CN103412255A - 一种星载多路微波开关测试装置 - Google Patents

Abstract

一种星载多路微波开关测试装置，包括程控电源、开关状态驱动模块、开关遥测采集模块、射频开关矩阵组、检波器、信号源、示波器、矢量网络分析仪和工控机。工控机通过网络控制程控电源输出的电压值，控制射频开关矩阵组的切换，控制开关状态驱动模块产生N＊4路独立的驱动开关的指令，控制开关遥测采集模块对N＊4路独立的被测开关状态遥测信号进行采集，控制信号源产生连续波信号，控制示波器获取被测开关的驱动电流值和被测开关的切换时间，控制矢量网络分析仪获取被测开关的射频S参数；通过改变驱动指令的驱动幅度获取被测开关的状态转换门限电压；通过记录被测开关的正确的状态转换次数获取被测开关的寿命。

Description

一种星载多路微波开关测试装置

技术领域

本发明涉及一种能同时实现N个星载机械式微波开关性能指标自动测试的装置，可用于微波开关研制与生产中的性能测试。

背景技术

国外宇航用的微波开关产品发展历史长，技术水平一直处于较高水平，如美国TELEDY公司、加拿大COMDEV公司、法国RADIALL等公司均有系列化的产品。但是，这些公司均没有公开具体的对其系列化产品进行测试的方法和装置。美军标《MIL-DTL-3928F》（23December2005）中规定了微波开关的电性能通用测试标准，但并未涉及有关微波开关自动测试的方法与装置方面的内容。

长期以来，我国星上产品所需的微波开关基本从以上公司进口，不但价格昂贵，而且技术受制于人。为了摆脱这种局面，目前，国内也逐渐开始重视自主研制生产星载微波开关，但是国内尚无专门针对微波开关的测试方法和标准，微波开关的各类测试往往按照各自的方法惯例进行，在某些项目指标的测试上往往不具备广泛的统一性。

2006年第6期《电子测量技术》杂志上，由苏水金、唐兆军等编写的《微波高速开关的开关时间测量方法研究》一文公开了一种针对电子式微波开关的时间测量方法。该方法将微波信号源、脉冲源的输出信号作用于微波开关，然后通过取样示波器和计算机处理软件来获取微波开关的开关时间。由于在该测量装置中没有检波器模块，为了测量几纳秒或几百皮秒的电子式开关，需要70GHz的宽带取样示波器来观察通过开关的微波信号，所观测到的信号不是包络信号，因此在取样示波器上无法直接测量出开关时间，需要利用计算机采集取样示波器上观测到的波形数据，然后编写数据处理软件来提取该波形的包络，最后计算出该包络的上升时间和下降时间，即微波开关的开启时间和关闭时间。由于该方法的测试对象为电子式微波开关，而非机械式微波开关，因此方法中没有考虑机械式微波开关所需的驱动指令信号在电机线圈中的感应延迟时间。除此之外，该方法也并未涉及微波开关的门限电压及寿命试验等指标的测试问题。

发明内容

本发明的技术解决问题是：克服现有技术的不足，提供了一种适用于对星载机械式微波开关的切换时间、门限电压及寿命试验进行自动测试的装置，解决了国产化微波开关研制及生产中电性能的测试问题，使得测试数据完整准确，可以大大提高测试效率，降低测试成本。

本发明的技术解决方案是：一种星载多路微波开关测试装置，包括程控电源、开关状态驱动模块、开关遥测采集模块、射频开关矩阵组、检波器、信号源、示波器、矢量网络分析仪和工控机，其中：

程控电源：为开关状态驱动模块提供电源，电源的电压值由工控机发出的开关驱动指令中包含的驱动指令幅度确定；通过开关状态遥测采集模块给被测开关提供所需工作电源；

开关状态驱动模块：根据工控机发出的开关驱动指令，产生N＊4路独立的驱动开关的指令并且驱动指令幅度和宽度可以调节，其中N为被测开关的个数，4为单个被测开关的状态数；所述的开关驱动指令中包括被测开关编号及对应的驱动指令幅度和宽度信息；

