CN108387878A - 一种相控阵雷达tr组件自动测试装置与方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种相控阵雷达TR组件自动测试装置与方法，涉及电子设备测试技术领域，通过生成特定的射频信号控制射频开关的导通或关断，梳理TR组件射频信号传输路径，并在射频开关矩阵单元的内部设置功率衰减器和负载，最后由测试仪器通过测试仪器接口单元与相控阵雷达TR组件自动测试装置相连，完成对TR组件性能参数的测试。通过本发明的技术方案，提高了检测TR组件中各器件性能参数的检测速率，提高了测试TR组件中各器件性能指标的可靠性和准确性，有利于降低因输入功率过大而导致测试仪器损坏的可能性。

Description

一种相控阵雷达TR组件自动测试装置与方法

技术领域

本发明涉及电子设备测试技术领域，具体而言，涉及一种相控阵雷达TR组件自动测试装置和一种相控阵雷达TR组件自动测试方法。

背景技术

收发(Transmitter and Receiver，TR)组件是相控阵雷达系统核心部件，TR组件的功能主要是实现射频微波信号的收发、增益、相移等指标的自动控制，TR组件的制造工艺复杂，功能部件较多，既有大功率电平发射通道，又有高增益、低噪声的接收通道。TR组件包含低噪声放大器(Low Noise Amplifier，LNA)、数字移相器、数字衰减器、TR开关、限幅器、驱动及逻辑控制电路等，它是集高频、低频、大信号、小信号等为一体的复杂功能器件。因此，当TR组件发生故障时，需要对TR组件中各器件的性能指标进行测试，以便快速诊断出TR组件中的故障器件。而现有技术中，并没有一种行之有效地测试装置或者测试方法。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中或相关技术中存在的技术问题之一。

针对上述问题，本发明提出了一种相控阵雷达TR组件自动测试装置与方法，提高了检测TR组件中各器件性能参数的检测速率，有利于提高判断TR组件故障的准确性。

为了实现上述目的，本发明第一方面的技术方案提供了一种相控阵雷达TR组件自动测试装置，包括：检测单元，射频矩阵控制信号产生单元，射频开关矩阵单元，TR组件以及测试仪器接口单元；检测单元的输出端电连接于射频矩阵控制信号产生单元的输入端，检测单元电连接于测试仪器接口单元，检测单元用于生成性能检测指令，并根据测试数据生成测试结果查询列表；射频矩阵控制信号产生单元的输出端电连接于射频开关矩阵单元的输入端，射频矩阵控制信号产生单元用于生成指定频率的射频信号；射频开关矩阵单元电连接于TR组件的第一端口，射频开关矩阵单元的输出端电连接于测试仪器接口单元的输入端，射频开关矩阵单元用于形成检测通路。

在上述任一项技术方案中，优选地，射频矩阵控制信号产生单元还包括：串口通信模块、控制器以及射频开关控制信号输出模块；串口通信模块设置于射频矩阵控制信号产生单元的输入端，串口通信模块用于接收检测单元的性能检测指令；控制器的输入端电连接于串口通信模块的输出端，控制器的输出端电连接于射频开关控制信号输出模块的输入端；射频开关控制信号输出模块设置于射频矩阵控制信号产生单元的输出端，射频开关控制信号输出模块的输出端电连接于射频开关矩阵单元的输入端。

在上述任一项技术方案中，优选地，其特征在于，射频开关矩阵单元具体包括：第一开关模块，第三开关模块，第八射频开关以及输出射频矩阵控制信号分配单元；输出射频矩阵控制信号分配单元的输入端电连接于射频矩阵控制信号产生单元的输出端，输出射频矩阵控制信号分配单元的第一输出端电连接于第一开关模块的第一输入端，输出射频矩阵控制信号分配单元的第二输出端电连接于第八射频开关的第一输入端，输出射频矩阵控制信号分配单元的第三输出端电连接于第三开关模块的输入端；第三开关模块的第一输出端电连接于第八射频开关的第二输入端；第八射频开关的输出端电连接于第一开关模块的第二输入端。

在上述任一项技术方案中，优选地，第一开关模块，具体包括：第一射频开关、第二射频开关以及功率衰减器；第一射频开关设置于第一开关模块的第二输入端，第一射频开关的输出端电连接于功率衰减器的输入端，功率衰减器的输出端电连接于第二射频开关的输入端，第二射频开关的输出端电连接于测试仪器接口单元的输入端。

