光谱仪30处,以利用光谱仪30测试产品的透过率。
在本实施例中,光接收件400包括积分球410,积分球410上开设有用于使测试光进入的收光口,积分球410用于与光谱仪30连接。积分球410的存在可对测试光起到均光作用,以保证测试结果是产品位于通光孔210处的部分的整体平均透过率。可通过合理设计收光口的尺寸,使更多的测试光进入到积分球410内。
进一步地,光接收件400还包括第二光纤420,第二光纤420的一端设置于积分球410上,另一端设置于光谱仪30上,第二光纤420用于将均光后的测试光导至光谱仪30处。当然,在其他实施例中,积分球410可省去,可利用第二光纤420直接接收通过通光孔210后的测试光。
显微透过率测试支架10还包括底座510及可移动地设置于底座510上的移动平台520,背景光源310及光接收件400均设置于移动平台520上,以便于背景光源310与光接收件400统一移动。在本实施例中,安装架100也设置于底座510上。当然,在其他实施例中,背景光源310与光接收件400也可单独移动,安装架100的设置位置也可灵活选取。
测试前,可通过使移动平台520相对于底座510移动的方式使背景光源310或光接收件400相对于产品台200移动。由于背景光源310及光接收件400均设置于移动平台520上,故当背景光源310位于通光孔210的正下方时,光接收件400远离通光孔210,当光接收件400位于通光孔210的正下方时,背景光源310远离通光孔210,操作便利性高。
在本实施例中,底座510包括座体及设置于座体上的滑块,移动平台520上开设有与滑块相匹配的滑槽,滑块位于滑槽内,移动平台520可沿滑块的长度方向滑动。当然,在其他实施例中,可以通过加设滚轮等方式使移动平台520相对于底座510移动。
显微透过率测试支架10还包括设置于底座510上的限位件600,限位件600包括分别位于移动平台520相对两侧的第一限位部610及第二限位部620,第一限位部610及第二限位部620均用于与移动平台520相抵,以对移动平台520限位。使用时,当移动平台520与第一限位部610相抵时,背景光源310位于通光孔210的正下方,当移动平台520与第二限位部620相抵时,光接收件400位于通光孔210的正下方。
显微透过率测试支架10还包括第一磁吸件及第二磁吸件,第一磁吸件及第二磁吸件均用于吸合移动平台520,第一磁吸件设置于第一限位部610上,第二磁吸件设置于第二限位部620上。可选地,第一磁吸件与第二磁吸件均为磁铁,移动平台520的材质为铁。或者第一磁吸件与第二磁吸件均为磁铁,移动平台520上设置用于与第一磁吸件配合的第一铁块及用于与第二磁吸件配合的第二铁块。
在本实施例中,当移动平台520移动至第一磁吸件的吸合范围时,移动平台520在第一磁吸件的作用下,自动与第一限位部610相抵。当移动平台520与第一磁吸件吸合后,在磁吸力的作用下,可在一定程度上防止测试人员误移移动平台520。同理,当移动平台520移动至第二磁吸件的吸合范围时,移动平台520在第二磁吸件的作用下,自动与第二限位部620相抵。当移动平台520与第二磁吸件吸合后,在磁吸力的作用下,可在一定程度上防止测试人员误移移动平台520。
在显微透过率测试仪1中,相机40可设置于安装架100上,相机40朝向通光孔210,以便于利用相机40拍摄通光孔210处。在本实施例中,相机40可为高清相机40,物镜120可以5倍光学显微镜用物镜120,第一限位部610与第二限位部620均可呈形L形,控制器50可为计算机等。
上述显微透过率测试仪1及显微透过率测试支架10的具体工作原理如下:
测试前,将测试光源20安装于安装口101处,将相机40设置于安装架100上,并使相机40朝向通光孔210,以便于利用相机40拍摄通光孔210处,从而便于测试人员判断测产品是否已经对准通光孔210。将光谱仪30与光接收件400连接,以便于利用光谱仪30测试产品的透过率,使光谱仪30及相机40均与控制器50电连接,以便于通过控制器50控制光谱与及相机40。
测试光源20发射测试光,移动移动平台520,使积分球410的收光口对准通光孔210,记录此时控制器50上显示的透过率为S2。背景光源310发射背景光,朝相反方向移动移动平台520,使背景光源310对准通光孔210,以使背景光通过通光孔210,记录此时控制器50上显示的透过率为S0。在背景光的作用下,测试人员可较容易地判断通光孔210及产品的位置,以使产品较容易地对准通光孔210。参考相机40所拍摄的画面,判断产品是否已经对准通光孔210。再次移动移动平台520,使积分球410的收光口对准通光孔210,以使光接收件400接收通过产品与通光孔210的测试光,记录此时控制器50上显示的透过率为S1。综上可得到产品的透过率S=(S1-S0)/(S2-S0),其中,S0的测量可提高测试结果的准确性。当然,在其他实施例中,可以不测量S0。在测试过程中,背景光源310可一直处于打开状态。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种显微透过率测试支架,其特征在于,包括:
安装架,形成有安装口,所述安装口用于安装发射测试光的测试光源;
产品台,开设有通光孔;
背景光源,用于发射背景光,所述背景光源位于所述产品台背向于所述安装口的一侧,所述背景光源能够相对于所述产品台移动,以使所述背景光通过所述通光孔;及
光接收件,位于所述产品台背向于所述安装口的一侧,所述光接收件能够相对于所述产品台移动,以使所述光接收件接收通过所述通光孔的所述测试光。
2.根据权利要求1所述的显微透过率测试支架,其特征在于,还包括遮光筒,所述遮光筒罩设于所述背景光源外,所述遮光筒靠近所述产品台的一端上开设有出光口。
3.根据权利要求1所述的显微透过率测试支架,其特征在于,所述光接收件包括积分球,所述积分球上开设有用于使所述测试光进入的收光口,所述积分球用于与光谱仪连接。
4.根据权利要求1至3任一项所述的显微透过率测试支架,其特征在于,还包括底座及可移动地设置于所述底座上的移动平台,所述背景光源及所述光接收件均设置于所述移动平台上。
5.根据权利要求4所述的显微透过率测试支架,其特征在于,还包括设置于所述底座上的限位件,所述限位件包括分别位于所述移动平台相对两侧的第一限位部及第二限位部,所述第一限位部及所述第二限位部均用于与所述移动平台相抵,以对所述移动平台限位。
6.根据权利要求5所述的显微透过率测试支架,其特征在于,还包括第一磁吸件及第二磁吸件,所述第一磁吸件及所述第二磁吸件均用于吸合所述移动平台,所述第一磁吸件设置于所述第一限位部上,所述第二磁吸件设置于所述第二限位部上。
7.根据权利要求1至3任一项所述的显微透过率测试支架,其特征在于,所述安装架包括导光筒及物镜,所述物镜设置于所述导光筒的一端上,所述导光筒的另一端形成所述安装口。
8.根据权利要求7所述的显微透过率测试支架,其特征在于,还包括遮光套,所述遮光套套设于所述物镜外,所述遮光套至所述产品台的距离小于所述物镜至所述产品台的距离。
9.根据权利要求7所述的显微透过率测试支架,其特征在于,所述导光筒包括外筒及内筒,所述内筒的一端伸入所述外筒内,所述内筒伸入所述外筒内的长度可改变。
10.一种显微透过率测试仪,其特征在于,包括:
如权利要求1至9任一项所述的显微透过率测试支架;
测试光源,安装于所述安装口处;
光谱仪,与所述光接收件连接;
相机,设置于所述安装架上,所述相机朝向所述通光孔;及
控制器,与所述光谱仪及所述相机电连接。
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