CN104954081B - 一种电子设备的测试系统及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种电子设备的测试系统及其测试方法。该系统包括控制装置、分别与控制装置连接的测试仪器、RF组线路切换器以及多个待测电子设备，控制装置包括测试工具和自动化测试装置，测试方法包括采用自动化测试装置执行以下步骤：检测待测电子设备的连接状态，若连接成功则使待测电子设备进入待测模式；检测测试仪器的连接状态，若连接成功则对测试仪器进行初始化，并检测RF切换器的物理连接状态；根据待测电子设备的队列顺序控制RF组线路切换器以遍历的方式逐一将待测电子设备切入RF组线；调用测试工具控制测试仪器对待测电子设备进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果。本发明提高了测试仪器的利用率，进而提高了测试效率。

Description

一种电子设备的测试系统及其测试方法

技术领域

本发明属于自动化测试技术领域，尤其涉及一种电子设备的测试系统及其测试方法。

背景技术

高通无线芯片是无线局域网领域技术领先、增长最快的方案提供商之一，其产品类型覆盖了802.11b到802.11ac不同速率的所有无线模式，市场占有率仅次于博通系列，且在室外大功率和企业级公共无线产品方面占据着领导地位。高通无线芯片的测试是基于其自有的测试工具包art来实现的，现在已经升级到art2版本了，art2测试工具用脚本语言的形式以集成的测试方法成套的解决了高通无线芯片的功率、频偏的校准，信号的接收、发送等所有测试；但也因为其高集成的原因，无法通过底层接口去调整测试流程，因此，行业内普遍采用单机的测试方法，即测试仪器一次只能对一个高通无线芯片进行测试，所以目前的测试系统均为一个测试仪器对应一个高通无线芯片，这样测试仪器在测试完该高通无线芯片时，则需要将该高通无线芯片从测试系统中卸下，然后再将另一高通无线芯片装载进测试系统，并对需要对新装的高通无线芯片进行测试前的一系列准备工作，这样需要耗费大量的时间，导致测试仪器使用效率不高，严重影响了测试效率。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种电子设备的测试系统及其测试方法，旨在解决上述测试仪器使用效率不高，严重影响了测试效率的问题。

本发明实施例是这样实现的，一种电子设备的测试系统，包括控制装置、分别与所述控制装置电性连接的测试仪器、RF组线路切换器以及多个待测电子设备，所述测试仪器还通过所述RF组线路切换器连接至所述多个待测电子设备，所述控制装置包括测试工具和自动化测试装置，所述自动化测试装置包括：

第一检测控制模块，用于检测所述待测电子设备的物理连接状态，若连接成功，则控制所述待测电子设备进入待测模式；

第二检测控制模块，用于检测所述测试仪器的物理连接状态，若连接成功则对所述测试仪器进行初始化，并检测RF切换器的物理连接状态；

线路切换控制模块，用于根据所述待测电子设备的队列顺序控制所述RF组线路切换器以遍历的方式逐一将所述待测电子设备切入RF组线；

测试模块，用于调用所述测试工具控制所述测试仪器对切入RF组线中的待测电子设备进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果。

在本发明实施例所述的电子设备的测试系统中，所述控制装置连接有四个待测电子设备，所述RF切换器包括依次电性连接的输入端、多路转换开关以及四个输出端，所述RF切换器的输入端通过RF组线与所述测试仪器电性连接，所述RF切换器的四个输出端分别通过RF组线与所述四个待测电子设备电性连接。

在本发明实施例所述的电子设备的测试系统中，所述测试模块具体用于：

调用所述测试工具控制所述测试仪器测量切入RF组线中的待测电子设备的RF线路衰减量；

根据所述RF线路衰减量对所述待测电子设备进行无线功率测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果。

