KR102245944B1 - 데이터 패킷 신호 송수신기의 감도 검사 방법 - Google Patents

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Abstract

데이터 패킷 신호 출력(PWR)의 함수로서 데이터 패킷 에러율(PER)에 의해 규정된 동작 특성을 갖는 데이터 패킷 신호 송수신기 피검사 장치(DUT)를 검사하기 위해 검사 데이터 패킷 신호를 사용하기 위한 방법. 측정 검사 PER 또는 측정 PER로부터 외삽된 계산된 검사 PER이 최대 PER 및 최소 PER 보다 각각, 작고 큰 사전결정된 PER과 같아질 때까지 검사 데이터 패킷 출력이 변하고 검사 PER이 DUT 응답 데이터 패킷 및 검사 데이터 패킷의 함수로서 계산된다.

Description

데이터 패킷 신호 송수신기의 감도 검사 방법{METHOD FOR TESTING SENSITIVITY OF DATA PACKET SIGNAL TRANSCEIVER}
본 발명은 데이터 패킷 송수신기의 검사에 관한 것이고, 특히, 데이터 패킷 신호 송수신기 감도의 검사에 관한 것이다.
오늘날의 다수의 전자 장치는 접속 및 통신 목적을 위해 무선 기술을 사용한다. 무선 장치가 전자기에너지를 송수신하고 2개 이상의 무선 장치가 이들의 주파수 및 파워 스펙트럼 밀도로 인해 서로의 동작에 간섭할 가능성이 있기 때문에, 이러한 장치 및 이들의 무선 기술은 다양한 무선 기술 규격에 충실해야 한다.
이러한 장치를 설계할 때, 엔지니어는 이러한 장치가 이들의 포함된 무선 기술 규정 규격을 충족하거나 초과하는 것을 보장하기 위해 비상한 관심을 갖고 있다. 또한, 이러한 장치가 추후 대량 제조되고 있을 때, 이들은 포함된 무선 기술 규격에 충실하는 것을 포함하여, 제조 결함이 부적절한 동작을 유발하지 않도록 보장하기 위해 검사된다.
이러한 장치의 제조 및 조립에 이어 검사하기 위해, 전류 무선 장치 검사 시스템은 각 장치로부터 수신된 신호를 분석하기 위한 서브시스템을 채용한다. 이러한 서브시스템은 보통 적어도 이러한 장치에 의해 생성된 신호를 분석하기 위한 벡터 신호 분석기(VSA) 및 이러한 장치에 의해 수신되는 신호를 발생시키기 위한 벡터 신호 발생기(VSG)를 포함하고 있다. VSA에 의해 수행되는 분석 VSG에 의해 발생되는 신호는 일반적으로 상이한 주파수 범위, 대역폭 및 신호 변조 특성으로 다양한 무선 기술 규격에 대해 다양한 장치를 검사하기 위해 각각 사용될 수 있도록 프로그램되어 있다.
무선 통신 장치의 제조의 일부로서, 제조 비용의 상당한 부분은 제조 검사 비용이다. 보통, 검사 비용과 이러한 검사를 실행하는데 필요한 시간 사이에 직접적인 상관관계가 존재한다. 따라서, 검사 정확도를 손상시키거나 기본 기기 비용(예를 들어, 검사 기기 또는 검사기의 정교함을 높이는 것으로 인한 증가 비용)을 증가시키지 않고 검사 시간을 단축시킬 수 있는 기술혁신이, 특히 제조되고 검사되는 이러한 상당히 많은 수의 장치를 고려할 때 중요하고 상당한 비용 절감을 제공할 수 있다.
이러한 DUT에 대한 공통 수신기(RX)는 예를 들어, 패킷 에러율(PER)(예를 들어, PER=(T-A)/T, T는 검사 데이터 패킷의 수이고, A는 인식 데이터 패킷의 수이다)에 대한 일부 규격에 의해 규정된 상한이 발생하는 데이터 패킷 신호의 신호 포락선 출력과 같은 출력 레벨의 함수로서 신호 감도를 알아낸다. 예를 들어, 최대 10% 검출된 데이터 패킷이 부정확하게 수신되는, 즉 패킷 데이터 및 첨부된 체크 섬이 일치하는 출력 레벨로서 하나의 감도 포인트가 규정될 수 있다.
이러한 감도 포인트를 알아내기 위해, 전송된 데이터 패킷의 적어도 90%가 정확하게 수신되는 것을 보장하기 위해 검사기에 의해 충분한 수의 데이터 패킷이 DUT에 전송될 필요가 있다. 그다음, 이것은 희망의 감도 포인트를 달성한다. 그러나, 이러한 검사가 10% 이외의 PER를 산출하면, DUT의 감도에 대한 유용한 정보를 유출하는 것이 어려울 수 있다. 예를 들어, PER이 0%이라면, 즉, 모든 데이터 패킷이 정확하게 수신되었다면, 또는 100%, 즉, 정확하게 수신된 데이터 패킷이 없다면, DUT가 검사된 레벨 보다 양호하거나 나쁘다는 결론 이외에는, 이러한 PER로부터 얻을 수 있는 정보는 거의 없다.
따라서, PER이 시간 효율적인 방식으로 정확하게 검사될 수 있도록 DUT의 감도를 검사하기 위한 기술을 갖는 것이 바람직하다.