开关遥测采集模块：对N＊4路独立的被测开关状态遥测信号进行采集；

射频开关矩阵组：根据开关切换时间测试需要在工控机的控制下实现N个被测开关的射频通道状态的任意路由连接，包括开关矩阵1、开关矩阵2、开关矩阵3，其中开关矩阵1和开关矩阵3均为2个输入端口对N+1个输出端口的射频通道开关矩阵，开关矩阵2为2个输入端口对2＊N+1个输出端口的射频通道开关矩阵；开关矩阵1的第一输入端口接信号源输出的连续波信号，开关矩阵1的前N个输出端口依次连接到被测的N个微波开关的射频端口1，开关矩阵1的第N+1个输出端口连接到开关矩阵3的第二输入端口，开关矩阵3的N个输出端口依次连接到被测的N个微波开关的射频端口4，开关矩阵2的第一输入端口接检波器的输入，开关矩阵2的第一组N个输出端口依次连接到被测的N个微波开关的射频端口2，开关矩阵2的第二组N个输出端口依次连接到被测的N个微波开关的射频端口3，开关矩阵2的第2＊N+1个输出端口连接到开关矩阵3的第一输入端口；

检波器：获取被测微波开关每次进行状态切换前后的射频连续波信号；

信号源：为被测的N个开关提供射频连续波信号；

示波器：示波器的第一通道与程控电源给开关状态驱动模块提供所需电源的正极连接，用于获取单个被测开关的驱动电流值的大小和开关驱动指令的开始时间信号，示波器的第二通道与检波器的输出端口连接，根据检波器提供的射频信号获取被测开关切换时间；

矢量网络分析仪：对被测开关的射频S参数进行测量；

工控机：通过总线进行指令控制，包括控制射频开关矩阵组的射频通道的路由切换；控制程控电源输出的电压值，实现开关驱动指令的幅度调节输出；控制开关状态驱动模块产生N＊4路独立的开关驱动指令；控制信号源产生连续波信号；控制示波器获取被测开关的驱动电流值和被测开关的切换时间；控制矢量网络分析仪获取被测开关的射频S参数；控制开关遥测采集模块能完成N＊4路独立的被测开关状态遥测信号的采集；通过改变驱动指令的驱动幅度而完成开关状态的正确切换来获取被测开关的状态转换门限电压；通过控制开关状态的正确切换次数并记录获取被测开关的寿命参数。

所述的开关状态驱动模块包括单片机、移位寄存器、锁存器、OC门输出电路、驱动指令输出接口，单片机完成开关驱动指令的接收后进行解析，并根据接收到的开关编号和驱动脉宽，通过移位寄存器、锁存器把开关驱动指令信息通过串并转化后锁定在对应的驱动指令通道上，驱动指令通道上的OC门输出电路导通，随后根据开关驱动指令中的驱动脉宽产生OC门输出电路的关闭信号；单片机结合程控电源输出的电压值，在驱动指令输出接口得到N＊4路独立的驱动开关的指令。

本发明与现有技术相比的优点在于：本发明给出了一种可以对机械式微波开关的电性能指标进行自动测试的装置，通过对开关状态驱动模块的设计，使的开关状态驱动指令可按一定组合和要求独立并行输出；通过射频开关矩阵组的设计与构建，能实现N个被测微波开关的射频通道端口状态的自由转换连接，从而用最少的通用测试仪器完成N＊12个开关切换时间的正确测试；再加上GPIB总线控制技术及工控机和开关状态遥测采集模块从而实现了N个被测微波开关状态的任意自动切换和识别、门限电压和寿命试验的自动测试；与传统的人工手动测试相比，节约了测试时间，大大提高了测试效率，减少了真空、温循试验设备的占有时间，使得试验成本大大降低；另外，采用检波器和低带宽的数字存储示波器就可以完成开关切换时间测试，使得测试成本也大大降低。

附图说明

图1为本发明装置的组成原理框图；

图2为本发明开关状态驱动模块的组成原理框图；

图3为本发明射频开关矩阵组的组成原理框图。

具体实施方式

如图1所示，本发明测试装置按功能模块可划分为以下几部分：程控电源、开关状态驱动模块、开关遥测采集模块、射频开关矩阵组、检波器、环境温度采集模块、工控机以及通用测试仪器，其中通用测试仪器又包括：信号源（或加功率放大器）、数字存储示波器、矢量网络分析仪。