在上述任一项技术方案中，优选地，射频开关矩阵单元还包括：负载；负载连接于第三开关模块的第二输出端，负载用于与TR组件进行功率匹配。

在上述任一项技术方案中，优选地，射频开关矩阵单元具体还包括：第三射频开关、第四射频开关以及运放模块；运放模块的第一输入端电连接于第三射频开关的输出端，运放模块的输出端电连接于第四射频开关的输入端，第四射频开关的输出端电连接于TR组件的第二端口，运放模块用于控制TR组件的工作状态在连续波状态和脉冲状态之间切换。

在上述任一项技术方案中，优选地，还包括：脉冲发生模块；

脉冲发生模块的输入端电连接于检测单元，脉冲发生模块的输出端电连接于运放模块的第二输入端。

在上述任一项技术方案中，优选地，还包括：TR组件工作状态控制与采集单元；TR组件工作状态控制与采集单元连接于检测单元和TR组件之间。

本发明第二方面的技术方案提供了一种相控阵雷达TR组件自动测试方法，适用于本发明第一方面的技术方案中的任一项相控阵雷达TR组件自动测试装置，包括：步骤10，根据检测指令，生成测试信号输出指令；步骤20，判断测试源信号是否符合输入激励条件；步骤30，当判定测试源信号符合输入激励条件时，发送测试源信号至TR组件；步骤40，获取TR组件的测试数据；步骤50，根据测试数据，生成并显示测试结果查询列表。

在上述任一项技术方案中，优选地，步骤30，具体还包括：步骤31，根据检测指令，生成射频开关导通指令；步骤32，发送射频开关导通指令至射频开关矩阵单元。

有益效果：

本发明中的技术方案，通过生成符合输入激励条件的测试源信号，对TR组件进行测试，提高了检测TR组件中各器件性能参数的检测速率，有利于提高判断TR组件故障的准确性，降低了TR组件的维修成本。

本发明中的技术方案，通过设置射频矩阵控制信号产生单元和射频开关矩阵单元，有利于提高生成射频信号的准确性，提高了TR组件输入信号的稳定性，降低了因干扰信号导致TR组件输出信号异常的可能性，通过在射频开关矩阵单元中设置功率衰减器，有利于降低因输入功率过大而导致测试仪器损坏的可能性，通过在射频开关矩阵单元的输出端设置负载，对TR组件进行功率匹配，提高了测试TR组件中各器件性能指标的可靠性和准确性。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是根据本发明的一个实施例的相控阵雷达TR组件自动测试装置的示意框图；

图2是根据本发明的一个实施例的相控阵雷达TR组件自动测试方法的示意流程图。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互结合。

在下面的描述中，阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是，本发明还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。

实施例一：

图1示出了根据本发明的一个实施例的相控阵雷达TR组件自动测试装置的示意框图。

如图1所示，根据本发明一个实施例的相控阵雷达TR组件自动测试装置，包括：检测单元10，射频矩阵控制信号产生单元50，射频开关矩阵单元20，TR组件30以及测试仪器接口单元40；检测单元10的输出端电连接于射频矩阵控制信号产生单元50的输入端，检测单元10电连接于测试仪器接口单元40，检测单元10用于生成性能检测指令，并根据测试数据生成测试结果查询列表；

其中，检测单元10可以为中央处理器CPU、微控制单元MCU、数字信号处理器DSP或者具有相同处理功能的电子元件。

在本实施例中，射频矩阵控制信号产生单元50的输出端电连接于射频开关矩阵单元20的输入端，射频矩阵控制信号产生单元50用于生成指定频率的射频信号；

优选地，射频矩阵控制信号产生单元50还包括：串口通信模块51、控制器52以及射频开关控制信号输出模块54；串口通信模块51设置于射频矩阵控制信号产生单元50的输入端，串口通信模块51用于接收检测单元10的性能检测指令；控制器52的输入端电连接于串口通信模块51的输出端，控制器52的输出端电连接于射频开关控制信号输出模块54的输入端；射频开关控制信号输出模块54设置于射频矩阵控制信号产生单元50的输出端，射频开关控制信号输出模块54的输出端电连接于射频开关矩阵单元20的输入端。

