CN103575916B - 分析设备控制系统和分析设备控制方法 - Google Patents
分析设备控制系统和分析设备控制方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103575916B CN103575916B CN201310332113.7A CN201310332113A CN103575916B CN 103575916 B CN103575916 B CN 103575916B CN 201310332113 A CN201310332113 A CN 201310332113A CN 103575916 B CN103575916 B CN 103575916B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- consumable part
- estimation
- usage degree
- date
- analytical equipment
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B15/00—Systems controlled by a computer
- G05B15/02—Systems controlled by a computer electric
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/00594—Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
- G01N35/00613—Quality control
- G01N35/00623—Quality control of instruments
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/00594—Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
- G01N35/00613—Quality control
- G01N35/00663—Quality control of consumables
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/88—Integrated analysis systems specially adapted therefor, not covered by a single one of the groups G01N30/04 - G01N30/86
- G01N2030/889—Integrated analysis systems specially adapted therefor, not covered by a single one of the groups G01N30/04 - G01N30/86 monitoring the quality of the stationary phase; column performance
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
Abstract
一种分析设备控制系统和分析设备控制方法,目的是向用户提供比以往更有意义的信息,该分析设备控制系统可管理消耗部件的使用度并向用户提供与消耗部件更换有关的信息。分析设备控制系统包括:使用度管理单元(12),其管理构成分析设备(1)的各单元(4)~(7)的消耗部件(4a)~(7a)的使用度,该使用度可是到当前时刻为止的使用时间或使用次数;估计更换日期计算单元(13),其基于使用限度存储单元(11)存储的使用限度值和使用度来计算消耗部件(4a)~(7a)的估计更换日期或时刻;以及消耗信息显示单元(14),其将计算出的消耗部件(4a)~(7a)的估计更换日期以预定显示格式呈现在显示器(2)。
Description
技术领域
本发明涉及用于对诸如红外分光光度计、紫外-可见分光光度计和色谱仪等的分析设备进行控制的分析设备控制系统。特别地,本发明涉及用于对具有管理与消耗部件有关的信息的功能的分析设备进行控制的分析设备控制系统。本发明还涉及这种分析设备控制系统所用的析设备控制方法和程序。
背景技术
通常,上述各种分析设备包括特定使用持续时间之后应当更换的消耗部件。在液相色谱仪系统的情况下,分离管柱和检测器所用的灯是消耗部件。这些消耗部件根据总时间长度和使用次数而消耗,因而必须适时更换。在无法适当地管理这些消耗部件的情况下,可能会影响测量精度,这可能不利地降低测量结果的可靠性。
近年来,为了使测量结果的质量稳定,保持分析环境恒定特别重要。这涉及消耗部件的适当更换。鉴于这些要求,许多分析设备和分析设备控制系统具有用于向用户通知消耗部件的使用状况并且提供针对消耗部件的更换的初步指导的功能。例如,专利文献1公开了如下系统:向能够更换的各部件安装识别模块,并且基于从各识别模块所提供的信息信号来管理这些部件的使用状况。这使得即使将部件从一个分析系统转移至另一分析系统也能够正确地管理与这些部件有关的信息。
背景技术文献
专利文献
专利文献1日本特开2005-283332
发明内容
发明要解决的问题
专利文献1所公开的系统和具有管理消耗部件的相似功能的其它传统分析设备控制系统主要提供与各消耗部件有关的以下两种信息。