在本发明实施例所述的电子设备的测试系统中，所述测试工具为art2测试工具。

在本发明实施例所述的电子设备的测试系统中，还包括生产测试数据库，所述自动化测试装置还包括：

通讯模块，用于将所述测试结果上传到所述生产测试数据库。

本发明实施例的另一目的在于提供一种电子设备的测试系统的测试方法，包括：

检测待测电子设备的物理连接状态，若连接成功，则控制所述待测电子设备进入待测模式；

检测测试仪器的物理连接状态，若连接成功则对所述测试仪器进行初始化，并检测RF切换器的物理连接状态；

根据所述待测电子设备的队列顺序控制RF组线路切换器以遍历的方式逐一将所述待测电子设备切入RF组线；

调用测试工具控制所述测试仪器对切入RF组线中的待测电子设备进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果。

在本发明实施例所述的电子设备的测试系统的测试方法中，控制装置连接有四个待测电子设备，所述RF切换器包括依次电性连接的输入端、多路转换开关以及四个输出端，所述RF切换器的输入端通过RF组线与所述测试仪器电性连接，所述RF切换器的四个输出端分别通过RF组线与四个待测电子设备电性连接。

在本发明实施例所述的电子设备的测试系统的测试方法中，所述调用测试工具控制所述测试仪器对切入RF组线中的待测电子设备进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果具体包括：

调用测试工具控制所述测试仪器测量切入RF组线中的待测电子设备的RF线路衰减量；

根据所述RF线路衰减量对所述待测电子设备进行无线功率测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果。

在本发明实施例所述的电子设备的测试系统的测试方法中，所述测试工具为art2测试工具。

在本发明实施例所述的电子设备的测试系统的测试方法中，还包括：将所述测试结果上传到生产测试数据库。

实施本发明实施例提供的电子设备的测试系统及其测试方法具有以下有益效果：

本发明实施例提供的电子设备的测试系统及其测试方法，由于在控制装置上设置有自动化测试装置，并能利用自动化测试装置根据待测电子设备的队列顺序控制RF组线路切换器以遍历的方式逐一将待测电子设备切入RF组线，进而再由自动化测试装置调用测试工具控制测试仪器对切入RF组线中的待测电子设备进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果，从而能够实现异步一拖多测试，即一个测试仪器可以对应连接多个待测电子设备，并逐一对多个电子设备进行测试，当某台待测电子设备的测试进程在占用测试仪器时，其他的待测电子设备可以利用这段时间完成装板、卸板以及测试前的模式设定等工作，这样可以使得测试仪器始终处于工作状态，可以在不改变art2测试流程的前提下提高测试仪器的利用率，大大提高了测试效率。

附图说明

图1是本发明实施例提供的电子设备的测试系统的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的电子设备的测试系统中自动化测试装置的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的电子设备的测试系统的测试方法的具体实现流程图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

图1示出了本发明实施例提供的电子设备的测试系统的结构示意图。为了便于说明仅仅示出了与本实施例相关的部分。

参见图1所示，本发明实施例提供的一种电子设备的测试系统，包括控制装置1、分别与所述控制装置1电性连接的测试仪器2、RF(Radio Frequency，射频)线路切换器3以及多个待测电子设备4(这里的多个为两个或两个以上)，所述测试仪器2还通过所述RF组线路切换器3连接至所述多个待测电子设备4，所述控制装置1包括测试工具和自动化测试装置。图2示出了自动化测试装置的结构示意图，参见图2所示，所述自动化测试装置包括：

