CN102540071A

CN102540071A - 继电器装置及继电器寿命测试装置

Info

Publication number: CN102540071A
Application number: CN2012100344931A
Authority: CN
Inventors: 牟振宁
Original assignee: Hefei Hualing Co Ltd; Hefei Midea Rongshida Refrigerator Co Ltd
Current assignee: Hefei Hualing Co Ltd; Hefei Midea Refrigerator Co Ltd
Priority date: 2012-02-15
Filing date: 2012-02-15
Publication date: 2012-07-04
Anticipated expiration: 2032-02-15
Also published as: CN102540071B

Abstract

本发明提出了一种继电器寿命测试装置，包括：开关信号发生模块，用于生成并输出多路开关信号；驱动模块，该驱动模块与开关信号发生模块相连，用于采集多路开关信号并将其转换为驱动电压信号；供电模块，该供电模块分别与开关信号发生模块和驱动模块相连，用于向开关信号发生模块和驱动模块进行供电。该装置电路结构简单，可靠性高，并且在控制方面不再需要单独的控制芯片，无需编程，因此成本大大降低，操作方便。本发明还提出了一种具有上述继电器寿命测试装置的继电器装置。

Description

继电器装置及继电器寿命测试装置

技术领域

本发明涉及电工技术领域，特别涉及一种继电器寿命测试装置以及具有其的继电器装置。

背景技术

继电器作为主要电气元件之一，广泛应用于工业控制、农业、交通运输、国防、军事、空间技术及日常生活等各个领域，作为遥控、遥测、通讯、检测、保护等自动化装置中的一种不可缺少的基本元件。因此，它工作是否正常将直接关系到使用该继电器制成的设备及产品的稳定性和可靠性。随着继电器技术的发展及继电器应用范围不断扩大，相应地对继电器的高性能、长寿命、高可靠性等方面的要求越来越高。因此，对继电器的测试提出了更高、更新的要求，在继电器的生产过程及产品抽检中要求检测许多参数，包括机械参数和电气参数等。

现有的继电器测试装置一般由单片机等控制芯片来控制。对于机械参数、绝缘检验及继电器的可靠性、使用寿命等参数，如果使用现有的继电器测试装置进行逐台测试花费时间长，效率低。此外，现有的继电器测试装置一般成本较高，并不适合非继电器厂家的设计工程师对继电器使用寿命进行简单的摸底测试。

发明内容

本发明的目的旨在至少解决上述的技术缺陷之一。

为此，本发明的第一个目的在于提供一种继电器寿命测试装置，该装置操作简单且成本低。本发明的另一个目的还在于提供一种继电器装置。

为达到上述目的，本发明第一方面的实施例公开了一种继电器寿命测试装置，包括：开关信号发生模块，用于生成并输出多路开关信号；驱动模块，所述驱动模块与所述开关信号发生模块相连，用于采集多路所述开关信号，并将所述开关信号转换为驱动电压信号；以及供电模块，所述供电模块分别与所述开关信号发生模块和所述驱动模块相连，用于向所述开关信号发生模块和所述驱动模块进行供电。

根据本发明实施例的继电器寿命测试装置的电路简单，可靠性高，并且成本较低。此外，在控制方面不再需要单独的控制芯片，无需编程，操作方便，适合广大的电路开发设计人员对继电器的使用寿命进行简单的摸底测试。

在本发明的一个实施例中，所述开关信号发生模块包括多个开关信号发生单元，用于生成并输出多路开关信号，其中，每个开关信号发生单元包括：单元开关，所述单元开关的一端与所述供电模块相连；第一组开关信号源和第二组开关信号源，其中所述第一组开关信号源和第二组开关信号源在所述单元开关的控制下交替输出异步的开关信号。

