CN103453925A - 定位治具 - Google Patents
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Abstract
一种定位治具，用于对光学元件进行夹持定位以进行光学检测，该定位治具包括支撑件、夹持件及磁铁，该支撑件包括本体及由该本体朝向该夹持件凸伸的凸伸部，该本体朝向该夹持件的一侧形成有安装面，该本体于该安装面开设有收纳所述光学元件的容纳槽，该夹持件包括主体及形成于该主体一端的端部，该端部与该凸伸部配合将该夹持件稳固于该支撑件上，该支撑件与该夹持件的至少一个上装设该磁铁，且至少另一个为铁磁性材料制成，该夹持件贴合该安装面，且该夹持件封盖该容纳槽，通过该磁铁的磁吸力使该夹持件与支撑件夹紧该光学元件。该定位治具结构简单，且能避免在各个方向偏移和晃动，稳定性好，提高治具精度。
Description
技术领域
本发明涉及一种定位治具，尤其涉及一种应用于对光学元件进行光学检测的定位治具。
背景技术
光学元件为求得较佳的精准度，须利用能精准检测且可重复检测的治具对光学元件进行测量。由于光学元件的精度需达到微米级，定位治具的精度直接影响光学元件的检测精度，所以对定位治具的精度要求较高。结构较复杂的定位治具在组装时较为繁琐，使得定位治具的精度受到人为因素影响较大。结构较简单的定位治具无法在各方向稳定地定位光学元件，容易产生偏移或晃动，尤其对于不规则轮廓的光学元件不能进行较稳定夹持定位以进行检测，使得治具的精度较低。
发明内容
鉴于上述内容，有必要提供一种通过结构简单及避免偏移和晃动提高精度的定位治具。
一种定位治具，用于对光学元件进行夹持定位以进行光学检测，该定位治具包括支撑件、夹持件及磁铁，该支撑件包括本体及由该本体朝向该夹持件凸伸的凸伸部，该本体朝向该夹持件的一侧形成有安装面，该本体于该安装面开设有收纳所述光学元件的容纳槽，该夹持件包括主体及形成于该主体一端的端部，该端部与该凸伸部配合将该夹持件稳固于该支撑件上，该支撑件与该夹持件的至少一个上装设该磁铁，且至少另一个为铁磁性材料制成，该夹持件贴合该安装面，且该夹持件封盖该容纳槽，通过该磁铁的磁吸力使该夹持件与支撑件夹紧该光学元件。
上述定位治具仅由支撑件、夹持件及提供支撑件及夹持件的夹持力的磁铁构成，结构简单，组装较为方便，减少组装时人为因素带来的误差，组装的可重复性高，且凸伸部支撑主体，端部位于两个凸伸部之间，使得支撑件与夹持件紧密配合，避免于各个方向偏移和晃动，稳定性好，提高治具精度。
附图说明
图1是本发明实施方式的定位治具的立体组装示意图。
图2是本发明实施方式的定位治具的立体分解示意图。
主要组件符号说明
| 定位治具 | 100 |
| 光学元件 | 200 |
| 支撑件 | 10 |
| 夹持件 | 30 |
| 磁铁 | 50 |
| 本体 | 11 |
| 凸伸部 | 13 |
| 安装面 | 111 |
| 容纳槽 | 113 |
| 通孔 | 115 |
| 轮廓面 | 1131 |
| 主体 | 31 |
| 端部 | 33 |
| 容纳孔 | 311 |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请同时参阅图1及图2，本发明实施方式的定位治具100，用于对光学元件200进行夹持定位以进行光学检测。本实施方式中，光学元件200大致为块状的光学透镜，其两侧面形成有阶梯状的轮廓。
定位治具100包括支撑件10、与支撑件10配合的夹持件30及磁铁50。支撑件10与夹持件30的至少一个上装设磁铁50，且至少另一个为铁磁性材料制成。支撑件10对光学元件200进行支撑及定位，夹持件30配合支撑件10对光学元件200进行夹持，磁铁50吸附于相对应的支撑件10或夹持件30以提供夹持件30与支撑件10之间的夹紧力，以使得光学元件200稳定于定位治具100中，从而进行精确检测。在本实施方式中，磁铁50装设于夹持件30上，支撑件10为铁材料制成。
支撑件10包括本体11及于本体11凸伸形成的凸伸部13。本体11大致为立方体状，其包括朝向凸伸部13的安装面111，本体11于安装面上凹设有与光学元件200匹配的容纳槽113。容纳槽113的底壁形成一个轮廓面1131，轮廓面1131与光学元件200侧面的轮廓相配合。本体11于轮廓面1131上开设有通孔115，用以在对光学元件200进行检测时，光源通过通孔115进入光学元件200，使得光学元件200于检测时具有良好的透光性。在本实施方式中，轮廓面1131为配合光学元件200的阶梯状面。通孔115的数量为两个，且开设于轮廓面1131的阶梯处。可以理解，通孔115的数量可为一个、三个或更多。
在本实施方式中，凸伸部13的数量为两个，且分别于本体11的两侧凸伸形成。凸伸部13用于支撑夹持件30，以使得夹持件30与支撑件10紧密配合，以避免支撑件10相对夹持件30于水平方向及垂直方向晃动。