具体地，射频矩阵控制信号产生单元50通过串口通信模块51以串行方式接收检测单元10的性能检测指令，采用控制器52对接收到的性能检测指令进行翻译，并生成TTL电平控制信号，由射频开关控制信号输出模块54对TTL电平控制信号的驱动能力进行放大，并将放大后的TTL电平控制信号发送至射频开关矩阵单元20。

进一步地，为了提高射频矩阵控制信号产生单元50的响应速率和降低制造成本，可以在控制器52和射频开关控制信号输出模块54之间设置可编程逻辑器件53，由可编程逻辑器件53生成TTL电平控制信号，进而可以将控制器52设置为“51单片机”。

其中，串口通信模块51采用RS232串口通信芯片。

在本实施例中，射频开关矩阵单元20电连接于TR组件30的第一端口，射频开关矩阵单元20的输出端电连接于测试仪器接口单元40的输入端，射频开关矩阵单元20用于形成检测通路；

优选地，射频开关矩阵单元20具体包括：第一开关模块213，第三开关模块215，第八射频开关204以及输出射频矩阵控制信号分配单元212；输出射频矩阵控制信号分配单元212的输入端电连接于射频矩阵控制信号产生单元50的输出端，输出射频矩阵控制信号分配单元212的第一输出端电连接于第一开关模块213的第一输入端，输出射频矩阵控制信号分配单元212的第二输出端电连接于第八射频开关204的第一输入端，输出射频矩阵控制信号分配单元212的第三输出端电连接于第三开关模块215的输入端；第三开关模块215的第一输出端电连接于第八射频开关204的第二输入端；第八射频开关204的输出端电连接于第一开关模块213的第二输入端。

其中，输出射频矩阵控制信号分配单元212为10路并行信号接口，第八射频开关204为四选一型射频开关。

具体地，射频开关控制信号由射频开关控制性号输出模块54输出10路并行型号至输出射频矩阵控制信号分配单元212，再由输出射频矩阵控制信号分配单元212将10路并行信号分配至对应的射频开关，并通过其中的两路射频开关控制信号控制第八射频开关204进行TR组件30导通通道的选择。

优选地，第一开关模块213具体包括：第一射频开关201、第二射频开关203以及功率衰减器202；第一射频开关201设置于第一开关模块213的第二输入端，第一射频开关201的输出端电连接于功率衰减器202的输入端，功率衰减器202的输出端电连接于第二射频开关203的输入端，第二射频开关203的输出端电连接于测试仪器接口单元40的输入端。

其中，第一射频开关201和第二射频开关203为二选一型的射频开关。

优选地，射频开关矩阵单元20还包括：负载205；负载205设置于射频开关矩阵单元20的输出端，负载205用于与TR组件30进行功率匹配，以提高测试仪器接口单元40测试TR组件30性能指标的准确性。

优选地，射频开关矩阵单元20具体还包括：第三射频开关207、第四射频开关208以及运放模块206；运放模块206的第一输入端电连接于测试仪器接口单元40的输出端，运放模块206的第二输入端电连接于第三射频开关207的输出端，运放模块206的输出端电连接于第四射频开关208的输入端，第四射频开关208的输出端电连接于TR组件30的第二端口，运放模块206用于控制TR组件30的工作状态在连续波状态和脉冲状态之间切换。

其中，第三射频开关207和第四射频开关208为二选一型的射频开关。

设定测试仪器接口单元40包括三种测试仪器的接口，分别为功率计接口41、矢量网络分析仪器接口42以及噪声仪接口43，射频开关矩阵单元20通过调控射频开关的导通与关断，形成TR组件的信号传输路径。

当选通功率计接口41时，射频开关控制信号输出模块54输出特定频率的信号至射频开关矩阵单元20，由输出射频矩阵控制信号分配单元212进行分配，第一射频开关201、功率衰减器202以及第二射频开关203依次导通，使得检验信号传递至功率计接口41，形成TR组件功率检验通路。

当选通矢量网络分析仪接口42时，因为矢量网络测量时需要检测经TR组件处理后输出的第二射频信号，所以，矢量网络分析仪通过矢量网络分析仪接口42输入第一射频信号至第二开关模块214中的第三射频开关207，第一射频信号经由运放模块206和第四射频开关208输入至TR组件30进行处理，处理后的第二射频信号通过TR组件30的特定输出端，输出至第三开关模块215进行功率匹配，由第八射频开关204进行通道选择，控制第一开关模块213中的射频开关导通，形成的导通通道为第一射频开关201、功率衰减器202、第二射频开关203以及第六射频开关210，并由矢量网络分析仪接口42传递回矢量网络分析仪，形成闭环测试通道。

