CN108919105A - 一种微波机械开关重复性测试装置及方法 - Google Patents

一种微波机械开关重复性测试装置及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN108919105A
CN108919105A CN201810500627.1A CN201810500627A CN108919105A CN 108919105 A CN108919105 A CN 108919105A CN 201810500627 A CN201810500627 A CN 201810500627A CN 108919105 A CN108919105 A CN 108919105A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
switch
tested
mechanical switch
network analyzer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201810500627.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN108919105B (zh
Inventor
许延峰
谷帆
祝杰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CETC 41 Institute
Original Assignee
CETC 41 Institute
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CETC 41 Institute filed Critical CETC 41 Institute
Priority to CN201810500627.1A priority Critical patent/CN108919105B/zh
Publication of CN108919105A publication Critical patent/CN108919105A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN108919105B publication Critical patent/CN108919105B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
    • G01R31/3277—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
  • Mobile Radio Communication Systems (AREA)

Abstract

本发明公开了一种微波机械开关重复性测试装置，系统组成为主控计算机、数字IO装置、直流电源、矢量网络分析仪、一分多功分器和不同长度的射频电缆、被测微波机械开关。运行在主控计算机上的测试程序实现微波开关的通路切换控制、矢量网络分析仪的控制和数据读取、测试结果的处理和存储，本发明的有益效果：只需一次连接，就可以实现多通路波机械开关的重复性的测试；测试全过程不变更电缆连接，连续测试、记录直至测试完成，保证了准确性和高效性。