在本发明的一个实施例中，所述第一组开关信号源包括：第一电阻，所述第一电阻的一端与所述单元开关相连；第一电解电容，所述第一电解电容的负极端与所述第一电阻的另一端相连；第一三极管，所述第一三极管的基极与所述第一电解电容的负极端相连，所述第一三极管的发射极接地；以及第二电阻，所述第二电阻的一端分别与所述单元开关的一端和所述第一电阻的一端相连，所述第二电阻的另一端与所述第一三极管的集电极相连。所述第二组开关信号源包括：第三电阻，所述第三电阻的一端与所述单元开关相连；第二电解电容，所述第二电解电容的负极端与所述第三电阻的另一端相连，所述第二电解电容的正极端与所述第二电阻的另一端相连；第二三极管，所述第二三极管的基极与所述第二电解电容的负极端相连，所述第二三极管的发射极接地；以及第四电阻，所述第四电阻的一端分别与所述单元开关的一端和所述第三电阻的一端相连，所述第四电阻的另一端与所述第二三极管的集电极相连。其中，第一电解电容和所述第二电解电容在所述单元开关的控制下产生异步的电压信号。

根据本发明实施例的继电器寿命测试装置，采用普通的电子元器件(例如电阻、电解电容、三极管等)组成了开关信号发生单元，电路简单可靠，并且大大降低了成本。

在本发明的一个实施例中，所述供电模块用于将市电转换为第一电压信号和第二电压信号，其中，所述供电模块向所述开关信号发生模块输出第一电压信号，以及向所述驱动模块输出第二电压信号。

在本发明的一个示例中，所述第一电压信号约为5V，所述第二电压信号约为12V。

在本发明的一个实施例中，所述驱动模块包括：第一达林顿管集成单元和第二达林顿管集成单元。其中，所述第一达林顿管集成单元和所述第二达林顿管集成单元相级联，用于在协同工作下采集所述开关信号并将所述开关信号转换成预设电压。

本发明另一方面的实施例公开了一种继电器装置，包括：继电器；本发明第一方面实施例提供的继电器寿命测试装置；以及继电器接插装置，所述继电器接插装置分别与所述继电器和所述继电器寿命测试装置相连，其中，所述继电器接插装置包括多组继电器接插端子对和对应的分组开关，所述每组继电器接插端子对用于在对应的分组开关的控制下将所述继电器寿命测试装置输出的驱动电压信号输出至所述继电器以驱动所述继电器工作。

根据本发明实施例的继电器装置，结构简单可靠，并且成本较低，便于对继电器常用的性能参数进行测试。

在本发明的一个实施例中，所述继电器接插端子对与所述继电器寿命测试装置的驱动模块相连。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为根据本发明实施例的继电器寿命测试装置的结构示意图；

图2为根据本发明实施例的继电器寿命测试装置的硬件控制电路系统的示意图；

图3为根据本发明实施例的开关信号发生单元的电路图；

图4为根据本发明实施例的继电器寿命测试装置的主视图；

图5为根据本发明实施例的继电器寿命测试装置的侧视图；

图6为根据本发明实施例的继电器寿命测试装置的俯视图；和

图7为根据本发明实施例的继电器装置的结构示意图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能解释为对本发明的限制。

下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本发明。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。此外，本发明提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的可应用于性和/或其他材料的使用。另外，以下描述的第一特征在第二特征之“上”的结构可以包括第一和第二特征形成为直接接触的实施例，也可以包括另外的特征形成在第一和第二特征之间的实施例，这样第一和第二特征可能不是直接接触。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。

参照下面的描述和附图，将清楚本发明的实施例的这些和其他方面。在这些描述和附图中，具体公开了本发明的实施例中的一些特定实施方式，来表示实施本发明的实施例的原理的一些方式，但是应当理解，本发明的实施例的范围不受此限制。相反，本发明的实施例包括落入所附加权利要求书的精神和内涵范围内的所有变化、修改和等同物。

下面参照图1至图4描述根据本发明第一方面实施例的继电器寿命测试装置。

如图1所示，本发明实施例提供的继电器寿命测试装置包括：开关信号发生模块101、供电模块102和驱动模块103。其中，开关信号发生模块101用于生成并输出多路开关信号。驱动模块103与开关信号发生模块101相连，用于采集多路开关信号，并将该开关信号转换为驱动电压信号。供电模块102分别与开关信号发生模块101和驱动模块103相连，用于向开关信号发生模块101和驱动模块102进行供电。

在本发明的一个实施例中，如图2所示，开关信号发生模块101包括多个开关信号发生单元201，用于生成并输出多路开关信号。供电模块102用于将市电(例如220V/50HZ交流电)转换为第一电压信号和第二电压信号，其中，供电模块102向开关信号发生模块101输出第一电压信号以驱动开关信号发生模块101工作，以及向驱动模块103输出第二电压信号以使驱动模块103工作。驱动模块103包括：第一达林顿管集成单元202和第二达林顿管集成单元203，其中，第一达林顿管集成单元202和第二达林顿管集成单元203相级联，用于在协同工作下采集开关信号并将开关信号转换成预设电压。其中，预设电压可以为能够带动继电器工作的所需电压。