当选通噪声仪接口43时，噪声仪通过噪声仪接口43输入第一信号，经过第二开关模块214中的第五射频开关209、第三射频开关207和第四射频开关208传输至TR组件30进行处理，处理后的第二信号通过TR组件30的另一个特定输出端，输出至第三开关模块215进行功率匹配，由第八射频开关204进行通道选择，控制第一开关模块213中的射频开关导通，形成的导通通道为第一射频开关201和第七射频开关211，并由噪声仪接口43传递回噪声仪，形成闭环测试通道。

优选地，相控阵雷达TR组件自动测试装置还包括：脉冲发生模块44；脉冲发生模块44的输入端电连接于检测单元10，脉冲发生模块44的输出端电连接于运放模块206的第二输入端。

具体地，脉冲发生模块44通过与运放模块206共同作用，将矢量网络分析仪输入的连续波信号调制为TR组件30需要的脉冲射频信号。

具体地，测试仪器接口单元40包括功率计接口41(连接功率计)、矢量网络分析仪接口42(连接矢量网络分析仪)以及噪声仪接口43(连接噪声仪)，测试仪器接口单元40通过连接相应的测试仪器能够完成对TR组件30的发射和接收性能、衰减以及相位延迟性能指标的测试，并通过GPIB总线将测试数据传输到检测单元10。

其中，功率计与矢量网络分析仪配合完成TR组件30增益测试；矢量网络分析仪完成TR组件30输入端反射系数S₁₁、正向传输系数S₂₁、反向传输系数S₁₂和输出端反射系数S₂₂的自动测试；噪声仪完成TR组件30每个通道的噪声系数测试。

具体地，以增益测试为例，矢量网络分析仪连接矢量网络分析仪接口42提供射频输入信号，检测单元10通过应用程序发出控制指令，该指令经GPIB总线送到矢量网络分析仪，矢量网络分析仪输出满足TR组件30要求的功率、频率信号，经第三射频开关207、运放模块206以及第四射频开关208送入TR组件30的射频输入通道。

再由第八射频开关204进行通道选择，使得测试信号通过第一射频开关201、功率衰减器202、第二射频开关203以及功率计接口41传输至功率计进行测试，功率计测试的结果经功率计接口41和GPIB总线送入检测单元10，检测单元10根据测试结果判断TR组件30的增益性能是否符合要求。

在上述任一项实施例中，优选地，还包括：TR组件工作状态控制与采集单元60；TR组件工作状态控制与采集单元60连接于检测单元10和TR组件30之间。

具体地，TR组件工作状态控制与采集单元60通过485通信模块61与检测单元10相连，获取检测单元10的性能检测指令，一方面，485通信模块61将性能检测指令发送至差分发送模块62，由差分发送模块62形成控制信号输出到TR组件30的控制端口。其中，控制型号信号包括连续波或脉冲工作模式指令、频点控制指令和增益控制命令。

另一方面，485通信模块61将性能检测指令发送至接收电源模块66和发射电源模块67，再通过电源调理模块65实现对TR组件30接收和发射电源的有效配置，在TR组件30处于发射模式时，发射电源模块67导通，在TR组件30处于接收模式时，接收电源模块66导通，降低了测试项目间互相干扰的可能性，保证了测试的准确性。

进一步地，差分接收模块63采集TR组件30的工作状态，并通过TR组件状态指示模块64和485通信模块61向检测单元10发送TR组件工作状态信息，检测单元10根据接收到的TR组件工作状态信息和测试仪器的测试结果，对TR组件30的性能进行评估，当判定TR组件30性能异常时，根据具体的检测结果，生成故障信息，故障信息包括故障通道信息、功率故障信息、频率故障信息以及控制故障信息。

在上述任一项实施例中，优选地，还包括：判断单元；判断单元设置于TR组件30的输入端，判断单元用于当判定测试源信号符合输入激励条件时，发送测试源信号至TR组件30。