본 발명에 따라, 데이터 패킷 신호 출력(PWR)의 함수로서 데이터 패킷 에러율(PER)에 의해 규정된 동작 특성을 갖는 데이터 패킷 신호 송수신기 피검사 장치(DUT)를 검사하기 위해 검사 데이터 패킷 신호를 사용하기 위한 방법이 제공된다. 측정 검사 PER 또는 측정 PER로부터 외삽된 계산된 검사 PER이 최대 PER 및 최소 PER 보다 각각, 작고 큰 사전결정된 PER과 같아질 때까지 검사 데이터 패킷 출력이 변하고 검사 PER이 DUT 응답 데이터 패킷 및 검사 데이터 패킷의 함수로서 계산된다.
본 발명의 하나의 실시예에 따라, 데이터 패킷 신호 송수신기를 검사하기 위한 방법은, 검사 데이터 패킷 신호 출력을 갖는 검사 데이터 패킷 신호를 제공하는 단계로서, 상기 검사 데이터 패킷 신호는 최소 데이터 패킷 신호 출력(PWR)에서 최대 데이터 패킷 에러율(PER)을 갖고, 최대 PWR에서 최소 PER을 갖고 상기 최소 PWR과 상기 최대 PWR 사이의 복수의 중간 데이터 패킷 신호 출력(PWR)에서 복수의 중간 데이터 패킷 에러율(PER)을 갖는 데이터 패킷 신호 출력(PWR)의 함수로서 데이터 패킷 에러율(PER)에 의해 규정된 동작 특성을 갖는 피검사 장치(DUT)에 의해 수신되기 위한 복수의 검사 데이터 패킷 및 복수의 검사 데이터 패킷 신호 출력 레벨을 포함하는 단계; 상기 DUT로부터, 상기 복수의 검사 데이터 패킷의 적어도 일부에 상응하는 하나 이상의 응답 데이터 패킷을 수신하는 단계; 상기 하나 이상의 응답 데이터 패킷 및 상기 복수의 검사 데이터 패킷의 함수로서 검사 PER을 계산하는 단계; 및 상기 제공하는 단계, 수신하는 단계 및 계산하는 단계를 반복하는 단계로서, 상기 복수의 검사 PER이, 상기 복수의 중간 PWR중 하나에서 상기 복수의 중간 PER중 사전결정된 중간 PER과 거의 같은 측정 검사 PER, 및 상기 복수의 중간 PWR중 하나에서 상기 복수의 중간 PER중 상기 사전결정된 중간 PER 보다 높은 적어도 하나의 검사 PER 및 보다 낮은 적어도 하나의 검사 PER중 적어도 하나를 포함할 때까지 복수의 검사 PER을 생성하기 위해 상기 검사 데이터 패킷 신호 출력을 변경하면서 상기 제공하는 단계, 수신하는 단계 및 계산하는 단계를 반복하는 단계를 포함한다.
본 발명의 다른 실시예에 따라, 데이터 패킷 신호 송수신기를 검사하는 방법은, 검사 데이터 패킷 신호 출력을 갖고 있고 복수의 검사 데이터 패킷 및 복수의 검사 데이터 패킷 신호 출력 레벨을 포함하는 검사 데이터 패킷 신호를, 데이터 패킷 신호 송수신기 피검사 장치(DUT)에 의해, 수신하는 단계로서, 상기 DUT는 최소 데이터 패킷 신호 출력(PWR)에서 최대 데이터 패킷 에러율(PER)을 갖고, 최대 PWR에서 최소 PER을 갖고 상기 최소 PWR과 상기 최대 PWR 사이의 복수의 중간 데이터 패킷 신호 출력(PWR)에서 복수의 중간 데이터 패킷 에러율(PER)을 갖는 데이터 패킷 신호 출력(PWR)의 함수로서 데이터 패킷 에러율(PER)에 의해 규정된 동작 특성을 갖는 단계; 상기 복수의 검사 데이터 패킷의 적어도 일부에 상응하는 하나 이상의 응답 데이터 패킷을 상기 DUT에 의해 제공하는 단계; 상기 하나 이상의 응답 데이터 패킷 및 상기 복수의 검사 데이터 패킷의 함수로서 검사 PER을 계산하는 단계; 및 상기 제공하는 단계, 수신하는 단계 및 계산하는 단계를 반복하는 단계로서, 상기 복수의 검사 PER이, 상기 복수의 중간 PWR중 하나에서 상기 복수의 중간 PER중 사전결정된 중간 PER과 거의 같은 측정 검사 PER, 및 상기 복수의 중간 PWR중 하나에서 상기 복수의 중간 PER중 상기 사전결정된 중간 PER 보다 높은 적어도 하나의 검사 PER 및 보다 낮은 적어도 하나의 검사 PER중 적어도 하나를 포함할 때까지 복수의 검사 PER을 생성하기 위해 상기 검사 데이터 패킷 신호 출력이 변하는 동안 상기 제공하는 단계, 수신하는 단계 및 계산하는 단계를 반복하는 단계를 포함한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따라 데이터 패킷 송수신기를 검사하기 위한 검사 환경을 도시하는 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따라 데이터 패킷 송수신기를 검사하기 위한 다른 검사 환경을 도시하는 도면이다.
도 3은 데이터 패킷 신호 출력의 함수로서 패킷 에러율(PER)의 그래프의 예를 도시하는 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 감도 검사 방법의 순서도이다.
도 5는 도 4에 도시된 방법에 따른 검사기와 DUT 사이의 데이터 패킷의 교환을 도시하는 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 DUT의 감도 검사에 대한 검사 결과를 도시하는 도면이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 DUT의 감도 검사에 대한 검사 결과를 도시하는 도면이다.
도 8은 검사기에 의해 제공된 검사 데이터 패킷 신호의 신호 출력을 제어하기 위한 회로예를 도시하는 도면이다.
다음의 상세한 설명은 첨부된 도면을 참조한 본 발명의 실시예에 대한 것이다. 이러한 설명은 예시를 위한 것이고 본 발명의 범위를 제한하고자 하는 것은 아니다. 이러한 실시예는 당업자가 본 발명을 실시할 수 있도록 충분히 상세하게 기술되어 있고, 다른 실시예가 본 발명의 정신 또는 범위로부터 벗어남 없이 일부 변경으로 실시될 수 있다는 것을 이해할 것이다.
본 발명에 전체에서, 문맥과 반대로 표시하지 않으면, 기술된 개별적인 회로 소자는 단수 또는 복수일 수 있다는 것을 이해할 것이다. 예를 들어, "회로"는 단일 구성요소 또는 복수의 구성요소를 포함할 수 있고, 이들은 능동 및/또는 수동이고 함께 접속되거나 (예를 들어, 하나 이상의 집적회로 칩으로) 결합되어 기술된 기능을 제공할 수 있다. 또한, 용어 "신호"는 하나 이상의 전류, 하나 이상의 전압, 또는 데이터 신호를 가리킬 수 있다. 도면에서, 동일하거나 관련된 요소는 동일하거나 관련된 알파벳, 숫자 또는 영숫자 표시를 가질 것이다. 또한, 본 발명이 이산 전자 회로를 사용하여 (바람직하게는 하나 이상의 집적 회로 칩의 형태로) 구현되는 것으로 기술되어 있지만, 이러한 회로의 임의의 부분의 기능은 대안으로, 처리되는 신호 주파수 또는 데이터 전송속도에 따라, 하나 이상의 적절히 프로그램된 프로세서를 사용하여 구현될 수 있다. 또한, 도면이 다양한 실시예의 기능 블록의 도면을 도시한다면, 이러한 기능 블록은 하드웨어 회로 사이의 분할을 반드시 표시하는 것은 아니다.
PER는 희망의 레벨의 DUT 성능에 부정적인 영향을 주도록 충분히 충격 받는 값으로서 보통 선택된다. 그러나, 성능 곡선을 앎으로써(즉, 패킷 에러율이 데이터 패킷 신호 출력의 함수를 갖고 있다), 상이한 PER 값을 사용할 수 있고 희망의 PER 값으로 다시 외삽할 수 있다(extrapolate). 예를 들어, 50%의 PER은 함수의 경사가 보통 최대인 변조 곡선(데이터 패킷 신호 포락선 출력에 대한 PER) 위의 점에서 발생하고, 그 결과로서 10% PER에 상응하는 함수 위의 점 보다 데이터 패킷 신호 출력 편차에서 동일한 변화에 대해 측정된 PER에서 큰 변화가 존재한다. 이로 인해, 검사된 PER이 신호 출력 편차에 대해 높은 감도를 갖도록 보장할 것이다. 또한, 50% PER 점으로부터 시작할 때, PER의 보다 큰 편차가 데이터 패킷 신호 출력의 보다 작은 편차에 대해 발생할 것이다. 그 결과, 양호한 검사 정확도로 PER를 알아내기 위해 통계적으로 보다 적은 검사 데이터 패킷이 필요하다. 더불어, 보다 적은 필요한 검사 데이터 패킷은 보다 적은 검사 시간으로 전환된다.
또한, 유용한 50% PER 포인트를 가짐으로써 적어도 10% PER 포인트는 물론 제조 편차를 추적할 수 있는데, 그 이유는 DUT 성능의 변화가 보다 신속하게 뚜렷해질 것이기 때문이다. 이것은 감도 포인트 보다 경미하게 높은 데이터 패킷 신호 출력 레벨에서 PER 레이트를 검색하는 것과 대조된다. 이러한 50% 포인트에서의 검사에 의해 노이즈 수치 및 다른 파라미터의 영향을 추적할 수 있을 것이다. 그와 대조적으로, 0% PER 포인트에서의 검사는 성능이 특정 희망의 레벨 보다 양호하다는 것만을 나타낼 것이다.
아래에 보다 상세하게 설명되는 바와 같이, 본 발명에 따라, 50% PER이 발생하는 데이터 패킷 신호 출력을 결정하여서, 이러한 값과 DUT에 대한 변조 곡선과 함께, DUT의 규정된 감도 포인트를 보다 정확하게 알아낼 수 있다. 50% PER 포인트는 제조 동안 추적될 수 있는 값을 나타내고, 50% PER 포인트를 단순히 오프셋함으로써 규정된 감도 포인트(예를 들어, 10%)를 용이하게 추출할 수 있게 한다. 이러한 오프셋은 전통적인 PER 측정이 많은 연속 데이터 패킷 신호 출력 레벨에 대해 이루어지고 데이터 패킷 신호 출력 레벨에 대한 PER이 추출되는, 전통적인 PER 스위프 검사를 통해 DUT의 원타임 특성화에 의해 얻을 수 있다. 추가 장점이 검사 데이터 패킷에 응답하여 확인 패킷(예를 들어, 인식, 또는 "ACK", 데이터 패킷)을 사용하여, DUT에 의해 정확하게 수신되는 각각의 데이터 패킷에 순시 피드백을 제공함으로써 구현된다.
그래서, 본 발명에 따라, 50% PER 포인트를 찾아내어, 시간에 따른 DUT의 성능에 대한 변화를 추적하고, DUT가 규격에 규정된 감도 메트릭을 충족하는지 여부를 판단하기 위해 사용할 수 있다. 또한, 확인 데이터 패킷을 사용함으로써, 데이터 패킷이 정확하게 수신되었는지 여부를 실시간으로 판단할 수 있다. 원타임 검사는 규정된 감도 포인트에서 실행될 수 있고, 그후에 이러한 감도 포인트와 50% PER 포인트 사이의 출력 레벨 오프셋을 발견할 수 있다. 그후에, 유사한 DUT를 검사할 때, 50% PER 포인트에 대한 출력 레벨로부터의 이러한 오프셋은 50% PER 포인트에 대한 편차를 사용하여 시간이 지남에 따른 제조 장치의 성능 추이를 정확하게 추적하는 것은 물론 DUT가 규정된 감도 포인트를 충족하거나 초과하는지 여부를 결정하기 위해 사용될 수 있다.
도 1에서, 본 발명에 따른 데이터 패킷 송수신기의 감도를 검사하기 위한 전형적인 검사 환경은 신호 경로(22c)를 통해 DUT(20)에 결합된 검사기(10)를 포함하고 있다. 검사기(10)는 하나 이상의 벡터 신호 발생기(VSG)와 같은 하나 이상의 신호원(도시되지 않음), 및 벡터 신호 분석기(VSA)와 같은 신호 분석 회로(도시되지 않음)를 포함하여 각각, 검사 데이터 패킷 신호의 형태로 수신 신호(22r)를 제공하고 복귀 데이터 패킷 신호의 형태로 DUT 전송 신호(22t)를 수신한다. 이러한 신호 경로(22c)는 보통, 예를 들어, 무선 주파수(RF) 케이블 및 커넥터의 형태의 도전성 신호 경로이다.
도 2에서, 대안의 검사 환경은 수신(22r) 및 전송(22t) 데이터 패킷 신호가 검사기(10)에 결합된 하나 이상의 안테나(24t) 및 DUT(20)에 결합된 하나 이상의 안테나(24d)를 사용하여 방사 전자기 에너지에 의해 전달되는 무선 신호 경로(22w)를 포함할 수 있다.
(예를 들어, DUT가 충실하도록 의도된, 강조된 규격에 의해 자주 필요한 바와 같이) 감도 계량을 충족하거나 초과하는지 여부를 알아내기 위해 무선 송수신기 또는 수신기를 검사할 때, 보통, 검출 데이터 패킷의 열에 하나는 패킷 데이터와 첨부된 체크 섬 사이의 불일치로 인해 확인 데이터 패킷이 아닌 출력 레벨을 찾을 필요가 있다. 즉, 10개의 검출된 데이터 패킷중 하나는 DUT 수신기에 의해 정확하게 수신되지 않는다. 규격 사양이 10%의 최대 PER를 필요하는 경우에, 검사기(10)(도 1 및 도 2)는 보통 검사 데이터 패킷의 수를 전송하고 이러한 수를 DUT(20)에 의해 반환된 확인 데이터 패킷의 수에 기초하여 얼마나 많은 데이터 패킷이 정확하게 수신되는지와 비교한다. 10%의 PER에 있어서, PER 측정값의 편차가 규격 규정된 허용오차의 경계 내에 있기 전에 비교적 큰 수의 데이터 패킷을 전송할 필요가 있다. 또한, 10% PER 포인트에 대한 변조 곡선의 경사도가 제로(수평)에 근접하기 때문에, 신호 출력의 작은 증가로 측정 PER은 0%가 될 수 있고, 출력 레벨이 더 증가함에 따라 거의 또는 아무런 추가 유용한 정보를 제공하지 않는다.
대안으로, PER가 50%인 출력 레벨을 찾는 것이 유리할 수 있는데, 이러한 포인트에서, PER의 변화는 출력 레벨의 변화에 더 민감하고, 이러한 포인트의 양측에서, 즉, 보다 낮은 출력 레벨과 보다 높은 출력 레벨에서 PER 값의 범위가 보다 크다. 그래서, PER이 50%인 출력 레벨로부터 출력 레벨이 증가하거나 감소함에 따라 보다 큰 범위의 PER 값이 측정될 수 있다. 예를 들어, 10% PER 포인트에서, 신호 출력의 증가가 얼마나 큰 지에 관계없이, 단지 PER이 0%로 감소되도록 할 수 있는데, 즉, 50% PER 포인트로부터 시작하여 10%의 변화에 의해 출력은 증가하여 PER 역시 0%로 감소되도록 할 수 있지만, 이제는 50% PER 변화를 유발할 수 있다. 따라서, 검사가 10% PER 포인트 주변에 중심이 있는 것보다 50% PER 포인트 주변에 중심이 있을 때 성능 편차에 대한 훨씬 더 많은 유용한 정보가 얻어질 수 있다. 또한, PER 곡선이 10% PER 포인트 주변 보다는 자주 훨씬 더 가팔라, 50% PER 포인트에 주변에서 가파르기 때문에, 등가의 통계 검사 정확도에 대해 보다 적은 수의 데이터 패킷을 사용하면 결과에 상당한 영향을 주지 않을 것이고, 그래서 추정은 보다 더 단순해진다.
50% PER 포인트로 수렴하도록, 검사 데이터 패킷 신호의 세트에 대한 DUT의 확인 데이터 패킷 응답에 따라, 검사 신호 출력을 위 또는 아래로 조정하기 위해 다양한 방법 또는 알고리즘을 적용할 수 있는 것이 유리하다. 포괄적인 0-100% PER 검사를 실행하는 DUT 모델에 대한 초기 검사에 이어, 어느 측정된 출력 레벨이 50% PER 포인트를 위해 측정된 출력 레벨을 나중에 오프셋하도록 사용되어야 하는지를 결정할 수 있다. 따라서, 이후의 검사는 50% PER 포인트만을 측정하면 되고, 이로부터 오프셋이 규정 감도 포인트를 추출하기 위해 적용될 수 있다.
도 3에서, 당업자에게 주지된 바와 같이, DUT의 변조 곡선(32)(신호 출력의 함수로서의 PER)은 모든 패킷이 정확하게 수신되는 값(34b)(PER=0%)은 물론, 아무런 패킷도 정확하게 수신되지 않는 신호 출력(34a)(PER=100%)에서의 PER 값을 포함하고 있다. 그러나, 이러한 곡선(32)은 비선형이다. PER이 50%인 포인트(34c)에서, 신호 출력 편차를 갖는 PER 편차는 일반적으로 가장 뚜렷하다. 따라서, 검사 신호 출력은 50% 내지 0% 그리고 50% 내지 100%의 PER 값의 범위를 측정하는 동안 50% PER 포인트(34c) 위와 아래로 각각, 증가되거나 감소될 수 있다.
그러나, 10% PER의 규정된 감도 포인트(34d)에서, DUT를 0% PER로 구동하는 추가 출력은 거의 없을 것인데, 출력의 추가 증가는 아무런 추가 유용한 PER 정보를 산출하지 않는다. 또한, 곡선(32)이 이러한 포인트에서 덜 가파르기 때문에(경사도가 보다 낮기 때문에), 각각의 출력 레벨에서 PER에 대한 보다 통계적으로 정확한 수의 확인 데이터 패킷을 수집하기 위해 보다 많은 검사 데이터 패킷이 필요하다. 즉, 대부분의 패킷이 수신될 수 있기 때문에, 수신되지 않은 적은 수의 데이터 패킷은 큰 수의 데이터 패킷이 검사를 위해 사용되지 않는다면, 주어진 입력 레벨에서, 보고된 PER를 상당히 변경할 수 있다.
도 4에서, 실시예에 따라, 50% PER 포인트를 알아내는 것은, 도시된 바와 같이 실행될 수 있다. 처음에, 검사는 50% PER 포인트가 발견될 것으로 예상되는 출력 레벨에서 시작한다(41). 이것은 임의의 수 X의 검사 데이터 패킷(예를 들어, 하나 이상, 그리고 각각의 검사 루프로 고정되거나 동적으로 변한다)을 전송하는 단계(42) 및 그 반응으로 수신된 확인 데이터 패킷을 계수하는 단계를 포함하고, 그 결과는 필요하다면 저장된다(43). (다른 검사 파라미터중에, 검사 데이터 패킷이 전송되는 신호 출력 레벨 역시, 예를 들어, 특정 검사 데이터 패킷 신호 출력 레벨이 사용된 횟수를 추적하기 위해 저장될 수 있다.) 그다음, 절반 보다 많은 전송된 데이터 패킷이 정확하게 수신되었는지 여부를 판정한다(44). 절반 보다 많은 패킷이 정확하게 수신되었다면, 신호 출력에 대한 검사 출력이 감소된다(45). 절반 보다 적은 데이터 패킷이 정확하게 수신되었다면, 신호 출력은 증가된다(46). 이러한 신호 출력 증가 및 감소는 동일하거나 상이한 값에서 고정되거나, 예를 들어, 각각의 검사 루프와, 함께 또는 독립적으로 변할 수 있다. (검사 데이터 패킷의 수 및 출력의 증가 및 감소의 크기는 이러한 검사 시퀀스의 효율 및 정확도에 영향을 미치는 주요 요인인데, 예를 들어, 보다 큰 출력 증가 및 감소에 의해 50% PER로의 보다 빠른 수렴이 가능하지만 정확도는 일부 손실된다. 하나의 검사 데이터 패킷 및 0.25dB 출력 증가 및 감소를 사용한 전류 검사에 의해 양호한 검사 성능을 얻었다). 그다음, 예를 들어, 직접 측정되거나 외삽에 의해 계산된, 이제까지 얻어진 결과로부터 50% PER 포인트를 얻을 수 있는지 판정한다(47). (예를 들어, 수집된 검사 데이터가 P1 및 P2의 검사 데이터 패킷 신호 출력 레벨에서 48% 및 52% PER 값을 포함한다면, 외삽된 50% PER이 P1과 P2 사이의 중간의 출력 레벨 Pe로서 계산될 수 있다. 즉, Pe=(P1+P2)/2.) 그러하다면, 검사는 종료된다(48). 그렇지 않다면, 이전의 단계가 반복된다.
도 5에서, 검사 동작(도 4)의 결과로서, 검사 데이터 패킷 및 확인 데이터 패킷에 대한 효과가 도시된 바와 같이 도시될 수 있다. 예를 들어, 초기 시간 간격(52) 동안, 검사 데이터 패킷(53r)의 세트가 초기 저출력 레벨에서 전송되어, 50% 보다 큰 PER을 나타내는 리턴 데이터 패킷(53t)의 수가 얻어진다. 후속 시간 간격(54) 동안, 검사 데이터 패킷(55r)이 보다 높은 출력 레벨에서 전송되어, 0%의 PER를 나타내는 확인 데이터 패킷이 얻어진다. 다음 시간 간격(56) 동안, 검사 데이터 패킷(57t)이 점점 보다 낮은 출력 레벨에서 전송되어, 50% 보다 큰 PER를 나타내는 확인 데이터 패킷(57t)이 얻어진다. 다음 시간 간격(58) 동안, 검사 데이터 패킷(59r)이 점점 보다 높은 출력 레벨에서 전송되어 이제 50% PER를 나타내는 확인 데이터 패킷(59t)이 얻어진다. 당업자가 용이하게 이해하는 바와 같이, 각각의 출력 레벨에서 전송된 데이터 패킷(53r, 55r, 57r, 59r)의 수, 이들의 특정 출력 레벨, 및 (진폭 및 방향에 있어서) 출력 레벨의 변화 증분이 (예를 들어, 도 4에 도시된 일반적인 검사 흐름에 따라) 사용된 특정 검사 알고리즘에 따라 변할 수 있다.
도 6에서, 무작위 선택된 시간 검사 데이터 패킷 신호 출력 레벨의 알고리즘의 예에 따른 1,000번의 검사 실행의 예가 도시된 바와 같은 결과를 생성할 수 있다. 여기에 도시된 검사 실행은 검사 실행 1, 30, 88,...이다. 각각의 경우에, 시작 출력 레벨(62)에 의해, 100-200 개의 검사 데이터 패킷이 알고리즘의 선택된 세트 및 출력 레벨에 따라 전송된 후에 50% PER에 상응하는 출력 레벨에 대해 -72 dB로 수렴된 추정 감도 포인트(64)가 얻어졌다.
도 7에서, 다른 알고리즘의 예에 따라, 상이한 세트의 검사 데이터 패킷 및 신호 출력 증분(72)을 갖는 다른 1,000번의 검사 실행에 의해 50% PER를 생성하는 출력 레벨로서 -72 dB의 출력 레벨에서의 수렴(74)이 얻어졌다. 이러한 예에서, 검사 실행 당 검사된 데이터 패킷(6)의 수는 100 미만의 데이터 패킷으로부터 140 미만의 데이터 패킷으로 변하였다. 필요한 검사 데이터 패킷의 수는 도 4에 도시된 알고리즘 예의 출구 조건(47)에 의해 결정될 수 있다.
도 8에서, 검사기(110)(도 1 및 도 2)에 의해 제공된 데이터 패킷 신호(111)의 신호 포락선 출력을 제어하기 위한 회로(110)의 예는 제어가능한(예를 들어, 프로그램가능한) 신호 이득(113)을 갖는 출력 증폭기(112) 및 이러한 신호 이득(113)을 달성하고, 변경하고 아니면 제어하기 위한 하나 이상의 제어 신호(115)를 제공하기 위한 제어 회로(114)를 포함하고 있다. (당업자가 용이하게 이해하는 바와 같이, 제어가능한 이득(113)은 증폭기 회로(112)의 일부로서의 가변 이득 회로; 또는 증폭기 회로(112)에 이어 있는 가변 감쇠회로(도시되지 않음)의 적어도 2개의 형태로 구현될 수 있어서, 증폭기 회로(112)가 일정 신호 출력을 유지하면서 출력 신호(22r) 출력의 크기조정이 가능하다.) 그 결과, 이러한 증폭기(112)를 사용하여 검사기(10)에 의해 제공된 DUT 수신 신호(22r)는 예를 들어, 도 5에 도시된 바와 같이, 가변 출력 레벨을 갖는 데이터 패킷을 제공한다. 예를 들어, 도 8에 더 도시된 바와 같이, 시간 간격(52, 54, 56, 58) 동안 데이터 패킷(53r, 55r, 57r, 59r)의 출력 레벨이 도시된 바와 같이 반복될 수 있다. 이러한 제어 신호(115)의 상대 신호 레벨은 상대 데이터 패킷 신호 출력 레벨을 나타낸다.
제어 회로(114)는 당업자에게 주지된 많은 방법으로 구현될 수 있다. 예를 들어, 적절한 제어 신호(115)를 생성하기 위한 명령어에 상응하는 데이터가 당업계에 공지된 다양한 형태의 메모리 회로에 저장될 수 있고, 당업계에 알려진 많은 다른 것들중에, 필드 프로그래머블 게이트 어레이(FPGA)와 같은, 디지털 처리 또는 로직 회로를 사용하여 처리될 수 있어서, 예를 들어, 도 4에 도시되고 상술된 것과 같은 감도 검사 방법에 따라, 데이터 패킷 신호 출력을 증가시키고 감소시키기 위한 알고리즘을 구현할 수 있다.
상술된 바와 같이, 일단 50% PER 포인트가 결정되면, 우선 관심의 PER 포인트에 대한 오프셋 출력 값을 발견한 다음 이러한 오프셋(35)(도 3)을 출력 값에 적용하여 50% PER를 얻음으로써, 규격에 규정된 감도 포인트를 포함하는 상이한 PER 포인트를 추출할 수 있다.
또한, 이러한 검사 역시 임의의 기간 동안 특정 DUT 모델의 감도의 변화를 추적하는데 사용될 수 있다. 50% PER 또는 추출된 감도 포인트를 사용하여, 고정된 출력 레벨로서 PER를 사용하는 것과 반대로, 제조 동안 성능 편차의 추적이 향상될 수 있다. 대부분의 경우에, 0% 근방의 PER은 장치 성능의 보다 작은 변화의 발견을 차단하지만, 50% PER 포인트는 변화를 신속하게 드러낸다.
본 발명의 동작의 구조 및 방법의 다양한 다른 수정 및 변경이 본 발명의 정신 및 범위로부터 벗어남 없이 당업자에게 명백할 것이다. 본 발명이 특정 바람직한 실시예와 관련하여 설명되었지만, 본 발명이 이러한 실시예에 제한되지 않는다는 것을 이해해야 한다. 다음의 청구범위는 본 발명의 범위를 규정하고 이러한 청구범위 내의 구조 및 방법 및 등가물을 포함하도록 의도되었다.

Claims (12)

  1. 데이터 패킷 신호 송수신기를 검사하기 위한 방법에 있어서,
    검사 데이터 패킷 신호 출력을 갖는 검사 데이터 패킷 신호를 제공하는 단계로서, 상기 검사 데이터 패킷 신호는 최소 데이터 패킷 신호 출력(PWR)에서 최대 데이터 패킷 에러율(PER)을 갖고, 최대 PWR에서 최소 PER을 갖고, 상기 최소 PWR과 상기 최대 PWR 사이의 복수의 중간 데이터 패킷 신호 출력(PWR)에서 복수의 중간 데이터 패킷 에러율(PER)을 갖는 데이터 패킷 신호 출력(PWR)의 함수로서 데이터 패킷 에러율(PER)에 의해 규정된 동작 특성을 갖는 피검사 장치(DUT)에 의해 수신되기 위한 복수의 검사 데이터 패킷 및 복수의 검사 데이터 패킷 신호 출력 레벨을 포함하는, 검사 데이터 패킷 신호를 제공하는 단계;
    상기 DUT로부터, 상기 복수의 검사 데이터 패킷의 적어도 하나의 수신을 각각 나타내는 복수의 응답 데이터 패킷을 수신하는 단계;
    상기 복수의 응답 데이터 패킷 및 상기 복수의 검사 데이터 패킷의 함수로서 검사 PER을 계산하는 단계;
    상기 제공하는 단계, 수신하는 단계 및 계산하는 단계를 반복하는 단계로서, 상기 복수의 중간 PWR들 중 하나에서 상기 복수의 중간 PER들 중 사전결정된 하나보다 낮은 검사 PER을 계산 한 후에는 상기 PWR을 감소시키고 상기 복수의 중간 PER들 중 상기 사전결정된 하나보다 높은 검사 PER을 계산 한 후에는 상기 PWR을 증가시키는 것에 의하여, 상기 수신된 복수의 응답 데이터 패킷 중 연속적인 것과 상기 복수의 검사 데이터 패킷 중 대응하는 것의 함수로서, 복수의 후속 검사 PER을 생성하기 위하여, 점차적으로 더 높거나 더 낮은 출력 레벨에서 교번하여 상기 검사 데이터 패킷 신호 출력을 제공하는 단계;및
    상기 복수의 후속 검사 PER에 응답하여 상기 제공하는 단계, 수신하는 단계 및 계산하는 단계를 반복하는 단계를 종료하는 단계;를 포함하고
    상기 PWR의 함수로서 상기 PER은 비선형 변조 곡선을 정의하고,
    상기 비선형 변조 곡선은 상기 복수의 중간 PER 중 상기 사전결정된 하나에서 최대 PER 대 PWR 변동을 갖고, 상기 복수의 중간 PER 중 상기 사전결정된 하나보다 높거나 낮은 상기 복수의 중간 PER 중 나머지에서 상기 최대 PER 대 PWR 변동보다 작은 PER 대 PWR 변동을 갖고;
    상기 복수의 후속 검사 PER은,
    상기 복수의 중간 PER 중 상기 사전결정된 중간 PER과 같은 측정 검사 PER, 또는
    상기 복수의 중간 PER 중 상기 사전결정된 중간 PER 보다 높은 적어도 하나의 검사 PER 및 보다 낮은 적어도 하나의 검사 PER,
    중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 송수신기 검사 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 중간 PER 중 상기 사전결정된 중간 PER은 상기 복수의 중간 PWR의 타겟 중간 PWR에 상응하고;
    상기 검사 데이터 패킷 신호 출력을 갖는 검사 데이터 패킷 신호를 제공하는 단계는 상기 복수의 중간 PWR 중 상기 타겟 중간 PWR 보다 작은 초기 검사 데이터 패킷 신호 출력을 갖는 상기 검사 데이터 패킷 신호를 제공하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 송수신기 검사 방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 중간 PER 중 상기 사전결정된 중간 PER은 상기 복수의 중간 PWR 중 타겟 중간 PWR에 상응하고;
    상기 검사 데이터 패킷 신호 출력을 갖는 검사 데이터 패킷 신호를 제공하는 단계는 상기 복수의 중간 PWR 중 상기 타겟 중간 PWR 보다 큰 초기 검사 데이터 패킷 신호 출력을 갖는 상기 검사 데이터 패킷 신호를 제공하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 송수신기 검사 방법.
  4. 데이터 패킷 신호 송수신기를 검사하는 방법에 있어서,
    검사 데이터 패킷 신호 출력을 갖고 있고 복수의 검사 데이터 패킷 및 복수의 검사 데이터 패킷 신호 출력 레벨을 포함하는 검사 데이터 패킷 신호를, 데이터 패킷 신호 송수신기 피검사 장치(DUT)에 의해, 수신하는 단계로서, 상기 DUT는 최소 데이터 패킷 신호 출력(PWR)에서 최대 데이터 패킷 에러율(PER)을 갖고, 최대 PWR에서 최소 PER을 갖고, 상기 최소 PWR과 상기 최대 PWR 사이의 복수의 중간 데이터 패킷 신호 출력(PWR)에서 복수의 중간 데이터 패킷 에러율(PER)을 갖는 데이터 패킷 신호 출력(PWR)의 함수로서 데이터 패킷 에러율(PER)에 의해 규정된 동작 특성을 갖는, 검사 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계;
    상기 복수의 검사 데이터 패킷의 적어도 하나의 수신을 각각 나타내는 복수의 응답 데이터 패킷을 상기 DUT에 의해 제공하는 단계;
    상기 복수의 응답 데이터 패킷 및 상기 복수의 검사 데이터 패킷의 함수로서 검사 PER을 계산하는 단계;
    상기 수신하는 단계, 제공하는 단계 및 계산하는 단계를 반복하는 단계로서, 상기 복수의 중간 PWR들 중 하나에서 상기 복수의 중간 PER들 중 사전결정된 하나보다 낮은 검사 PER을 계산 한 후에는 상기 PWR을 감소시키고 상기 복수의 중간 PER들 중 상기 사전결정된 하나보다 높은 검사 PER을 계산 한 후에는 상기 PWR을 증가시키는 것에 의하여, 상기 수신된 복수의 응답 데이터 패킷 중 연속적인 것과 상기 복수의 검사 데이터 패킷 중 대응하는 것의 함수로서, 복수의 후속 검사 PER을 생성하기 위하여, 점차적으로 더 높거나 더 낮은 출력 레벨에서 교번하여 상기 검사 데이터 패킷 신호 출력이 제공되는 단계;및
    상기 복수의 후속 검사 PER에 응답하여 상기 수신하는 단계, 제공하는 단계 및 계산하는 단계를 반복하는 단계를 종료하는 단계;를 포함하고,
    상기 PWR의 함수로서 상기 PER은 비선형 변조 곡선을 정의하고,
    상기 비선형 변조 곡선은 상기 복수의 중간 PER 중 상기 사전결정된 하나에서 최대 PER 대 PWR 변동을 갖고, 상기 복수의 중간 PER 중 상기 사전결정된 하나보다 높거나 낮은 상기 복수의 중간 PER 중 나머지에서 상기 최대 PER 대 PWR 변동보다 작은 PER 대 PWR 변동을 갖고,
    상기 복수의 후속 검사 PER은,
    상기 복수의 중간 PER 중 상기 사전결정된 중간 PER과 같은 측정 검사 PER, 또는
    상기 복수의 중간 PER 중 상기 사전결정된 중간 PER 보다 높은 적어도 하나의 검사 PER 및 보다 낮은 적어도 하나의 검사 PER,
    중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 송수신기 검사 방법.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 복수의 중간 PER 중 상기 사전결정된 중간 PER은 상기 복수의 중간 PWR의 타겟 중간 PWR에 상응하고;
    검사 데이터 패킷 신호 출력을 갖는 검사 데이터 패킷 신호를 데이터 패킷 신호 송수신기 피검사 장치(DUT)에 의해 수신하는 단계는, 상기 복수의 중간 PWR 중 상기 타겟 중간 PWR 보다 작은 초기 검사 데이터 패킷 신호 출력을 갖는 상기 검사 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 송수신기 검사 방법.
  6. 제4항에 있어서,
    상기 복수의 중간 PER 중 상기 사전결정된 중간 PER은 상기 복수의 중간 PWR중 타겟 중간 PWR에 상응하고;
    검사 데이터 패킷 신호 출력을 갖는 검사 데이터 패킷 신호를 데이터 패킷 신호 송수신기 피검사 장치(DUT)에 의해 수신하는 단계는, 상기 복수의 중간 PWR 중 상기 타겟 중간 PWR 보다 큰 초기 검사 데이터 패킷 신호 출력을 갖는 상기 검사 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 송수신기 검사 방법.
  7. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 복수의 중간 PER 중 상기 사전결정된 중간 PER은 50 퍼센트인 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 송수신기 검사 방법.
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