Description

一种微波机械开关重复性测试装置及方法
技术领域
本发明属于测试技术领域，具体涉及微波机械开关重复性测试装置及方法。
背景技术
微波机械开关大量应用于微波测试设备中，微波机械开关的重复性对设备的测试准确性和稳定性影响巨大。微波机械开关重复性测试一般使用矢量网络分析仪完成，每次只能对开关的一个通路重复性指标进行测试。但由于微波机械开关的结构形式一般为一入多出或多入多出，这给测试带来困难。如果采用通用的双端口矢量网络分析仪，微波机械开关测试一次，需要多次连接，这不仅效率低下，而且重复连接对重复性指标影响巨大。如果采用多端口矢量网络分析仪，测试设备价格太昂贵，增加了成本。
发明内容
针对现有技术中现有方案重复连接操作导致效率低下、影响测试准确性的问题，提供了一种微波机械开关重复性测试装置及方法。
一种微波机械开关重复性测试装置，系统组成为主控计算机、直流电源、矢量网络分析仪、一分多功分器和射频电缆，
所述主控计算机通过GPIB板卡与矢量网络分析仪连接，矢量网络分析仪的一端口通过射频电缆与被测开关的输入端连接，开关的多路输出端通过若干射频电缆与对应的一分多功分器合路后连接到矢量网络分析仪的二端口，通过PCI插槽安装在主控计算机内的数字IO板卡通过转接电缆与被测开关控制端连接，直流电源输出端通过导线连接被测开关。
根据权利要求所述的微波机械开关重复性测试装置实现测试方法，运行在主控计算机上的测试程序实现被测开关的通路切换控制，顺序控制N个测试通路的切换，每个周期都完成一次N个通路的指标测试。
根据权利要求所述的微波机械开关重复性测试装置实现测试方法，通过在被测开关和一分多功分器连接的不同射频通路上串联的不同电长度的射频传输线，利用延时量的不同来区分被测通路，判别确认被测开关切换正确。
根据权利要求所述的微波机械开关重复性测试装置实现测试方法，数字IO板卡为被测开关提供切换所需的TTL控制信号，再次进行多路传输测试。
根据权利要求所述的微波机械开关重复性测试装置实现测试方法，测试过程包括以下步骤：
S1对双端口矢量网络分析仪进行传输校准；
S2接入一分多功分器，通过不同长度的射频电缆。主控计算机控制矢量网络分析仪对系统进行多路传输测试，作为微波机械开关重复性测试的基准；
S3接入被测开关，直流电源为被测开关提供工作电压，通过数字IO板卡为被测开关提供切换所需的TTL控制信号，再次进行多路传输测试；
S4首先对各路展开相位去除基准，记录差值，在不同频率点设定误差限如GHz、GHz、GHz，如果误差在门限内，判断开关切换成功；
S5再对各路幅度去除基准，记录差值，即为插入损耗幅度值；
S6主控计算机上的测试程序将实时测得的各路幅度数据和去基准后的一致性数据保存至测试表格；
S7继续顺序切换被测开关通路，重复进行步骤S4-S6，直至完成规定次数的测试。
本发明的有益效果：
1.只需一次连接，就可以实现多通路微波机械开关的重复性的测试；
2.测试全过程不变更电缆连接，连续测试、记录直至测试完成，保证了准确性和高效性。
附图说明
图1为本发明一实施例的结构原理图。
具体实施方式
下面结合本发明实施例中的附图，对本发明的技术方案做进一步说明。
如图1所示，一种微波机械开关重复性测试装置，系统组成为主控计算机1、直流电源5、矢量网络分析仪9、一分多功分器8和不同长度的射频电缆7，
所述主控计算机1通过GPIB板卡2与矢量网络分析仪9连接，矢量网络分析仪9的一端口91通过射频电缆与被测开关6的输入端连接，开关的多路输出端通过若干不同长度射频电缆7与对应的一分多功分器8合路后连接到矢量网络分析仪9的二端口92，通过PCI插槽安装在主控计算机1内的数字IO板卡3通过转接电缆4与被测开关6控制端连接，直流电源5输出端通过导线连接被测开关6。
矢量网络分析仪9为信号收发设备，矢量网络分析仪9用于在所述主控计算机1的控制下测量双端口的S21参数，持续记录被测开关6各通路信号幅度并由主控计算机1内的测试软件去除基准，记录差值。矢量网络分析仪9与主控计算机1之前通过GPIB板卡连接，基于VISA协议进行通信交互。直流电源5和数字IO板卡3分别为被测开关6提供工作电压和TTL控制信号，以实现被测开关6各通路的循环切换。被测开关6各输出通路与对应的一分多功分器8之间的不同长度电缆7(以被测开关6为SP6T机械开关为实际测试例，使用20cm、25cm、30cm、35cm、40cm、45cm等差长度的六条射频电缆)，实现信号的电长度差异，使得通路切换时矢量网络分析仪9测得的展开相位数据有明显区分(上述测试例，可实现5GHz频点处360度以上的差值)，进而实现通路切换状况的判断。主控计算机1内的测试软件实现被测开关6的通路切换控制、矢量网络分析仪9的控制和数据读取、测试结果的处理和存储。
运行在主控计算机1上的测试程序实现被测开关6的通路切换控制，顺序控制N个测试通路的切换，每个周期都完成一次N个通路的指标测试。
