CN103700401A - 快闪存储器编程及读取的方法 - Google Patents
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Abstract
一种快闪存储器编程及读取的方法,在编程时存储快闪存储器中存储器区块的最后编程逻辑页数。读取时由存储的最后编程逻辑页数,配合预设存储器区块的逻辑页分配表的逻辑页顺序及分配,判断存储器区块中存储器单元的编程次数。依据判断的编程次数,选择预设的临界电压,执行读取程序,以提高读取效率。
Description
技术领域
本发明涉及一种快闪存储器,尤其涉及快闪存储器存储最后编程逻辑页数,作为判断编程次数,以执行读取的方法。
背景技术
由于非易失性的快闪存储器(Flash Memory),不需要电力维持数据的存储,不仅具有较快的清除(Erase)、编程(Program)及读取(read)的速度,体积小且存储密度高,已成为主要数据的存储装置。
快闪存储器一般依据一存储器单元(Cell)可存储的位数据(Bit),分为单层单元(Single Level Cell,简称SLC)、多层单元(Multi Level Cell,简称MLC)、三层单元(Triple Level Cell,简称TLC)及四层单元(Quad Level Cell,简称QLC)等快闪存储器。其中单层单元(SLC)可存储一位数据,多层单元(MLC)可存储二位数据,三层单元(TLC)可存储三位数据,而四层单元(QLC)可存储四位数据。
如图1所示,为现有技术MLC快闪存储器编程的电压分布。以MLC快闪存储器为例,MLC快闪存储器分割成多个存储器区块(Block),用以存储数据。每一存储器区块包含多列的多层单元10构成256个逻辑页,每个逻辑页具有相对应的逻辑地址,以利数据存取控制。其中每一多层单元10包含一下层逻辑页(Lower page)L及一上层逻辑页(Higher page)H,每一逻辑页包含数个存储器电路单位11,利用存储器电路单位11负载不同的电压,区分出所代表的不同数字信号。多层单元10后另设一单层单元F,包含二个标志电路单位20,利用标志电路单位20负载不同的电压,可区分出代表的一次编程或二次编程,以作为标示多层单元10编程次数的标志(Flag)。
MLC快闪存储器编程时,对多层单元10的存储器电路单位11采用逐次增加电压的方式,以避免过大的电压破坏存储器。未编程前,多层单元10的存储器电路单位11的电压维持在清除电压,而单层单元F的标志电路单位20则维持在代表一次编程标志电压21。一次编程时,对多层单元10的下层逻辑页L增加预设的电压,将存储器电路单位11形成不同负载的清除电压12与一次编程电压13,而标志电路单位20则仍在代表一次编程标志电压21。读取时,先利用预设的标志临界电压Vf,判断标志电路单位20在一次编程标志电压21的标志,多层单元10仅为一次编程,再利用预设的一次编程临界电压V1分辨下层逻辑页L的存储器电路单位11的电压,即可区分出代表数字信号的[1]或[0],而读取存储的数据。
MLC快闪存储器二次编程时,对多层单元10的上层逻辑页H增加预设的电压,将上层逻辑页H的存储器电路单位11形成四种不同负载的二次编程电压14、15、16及17,并将标志电路单位20改变至代表二次编程标志电压22。读取时,先利用预设的标志临界电压Vf,判断标志电路单位20在二次编程标志电压22的标志,多层单元10已经二次编程,可利用预设的二次编程临界电压V2、V3及V4分辨上层逻辑页H的存储器电路单位11的电压,即可区分出代表数字信号的[11]或[10]或[01]或[00],而读取存储的数据。
但是MLC快闪存储器编程次数的标志电压,常受编程增加电压的影响,无法正确判读编程次数,以致选取错误的临界电压,导致读取失败。因此,另有现有技术美国专利US8107291,揭露在读取快闪存储器的存储器区块时,利用预先存储的无用数据(Dummy Data),先将所有的存储器单元完成二次编程,就可不用判断编程标志电压,直接利用预设的二次编程临界电压读取存储器区块,而可删除编程次数标志的功能及单层单元F的构成,达到增加存储容量的目的。
然而,前述专利案读取快闪存储器时,需耗费时间将所有的存储器单元完成二次编程,再读取及处理无用数据,不仅降低读取快闪存储器的效率,且需空出快闪存储器的记忆空间,存储大量的无用数据,而影响存储容量。因此,快闪存储器在编程及读取方法上,仍有问题亟待解决。
发明内容
本发明的目的在提供一种快闪存储器编程及读取的方法,通过存储存储器区块最后编程逻辑页数,配合预设的逻辑页分配表,以正确判断编程次数。
本发明另一目的在提供一种快闪存储器编程及读取的方法,利用判断编程次数,直接选择正确临界电压,读取编程的存储器单元,以提高读取效率。
本发明再一目的在提供一种快闪存储器编程及读取的方法,可删除编程次数标志的功能及单层单元的构成,以简化编程及读取程序。
本发明又一目的在提供一种快闪存储器编程及读取的方法,仅存储每一存储器区块最后编程逻辑页较少的数据,而可选择存储至控制器或存储器区块,以增加设计弹性。
为了达到前述发明的目的,本发明快闪存储器编程及读取的方法,在编程快闪存储器时,存储快闪存储器中存储器区块的最后编程逻辑页数。接收一读取指令读取存储器区块存储的数据时,由存储的最后编程逻辑页数,配合预设逻辑页分配表的逻辑页顺序及分配,判断存储器区块中存储器单元的编程次数。依据判断的编程次数,选择预设的临界电压,执行读取存储器单元的程序。
本发明编程快闪存储器时,接收一编程指令存储数据在存储器区块,依据预设逻辑页分配表特定的逻辑页顺序及分配,进行编程存储器区块的存储器单元,而无编程次数标志的单层单元的编程程序。将编程存储器区块的最后编程逻辑页数,存储至快闪存储器的控制器或特定存储器区块。
附图说明
图1为现有技术MLC快闪存储器编程的电压分布图。
图2为本发明快闪存储器的结构图。
图3为本发明的逻辑页分配表。
图4为本发明快闪存储器编程方法的流程图。
图5为本发明快闪存储器编程及读取方法的流程图。
【主要元件符号说明】
30快闪存储器
31存储器单位
32控制器
33存储器区块
34存储部
35逻辑页分配表
36多层单元
具体实施方式
有关本发明为达成上述目的,所采用的技术手段及其功效,现在举优选实施例,并配合附图加以说明如下。
请同时参阅图2及图3,图2为本发明快闪存储器的结构,图3为本发明的逻辑页分配表。图2中本发明快闪存储器30主要包含存储器单位31及控制器32。其中存储器单位31包含多列的存储器单元,分割成多个存储器区块33,每一存储器区块33包含256个逻辑页,每个逻辑页具有相对应的逻辑地址,用以存储数据。控制器32内含一存储部34,存储部34存储快闪存储器30的控制参数,配合控制器32控制存取存储器单位31存储的数据。
存储数据需编程快闪存储器30时,为了避免编程电压影响位置相邻的逻辑页电压,快闪存储器30在存储部34存储一预设的逻辑页分配表35。逻辑页分配表35记载一存储器区块33中256个逻辑页交叉相隔分设的存储器单元。以MLC快闪存储器为例,但本发明不限于MLC快闪存储器。图3所示MLC快闪存储器的存储器区块33的逻辑页分配表35,所含的每一多层单元36,包含下层逻辑页及上层逻辑页,其后未设编程次数标志的单层单元。存储器区块33的第000至127个多层单元36构成的256个逻辑页,依序编号为第0逻辑页至第255逻辑页。其中第0逻辑页至第3逻辑页依序设置在第000至003个多层单元36的下层逻辑页,而第4与5逻辑页依序相隔设置在第000至001个多层单元36的上层逻辑页,再将第6与7逻辑页依序交叉设置在第004至005个多层单元36的下层逻辑页,接着将第8与9逻辑页依序相隔设置在第002至003个多层单元36的上层逻辑页。重复以两个逻辑页为单位,设置于交叉相隔且不同的多层单元36的下层逻辑页与上层逻辑页,直到第254与255逻辑页设置在第126至127个多层单元36的上层逻辑页为止,形成逻辑页分配表35。
因此,编程快闪存储器30的存储器区块33时,虽然依据编号第0逻辑页至第255逻辑页顺序增加电压,但两个两个逻辑页交叉相隔设置的架构,使编程增加的电压,不致过度集中在快闪存储器30的一部分,而可避免编程电压影响位置相邻的逻辑页电压,降低读取错误。由于不同种类的快闪存储器30具有不同层数及积体形式,虽然交叉相隔设置的架构不同,但都有其特定逻辑页的顺序及分配,形成预设的逻辑页分配表35,存储供控制快闪存储器30存取数据。
本发明快闪存储器编程及读取的方法,在依据预设的逻辑页分配表35编程快闪存储器30时,将每一存储器区块33的最后编程逻辑页数,例如最后编程逻辑页数为第22逻辑页,存储至存储部34或预定的存储器区块33。读取快闪存储器30时,再由存储部34取得最后编程逻辑页数为第22逻辑页,配合逻辑页分配表35纪录的逻辑页设置位置,如图3黑框37所示,可发现第000至009个多层单元36,已经二次编程,而如图3虚线框38所示,第010至012个多层单元36,仅经一次编程,其余多层单元36则尚未编程。不需要编程次数标志的功能,就可仅根据存储的最后编程逻辑页数及逻辑页分配表35,正确判断编程次数。
因此,读取存储器区块33,就可以针对判断二次编程的第000至009个多层单元36,直接选择二次编程预设的临界电压,读取第0至17及第20至21逻辑页存储的数据,对判断一次编程的第010至012个多层单元36,直接选择一次编程预设的临界电压,读取第18、19及22逻辑页存储的数据,而对判断尚未编程的其余多层单元36,不需执行读取程序,因而可节省编程、读取及处理无用数据的时间,提高读取效率。
如图4所示,为本发明快闪存储器编程的方法的流程。本发明快闪存储器编程方法的详细步骤说明如下:首先步骤S1,快闪存储器接收一编程指令,在一存储器区块存储数据;在步骤S2,依据预设逻辑页分配表的逻辑页顺序及分配,进行编程存储器区块的存储器单元,而无编程次数标志的单层单元的编程程序;再进入步骤S3,存储存储器区块的最后编程逻辑页数;然后至步骤S5,结束编程。
如图5所示,为本发明快闪存储器编程及读取的方法的流程。本发明快闪存储器编程及读取方法的详细步骤说明如下:首先步骤T1,编程快闪存储器,存储快闪存储器中存储器区块的最后编程逻辑页数;在步骤T2,接收一读取指令,读取存储器区块存储的数据;接着在步骤T3,由存储的最后编程逻辑页数,配合预设逻辑页分配表的逻辑页顺序及分配,判断存储器区块中存储器单元的编程次数;然后在步骤T4,依据判断的编程次数,选择预设的临界电压;最后在步骤T5,执行读取存储器单元的程序。
因此,本发明快闪存储器编程及读取的方法,就可通过在编程时存储存储器区块的最后编程逻辑页数,配合预设的逻辑页分配表,不需现有技术编程次数标志的功能,达到正确判断编程次数的功效。本发明进一步可利用判断编程次数,直接选择正确预设临界电压,快速读取存储器区块,达到提高读取效率的功效。再者,本发明不仅可删除现有技术编程次数标志的功能及单层单元的构成,且不需编程、读取及处理现有技术无用的数据,也可达到简化编程及读取程序的功效。此外,本发明仅存储每一存储器区块的最后编程逻辑页,存储的数据较少,而可选择存储至控制器或预定的存储器区块,达到增加设计弹性的功效。
以上所述者,仅为用以方便说明本发明的优选实施例,本发明的范围不限于该等优选实施例,凡依本发明所做的任何变更,在不脱离本发明的精神下,皆属本发明申请专利的范围。
Claims (6)
1.一种快闪存储器编程及读取的方法,其步骤包含:
编程快闪存储器,存储该快闪存储器中存储器区块的最后编程逻辑页数;
接收一读取指令,读取该存储器区块存储的数据;
由存储的最后编程逻辑页数,配合预设逻辑页分配表的逻辑页顺序及分配,判断该存储器区块中存储器单元的编程次数;以及
依据判断的编程次数,选择预设的临界电压,执行读取该存储器单元的程序。
2.如权利要求1所述的快闪存储器编程及读取的方法,其中该最后编程逻辑页数存储至该快闪存储器的控制器。
3.如权利要求1所述的快闪存储器编程及读取的方法,其中该最后编程逻辑页数存储至该快闪存储器的特定存储器区块。
4.如权利要求1所述的快闪存储器编程及读取的方法,其中该编程快闪存储器时,首先接收一编程指令在该存储器区块存储数据,再依据预设逻辑页分配表的逻辑页顺序及分配,进行编程该存储器区块的存储器单元。
5.如权利要求2所述的快闪存储器编程及读取的方法,其中该编程快闪存储器时,无编程次数标志的单层单元的编程程序。
6.如权利要求1所述的快闪存储器编程及读取的方法,其中该逻辑页分配表具有特定逻辑页的顺序及分配。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106802767A (zh) * | 2015-11-25 | 2017-06-06 | 旺宏电子股份有限公司 | 数据配置方法及应用其的电子系统 |
CN110660438A (zh) * | 2018-06-28 | 2020-01-07 | 力晶科技股份有限公司 | 快闪存储器装置及其编程方法 |
WO2021109243A1 (zh) * | 2019-12-02 | 2021-06-10 | 武汉新芯集成电路制造有限公司 | 存储结构及其擦除方法 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI492234B (zh) * | 2014-04-21 | 2015-07-11 | Silicon Motion Inc | 讀取快閃記憶體中所儲存之資料的方法、記憶體控制器與記憶體系統 |
KR102263046B1 (ko) | 2014-10-29 | 2021-06-09 | 삼성전자주식회사 | 메모리 장치, 메모리 시스템, 상기 메모리 장치의 동작 방법 및 상기 메모리 시스템의 동작 방법 |
KR102252378B1 (ko) | 2014-10-29 | 2021-05-14 | 삼성전자주식회사 | 메모리 장치, 메모리 시스템, 상기 메모리 장치의 동작 방법 및 상기 메모리 시스템의 동작 방법 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20100037007A1 (en) * | 2008-08-05 | 2010-02-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Nonvolatile semiconductor memory device |
US20100265764A1 (en) * | 2009-04-17 | 2010-10-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Methods of accessing storage devices |
CN102270501A (zh) * | 2010-06-01 | 2011-12-07 | 三星电子株式会社 | 利用编程定序器的闪存器件和系统,以及编程方法 |
CN102592673A (zh) * | 2011-01-13 | 2012-07-18 | 旺宏电子股份有限公司 | 一种存储器装置的编程方法 |
-
2012
- 2012-09-28 CN CN201210367723.6A patent/CN103700401A/zh active Pending
-
2013
- 2013-06-21 US US13/923,389 patent/US20140092682A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20100037007A1 (en) * | 2008-08-05 | 2010-02-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Nonvolatile semiconductor memory device |
US20100265764A1 (en) * | 2009-04-17 | 2010-10-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Methods of accessing storage devices |
CN102270501A (zh) * | 2010-06-01 | 2011-12-07 | 三星电子株式会社 | 利用编程定序器的闪存器件和系统,以及编程方法 |
CN102592673A (zh) * | 2011-01-13 | 2012-07-18 | 旺宏电子股份有限公司 | 一种存储器装置的编程方法 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106802767A (zh) * | 2015-11-25 | 2017-06-06 | 旺宏电子股份有限公司 | 数据配置方法及应用其的电子系统 |
CN106802767B (zh) * | 2015-11-25 | 2019-11-05 | 旺宏电子股份有限公司 | 数据配置方法及应用其的电子系统 |
CN110660438A (zh) * | 2018-06-28 | 2020-01-07 | 力晶科技股份有限公司 | 快闪存储器装置及其编程方法 |
CN110660438B (zh) * | 2018-06-28 | 2021-10-29 | 力晶积成电子制造股份有限公司 | 快闪存储器装置及其编程方法 |
WO2021109243A1 (zh) * | 2019-12-02 | 2021-06-10 | 武汉新芯集成电路制造有限公司 | 存储结构及其擦除方法 |
US11366603B2 (en) | 2019-12-02 | 2022-06-21 | Wuhan Xinxin Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Storage structure and erase method thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20140092682A1 (en) | 2014-04-03 |
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