(1)当前时刻的使用状况,其由到当前时刻为止的使用次数或使用时间来表示,并且与作为更换用基准值的最大使用次数或最大使用时间相对比地进行显示。
(2)在使用次数或使用时间超过更换用基准值的情况下,还显示警告。
显示这种信息可以向用户提供与当前时刻使用的消耗部件有关的最新更换信息。然而,用户无法获得与消耗部件应当何时更换有关的信息。
用于解决问题的方案
为了解决上述问题,本发明提供一种分析设备控制系统,用于对包括一个或多个消耗部件的分析设备进行控制,所述分析设备控制系统包括:
使用限度存储单元,用于针对各消耗部件存储预定的使用限度值;
使用度管理单元,用于管理各消耗部件的直到当前时刻为止的使用度;
估计更换日期计算单元,用于基于所述使用限度值和所述使用度来计算各消耗部件的估计更换日期;以及
消耗信息显示单元,用于将各消耗部件的所述估计更换日期以预定的显示格式呈现在显示器上。
根据本发明的分析设备控制系统可以与分析设备本身一体化。
近年来,分析设备不总是用作单机系统。作为代替,在多数情况下,控制计算机(以下将称为“PC”)连接至分析设备,从而控制该分析设备并且分析和管理通过进行分析所获得的数据。通常,一台控制PC可以连接多个不同的分析设备。本发明还可应用于这种系统。
本发明还提供一种分析设备控制方法,用于对包括一个或多个消耗部件的分析设备进行控制,所述分析设备控制方法包括:
使用度管理步骤,用于管理各消耗部件的直到当前时刻为止的使用度;
估计更换日期计算步骤,用于基于所述使用度以及存储在使用限度存储单元中的预定的使用限度值来计算各消耗部件的估计更换日期;以及
消耗信息显示步骤,用于将各消耗部件的所述估计更换日期以预定的显示格式呈现在显示器上。
本发明还提供一种分析设备控制系统用的程序,所述分析设备控制系统用于对包括一个或多个消耗部件的分析设备进行控制,所述程序被设计成在能够访问用于针对各消耗部件存储预定的使用限度值的使用限度存储单元的计算机上执行,从而使所述计算机用作以下单元:
使用度管理单元,用于管理各消耗部件的直到当前时刻为止的使用度;
估计更换日期计算单元,用于基于所述使用限度值和所述使用度来计算各消耗部件的估计更换日期;以及
消耗信息显示单元,用于将各消耗部件的所述估计更换日期以预定的显示格式呈现在显示器上。
发明的效果
在根据本发明的分析设备控制系统中,估计更换日期计算单元计算各消耗部件的估计更换日期,并且这些估计更换日期由消耗信息显示单元呈现在显示器上。因此,用户可以理解应当尽快更换哪个消耗部件以及各消耗部件的估计更换时间。这便于进行消耗部件的管理,由此使得能够适当地管理消耗部件。这样可以确保分析的质量高。
附图说明
图1示出根据本发明的分析设备控制系统的实施例的示意结构图。
图2是利用消耗信息显示单元显示在显示器上的窗口的示例。
图3是利用消耗信息显示单元显示在显示器上的窗口的另一示例。
图4示出根据本发明的分析设备控制系统的另一实施例的示意结构图。
附图标记说明
1,A1…分析设备
2,23…显示器
3,24…输入单元
10…控制器
11,32…使用限度存储单元
12,34…使用度管理单元
13,35…估计更换日期计算单元
14,36…消耗信息显示单元
20…分析设备控制系统
具体实施方式
以下将参考附图来详细说明根据本发明的分析设备控制系统的实施例的示例。
图1示出根据本发明的分析设备控制系统的实施例。在本实施例中,该分析设备控制系统作为控制器10组装至分析设备1内。如图1所示,分析设备1包括泵4、检测器5、自动采样器6、管柱恒温器7和其它单元。这些单元包括消耗部件4a、…、5a、…、6a、…、7a、…。本分析设备1还包括控制器10,其中该控制器10连接有用于显示各种信息的显示器2以及输入单元3。显示器2可以是液晶显示器(LCD)或其它类型的显示器。输入单元3可以是键盘和/或诸如使得用户能够通过直接触摸显示器2来输入各种指示的触摸面板等的其它输入接口。
控制器10包括使用限度存储单元11、使用度管理单元12、估计更换日期计算单元13和消耗信息显示单元14。使用限度存储单元11是诸如半导体存储器和硬盘等的非易失性存储器装置。使用度管理单元12、估计更换日期计算单元13和消耗信息显示单元14通过(均未示出的)中央处理单元(CPU)和存储器协作地执行专用程序来实现。
在使用限度存储单元11中,针对各消耗部件存储预定的使用限度值。该使用限度值例如可以是最大使用时间、最大使用次数、最大使用量或其它值。
使用度管理单元12管理到当前时刻为止的各消耗部件的使用度(使用程度)。该管理处理包括存储并更新使用度的操作。使用度是示出消耗部件的使用程度并且由使用时间、使用次数、使用量或其它值来表示的值。例如,每当使用分析设备1时,使用度管理单元12更新各单元4~7的消耗部件4a~7a的使用度。在更换消耗部件(例如4a)的情况下,将使用度设置为初始值(通常为“0”)。
估计更换日期计算单元13基于当前时间和日期、存储在使用限度存储单元11中的使用限度值、以及使用度管理单元12所管理的使用度来计算消耗部件4a~7a的估计更换日期(日历天)。“估计更换日期”可以仅是日期、或者日期和时间(通常可以利用“小时”来表示)。
估计更换日期可以不是由日历天来表示,而是由相对于当前时间的天数(剩余使用天数)或时间(剩余使用时间)来表示。剩余使用天数和剩余使用时间可以利用任何方法来计算。对于以前从未使用的新的消耗部件(4a,...,7a),可以将剩余使用天数或剩余使用时间设置为预定的默认值。对于并非新的消耗部件,在其使用度较低的情况下无法适当地计算出计算估计更换日期所需的平均使用度,因此在该使用度低于预定的有效使用下限值的情况下也可以优选使用该默认值。
