CN110824347A - 一种射频开关的开关启动时间测量方法 - Google Patents

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张秀晨
肖纯伟
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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers

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Abstract

本发明公开了一种射频开关的开关启动时间测量方法，通过集成电路数模测试系统与射频矢量收发系统相结合，数字触发信号与射频信号同步，高速扫描射频功率值来计算射频开关开启时间的方法，当测得开关达到开启状态下的射频功率时，根据扫描频率记录扫描点数，反推计算开关开启的时间，准确筛选出一致性好的开关，剔除开启慢的开关，应用端使用性能好，工作效率高。得到了这种射频开关的开启时间，为应用端提供参考参数。

Description

一种射频开关的开关启动时间测量方法
技术领域
本发明涉及集成电路半导体测试技术领域，尤其涉及一种射频开关的开关启动时间测量方法。
背景技术
现有技术只是简单的通过测量直流电流的方法来判断开关在某个时间内是否完全开启，却无法精准的测试开关开始打开的时间点及开关完全打开的时间点，所以就无法准确的测试出开关开启的时间，作为射频前端的重要一环，严重影响射频前端信号的传播的一致性、稳定性及效率。
发明内容
本发明提供一种射频开关的开关启动时间测量方法，旨在解决现有技术未精确测试开关开启时间，影响射频前端信号的问题。
为实现上述目的，本发明提供了一种射频开关的开关启动时间测量方法，其中，包括：
在检测到集成电路模拟系统向射频开关供电启动后；
接收射频矢量发射器发送的射频信号；
测量射频开关输出端的射频功率大小；
接收高电平信号和矢量接收器触发信号；
射频开关开启动作，根据设置的射频功率测试点开始测量射频功率值；
计算得到射频开关开启时间值；
判断得到的射频开关开启时间值是否在射频开关开启时间上下限之中，以此筛选出射频开关。
所述射频功率测试点以第一数量值频率设置第二数量个射频功率测试点来测量射频功率值。
设定第一阈值，以所述第一阈值判断所述射频功率值，如果所述射频功率值大于等于所述第一阈值，则保留该射频功率测试点得到保留点，所述射频开关开启时间值等于保留点数量与第三数量值的乘积。
所述第一数量值为120M，所述第二数量个为6000个。
所述第一阈值为后面3000个射频功率测试点功率平均值的97％。
所述第三数量值为1/120。
所述判断得到的射频开关开启时间值是否在射频开关开启时间上下限之中是指判断所述射频开关开启时间值是否满足大于等于所述射频开关开启时间下限，且小于等于所述射频开关开启时间上限，如是，则得到良品射频开关，若否，则判定为不良品射频开关。
本发明提供的一种射频开关的开关启动时间测量方法，通过集成电路数模测试系统与射频矢量收发系统相结合，数字触发信号与射频信号同步，高速扫描射频功率值来计算射频开关开启时间的方法，当测得开关达到开启状态下的射频功率时，根据扫描频率记录扫描点数，反推计算开关开启的时间，准确筛选出一致性好的开关，剔除开启慢的开关，应用端使用性能好，工作效率高。得到了这种射频开关的开启时间，为应用端提供参考参数。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明的本发明的流程示意图。
图2是本发明的工作原理示意图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
请参阅图1与图2，本发明提供一种具体实施例：
S101在检测到集成电路模拟系统向射频开关供电启动后；
在本实施方式中，所述集成电路数模测试系统包括数字系统和模拟系统，所述射频开关与所述集成电路模拟系统电连接，集成电路模拟系统作为电源给与所述射频开关供电。
S102接收射频矢量发射器发送的射频信号；
在本实施方式中，射频开关接受射频信号，所述射频开关包括射频开关输入端和射频开关输出端，所述射频开关输入端接受射频信号，所述射频开关输出端输出射频。
S103测量射频开关输出端的射频功率大小；
在本实施方式中，是集成电路数字系统同时给开关使能管脚高电平及给射频矢量接收器触发信号，所述集成电路数字系统同时与所述开关使能管脚和所述射频矢量接收器电连接。
S104接收高电平信号和矢量接收器触发信号；
在本实施方式中，在所述射频开关使能管脚接收高电平信号后的时候，所述矢量接收器也会触发信号，进行接受动作。
S105射频开关开启动作，根据设置的射频功率测试点开始测量射频功率值；
在本实施方式中，射频开关开启动作，即所述射频开关输出端开始输出射频以后，之前设置射频功率测试点开始测量射频功率值，之前设置的射频功率测试点是指以120M频率设置6000个射频功率测试点测量射频功率值。
S106计算得到射频开关开启时间值；
在本实施方式中，以后面3000个点功率平均值的97％做为开关达到完全开启状态的阈值，保留所述测量射频功率值大于等于所述阈值的射频功率测试点，得到保留点数量值NUM，舍弃所述射频功率值小于所述阈值的射频功率测试点，通过计算式T＝NUM*(1/120)得到开关开启时间值。
在本实施方式中，所述设置开关开启时间上下限，是指所述射频开关最长开启时间和所述射频开关最短开启时间之间的范围，如果6000个点没测到完全开启状态下的功率，即没有保留点，也作不良品处理。
本发明提供的一种射频开关的开关启动时间测量方法，通过集成电路数模系统与射频矢量收发系统相结合，数字触发信号与射频信号同步，高速扫描射频功率值来计算射频开关开启时间的方法，当测得开关达到开启状态下的射频功率时，根据扫描频率记录扫描点数，反推计算开关开启的时间，准确筛选出一致性好的开关，剔除开启慢的开关，应用端使用性能好，工作效率高。得到了这种射频开关的开启时间，为应用端提供参考参数。
以上所揭露的仅为本发明一种较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分流程，并依本发明权利要求所作的等同变化，仍属于发明所涵盖的范围。