夹持件30大致为T形，其包括主体31及形成于主体31一端的端部33。主体31开设有容纳孔311，容纳孔311的位置为对应支撑件10的容纳槽113周缘部位。磁铁50收容于容纳孔311中。端部33的宽度等于两个凸伸部13之间的宽度。夹持件30通过磁铁50与支撑件10配合夹紧光学元件200，此时，凸伸部13支撑主体31，端部33位于两个凸伸部13之间。在本实施方式中，端部33的高度与支撑件10的凸伸部13的高度相等。容纳孔311的数量为两个，相应地，磁铁50的数量亦为两个。可以理解，磁铁50亦可装设于端部33或装设于支撑件10的安装面111的容纳槽113周缘部位，且磁铁50装设于支撑件10上时，夹持件30需由铁磁性材料制成。磁铁50的数量可为其它，例如一个、三个或更多，通过调节磁铁50的数量及磁铁50的磁吸强度，调节夹持件30与支撑件10夹紧光学元件200的夹紧力。
使用时，将光学元件200的与轮廓面1131相匹配的面朝向轮廓面1131放置于容纳槽113中。此时，光学元件200刚好容置于容纳槽113中。将夹持件30的主体31放置于支撑件10的凸伸部13上，此时夹持件30的端部33位于两个凸伸部13之间，夹持件30贴合于支撑件10的安装面111，且夹持件30封盖容纳槽113。支撑件10与夹持件30通过磁铁50夹紧光学元件200。当定位治具100的下方放置有光源（图未示），光源发出的光讯号通过通孔115传播至光学元件200，从而对光学元件200进行光学检测。
本实施方式的定位治具100仅由支撑件10、夹持件30及提供支撑件10及夹持件30的夹持力的磁铁50构成，结构简单，夹持光学元件200时仅需将光学元件200放置于容纳槽113中，组装较为方便，减少组装时人为因素带来的误差。放置光学元件200时，将光学元件200与轮廓面1131配合，能够轻易达到一次性到位，且具有防呆功能，组装的可重复性高。凸伸部13支撑主体31，端部33位于两个凸伸部13之间，使得支撑件10与夹持件30紧密配合，避免偏移和晃动，稳定性好。支撑件10设置有与容纳槽113连通的通孔115，提高光学检测时的检测光的穿透力，使得光学元件200的检测精度高。通过磁铁50的数量或磁铁50的强度，调节支撑件10与夹持件30的夹紧力，使得能够较轻易根据需要调节对光学元件200的夹紧力，提高检测精度。
另外，本领域技术人员还可在本发明精神内做其它变化，当然这些依据本发明精神所做的变化，都应包含在本发明所要保护的范围。
Claims (7)
1.一种定位治具，用于对光学元件进行夹持定位以进行光学检测，其特征在于：该定位治具包括支撑件、夹持件及磁铁，该支撑件包括本体及由该本体朝向该夹持件凸伸的凸伸部，该本体朝向该夹持件的一侧形成有安装面，该本体于该安装面开设有收纳所述光学元件的容纳槽，该夹持件包括主体及形成于该主体一端的端部，该端部与该凸伸部配合将该夹持件稳固于该支撑件上，该支撑件与该夹持件的至少一个上装设该磁铁，且至少另一个为铁磁性材料制成，该夹持件贴合该安装面，且该夹持件封盖该容纳槽，通过该磁铁的磁吸力使该夹持件与支撑件夹紧该光学元件。
2.如权利要求1所述的定位治具，其特征在于：该容纳槽的底壁形成有一个与该光学元件配合的轮廓面，该支撑件于该轮廓面上开设有通孔，以用于对该光学元件进行光学检测时检测光线通过通孔到达该光学元件。
3.如权利要求1所述的定位治具，其特征在于：该磁铁装设于该安装面的该容纳槽边缘部位。
4.如权利要求1所述的定位治具，其特征在于：该主体上对应该容纳槽的周缘部位开设有容纳孔，该磁铁装设于该容纳孔中。
5.如权利要求1所述的定位治具，其特征在于：该磁铁装设于该端部朝向该支撑件的面上。
6.如权利要求1所述的定位治具，其特征在于：该端部的高度等于该凸伸部的高度，该夹持件贴合于该安装面时，该凸伸部支撑该主体。
7.如权利要求6所述的定位治具，其特征在于：该凸伸端的数量为两个，该端部的宽度等于该两个凸伸端之间的宽度，该夹持件贴合于该安装面时，该端部位于该两个凸伸部之间。
Priority Applications (1)
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Cited By (4)
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| CN107192859A (zh) * | 2016-03-14 | 2017-09-22 | 江苏卓芯电子科技有限公司 | 一种同轴式电化学探针固定装置 |
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| PB01 | Publication | ||
| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
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