在消耗部件(例如4a)的使用度等于或高于预定的有效使用下限值的情况下,优选可以基于如下剩余天数(或剩余时间)来确定估计更换日期,其中这些剩余天数(或剩余时间)是通过将从使用限度值中减去使用度所获取到的值除以每天(或每单位时间)的平均使用度来获得的。
例如,在从输入单元3接收到消耗信息显示指示的情况下,消耗信息显示单元14将各消耗部件(例如4a)的估计更换日期以预定的显示格式显示在显示器2上。
图2是利用消耗信息显示单元14显示在显示器2上的窗口的示例。在该示例中,将分析设备1中所包括的消耗部件(例如4a)连同它们的使用度和更换用基准值(在本发明中与使用限度值相对应)一起按估计更换日期计算单元13所计算出的估计更换日期的升序列出。在图2的示例中,在该列表的最上部呈现使用度超过了基准值的检测器5的“CP1”(消耗部件5a),并且在状态栏中显示“更换”警告。在检测器5的“CP1”(消耗部件5a)下方,按估计更换日期的升序列出消耗部件。
在图2示出的示例中,无法将所有的消耗部件同时显示在一个窗口中。因而,在该窗口中设置有“下一页”按钮。在用户利用输入单元3按下该按钮的情况下,将显示与其它消耗部件有关的信息。也就是说,在图2的示例中,消耗信息显示单元14优先将估计更换日期临近或已过去的消耗部件(例如4a)呈现在显示器2上。这使得用户能够适当地理解多个消耗部件(例如4a)的估计更换日期。
图3是利用消耗信息显示单元14显示在显示器2上的窗口的另一示例。在该窗口中,没有全部显示与分析设备1中所包括的消耗部件(例如4a)有关的信息,而是针对消耗部件所属的各单元(泵4、检测器5、自动采样器6和管柱恒温器7),仅显示与估计更换日期临近的一个或两个消耗部件(例如4a)有关的信息。此外,在图3的窗口中,针对使用度超过了基准值的检测器5的“CP1”(消耗部件5a),显示文字“更换”和警告图标。这使得用户能够单独检查各单元并且初步估计应当何时更换消耗部件。
随后,参考作为示意结构图的图4来说明本发明的另一实施例。根据本实施例的分析设备控制系统20经由接口(I/F)25并且经由网络(NW)连接至分析设备A1。当然,分析设备控制系统20可以连接多个分析设备。
图4所示的分析设备控制系统20由计算机来实现,并且包括CPU21、存储器22、显示器23、以及诸如键盘和鼠标等的输入单元24。该计算机还包括作为硬盘或固态驱动器(SSD)的存储装置26。在存储装置26中存储有分析设备控制系统用的程序31、使用限度存储单元32和操作系统(OS)33。由于使用限度存储单元32与前面所述的实施例中的分析设备1的使用限度存储单元11相同,因此将省略其说明。
在图4中,将使用度管理单元34、估计更换日期计算单元35和消耗信息显示单元36安装至分析设备控制系统用的程序31。在CPU21执行分析设备控制系统用的程序31的情况下,将这些单元34、35和36作为组件来实现。使用度管理单元34、估计更换日期计算单元35和消耗信息显示单元36的操作与前面所述的分析设备1中的使用度管理单元12、估计更换日期计算单元13和消耗信息显示单元14的操作基本相同。因而,省略了针对这些操作的说明。
同样,在分析设备控制系统20中,在执行分析设备控制系统用的程序31的情况下,消耗信息显示单元36将如图2和3所示的窗口显示在显示器23上。
在分析设备控制系统20中,可以将使用度管理单元34所管理的消耗部件的使用度存储在分析设备控制系统20的存储装置26中或者分析设备A1侧上。
通过使用这些实施例说明了根据本发明的分析设备控制系统和分析设备控制系统用的程序。应当注意,迄今为止所述的实施例仅是示例,并且显而易见,可以在本发明的精神内进行任何适当修改或调整。
例如,在多个分析设备连接至根据本发明的分析设备控制系统的情况下,消耗信息显示单元可以显示这些多个不同的分析设备中所包括的所有消耗部件的估计更换日期。
Claims (6)
1.一种分析设备控制系统,用于对包括一个或多个消耗部件的分析设备进行控制,其中,所述消耗部件是根据总时间长度和使用次数而消耗、在特定使用持续时间之后应当更换的部件,并且所述消耗部件不是试剂,所述分析设备控制系统包括:
使用限度存储单元,用于针对各消耗部件存储预定的使用限度值;
使用度管理单元,用于管理各消耗部件的直到当前时刻为止的使用度;
估计更换日期计算单元,用于基于所述使用限度值和所述使用度来计算各消耗部件的估计更换日期;以及
消耗信息显示单元,用于将各消耗部件的所述估计更换日期以预定的显示格式呈现在显示器上;
其中,在消耗部件以前从未使用或者消耗部件的使用度低于预定的有效使用下限值的情况下,所述估计更换日期计算单元基于预定的默认值来计算所述估计更换日期,以及
在消耗部件的使用度等于或高于所述有效使用下限值的情况下,所述估计更换日期计算单元基于通过将从所述使用限度值中减去所述使用度所获取到的值除以每天的平均使用度而获得的剩余天数,来计算所述估计更换日期。
2.根据权利要求1所述的分析设备控制系统,其中,
所述消耗信息显示单元优先将所述使用度高于所述使用限度值或所述估计更换日期接近当前时刻的消耗部件的估计更换日期呈现在所述显示器上。
3.根据权利要求1或2所述的分析设备控制系统,其中,所述消耗信息显示单元针对构成所述分析设备的各单元,单独列出消耗部件的估计更换日期。