在本发明的一个示例中，第一达林顿管集成单元202和第二达林顿管集成单元203的型号可以为ULN2003。

在本发明的一个实施例中，第一电压信号约为5V，第二电压信号约为12V。

根据本发明实施例的继电器寿命测试装置的电路结构简单，可靠性高，并且在控制方面不再需要单独的控制芯片，无需编程，因此成本大大降低，操作方便，适合广大的电路开发设计人员对继电器的使用寿命进行简单的摸底测试。

在本发明的一个实施例中，如图3所示，具体而言，每个开关信号发生单元包括：单元开关301、第一组开关信号源302和第二组开关信号源303。其中，单元开关301的一端与供电模块102相连，并在闭合状态下将供电模块102提供的第一电压信号输送至第一组开关信号源302和第二组开关信号源303。第一组开关信号源302和第二组开关信号源302在上述单元开关301的控制下交替输出异步的开关信号。

进一步地，如图3所示，第一组开关信号源302包括：第一电阻R1、第一电解电容CE1、第一三极管Q1以及第二电阻R2。其中，第一电阻R1的一端与上述单元开关301相连；第一电解电容CE1的负极端与第一电阻R1的另一端相连；第一三极管Q1的基极与第一电解电容CE1的负极端相连，第一三极管Q1的发射极接地；第二电阻R2的一端分别与上述单元开关301的一端和第一电阻R1的一端相连，第二电阻R2的另一端与第一三极管Q1的集电极相连。

第二组开关信号源303包括：第三电阻R3、第二电解电容CE2、第二三极管Q2以及第四电阻R4。其中，第三电阻R3的一端与上述单元开关301相连；第二电解电容CE2的负极端与第三电阻R3的另一端相连，第二电解电容CE2的正极端与第二电阻R2的另一端相连；第二三极管Q2的基极与第二电解电容CE2的负极端相连，第二三极管Q2的发射极接地；第四电阻R4的一端分别与上述单元开关301和第三电阻R3的一端相连，第四电阻R4的另一端与第二三极管Q2的集电极相连。

其中，第一三极管Q1和第二三极管Q2的集电极与相应的输出端OUT1和OUT2相连，第一电解电容CE1和第二电解电容CE2在单元开关301的控制下产生异步的电压信号。

具体地说，通过单元开关301的控制使开关信号发生单元201上电，然后利用元器件本身的特性差异(例如导通信号不同)使其中一组开关信号源中的三极管导通，并利用电解电容的端电压不可突变的特性从而产生异步的电压信号，进而使两组开关信号源中的三极管交替导通，电路的两组输出端产生异步的开关信号。

本发明实施例提供的继电器寿命测试装置，采用了普通的电子元器件(例如电阻、电解电容、三极管等)来组成开关信号发生单元201，电路简单可靠，操作方便，并且大大降低了成本。

在本发明的一个实施例中，参照图4至图6，对本发明实施例提供的继电器寿命测试装置的外形进行描述。其中，如图4所示，主视图为该测试装置的主面板，包括：继电器接插端子模块401、电源插座402、主开关403以及分组开关模块404。其中，继电器接插端子模块401包括多组可用于连接继电器的接插端子对405，每组继电器接插端子对405包括两个继电器接插端子407。分组开关模块404包括与多组接插端子对405相对应的分开关406。

在本发明的一个示例中，如图4所示，继电器接插端子模块401包括7组连接继电器的接插端子对405，即14个继电器接插端子407。其中，每组继电器的接插端子对405分别由对应的分开关406控制，每组的两个接插端子407输出互补的开关信号。电源插座402可直接连接市电(例如220V/50HZ交流电)。主开关403为可控制整个装置的总开关。分组开关模块404包括7组分开关406，用于控制继电器接插端子模块401中7组可用于连接继电器的接插端子对405即14个接插端子407的输出信号。