通过在不同射频通路上串联的不同电长度的射频传输线，利用延时量的不同来区分被测通路，确认被测开关6切换正确。
数字IO板卡3为被测开关6提供切换所需的TTL控制信号，再次进行多路传输测试。
微波机械开关重复性测试装置实现测试方法，测试过程包括以下步骤：
S1对双端口矢量网络分析仪9进行传输校准；
S2接入一分多功分器8。主控计算机1控制矢量网络分析仪9对系统进行多路传输测试，作为微波机械开关重复性测试的基准；
S3接入被测开关6，通过若干不同长度的射频电缆7与一分多功分器8连接，直流电源5为被测开关6提供工作电压，通过数字IO板卡3为被测开关6提供切换所需的TTL控制信号，再次进行多路传输测试；
S4首先对各路展开相位去除基准，记录差值，在不同频率点设定误差限(如5GHz、20GHz、40GHz)，如果误差在门限内，判断开关切换成功；
S5再对各路幅度去除基准，记录差值，即为插入损耗幅度值；
S6主控计算机1上的测试程序将实时测得的各路幅度数据和去基准后的一致性数据保存至测试表格；
S7继续顺序切换被测开关6通路，重复进行步骤S4-S6，直至完成规定次数的测试。导出测试报表，进行重复性统计。
可理解的是，尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种微波机械开关重复性测试装置，其特征在于，系统组成为主控计算机(1)、直流电源(5)、矢量网络分析仪(9)、一分多功分器(8)和射频电缆(7)，
所述主控计算机(1)通过GPIB板卡(2)与矢量网络分析仪(9)连接，矢量网络分析仪(9)的一端口(91)通过射频电缆与被测开关(6)的输入端连接，开关的多路输出端通过若干射频电缆(7)与对应的一分多功分器(8)合路后连接到矢量网络分析仪(9)的二端口(92)，通过PCI插槽安装在主控计算机(1)内的数字IO板卡(3)通过转接电缆(4)与被测开关(6)控制端连接，直流电源(5)输出端通过导线连接被测开关(6)。
2.根据权利要求1所述的微波机械开关重复性测试装置实现测试方法，其特征在于，运行在主控计算机(1)上的测试程序实现被测开关(6)的通路切换控制，顺序控制N个测试通路的切换，每个周期都完成一次N个通路的指标测试。
3.根据权利要求2所述的微波机械开关重复性测试装置实现测试方法，其特征在于，通过在被测开关(6)和一分多功分器(8)连接的不同射频通路上串联的不同电长度的射频传输线(7)，利用延时量的不同来区分被测通路，判别确认被测开关(6)切换正确。
4.根据权利要求3所述的微波机械开关重复性测试装置实现测试方法，其特征在于，数字IO板卡(3)为被测开关(6)提供切换所需的TTL控制信号，再次进行多路传输测试。
5.根据权利要求4所述的微波机械开关重复性测试装置实现测试方法，其特征在于，测试过程包括以下步骤：
S1对双端口矢量网络分析仪(9)进行传输校准；
S2接入一分多功分器(8)，通过不同长度的射频电缆(7)。主控计算机(1)控制矢量网络分析仪(9)对系统进行多路传输测试，作为微波机械开关重复性测试的基准；
S3接入被测开关(6)，直流电源(5)为被测开关(6)提供工作电压，通过数字IO板卡(3)为被测开关(6)提供切换所需的TTL控制信号，再次进行多路传输测试；
S4首先对各路展开相位去除基准，记录差值，在不同频率点设定误差限(如5GHz、20GHz、40GHz)，如果误差在门限内，判断开关切换成功；
S5再对各路幅度去除基准，记录差值，即为插入损耗幅度值；
S6主控计算机(1)上的测试程序将实时测得的各路幅度数据和去基准后的一致性数据保存至测试表格；
S7继续顺序切换被测开关(6)通路，重复进行步骤S4-S6，直至完成规定次数的测试。
CN201810500627.1A 2018-05-23 2018-05-23 一种微波机械开关重复性测试方法 Expired - Fee Related CN108919105B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810500627.1A CN108919105B (zh) 2018-05-23 2018-05-23 一种微波机械开关重复性测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810500627.1A CN108919105B (zh) 2018-05-23 2018-05-23 一种微波机械开关重复性测试方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN108919105A true CN108919105A (zh) 2018-11-30
CN108919105B CN108919105B (zh) 2021-06-01