4.一种分析设备控制方法,用于对包括一个或多个消耗部件的分析设备进行控制,其中,所述消耗部件是根据总时间长度和使用次数而消耗、在特定使用持续时间之后应当更换的部件,并且所述消耗部件不是试剂,所述分析设备控制方法包括:
使用度管理步骤,用于管理各消耗部件的直到当前时刻为止的使用度;
估计更换日期计算步骤,用于基于所述使用度以及存储在使用限度存储单元中的预定的使用限度值来计算各消耗部件的估计更换日期;以及
消耗信息显示步骤,用于将各消耗部件的所述估计更换日期以预定的显示格式呈现在显示器上,
其中,在消耗部件以前从未使用或者消耗部件的使用度低于预定的有效使用下限值的情况下,所述估计更换日期计算步骤将预定的默认值设置为所述估计更换日期,以及
在消耗部件的使用度等于或高于所述有效使用下限值的情况下,所述估计更换日期计算步骤基于通过将从所述使用限度值中减去所述使用度所获取到的值除以每天的平均使用度而获得的剩余天数,来计算所述估计更换日期。
5.根据权利要求4所述的分析设备控制方法,其中,
所述消耗信息显示步骤优先将所述使用度高于所述使用限度值或所述估计更换日期接近当前时刻的消耗部件的估计更换日期呈现在所述显示器上。
6.根据权利要求4或5所述的分析设备控制方法,其中,所述消耗信息显示步骤针对构成所述分析设备的各单元,单独列出消耗部件的估计更换日期。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012-170832 | 2012-08-01 | ||
JP2012170832A JP2014032022A (ja) | 2012-08-01 | 2012-08-01 | 分析装置制御システム、及び分析装置制御システム用プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN103575916A CN103575916A (zh) | 2014-02-12 |
CN103575916B true CN103575916B (zh) | 2016-05-11 |
Family
ID=50026245
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201310332113.7A Active CN103575916B (zh) | 2012-08-01 | 2013-08-01 | 分析设备控制系统和分析设备控制方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20140039647A1 (zh) |
JP (1) | JP2014032022A (zh) |
CN (1) | CN103575916B (zh) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102304655B1 (ko) * | 2014-07-03 | 2021-09-24 | 이문재 | 생산공정 자동 카운팅 시스템 |
KR20160019844A (ko) * | 2014-08-12 | 2016-02-22 | 삼성전자주식회사 | 체외진단기 및 그에 따른 체외진단방법 |
CN106647348A (zh) * | 2016-09-30 | 2017-05-10 | 深圳前海弘稼科技有限公司 | 一种基于种植箱的器件老化监控方法、装置及系统 |
EP3722812B1 (en) | 2017-12-05 | 2024-03-06 | Hitachi High-Tech Corporation | Automated analysis device |
WO2020031276A1 (ja) * | 2018-08-07 | 2020-02-13 | 株式会社島津製作所 | 流体残量管理装置、分析システム、流体残量管理方法および流体残量管理プログラム |
JP7100411B2 (ja) * | 2018-09-20 | 2022-07-13 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
WO2020179111A1 (ja) * | 2019-03-06 | 2020-09-10 | 株式会社島津製作所 | 分析装置の部品管理システムおよびプログラム |
CN112541596A (zh) * | 2019-09-04 | 2021-03-23 | 珠海格力电器股份有限公司 | 一种用户关系的管理方法及系统 |
WO2024075511A1 (ja) * | 2022-10-07 | 2024-04-11 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101126762A (zh) * | 2006-08-18 | 2008-02-20 | 希森美康株式会社 | 试样分析仪 |
CN101275961A (zh) * | 2007-03-30 | 2008-10-01 | 希森美康株式会社 | 试样分析仪 |
CN102235965A (zh) * | 2010-03-30 | 2011-11-09 | 希森美康株式会社 | 检测体分析装置以及由该装置进行的对用户的通知方法 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4207567A (en) * | 1977-11-17 | 1980-06-10 | The Valeron Corporation | Broken, chipped and worn tool detector |