参照图7，本发明另一方面实施例提供的继电器装置700，包括：继电器701、本发明第一方面实施例提供的继电器寿命测试装置702和继电器接插装置703。其中，继电器接插装置703分别与继电器701和继电器寿命测试装置702相连，包括多组继电器接插端子对405和对应的分开关406。每组继电器接插端子对405用于在对应的分开关406的控制下将继电器寿命测试装置701输出的驱动电压信号输出至继电器701以驱动该继电器工作。

根据本发明实施例提供的继电器装置，结构简单可靠，并且成本较低，便于对继电器常用的性能参数进行摸底测试。

在本发明的一个实施例中，如图7所示，继电器接插端子对405与继电器寿命测试装置的驱动模块103相连。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同限定。

Claims

1.一种继电器寿命测试装置，其特征在于，包括：

开关信号发生模块，用于生成并输出多路开关信号；

驱动模块，所述驱动模块与所述开关信号发生模块相连，用于采集多路所述开关信号，并将所述开关信号转换为驱动电压信号；以及

供电模块，所述供电模块分别与所述开关信号发生模块和所述驱动模块相连，用于向所述开关信号发生模块和所述驱动模块进行供电。

2.如权利要求1所述的继电器寿命测试装置，其特征在于，所述开关信号发生模块包括多个开关信号发生单元，用于生成并输出多路开关信号，其中，每个开关信号发生单元包括：

单元开关，所述单元开关的一端与所述供电模块相连；

第一组开关信号源和第二组开关信号源，其中所述第一组开关信号源和第二组开关信号源在所述单元开关的控制下交替输出异步的开关信号。

3.如权利要求2所述的继电器寿命测试装置，其特征在于，所述第一组开关信号源包括：

第一电阻，所述第一电阻的一端与所述单元开关相连；

第一电解电容，所述第一电解电容的负极端与所述第一电阻的另一端相连；

第一三极管，所述第一三极管的基极与所述第一电解电容的负极端相连，所述第一三极管的发射极接地；以及

第二电阻，所述第二电阻的一端分别与所述单元开关的一端和所述第一电阻的一端相连，所述第二电阻的另一端与所述第一三极管的集电极相连。

4.如权利要求2所述的继电器寿命测试装置，其特征在于，所述第二组开关信号源包括：

第三电阻，所述第三电阻的一端与所述单元开关相连；

第二电解电容，所述第二电解电容的负极端与所述第三电阻的另一端相连，所述第二电解电容的正极端与所述第二电阻的另一端相连；

第二三极管，所述第二三极管的基极与所述第二电解电容的负极端相连，所述第二三极管的发射极接地；以及

第四电阻，所述第四电阻的一端分别与所述单元开关的一端和所述第三电阻的一端相连，所述第四电阻的另一端与所述第二三极管的集电极相连。

5.如权利要求3或4所述的继电器寿命测试装置，其特征在于，所述第一电解电容和所述第二电解电容在所述单元开关的控制下产生异步的电压信号。

6.如权利要求1所述的继电器寿命测试装置，其特征在于，所述供电模块用于将市电转换为第一电压信号和第二电压信号，

其中，所述供电模块向所述开关信号发生模块输出第一电压信号，以及向所述驱动模块输出第二电压信号。

7.如权利要求6所述的继电器寿命测试装置，其特征在于，所述第一电压信号约为5V，所述第二电压信号约为12V。

8.如权利要求1所述的继电器寿命测试装置，其特征在于，所述驱动模块包括：

第一达林顿管集成单元；

第二达林顿管集成单元，其中，所述第一达林顿管集成单元和所述第二达林顿管集成单元相级联；

所述第一达林顿管集成单元和所述第二达林顿管集成单元用于在协同工作下采集所述开关信号并将所述开关信号转换成预设电压。

9.一种继电器装置，其特征在于，包括：

继电器；

如权利要求1-8中任一项所述的继电器寿命测试装置；以及

继电器接插装置，所述继电器接插装置分别与所述继电器和所述继电器寿命测试装置相连，其中，所述继电器接插装置包括多组继电器接插端子对和对应的分组开关，所述每组继电器接插端子对用于在对应的所述分组开关的控制下将所述继电器寿命测试装置输出的驱动电压信号输出至所述继电器以驱动所述继电器工作。

10.如权利要求9中所述的继电器装置，其特征在于，所述继电器接插端子对与所述继电器寿命测试装置的驱动模块相连。