Claims (8)

1.一种射频开关的开关启动时间测量方法，其特征在于，所述的射频开关的开关启动时间测量方法包括：
在检测到集成电路模拟系统向射频开关供电启动后；
接收射频矢量发射器发送的射频信号；
测量射频开关输出端的射频功率大小；
接收高电平信号和矢量接收器触发信号；
射频开关开启动作，根据设置的射频功率测试点开始测量射频功率值；
计算得到射频开关开启时间值。
2.根据权利要求1所述的一种射频开关的开关启动时间测量方法，其特征在于，在得到所述射频开关开启时间值后，判断得到的射频开关开启时间值是否在射频开关开启时间范围之中，筛选出一致性好的射频开关。
3.根据权利要求1所述的一种射频开关的开关启动时间测量方法，其特征在于，所述射频功率测试点以第一数量值频率设置第二数量个射频功率测试点来测量射频功率值。
4.根据权利要求1所述的一种射频开关的开关启动时间测量方法，其特征在于，以第一阈值判断所述射频功率值，如果所述射频功率值大于等于所述第一阈值，则保留所述射频功率测试点得到保留点，所述射频开关开启时间值等于保留点数量与第三数量值的乘积。
5.根据权利要求3所述的一种射频开关的开关启动时间测量方法，其特征在于，所述第一数量值为120M，所述第二数量个为6000个。
6.根据权利要求4所述的一种射频开关的开关启动时间测量方法，其特征在于，所述第一阈值为后面3000个射频功率测试点功率平均值的97％。
7.根据权利要求4所述的一种射频开关的开关启动时间测量方法，其特征在于，所述第三数量值为1/120。
8.据权利要求2所述的一种射频开关的开关启动时间测量方法，其特征在于，所述判断得到的射频开关开启时间值是否在射频开关开启时间范围之中，包括：判断所述射频开关开启时间值是否大于等于所述射频开关开启时间下限值，且小于等于所述射频开关开启时间上限值，如是，则得到良品射频开关，若否，则判定为不良品射频开关。
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