US4442494A (en) * | 1981-11-18 | 1984-04-10 | Westinghouse Electric Corp. | Tool wear and tool failure monitor system |
JPH0675965B2 (ja) * | 1985-09-27 | 1994-09-28 | 株式会社東京機械製作所 | 印刷機保守管理システム |
US5210704A (en) * | 1990-10-02 | 1993-05-11 | Technology International Incorporated | System for prognosis and diagnostics of failure and wearout monitoring and for prediction of life expectancy of helicopter gearboxes and other rotating equipment |
JPH086223A (ja) * | 1994-06-15 | 1996-01-12 | Konica Corp | 感光材料処理装置用固形処理剤補充装置 |
JPH09211003A (ja) * | 1996-02-01 | 1997-08-15 | Hitachi Ltd | 自動分析装置 |
JPH1038793A (ja) * | 1996-07-23 | 1998-02-13 | Chino Corp | 光学的測定装置 |
JP3769904B2 (ja) * | 1997-10-03 | 2006-04-26 | 株式会社島津製作所 | 分析装置 |
JP2001350510A (ja) * | 2000-06-06 | 2001-12-21 | Mori Seiki Co Ltd | 工作機械保守管理システム |
JP2003036320A (ja) * | 2001-07-23 | 2003-02-07 | Omron Corp | 部品情報処理方法とそのシステム、及び交換時期予測プログラム |
US7010386B2 (en) * | 2002-03-22 | 2006-03-07 | Mcdonnell Ryan P | Tool wear monitoring system |
JP2004219352A (ja) * | 2003-01-17 | 2004-08-05 | Toshiba Corp | 分析装置及び管理システム |
JP3681733B2 (ja) * | 2003-02-21 | 2005-08-10 | ファナック株式会社 | 数値制御装置 |
JP4369247B2 (ja) * | 2004-01-05 | 2009-11-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置のサポートシステム |
JP4110101B2 (ja) * | 2004-01-28 | 2008-07-02 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
JP4925768B2 (ja) * | 2006-08-22 | 2012-05-09 | シスメックス株式会社 | 検体分析装置 |
JP2010151672A (ja) * | 2008-12-25 | 2010-07-08 | Beckman Coulter Inc | 自動分析装置 |
JP5373573B2 (ja) * | 2009-12-01 | 2013-12-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置、および自動分析装置の光源ランプ交換方法 |
JP5303515B2 (ja) * | 2010-07-09 | 2013-10-02 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
US8788083B2 (en) * | 2011-07-22 | 2014-07-22 | Pratt & Whitney Canada Corp. | Compensation for process variables in a numerically-controlled machining operation |
-
2012
- 2012-08-01 JP JP2012170832A patent/JP2014032022A/ja active Pending
-
2013
- 2013-07-29 US US13/952,976 patent/US20140039647A1/en not_active Abandoned
- 2013-08-01 CN CN201310332113.7A patent/CN103575916B/zh active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101126762A (zh) * | 2006-08-18 | 2008-02-20 | 希森美康株式会社 | 试样分析仪 |
CN101275961A (zh) * | 2007-03-30 | 2008-10-01 | 希森美康株式会社 | 试样分析仪 |