第一检测控制模块121，用于检测所述待测电子设备4的物理连接状态，若连接成功，则控制所述待测电子设备4进入待测模式。

在本发明实施例中，控制装置1为一计算机，待测电子设备4为基于高通无线芯片的无线产品，例如：无线网卡；无线芯片包括但不限于型号为AR开头和QCA开头的所有无线芯片类型。控制装置1通过网线和交换机5与四个待测电子设备4，第一检测控制模块121具体用于：在控制装置1上运行cmd指令，确定后进入DOS(Disk Operating System，磁盘操作系统)窗口模式，在DOS窗口模式下输入：ping 192.168.1.1-t，其中192.168.1.1为待测电子设备4的IP地址(为了便于控制装置1可以区分识别各待测电子设备4，这里的交换机5可以为四个待测电子设备4设置不同的IP地址，这里的192.168.1.1仅仅为例举的一较佳实施例)，如果返回的结果是timeout，则说明所述待测电子设备4的物理连接状态不正常，需要重新连接；如果ping 192.168.1.1能过，则说明所述待测电子设备4的物理连接正常，此时，即可通过Telnet协议与所述待测电子设备4通信，向所述待测电子设备4下发指令使控制所述待测电子设备4进入测试模式。这里的Telnet协议是TCP/IP协议族中的一员，是Internet远程登陆服务的标准协议和主要方式。

第二检测控制模块122，用于检测所述测试仪器2的物理连接状态，若连接成功则对所述测试仪器2进行初始化，并检测RF切换器的物理连接状态。

在本发明实施例中，控制装置1通过网线与测试仪器2电性连接，测试仪器2为Litepoint IQ2010或者IQxel。第二检测控制模块122具体用于：在控制装置1上运行cmd指令，确定后进入DOS窗口模式，在DOS窗口模式下输入：ping 192.168.100.254-t，其中192.168.100.254为测试仪器2的IP地址(根据实际的设置不同实施例中测试仪器2的IP地址也可能各不相同)，如果ping192.168.100.254能过，则说明测试仪器2连接成功，对测试仪器2进行初始化，并进一步检测RF切换器的物理连接状态，具体的：打开控制装置1上安装的NI MAX，在NI MAX运行的显示界面上通过“测试设备”图标开启虚拟切换界面，若能在该虚拟切换界面上控制RF切换器进行RF组线切换，则表示RF切换器连接正常。

线路切换控制模块123，用于根据所述待测电子设备4的队列顺序控制所述RF组线路切换器3以遍历的方式逐一将所述待测电子设备4切入RF组线。

在本发明实施例中，控制装置1通过MXI express并行总线连接所述RF切换器，并通过NI MAX驱动所述RF切换器，所述RF切换器采用NI(National Instruments，美国国家仪器公司)推出的NI-PXIe-2543固态射频多路复用器，包括依次电性连接的输入端、多路转换开关以及四个输出端，控制装置1连接有四个待测电子设备4，所述RF切换器的输入端通过RF组线与所述测试仪器2电性连接，所述RF切换器的四个输出端分别通过RF组线与所述四个待测电子设备4电性连接。

在本发明实施例中，同一测试时间，四个待测电子设备4中只有一个能够获取测试仪器2的使用权，由线路切换控制模块123根据四个待测电子设备4的队列顺序确定获得测试仪器2使用权的待测电子设备4，然后将RF切换器中的多路转换开关的输出端指向对应的待测电子设备4，使该待测电子设备4顺利的切入RF组线。当某台待测电子设备4的测试进程在占用测试仪器2时，其他的待测电子设备4可以利用这段时间完成装板、卸板以及测试前的模式设定等工作，这样可以使得测试仪器2始终处于工作状态，从而大大提高了测试仪器2的使用效率。

测试模块124，用于调用所述测试工具控制所述测试仪器2对切入RF组线中的待测电子设备4进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果，具体的：调用所述测试工具控制所述测试仪器2测量切入RF组线中的待测电子设备4的RF线路衰减量；根据所述RF线路衰减量对所述待测电子设备4进行无线功率测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果。

在本发明实施例中，所述测试工具包括但不限于art2测试工具，测试模块124可调用art2测试工具开启其中的cart进程，控制cart进程连接切入RF组线中的待测电子设备4，然后通过安装在控制装置1上的驱动LitePoint Connectivity Server来控制测试仪器2对待测电子设备4进行RF衰减测试、无线功率测试和校准。

进一步的，所述的电子设备的测试系统还包括生产测试数据库6，所述自动化测试装置还包括：通讯模块125，用于将所述测试结果上传到所述生产测试数据库6。

在本发明实施例中，通讯模块125可将测试结果，例如各个待测电子设备4的RF线路衰减量、校准前后的无线功率等测试数据，上传到生产测试数据库6，以便后续数据分析。

以上可以看出，本发明实施例提供的电子设备的测试系统，由于在控制装置1上设置有自动化测试装置，并能利用自动化测试装置根据待测电子设备4的队列顺序控制RF组线路切换器3以遍历的方式逐一将待测电子设备4切入RF组线，进而再由自动化测试装置调用测试工具控制测试仪器2对切入RF组线中的待测电子设备4进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果，从而能够实现异步一拖多测试，可以在不改变art2测试流程的前提下提高测试仪器的利用率，大大提高了测试效；而且还能够减少人工操作，降低对操作人员的岗位技能要求。

图3示出了本发明实施例提供的电子设备的测试系统的测试方法的具体实现流程图，该方法的执行主体为图2所示的自动化测试装置，参见图3所示，该方法包括：

在S301中，检测待测电子设备4的物理连接状态，若连接成功，则控制所述待测电子设备4进入待测模式；

在S302中，检测测试仪器2的物理连接状态，若连接成功则对所述测试仪器2进行初始化，并检测RF切换器的物理连接状态；

在S303中，根据所述待测电子设备4的队列顺序控制RF组线路切换器3以遍历的方式逐一将所述待测电子设备4切入RF组线；

在S304中，调用测试工具控制所述测试仪器2对切入RF组线中的待测电子设备4进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果。

优选的，所述RF切换器包括依次电性连接的输入端、多路转换开关以及四个输出端，所述RF切换器的输入端通过RF组线与所述测试仪器2电性连接，所述RF切换器的四个输出端分别通过RF组线与四个待测电子设备4电性连接。

优选的，S304具体包括：

调用测试工具控制所述测试仪器2测量切入RF组线中的待测电子设备4的RF线路衰减量；

根据所述RF线路衰减量对所述待测电子设备4进行无线功率测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果。

优选的，所述测试工具为art2测试工具。

优选的，所述测试方法还包括：

在S305中，将所述测试结果上传到生产测试数据库6。

需要说明的是，上述方法中的各个步骤，由于与本发明系统实施例基于同一构思，其带来的技术效果与本发明系统实施例相同，具体内容可参见本发明系统实施例中的叙述，此处不再赘述。

本发明实施例提供的电子设备的测试系统的测试方法，同样由于在控制装置1上设置有自动化测试装置，并能利用自动化测试装置根据待测电子设备4的队列顺序控制RF组线路切换器3以遍历的方式逐一将待测电子设备4切入RF组线，进而再由自动化测试装置调用测试工具控制测试仪器2对切入RF组线中的待测电子设备4进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果，从而能够实现异步一拖多测试，可以在不改变art2测试流程的前提下提高测试仪器的利用率，大大提高了测试效率；而且还能够减少人工操作，降低对操作人员的岗位技能要求。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电子设备的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括控制装置、分别与所述控制装置电性连接的测试仪器、RF组线路切换器以及多个待测电子设备，所述测试仪器通过所述RF组线路切换器连接至所述待测电子设备，所述控制装置包括测试工具和自动化测试装置，所述自动化测试装置包括：

第一检测控制模块，用于检测所述待测电子设备的物理连接状态，若连接成功，则控制所述待测电子设备进入待测模式；具体的，在控制装置上运行cmd指令，确定进入DOS窗口模式，在DOS窗口模式下输入待测电子设备的IP地址，如果返回的结果是timeout，则说明所述待测电子设备的物理连接不正常，需要重新连接；如果返回结果是通过，则说明所述待测电子设备的物理连接正常，此时通过Telnet协议与所述待测电子设备通信，向所述待测电子设备下发指令，控制所述待测电子设备进入测试模式；

第二检测控制模块，用于检测所述测试仪器的物理连接状态，若连接成功则对所述测试仪器进行初始化，并检测RF切换器的物理连接状态；

线路切换控制模块，用于根据所述待测电子设备的队列顺序控制所述RF组线路切换器以遍历的方式逐一将所述待测电子设备切入RF组线；其中，控制装置通过MXI express并行总线连接所述RF组线路切换器，并通过NI MAX驱动所述RF组线路切换器；

测试模块，用于调用所述测试工具控制所述测试仪器对切入RF组线中的待测电子设备进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果；其中，所述测试工具包括art2测试工具，所述测试模块具体用于调用所述art2测试工具开启其中的cart进程，控制cart进程连接切入RF组线中的待测电子设备，并通过安装在控制装置上的驱动来控制测试仪器对待测电子设备进行RF衰减测试、无线功率测试和校准。

2.如权利要求1所述的电子设备的测试系统，其特征在于，所述控制装置连接有四个待测电子设备，所述RF切换器包括依次电性连接的输入端、多路转换开关以及四个输出端，所述RF切换器的输入端通过RF组线与所述测试仪器电性连接，所述RF切换器的四个输出端分别通过RF组线与所述四个待测电子设备电性连接。

3.如权利要求1所述的电子设备的测试系统，其特征在于，所述测试模块具体用于：

调用所述测试工具控制所述测试仪器测量切入RF组线中的待测电子设备的RF线路衰减量；

根据所述RF线路衰减量对所述待测电子设备进行无线功率测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果。

4.如权利要求3所述的电子设备的测试系统，其特征在于，所述测试工具为art2测试工具。

5.如权利要求1所述的电子设备的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括生产测试数据库，所述自动化测试装置还包括：

通讯模块，用于将所述测试结果上传到所述生产测试数据库。

6.一种电子设备的测试系统的测试方法，其特征在于，包括：

检测待测电子设备的物理连接状态，若连接成功，则控制所述待测电子设备进入待测模式；具体的，在控制装置上运行cmd指令，确定进入DOS窗口模式，在DOS窗口模式下输入待测电子设备的IP地址，如果返回的结果是timeout，则说明所述待测电子设备的物理连接不正常，需要重新连接；如果返回结果是通过，则说明所述待测电子设备的物理连接正常，此时通过Telnet协议与所述待测电子设备通信，向所述待测电子设备下发指令，控制所述待测电子设备进入测试模式；

检测测试仪器的物理连接状态，若连接成功则对所述测试仪器进行初始化，并检测RF切换器的物理连接状态；

根据所述待测电子设备的队列顺序控制RF组线路切换器以遍历的方式逐一将所述待测电子设备切入RF组线；其中，所述控制装置通过MXI express并行总线连接所述RF组线路切换器，并通过NI MAX驱动所述RF组线路切换器；

调用测试工具控制所述测试仪器对切入RF组线中的待测电子设备进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果，包括：

调用art2测试工具开启其中的cart进程，控制cart进程连接切入RF组线中的待测电子设备，并通过安装在控制装置上的驱动来控制测试仪器对待测电子设备进行RF衰减测试、无线功率测试和校准。

7.如权利要求6所述的电子设备的测试系统的测试方法，其特征在于，控制装置连接有四个待测电子设备，所述RF切换器包括依次电性连接的输入端、多路转换开关以及四个输出端，所述RF切换器的输入端通过RF组线与所述测试仪器电性连接，所述RF切换器的四个输出端分别通过RF组线与四个待测电子设备电性连接。

8.如权利要求6所述的电子设备的测试系统的测试方法，其特征在于，所述调用测试工具控制所述测试仪器对切入RF组线中的待测电子设备进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果具体包括：

调用测试工具控制所述测试仪器测量切入RF组线中的待测电子设备的RF线路衰减量；

根据所述RF线路衰减量对所述待测电子设备进行无线功率测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果。

9.如权利要求8所述的电子设备的测试系统的测试方法，其特征在于，所述测试工具为art2测试工具。

10.如权利要求6所述的电子设备的测试系统的测试方法，其特征在于，还包括：将所述测试结果上传到生产测试数据库。