CN106371005A - 基于开关矩阵的微波组件开关响应时间量测试装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于开关矩阵的微波组件开关响应时间量测试装置及方法,包括开关矩阵和低频示波器,其特征是:微波组件的输出信号通过开关矩阵选通低频输出信号通路或高频输出信号通路到低频示波器的第二通道,示波器的第一通道以微波组件开关控制信号作同步触发,采集信号输出通道的信号波形,读取从控制信号有效开始到输出信号稳定为止的这段时间间隔作为微波组件开关响应时间量。本发明使用低频示波器和检波器分情况组合的方式将低频示波器的测量范围扩大,通用且经济的实现了微波组件开关响应时间量的测试。
Description
技术领域
本发明涉及一种基于开关矩阵的微波组件开关响应时间量测试装置及方法。
背景技术
微波组件开关响应时间量是衡量微波组件的重要指标。
目前当输出信号频率较低时一般使用低频示波器测量,频率较高时可以使用高频示波器测量。
如图1所示。示波器以微波组件开关控制信号作为触发,采集信号输出通道的信号波形,读取从控制信号有效开始到输出信号稳定为止的这段时间间隔作为开关的响应时间。程控示波器获取通道1上升沿到通道2的某个有效上升沿的时间参数。若需要测试的微波组件的输出频率范围较宽,则不得不配备价格昂贵的高频示波器,来同时满足高频、低频输出信号开关响应时间量的测试。
在微波组件的开关响应时间量测试中,输出信号频率较低时一般使用低频示波器测量,频率较高时可以使用高频示波器测量。如何通用且经济的实现输出信号开关响应时间量的测试是目前研究的重点。
发明内容
本发明为了解决上述问题,提出了一种基于开关矩阵的微波组件开关响应时间量测试装置及方法,本发明将检波器集成到开关矩阵中,根据高/低频划分进行测试通路的选择,能够扩大测量范围,实现微波组件开关响应时间量的测试。
为了实现上述目的,本发明采用如下技术方案:
一种基于开关矩阵的微波组件开关响应时间量测试装置,包括开关矩阵和低频示波器,其中,微波组件的输出信号通过开关矩阵选通的低频输出信号通路或高频输出信号通路到低频示波器的第二通道,示波器的第一通道以微波组件开关控制信号作同步触发,采集信号输出通道的信号波形,读取从控制信号有效开始到输出信号稳定为止的这段时间间隔作为微波组件开关响应时间量。
优选的,当输出信号的频率在示波器的测量范围内时,开关矩阵选通低频输出信号通路。
优选的,当输出信号的频率超出示波器的测量范围时,开关矩阵选通高频输出信号通路。
所述开关矩阵,内含开关响应时间量测试通道,该通道由两个一选二开关模块组成,形成两条信号通道即低频信号输出通道和高频信号输出通道,且高频输出信号通道上加有检波器。
当低频输出信号通道选通时,微波组件的输出信号输入到示波器第二通道,以第一通道微波组件开关控制信号作同步触发,采集信号输出通道的信号波形,读取从控制信号有效开始到输出信号稳定为止的这段时间间隔作为开关的响应时间。
当高频输出信号通路选通时,微波组件的输出信号经过检波器检波后,输入到示波器第二通道,以第一通道微波组件开关控制信号作同步触发,采集信号输出通道的高频信号包络,读取从控制信号有效开始到输出信号稳定为止的这段时间间隔作为开关的响应时间。
所述微波组件开关响应时间量为示波器获取第一通道上升沿到第二通道的某个有效上升沿的时间参数。
一种基于开关矩阵的微波组件开关响应时间量测试方法,根据现有低频示波器的性能指标以及输出信号频率范围选择检波器,并设定高、低频划分范围,确定示波器的测量范围,当输出信号的频率在示波器的测量范围内时,开关矩阵选通低频输出信号通路,微波组件的输出信号输入到示波器第二通道,以第一通道微波组件开关控制信号作同步触发,采集信号输出通道的信号波形,读取从控制信号有效开始到输出信号稳定为止的这段时间间隔作为开关的响应时间
当输出信号的频率超出示波器的测量范围时,开关矩阵选通高频输出信号通路,微波组件的输出信号经过检波器检波后,输入到示波器第二通道,以第一通道微波组件开关控制信号作同步触发,采集信号输出通道的高频信号包络,读取从控制信号有效开始到输出信号稳定为止的这段时间间隔作为开关的响应时间。
本发明的有益效果为:
(1)将检波器集成到开关矩阵中,根据高/低频划分进行测试通路的选择,划分方式简单、容易实现;
(2)使用低频示波器和检波器分情况组合的方式将低频示波器的测量范围扩大,通用且经济的实现了微波组件开关响应时间量的测试。
附图说明
图1为传统开关响应时间量测试框图;
图2为本发明的结构示意图;
图3为本发明的开关矩阵设计图;
图4为本发明的低频直接接入测试示意图;
图5为本发明的高频检波接入测试示意图。
具体实施方式:
下面结合附图与实施例对本发明作进一步说明。
本发明将提供一种通用且经济的开关响应时间量测试方法及装置。原理如图2所示。
根据现有低频示波器的性能指标以及输出信号频率范围选择检波器,并设定高/低频划分范围。
开关矩阵是自动测试系统的重要组成部分,担负着控制信号流向的任务,是实现自动测试接口设计的关键。
在开关矩阵中集成检波器并添加两个1选2开关模块(如图3所示)用以根据高/低频划分规则将微波组件输出信号选通到低频输出信号通路或高频输出信号通路。
具体为:当输出信号的频率在示波器的测量范围内时,开关矩阵选通低频输出信号通路。信号输入到示波器2通道。以1通道微波组件开关控制信号作同步触发,采集信号输出通道的信号波形,读取从控制信号有效开始到输出信号稳定为止的这段时间间隔作为开关的响应时间(如图4所示)。即程控示波器获取通道1上升沿到通道2的某个有效上升沿的时间参数。
当输出信号的频率超出示波器的测量范围时,开关矩阵选通高频输出信号通路。信号经过检波器检波后,输入到示波器2通道。以1通道微波组件开关控制信号作同步触发,采集信号输出通道的高频信号包络,读取从控制信号有效开始到输出信号稳定为止的这段时间间隔作为开关的响应时间(如图5所示)。即程控示波器获取通道1上升沿到通道2的某个有效上升沿的时间参数。
上述虽然结合附图对本发明的具体实施方式进行了描述,但并非对本发明保护范围的限制,所属领域技术人员应该明白,在本发明的技术方案的基础上,本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本发明的保护范围以内。
Claims (8)
1.一种基于开关矩阵的微波组件开关响应时间量测试装置,包括开关矩阵和低频示波器,其特征是:微波组件的输出信号通过开关矩阵选通低频输出信号通路或高频输出信号通路到低频示波器的第二通道,示波器的第一通道以微波组件开关控制信号作同步触发,采集信号输出通道的信号波形,读取从控制信号有效开始到输出信号稳定为止的这段时间间隔作为微波组件开关响应时间量。
2.如权利要求1所述的一种基于开关矩阵的微波组件开关响应时间量测试装置,其特征是:当输出信号的频率在示波器的测量范围内时,开关矩阵选通低频输出信号通路。
3.如权利要求1所述的一种基于开关矩阵的微波组件开关响应时间量测试装置,其特征是:当输出信号的频率超出示波器的测量范围时,开关矩阵选通高频输出信号通路。
4.如权利要求1所述的一种基于开关矩阵的微波组件开关响应时间量测试装置,其特征是:所述开关矩阵,内含开关响应时间量测试通道,该通道由两个一选二开关模块组成,形成两条信号通道即低频信号输出通道和高频信号输出通道,且高频输出信号通道上加有检波器。
5.如权利要求1或2所述的一种基于开关矩阵的微波组件开关响应时间量测试装置,其特征是:当低频输出信号通路选通时,微波组件的输出信号输入到示波器第二通道,以第一通道微波组件开关控制信号作同步触发,采集信号输出通道的信号波形,读取从控制信号有效开始到输出信号稳定为止的这段时间间隔作为开关的响应时间。
6.如权利要求1或3所述的一种基于开关矩阵的微波组件开关响应时间量测试装置,其特征是:当高频输出信号通路选通时,微波组件的输出信号经过检波器检波后,输入到示波器第二通道,以第一通道微波组件开关控制信号作同步触发,采集信号输出通道的高频信号包络,读取从控制信号有效开始到输出信号稳定为止的这段时间间隔作为开关的响应时间。
7.如权利要求1所述的一种基于开关矩阵的微波组件开关响应时间量测试装置,其特征是:所述微波组件开关响应时间量为示波器获取第一通道上升沿到第二通道的某个有效上升沿的时间参数。
8.一种基于开关矩阵的微波组件开关响应时间量测试方法,其特征是:根据现有低频示波器的性能指标以及输出信号频率范围选择检波器,并设定高、低频划分范围,确定示波器的测量范围,当输出信号的频率在示波器的测量范围内时,开关矩阵选通低频输出信号通路,微波组件的输出信号输入到示波器第二通道,以第一通道微波组件开关控制信号作同步触发,采集信号输出通道的信号波形,读取从控制信号有效开始到输出信号稳定为止的这段时间间隔作为开关的响应时间;
当输出信号的频率超出示波器的测量范围时,开关矩阵选通高频输出信号通路,微波组件的输出信号经过检波器检波后,输入到示波器第二通道,以第一通道微波组件开关控制信号作同步触发,采集信号输出通道的高频信号包络,读取从控制信号有效开始到输出信号稳定为止的这段时间间隔作为开关的响应时间。
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