按照图1所示连接各模块之后，工控机通过GPIB总线对完成测试项目所需的通用测试设备、程控电源、开关状态驱动模块、射频开关矩阵组的控制；通过PCI总线控制开关遥测采集模块能完成N＊4路独立的被测开关状态遥测信号的采集，并按配置的测试项目实现测试。首先给程控电源发送所需的输出电压值，再给开关状态驱动模块发送开关状态切换驱动指令，可以按需要对N＊4个驱动指令依次发送或N＊4个驱动指令并行同时发送，完成被测微波开关所需状态切换后，开关状态遥测模块将开关状态遥测信号采集并送入工控机存储与显示；控制信号源产生射频连续波信号，控制实现射频开关矩阵组的射频通道的路由切换，就可以把该射频信号通过射频开关矩阵组和连接到射频开关矩阵组的N个被测开关的某个射频通道送给检波器，再控制数字存储示波器实现开关的切换时间和驱动电流值的测量检测；通过改变驱动指令的幅度值而完成开关状态的正确切换来获取被测开关的状态转换门限电压；通过控制开关状态的正确切换次数并记录获取被测开关的寿命参数

下面对各组成模块进行详细的介绍。

1、程控电源

程控电源为双路电源，第I路给开关状态驱动模块的OC门输出电路提供所需电源，第II路通过开关状态遥测采集模块给被测开关的遥测电路提供所需电源。可以选用安捷伦E3649A双路电源。

2、开关状态驱动模块

开关状态驱动模块能够产生N＊4路独立的驱动开关的指令（N为开关的个数，4为单个开关的状态数），根据当前国产化单个微波开关的状态数需求，每4路为一组，共分为N组输出。如图2所示，该模块由以下几部分组成：①电源电路、②GPIB接口电路、③RS232接口电路、④智能显示驱动终端、⑤单片机（CPU）、⑥移位寄存器，锁存器，OC门输出电路、⑦驱动指令输出接口。

电源电路产生供给本模块中其余组成电路所需的+5V直流电压信号；工控机通过GPIB接口电路按规定的指令格式送给单片机驱动指令信息，指令信息中包括开关状态号、驱动指令脉宽和幅度信息，可以是一个开关的某个状态驱动指令信息或N个开关的某个状态驱动指令信息串，单片机完成由上位机发送的开关驱动指令的接收后进行解析，并根据接收到的开关编号和驱动脉宽信息，产生移位寄存器、锁存器、OC门输出电路所需的配置信号和时钟信号，从而实现开关驱动指令信息的串并转化并锁定在对应的驱动指令通道上，控制对应的OC门输出电路导通和关断，根据接收到的开关驱动指令幅度信息，工控机控制程控电源输出对应的电压值，这样在驱动指令输出接口就可得到N＊4路独立的驱动开关的指令并且驱动指令幅度和宽度可以调节改变输出；智能显示驱动终端主要完成驱动指令的通道和宽带信息的手动设置操作和显示功能，并通过RS232接口电路送给单片机实现驱动指令的手动发送。

3、开关遥测采集模块：

开关遥测采集模块能够完成N＊4路独立的遥测信号的自动采集，选用通用的PCI数据采集卡来实现，其中N为开关的个数，4为单个被测开关的状态数，根据当前国产化单个微波开关的状态数需求，每4路为一组，共分为N组完成采集、存储。

4、射频开关矩阵组

如图3所示，射频开关矩阵组包括开关矩阵1、开关矩阵2、开关矩阵3，其中开关矩阵1和开关矩阵3的构造一样，均为2射频输入端口对N+1射频输出端口的开关矩阵。开关矩阵2的构造为2射频输入端口对2＊N+1射频输出端口的开关矩阵。

国产化微波开关按照构造形式分为DPDT（C）、R型两种形式，其中最复杂的R型开关有四个射频端口：分别为射频端口1（或J1）、射频端口2（或J2）、射频端口3（或J3）、射频端口4（或J4），构成四种射频连接状态：状态1：J1–J2通且J3–J4通；状态2：J1–J3通；状态3：J2–J3通且J1–J4通；状态4：J2–J4通；另外还有低频驱动控制端口和状态遥测连接端口：分别是状态1、状态2、状态3、状态4四个驱动控制端口和驱动控制信号回线；状态1遥测、状态2遥测、状态3遥测、状态4遥测和遥测信号回线。

按如图3所示的连接法并通过接收相应的控制开关状态驱动指令，射频开关矩阵组就能把N个微波开关的射频端口中的某一个通道自动切换到与信号源及检波器连接，依次按状态要求切换N＊12次，就能实现N个开关及每个开关4种状态下12种遍历切换时间的测试。

由图3可知：信号源输出的连续波信号送给开关矩阵1的射频输入端口1，开关矩阵1的N个射频输出端口依次连接到被测的N个微波开关的J1端口，第N+1个射频输出端口连接到开关矩阵3的射频输入端口2；开关矩阵3的N个射频输出端口依次连接到被测N个微波开关的J4端口；检波器的输入接到开关矩阵2的射频输入端口1，开关矩阵2的第一组N个射频输出端口依次连接到被测N个微波开关的J2端口，其余的第二组N个射频输出端口依次连接到被测N个微波开关的J3端口，第2＊N+1个射频输出端口连接到开关矩阵3的射频输入端口1。除此之外，三个开关矩阵各自有一个与GPIB总线连接端口，确保地址不同。通过工控机给射频开关矩阵组的三个开关各自发送指令（或按所需状态组合列表发送指令），就可以将开关矩阵的射频输入端口与射频输出端口接通，实现被测开关切换时间测试需要的射频通道状态的正确路由及切换。

5、检波器

检波器是仅用于微波开关的切换时间测试时的部件模块。将信号源产生的连续波射频信号通过射频开关矩阵与被测开关的射频通道接通，并送给检波器检波处理，便于通用的数字存储示波器检测开关切换到所需状态的所需时间。

6、通用测试仪器

通用测试仪器包括：信号源（或加功放）、数字存储示波器、矢量网络分析仪。信号源为测试微波开关的切换时间提供射频连续波信号；数字存储示波器用于测试微波开关切换时间和开关驱动电流等参数，例如DPO7054C或TDS5054B。如图1所示，示波器的通道I接电流钳并嵌在程控电源第一路（给开关状态驱动模块提供所需电源）输出的正极电缆上，用于拾取单个开关的驱动电流值的大小，同时还可以通过存储示波器的触发功能获得开关状态驱动信号的开始时间信号或者说为获取被测开关切换时间中的驱动指令信号在电机线圈中的感应延迟时间，示波器的第二通道与检波器的输出端口连接，根据检波器提供的射频信号获取开关射频通道转子转到射频输出端口功率稳定在95%以上所用的时间或称为结束时间。矢量网络分析仪用于测试微波开关射频S参数，对于R型微波开关，推荐使用四端口矢量网络分析仪，完成全端口校准后，再分别接到微波开关的四个射频端口，就可以实现微波开关射频S参数测试（如驻波、隔离度、插损等）。

7、环境温度采集模块

环境温度采集模块运用温度巡检仪拾取被测件所处的实验环境温度，通过串口方式送入工控机显示并保存。

8、工控机

工控机主要完成对通用测试仪器设备、程控电源和开关状态驱动模块及开关状态遥测模块的控制，测试数据的存储和显示功能。

下面具体说明采用本发明装置完成微波开关各测试项目的实现步骤。

按照图1所示，进行测试装置的模块连接。工控机通过GPIB控制总线连接程控电源、射频开关矩阵组、开关状态驱动模块、信号源、数字存储示波器、矢量网络分析仪，开关遥测采集模块通过PCI总线槽连接到工控机；N＊4路开关状态驱动模块的输出端口按定义编号分别连接到N个被测微波开关的状态1、状态2、状态3、状态4四个驱动接线端口和驱动控制信号回线；N个微波开关的低频状态遥测连接端口：包括状态1遥测、状态2遥测、状态3遥测、状态4遥测和遥测信号回线遥测端子按定义编号分别连接到N＊4路开关遥测采集模块的遥测输入端口；信号源的输出接入射频开关矩阵1的射频输入端口1；N个被测微波开关具有J1射频端口N个、J2射频端口N个、J3射频端口N个、J4射频端口N个，N个J1按编号分别接入开关矩阵1的射频输出端口，N个J2和N个J3按编号分别接入开关矩阵2的射频输出端口，N个J4按编号分别接入开关矩阵3的射频输出端口；检波器输入端口接在射频开关矩阵3的射频输入端口1，检波器输出送给示波器第二通道的探头上；矢量网络分析仪用于测试微波开关射频S参数。

当进行微波开关切换时间的测试时，图1中除去矢量网络分析仪外其余所有的模块均需要按以上所述连接来完成测试；当进行微波开关门限电压测试时和寿命试验测试时，如图1所示，不需要射频开关矩阵组、信号源、检波器、矢量网络分析仪等功能模块，其余的模块按以上所述连接来完成测试。

开关切换时间的测试

微波开关切换时间就是要检测微波开关加载驱动信号直到完成射频通道切换所需要的时间，它是由三部分时间构成：①驱动指令激励线圈的感应延迟时间，②射频连接装置转换时间，③射频连接装置转换弹跳时间。需要把时间域的信号即开关驱动信号和频率域的信号即功率信号有效的结合起来进行测量。按图1所示连接测试装置（不需要连接矢量网络分析仪），工控机按开关状态切换要求每次发送一个开关状态驱动指令到开关状态驱动模块，开关状态驱动模块完成驱动指令的接收后，根据驱动指令的开关状态号、驱动指令脉宽信息、驱动指令的幅度信息在驱动指令输出接口可到正确的开关状态驱动指令并输出到相应被测微波开关的对应的状态驱动控制端口，同时该开关状态驱动指令的起始沿可以通过电流钳拾取送到示波器第一通道（探头1），采用示波器触发功能可以捕捉到开关状态驱动指令的起始沿（上升或下降沿）即为开关状态切换时间的起始时间；设置信号源输出在可测试带宽内的连续波（CW）信号，工控机控制射频开关矩阵组自动切换到对应开关状态的射频通道，从而连续波（CW）信号就可以送入射频检波器的输入端口，完成检波后送给数字存储示波器第二通道（探头2）检测，就可以测量到射频通道转子转到射频输出端口功率稳定在95%以上所用的时间或称为结束时间，在示波器水平轴上读取驱动指令的起始时间（探头1）到探头2检波器输出的射频结束时间止即为开关切换时间。重复以上步骤N＊12次，就可以完成N个开关的N＊12种遍历下开关切换时间的测试。

开关门限电压测试

微波开关从一个状态驱动到另一个状态所需的最小电压值，即为门限电压。理论上说：在4V～19V之间，以0.5V为步进，找到可以驱动微波开关从一个状态到另一个状态的最小电压。假设开关起始状态为1，要切换至状态2，若测试从状态1切换至状态2的门限电压，先用正常工作电压28V将开关切换至状态1，然后从4V开始，电压每步进0.5V，切一次开关，再判断状态2遥测信号是否切换至状态2，如果未切换成功，则电压继续步进直至切换成功，记录该切换的电压值即为1-2状态的门限电压；重复以上步骤，可以实现所有状态的门限电压测试。

按门限电压自动测试装置构成图要求连接各功能模块，并把N个被测开关的低频驱动控制端口按规定标号接入开关状态驱动模块的输出接口，把低频状态遥测连接端口按规定标号接入开关遥测采集模块，工控机先发送标称值驱动指令脉冲（通常为+28V），置一个开关到某一个状态，然后每次发送一个切换到另一个状态的驱动指令且幅度从4V开始，再通过采集到的遥测信号判断是否切换成功，如果未切换成功，按每步进0.5V增加驱动指令幅度继续发送驱动指令直至切换成功，记录该切换的驱动指令幅度电压值即为某状态到另一个状态的门限电压；一个微波开关需要重复以上步骤12次，就可以完成状态1到状态2、状态2到状态3、状态3到状态2、状态2到状态1、状态1到状态3、状态3到状态4、状态4到状态3、状态3到状态1、状态1到状态4、状态4到状态2、状态2到状态4共计12种全遍历状态的门限电压的测试；若接入N个被测开关，需要重复以上步骤N＊12次方可完成所有门限电压的测试。

开关寿命试验的自动测试步骤：

开关寿命试验是破坏性试验，通过给微波开关加规定的驱动指令，使其连续切换若干次后，开关性能是否正常。

按开关寿命试验自动测试装置构成图要求连接各功能模块，并把N个被测开关的低频驱动控制端口按规定标号接入开关状态驱动模块的输出接口，把低频状态遥测连接端口按规定标号接入开关遥测采集模块，工控机按状态1到状态2、状态2到状态3、状态3到状态2、状态2到状态1、状态1到状态3、状态3到状态4、状态4到状态3、状态3到状态1、状态1到状态4、状态4到状态2、状态2到状态4共计12种全遍历状态切换顺序，在T时间每次发送N个驱动指令，开关状态驱动模块接收到N个驱动指令串后输出到对应的被测开关的状态控制端口，每次可完成N个开关状态的切换，举例说：当N=1时，表明为单个开关的试验，在T时间每次发送1个驱动指令，开关状态驱动模块输出一个开关驱动指令，12种全遍历状态切换顺序最好按以上顺序进行，这样便于开关状态遥测信号的测试采集数据与驱动指令的对应记录和判读，也可以不按上述切换顺序进行，但要包含12种全遍历状态且N个开关状态的切换顺序要一样便于自动控制和测试数据的处理。每发送一次驱动指令计数一次，总的预先设置的切换次数减少一次，通过开关遥测采集模块采集记录该状态遥测信息，并与状态遥测标称值比较（注：标称值是指被测开关指标规定的状态遥测值，通常说：0V通道关断,+5V通道开启），若与标称值不一致，产生声报警信号；若与标称值一致，则继续测试，直至预先设置的切换次数为零结束测试。

本发明说明书中未作详细描述的内容属本领域技术人员的公知技术。

Claims (2)

1.一种星载多路微波开关测试装置，其特征在于包括：程控电源、开关状态驱动模块、开关遥测采集模块、射频开关矩阵组、检波器、信号源、示波器、矢量网络分析仪和工控机，其中：

程控电源：为开关状态驱动模块提供电源，电源的电压值由工控机发出的开关驱动指令中包含的驱动指令幅度确定；通过开关状态遥测采集模块给被测开关提供所需工作电源；

开关状态驱动模块：根据工控机发出的开关驱动指令，产生N＊4路独立的驱动开关的指令并且驱动指令幅度和宽度可以调节，其中N为被测开关的个数，4为单个被测开关的状态数；所述的开关驱动指令中包括被测开关编号及对应的驱动指令幅度和宽度信息；

开关遥测采集模块：对N＊4路独立的被测开关状态遥测信号进行采集；

射频开关矩阵组：根据开关切换时间测试需要在工控机的控制下实现N个被测开关的射频通道状态的任意路由连接，包括开关矩阵1、开关矩阵2、开关矩阵3，其中开关矩阵1和开关矩阵3均为2个输入端口对N+1个输出端口的射频通道开关矩阵，开关矩阵2为2个输入端口对2＊N+1个输出端口的射频通道开关矩阵；开关矩阵1的第一输入端口接信号源输出的连续波信号，开关矩阵1的前N个输出端口依次连接到被测的N个微波开关的射频端口1，开关矩阵1的第N+1个输出端口连接到开关矩阵3的第二输入端口，开关矩阵3的N个输出端口依次连接到被测的N个微波开关的射频端口4，开关矩阵2的第一输入端口接检波器的输入，开关矩阵2的第一组N个输出端口依次连接到被测的N个微波开关的射频端口2，开关矩阵2的第二组N个输出端口依次连接到被测的N个微波开关的射频端口3，开关矩阵2的第2＊N+1个输出端口连接到开关矩阵3的第一输入端口；

检波器：获取被测微波开关每次进行状态切换前后的射频连续波信号；

信号源：为被测的N个开关提供射频连续波信号；

示波器：示波器的第一通道与程控电源给开关状态驱动模块提供所需电源的正极连接，用于获取单个被测开关的驱动电流值的大小和开关驱动指令的开始时间信号，示波器的第二通道与检波器的输出端口连接，根据检波器提供的射频信号获取被测开关切换时间；

矢量网络分析仪：对被测开关的射频S参数进行测量；

工控机：通过总线进行指令控制，包括控制射频开关矩阵组的射频通道的路由切换；控制程控电源输出的电压值，实现开关驱动指令的幅度调节输出；控制开关状态驱动模块产生N＊4路独立的开关驱动指令；控制信号源产生连续波信号；控制示波器获取被测开关的驱动电流值和被测开关的切换时间；控制矢量网络分析仪获取被测开关的射频S参数；控制开关遥测采集模块能完成N＊4路独立的被测开关状态遥测信号的采集；通过改变驱动指令的驱动幅度而完成开关状态的正确切换来获取被测开关的状态转换门限电压；通过控制开关状态的正确切换次数并记录获取被测开关的寿命参数。

2.根据权利要求1所述的一种星载多路微波开关测试装置，其特征在于：所述的开关状态驱动模块包括单片机、移位寄存器、锁存器、OC门输出电路、驱动指令输出接口，单片机完成开关驱动指令的接收后进行解析，并根据接收到的开关编号和驱动脉宽，通过移位寄存器、锁存器把开关驱动指令信息通过串并转化后锁定在对应的驱动指令通道上，驱动指令通道上的OC门输出电路导通，随后根据开关驱动指令中的驱动脉宽产生OC门输出电路的关闭信号；单片机结合程控电源输出的电压值，在驱动指令输出接口得到N＊4路独立的驱动开关的指令。

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