具体地，在判断单元中设置输入激励判断条件，输入激励判断条件包括功率门限最大值、功率门限最小值、频率门限最大值以及频率门限最小值，只有当测试源信号的功率和频率均处于门限值范围内时，判断单元才能够判定测试源信号符合输入激励条件。

实施例二：

图2示出了根据本发明的一个实施例的相控阵雷达TR组件自动测试方法的示意流程图。

如图2所示，根据本发明的一个实施例的相控阵雷达TR组件自动测试方法，包括：

步骤10，根据检测指令，生成测试信号输出指令；

在该步骤中，还包括对TR组件接收和发射电源的有效配置。

步骤20，判断测试源信号是否符合输入激励条件；

在该步骤中，当判定测试源信号符合输入激励条件时，执行步骤30，当判定测试源信号不符合输入激励条件时，重新执行步骤10。

具体地，对于特定编号的TR组件设置不同等级的输入激励条件，输入激励条件包括功率门限最大值、功率门限最小值、频率门限最大值以及频率门限最小值，对于任一编号的TR组件，只有当测试源信号的功率和频率均处于门限值范围内时，才能够判定测试源信号符合输入激励条件。

步骤30，当判定测试源信号符合输入激励条件时，发送测试源信号至TR组件；

在该步骤中，还包括：

步骤31，根据检测指令，生成射频开关导通指令；

其中，射频开关导通指令为指定频率的射频信号。

步骤32，发送射频开关导通指令至射频开关矩阵单元。

步骤40，获取TR组件的测试数据；

步骤50，根据测试数据，生成并显示测试结果查询列表，

其中，测试结果查询列表包括TR组件编号、通道号、测试项目、门限值以及测试结果。

具体地，在对移相和接收增益的检测过程中，生成并显示的测试结果查询列表如表1所示。

表1

以检测编号为0130534的TR组件30的第一移相11.25°指标为例，在3400MHz的激励频率下，测试源信号符合判断单元中设置的输入激励判断条件，判断单元将测试源信号发送至TR组件30，经过TR组件30处理后的信号的第一移相11.25°的测试值为11.90°，符合设定的第一移相11.25°的门限值(门限最大值为16.25°，门限最小值为6.25°)，因此，编号为0130534的TR组件30的第一移相11.25°的指标符合TR组件30的性能要求。

以上结合附图详细说明了本发明的技术方案，本发明提出了一种相控阵雷达TR组件自动测试装置与方法，通过生成特定的射频信号控制射频开关的导通或关断，梳理TR组件射频信号传输路径，并在射频开关矩阵单元的内部设置功率衰减器和负载，最后由测试仪器通过测试仪器接口单元与相控阵雷达TR组件自动测试装置相连，完成对TR组件性能参数的测试。通过本发明的技术方案，提高了检测TR组件中各器件性能参数的检测速率，提高了测试TR组件中各器件性能指标的可靠性和准确性，有利于降低因输入功率过大而导致测试仪器损坏的可能性。

本发明中的步骤可根据实际需求进行顺序调整、合并和删减。

本发明装置中的单元可根据实际需求进行合并、划分和删减。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所有的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种相控阵雷达TR组件自动测试装置，其特征在于，包括：检测单元(10)，射频矩阵控制信号产生单元(50)，射频开关矩阵单元(20)，TR组件(30)以及测试仪器接口单元(40)；

所述检测单元(10)的输出端电连接于所述射频矩阵控制信号产生单元(50)的输入端，所述检测单元(10)电连接于所述测试仪器接口单元(40)，所述检测单元(10)用于生成性能检测指令，并根据测试数据生成测试结果查询列表；

所述射频矩阵控制信号产生单元(50)的输出端电连接于所述射频开关矩阵单元(20)的输入端，所述射频矩阵控制信号产生单元(50)用于生成指定频率的射频信号；

所述射频开关矩阵单元(20)电连接于所述TR组件(30)的第一端口，所述射频开关矩阵单元(20)的输出端电连接于所述测试仪器接口单元(40)的输入端，所述射频开关矩阵单元(20)用于形成检测通路。

2.根据权利要求1所述的相控阵雷达TR组件自动测试装置，其特征在于，所述射频矩阵控制信号产生单元(50)还包括：串口通信模块(51)、控制器(52)以及射频开关控制信号输出模块(54)；

所述串口通信模块(51)设置于所述射频矩阵控制信号产生单元(50)的输入端，所述串口通信模块(51)用于接收所述检测单元(10)的所述性能检测指令；

所述控制器(52)的输入端电连接于所述串口通信模块(51)的输出端，所述控制器(52)的输出端电连接于所述射频开关控制信号输出模块(54)的输入端；

所述射频开关控制信号输出模块(54)设置于所述射频矩阵控制信号产生单元(50)的输出端，所述射频开关控制信号输出模块(54)的输出端电连接于所述射频开关矩阵单元(20)的所述输入端。

3.根据权利要求1所述的相控阵雷达TR组件自动测试装置，其特征在于，所述射频开关矩阵单元(20)具体包括：第一开关模块(213)，第三开关模块(215)，第八射频开关(204)以及输出射频矩阵控制信号分配单元(212)；

所述输出射频矩阵控制信号分配单元(212)的输入端电连接于所述射频矩阵控制信号产生单元(50)的所述输出端，所述输出射频矩阵控制信号分配单元(212)的第一输出端电连接于所述第一开关模块(213)的第一输入端，所述输出射频矩阵控制信号分配单元(212)的第二输出端电连接于所述第八射频开关(204)的第一输入端，所述输出射频矩阵控制信号分配单元(212)的第三输出端电连接于所述第三开关模块(215)的输入端；

所述第三开关模块(215)的第一输出端电连接于所述第八射频开关(204)的第二输入端；

所述第八射频开关(204)的输出端电连接于所述第一开关模块(213)的第二输入端。

4.根据权利要求3所述的相控阵雷达TR组件自动测试装置，其特征在于，所述第一开关模块(213)，具体包括：第一射频开关(201)、第二射频开关(203)以及功率衰减器(202)；

所述第一射频开关(201)设置于所述第一开关模块(213)的所述第二输入端，所述第一射频开关(201)的输出端电连接于所述功率衰减器(202)的输入端，所述功率衰减器(202)的输出端电连接于所述第二射频开关(203)的输入端，所述第二射频开关(203)的输出端电连接于所述测试仪器接口单元(40)的所述输入端。

5.根据权利要求3所述的相控阵雷达TR组件自动测试装置，其特征在于，所述射频开关矩阵单元(20)还包括：负载(205)；

所述负载(205)连接于所述第三开关模块(215)的第二输出端，所述负载(205)用于与所述TR组件(30)进行功率匹配。

6.根据权利要求1所述的相控阵雷达TR组件自动测试装置，其特征在于，所述射频开关矩阵单元(20)具体还包括：第三射频开关(207)、第四射频开关(208)以及运放模块(206)；

所述运放模块(206)的第一输入端电连接于所述第三射频开关(207)的输出端，所述运放模块(206)的输出端电连接于所述第四射频开关(208)的输入端，所述第四射频开关(208)的输出端电连接于所述TR组件(30)的第二端口，所述运放模块(206)用于控制所述TR组件(30)的工作状态在连续波状态和脉冲状态之间切换。

7.根据权利要求6所述的相控阵雷达TR组件自动测试装置，其特征在于，还包括：脉冲发生模块(44)；

所述脉冲发生模块(44)的输入端电连接于所述检测单元(10)，所述脉冲发生模块(44)的输出端电连接于所述运放模块(206)的第二输入端。

8.根据权利要求1所述的相控阵雷达TR组件自动测试装置，其特征在于，还包括：TR组件工作状态控制与采集单元(60)；

所述TR组件工作状态控制与采集单元(60)连接于所述检测单元(10)和所述TR组件(30)之间。

9.一种相控阵雷达TR组件自动测试方法，适用于权利要求1至6中任一项所述的相控阵雷达TR组件自动测试装置，其特征在于，包括：

步骤10，根据检测指令，生成测试信号输出指令；

步骤20，判断测试源信号是否符合输入激励条件；

步骤30，当判定所述测试源信号符合所述输入激励条件时，发送所述测试源信号至所述TR组件；

步骤40，获取所述TR组件的测试数据；

步骤50，根据所述测试数据，生成测试结果查询列表。

10.根据权利要求9所述的相控阵雷达TR组件自动测试方法，其特征在于，所述步骤30，具体还包括：

步骤31，根据所述检测指令，生成并显示射频开关导通指令；

步骤32，发送所述射频开关导通指令至所述射频开关矩阵单元。