CN103631042A - 基板、显示屏以及检测基板上透明玻璃的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基板、显示屏以及检测基板上透明玻璃的方法,该基板包括透明玻璃,在透明玻璃上设置有遮挡标记,其所述遮挡标记与对位标记的位置相对应。通过设置遮挡标记,由于遮挡标记与对位标记的位置相对应,能够将基板上未去除的透明玻璃识别出来,如果检测到有未去除的透明玻璃,则不会进行之后的研磨工序,之后及时将其去除之后才能进行后续的研磨工序,避免研磨过程中基板边缘出现毛边的现象,解决产品不良的问题。本发明还提供了一种基于上述基板的显示屏以及检测基板上透明玻璃的方法。
Description
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域,尤其涉及基板、显示屏以及检测基板上透明玻璃的方法。
背景技术
液晶屏的制作工序中,对盒基板进行切割工序,切割工序完成之后还有一道磨边工序,对基板的四边和四个角部进行研磨。磨边工序过程中需要用相机(Camera)读取十字对位标识(Mark),一般是将Mark标识设置在TFT(Thin Film Transistor,薄膜场效应晶体管)基板上。切割工序之前,该十字对位标识的上方是有一层透明玻璃(即dummy),切割之后、研磨之前的制程要求是透明玻璃(dummy)从液晶屏上脱落。由于dummy是透明的,所以研磨时相机能够透过dummy扫描TFT基板上的十字对位标记,继续进行后续的研磨工序。这一层透明玻璃(dummy)如果未脱落,虽然也能够进行研磨工序,但是在高速研磨工序的情况下,将有可能在基板的边角部产生凸起,即毛边,产生产品不良。
因此,由于未能将基板上的dummy检测出来并及时将其进行拦截和脱落操作,导致后续研磨工序中在基板的边角部产生凸起,出现毛边,造成产品不良。
发明内容
(一)要解决的技术问题
针对上述缺陷,本发明要解决的技术问题是如何能够有效地对基板上残留的透明玻璃dummy检测并及时去掉,解决基板毛边问题。
(二)技术方案
为解决上述问题,本发明提供了一种基板,所述基板包括透明玻璃,在所述透明玻璃上设置有遮挡标记,所述遮挡标记与对位标记的位置相对应。
进一步地,所述遮挡标记不透光。
进一步地,所述对位标记设置在阵列基板的正面和/或背面。
进一步地,所述透明玻璃为彩色滤光玻璃,设置在所述阵列基板的上方。
进一步地,所述遮挡标记设置在所述透明玻璃的下方。
为解决上述问题,本发明还提供了一种显示屏,所述显示屏中包括上面所述的基板。
为解决上述问题,本发明还提供了一种检测基板上透明玻璃的方法,所述方法包括:
在基板的透明玻璃上设置遮挡标记,且所述遮挡标记与对位标记的位置相对应,用于遮挡所述透明玻璃下方的对位标记;
对所述基板进行检测,如果在所述基板上检测到所述遮挡标记,则说明所述基板上与所述遮挡标记对应的位置仍有未去除的透明玻璃,否则所述基板上没有未去除的透明玻璃。
进一步地,所述对所述基板进行检测具体包括:通过相机在所述基板上进行检测,如果不能通过所述相机检测到所述对位标记时则说明存在所述遮挡标记,否则不存在所述遮挡标记。
进一步地,当在所述基板上检测到所述遮挡标记时,会发出报警,提醒去除所述透明玻璃。
(三)有益效果
本发明提供了一种基板,基板上包括透明玻璃,在所述透明玻璃上设置有遮挡标记,遮挡标记与对位标记的位置相对应。通过将透明玻璃上增设新的标记,即遮挡标记,在对位标记上方的透明玻璃下设置该遮挡标记,能够将透明玻璃下方的对位标记挡住,相机无法识别到十字对位标记,发出报警,提醒有未去除的透明玻璃,有效拦截透明玻璃沿着生产流线流到下个工序,即研磨工序,避免造成产品毛边,进而提高产品的良品率。
附图说明
图1为没有设置遮挡标记的示意图;
图2为本发明实施例一中设置遮挡标记的示意图;
图3为本发明实施例一中遮挡标记设置位置的截面图;
图4为本发明实施例一中切割时基板刀轮与基板的位置示意图;
图5为本发明实施例一中研磨工序中相机与基板的位置关系图;
图6为本发明实施例二中一种检测基板上透明玻璃的方法步骤流程图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明,但不用来限制本发明的范围。
实施例一
本发明实施例一中提供了一种基板,该基板包括透明玻璃10,透明玻璃10上设置有遮挡标记20,遮挡标记20与对位标记30的位置相对应。
本实施例的改进之处在于在透明玻璃上增加设置遮挡标记,适用于对盒并进行切割之后,在进行研磨工序之前,通过有助于能够有效地将未去除的透明玻璃识别出来,并及时去除,解决透明玻璃dummy在液晶屏上的残留问题,禁止未被去除的透明玻璃流入到后续研磨工序中,避免基板的边角部产生凸起,即发生毛边现象,解决由于透明玻璃dummy残留导致的各种隐患即品质问题,提高产品的良品率。
需要说明的是,本实施例中的对位标记和遮挡标记都设置在基板的非显示区域,不影响正常显示。图中的十字对位标记设置在显示区域之外,为了方便后续工序过程中定位。
优选地,本实施例中的遮挡标记20为不透光,一般采用黑色材料作为遮挡标记20,以便实现对位于透明玻璃10下方的对位标记30的遮挡。
图1中示出了阵列基板上设置对位标记的分布示意图,其中在椭圆形图形内的两个对位标记上设置遮挡标记的效果图如图2所示。其中W表示显示区域,对位标记30设置在显示区域之外。图2中的十字对位标记的长度和宽度最大为0.5mm,十字对位标记的禁止布线区域(即排它区域)为1.5mm*1.5mm。因此图2中的遮挡标记的长度和宽度优选为都是1.0mm。可见,由于遮挡标记的存在,能够将阵列基板上的对位标记遮盖住,可以有效地识别出未被去除的透明玻璃,对残留有透明玻璃dummy进行有效拦截,避免其流入到下一个工序中进行研磨,给基板的边角部造成损害,产生毛边。
对位标记30和遮挡标记20的设置形式有很多种,本实施例中提供了一种最佳、最简单的优选方案是在阵列基板40上设置对位标记30,在彩膜基板50上设置遮挡标记20。优选地,本实施例中的对位标记30设置在阵列基板40上,且本实施例中的对位标记30设置在阵列基板10的正面,即设置在阵列基板40与彩膜基板50之间。
需要说明的是,本发明中的对位标记的设置不局限于阵列基板的正面,在本发明的其他实施例中还可以根据需要设置在阵列基板的正面和/或背面。
优选地,本实施例中的透明玻璃10为彩色滤光玻璃,设置在阵列基板40的上方,遮挡标记20设置在透明玻璃10的下方。遮挡标记设置位置的截面图如图3所示,对位标记30设置在阵列基板(TFT基板)的上方,遮挡标记20与对位标记30位置相对应。切割时的示意图如图4所示,在透明玻璃(dummy)上方设置有两个上刀轮,即第一上刀轮01和第二上刀轮02,两个上刀轮的切割位置对应于透明玻璃的边缘,在阵列基板的下方设置有下刀轮03。研磨时的示意图如图5所示,照相机照射在透明玻璃10的上方时,由于设置了遮挡标记20,则相机04在透明玻璃10的上方无法感知到位于遮挡标记20之下的对位标记,因此而识别出有透明玻璃10未去除,及时发出报警,提醒将残留的透明玻璃10去除。
优选的,本实施例中的相机04为CCD相机。
通过使用上述结构,即在透明玻璃上增设遮挡标记,当基板上存在残留的透明玻璃dummy时,由于遮挡标记的存在,使得无法对透明玻璃对应位置的对位标记无法被成功读取出来,因此而判断出透明玻璃的存在,发出报警,及时将残留的透明玻璃去除,再进行后续的研磨工艺,就不会再对产品品质产生影响,由于对透明玻璃进行及时拦截,避免在高速研磨的时候基板的边角部发凸起,产生毛边,能够提高产品的良品率。
本实施例还提供了一种基于上述基板的显示屏,其中显示屏的阵列基板上设置有对位标记,彩膜基板设置在阵列基板的上方,透明玻璃对应于阵列基板上对位标记的位置设置有遮挡标记。
该显示屏能够在进行研磨工序之前,将残留的透明玻璃及时检测出来,提醒将其取出,避免由于透明玻璃流入研磨工序造成基板边角部出现凸起。
实施例二
本发明实施例二还提供了一种检测基板上透明玻璃的方法,步骤流程如图6所示,具体包括以下步骤:
步骤S1、在基板的透明玻璃上设置遮挡标记,且遮挡标记与对位标记的位置相对应,用于遮挡透明玻璃下方的对位标记。
步骤S2、对基板进行检测,如果在基板上检测到遮挡标记,则说明基板上与遮挡标记对应的位置仍有未去除的透明玻璃,否则基板上没有未去除的透明玻璃。
进一步地,所述遮挡标记不透光。因此如果在透明玻璃上对应对位标记的位置设置这种不透光的遮挡标记,当照相机在透明玻璃的上方时,无法获取到位于透明玻璃下方的对位标记,有效对残留在基板上的透明玻璃进行检测和拦截。
具体的,对基板进行检测具体包括:通过相机在基板上进行检测,如果不能通过相机检测到对位标记时则说明存在遮挡标记,否则不存在遮挡标记。
进一步地,当在基板上检测到遮挡标记时,会发出报警,提醒去除透明玻璃。
通过使用上述检测残留在基板上的透明玻璃的方法,在透明玻璃上增设遮挡标记,当基板上存在残留的透明玻璃(dummy)时,由于遮挡标记的存在,使得无法对透明玻璃对应位置的对位标记无法被成功读取出来,因此而判断出透明玻璃的存在,发出报警,及时将残留的透明玻璃去除,再进行后续的研磨工艺,就不会再对产品品质产生影响,由于对透明玻璃进行及时拦截,避免在高速研磨的时候基板的边角部发凸起,产生毛边,能够提高产品的良品率。
以上实施方式仅用于说明本发明,而并非对本发明的限制,有关技术领域的普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围的情况下,还可以做出各种变化和变型,因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴,本发明的专利保护范围应由权利要求限定。
Claims (9)
1.一种基板,所述基板包括透明玻璃,其特征在于,包括:在所述透明玻璃上设置有遮挡标记,所述遮挡标记与对位标记的位置相对应。
2.如权利要求1所述的基板,其特征在于,所述遮挡标记不透光。
3.如权利要求1所述的基板,其特征在于,所述对位标记设置在阵列基板的正面和/或背面。
4.如权利要求3所述的基板,其特征在于,所述透明玻璃为彩色滤光玻璃,设置在所述阵列基板的上方。
5.如权利要求3所述的基板,其特征在于,所述遮挡标记设置在所述透明玻璃的下方。
6.一种显示屏,其特征在于,所述显示屏中包括权利要求1-5中任一项中所述的基板。
7.一种检测基板上透明玻璃的方法,其特征在于,所述方法包括:
在基板的透明玻璃上设置遮挡标记,且所述遮挡标记与对位标记的位置相对应,用于遮挡所述透明玻璃下方的对位标记;
对所述基板进行检测,如果在所述基板上检测到所述遮挡标记,则说明所述基板上与所述遮挡标记对应的位置仍有未去除的透明玻璃,否则所述基板上没有未去除的透明玻璃。
8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,所述对所述基板进行检测具体包括:通过相机在所述基板上进行检测,如果不能通过所述相机检测到所述对位标记时则说明存在所述遮挡标记,否则不存在所述遮挡标记。
9.如权利要求7所述的方法,其特征在于,当在所述基板上检测到所述遮挡标记时,会发出报警,提醒去除所述透明玻璃。
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