Family

ID=64403177

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810500627.1A Expired - Fee Related CN108919105B (zh) 2018-05-23 2018-05-23 一种微波机械开关重复性测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108919105B (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110824347A (zh) * 2019-11-15 2020-02-21 南京宏泰半导体科技有限公司 一种射频开关的开关启动时间测量方法
TWI712810B (zh) * 2019-09-11 2020-12-11 英業達股份有限公司 檢測差動訊號之方法
CN114019364A (zh) * 2021-11-05 2022-02-08 上海创远仪器技术股份有限公司 基于矢量网络分析仪结构实现射频开关通断时间测量的方法、装置、处理器及其存储介质
CN114878867A (zh) * 2022-04-25 2022-08-09 北京雷格讯电子股份有限公司 矢量网络分析仪自动测试方法及系统

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101957411A (zh) * 2010-09-06 2011-01-26 深圳市博安通科技有限公司 射频同轴电缆电长度测量方法及装置
CN202550166U (zh) * 2012-04-23 2012-11-21 上海雷迪埃电子有限公司 相位可微调弯式射频同轴连接器与电缆线的连接结构
CN103412255A (zh) * 2013-07-18 2013-11-27 西安空间无线电技术研究所 一种星载多路微波开关测试装置
CN105515686A (zh) * 2015-11-30 2016-04-20 西安华讯天基通信技术有限公司 一种多通道相位补偿电路及方法
CN205992026U (zh) * 2016-08-31 2017-03-01 福建星海通信科技有限公司 一种矢量网络分析仪的端口扩展装置
CN107526031A (zh) * 2017-08-23 2017-12-29 中国电子科技集团公司第四十研究所 一种基于工作时序控制的微波机械开关测试系统及方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101957411A (zh) * 2010-09-06 2011-01-26 深圳市博安通科技有限公司 射频同轴电缆电长度测量方法及装置
CN202550166U (zh) * 2012-04-23 2012-11-21 上海雷迪埃电子有限公司 相位可微调弯式射频同轴连接器与电缆线的连接结构
CN103412255A (zh) * 2013-07-18 2013-11-27 西安空间无线电技术研究所 一种星载多路微波开关测试装置
CN105515686A (zh) * 2015-11-30 2016-04-20 西安华讯天基通信技术有限公司 一种多通道相位补偿电路及方法
CN205992026U (zh) * 2016-08-31 2017-03-01 福建星海通信科技有限公司 一种矢量网络分析仪的端口扩展装置
CN107526031A (zh) * 2017-08-23 2017-12-29 中国电子科技集团公司第四十研究所 一种基于工作时序控制的微波机械开关测试系统及方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI712810B (zh) * 2019-09-11 2020-12-11 英業達股份有限公司 檢測差動訊號之方法
CN110824347A (zh) * 2019-11-15 2020-02-21 南京宏泰半导体科技有限公司 一种射频开关的开关启动时间测量方法
CN114019364A (zh) * 2021-11-05 2022-02-08 上海创远仪器技术股份有限公司 基于矢量网络分析仪结构实现射频开关通断时间测量的方法、装置、处理器及其存储介质
CN114878867A (zh) * 2022-04-25 2022-08-09 北京雷格讯电子股份有限公司 矢量网络分析仪自动测试方法及系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN108919105B (zh) 2021-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108919105A (zh) 一种微波机械开关重复性测试装置及方法
CN107817368B (zh) 一种多通道s参数的测量装置及测量方法
CN112702240B (zh) 一种地面电子单元的测试系统和方法
CN208272981U (zh) Trea多通道测试装置
CN107426760A (zh) 一种无线路由器双频合一测试方法及系统
CN112134759A (zh) 列车以太网测试系统
CN110609183A (zh) 一种基于ivi技术的识别模块及整机的自动测试系统
CN106950488B (zh) 一种电路板及检测方法
US7106081B2 (en) Parallel calibration system for a test device
CN103809056A (zh) S参数和无源互调综合测试系统
CN108489510A (zh) 基于pxi总线的可扩展式平台电路箱自动化测试系统
CN113872682A (zh) 一种光模块的引入测试方法及系统
US20240061034A1 (en) Automated test equipment comprising a device under test loopback and an automated test system with an automated test equipment comprising a device under test loopback
CN114050879A (zh) 一种射频高速切换控制电路及装置
CN205992026U (zh) 一种矢量网络分析仪的端口扩展装置
CN109581172A (zh) 一种半导体器件射频指标final test系统及方法
CN108519751A (zh) 一种新型的固态矩阵开关系统
CN207636631U (zh) 器件调试测试系统以及微波器件调试测试系统
JP2023547606A (ja) 伝導性信号試験における高周波（ｒｆ）信号プローブ不整合に起因したパワー損失について補償するシステム及び方法
CN217935623U (zh) 一种多发多收的射频芯片测试装置
CN217605914U (zh) 用于芯片阻抗、s参数及眼图测试的电路及测试组件
CN114895269A (zh) 多通道相控阵tr组件幅相一致性测试系统及测试方法
CN113726451A (zh) 射频滤波切换装置、系统及方法
US7342400B2 (en) Method and apparatus for measuring employing main and remote units
CN218767165U (zh) 一种批量电子器件的自动化测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20210601