CN102235965A (zh) * | 2010-03-30 | 2011-11-09 | 希森美康株式会社 | 检测体分析装置以及由该装置进行的对用户的通知方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20140039647A1 (en) | 2014-02-06 |
CN103575916A (zh) | 2014-02-12 |
JP2014032022A (ja) | 2014-02-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN103575916B (zh) | 分析设备控制系统和分析设备控制方法 | |
US8935701B2 (en) | Unified management platform in a computer network | |
US10904159B2 (en) | Resource allocation optimizing system and method | |
US11531909B2 (en) | Computer system and method for machine learning or inference | |
US9406023B2 (en) | System recommendations based on incident analysis | |
US8498887B2 (en) | Estimating project size | |
Campelo et al. | detrendeR–a graphical user interface to process and visualize tree-ring data using R | |
US20090300173A1 (en) | Method, System and Apparatus for Managing, Modeling, Predicting, Allocating and Utilizing Resources and Bottlenecks in a Computer Network | |
US9563422B2 (en) | Evaluating accessibility compliance of a user interface design | |
US9348508B2 (en) | Automatic detection of user preferences for alternate user interface model | |
US10831352B2 (en) | Guided remediation of accessibility and usability problems in user interfaces | |
US20120017102A1 (en) | Event based correlation of power events | |
CN108694118B (zh) | 一种应用测试方法和装置 | |
CN103838537A (zh) | 控制装置和信息处理装置 | |
Noureddine et al. | Jolinar: analysing the energy footprint of software applications | |
US20170147934A1 (en) | Method and system for quantitatively evaluating the confidence in information received from a user based on cognitive behavior | |
CN111754123A (zh) | 数据监控方法、装置、计算机设备及存储介质 | |
US20140136679A1 (en) | Efficient network bandwidth utilization in a distributed processing system | |
US20150095119A1 (en) | Managing key performance indicators | |
US9596654B2 (en) | Association of applications to clusters mapped to logical battery partitions | |
JP2012018521A (ja) | エネルギー管理システム | |
US10258273B2 (en) | Real-time continuous stress monitoring using wearable devices | |
US9778854B2 (en) | Computer system and method for controlling hierarchical storage therefor | |
US20050080892A1 (en) | Method for predicting a development over time of a system quantity | |
US9430007B2 (en) | Voltage regulator stress reducing system |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant |