CN102755964A - 记忆卡用测试分选机 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及记忆卡用测试分选机，其包括：托盘部，该托盘部上用于收纳待测试的记忆卡的供给托盘及根据测试结果将经测试的记忆卡分类收纳的多个收纳托盘；测试部，包括用于测试记忆卡的多个测试单元及搬送记忆卡的多个测试拾料器；缓冲部，为了搬运记忆卡而设在所述托盘部与所述测试部之间；以及搬送拾料器，在所述缓冲部与所述托盘部之间搬送记忆卡。根据本发明，自动执行测试记忆卡所具有的性能的测试工序和根据测试结果将记忆卡进行分类的分类工序，从而能够缩短对记忆卡执行测试工序和分类工序所需的时间，可提高记忆卡所具有的性能的可靠性。

Description

记忆卡用测试分选机
技术领域
本发明涉及记忆卡用测试分选机(Test Handler for Memory Card)，将记忆卡与测试设备连接，并根据测试结果将经测试的记忆卡进行分类。
背景技术
SD(Secure Digital)卡、紧凑式闪存(Compact Flash，CF)卡，多媒体卡(Multi Media Card，MMC)、记忆棒(Memory stick)、智能(Smart Media)卡、xD图像(Extreme Digital Picture)卡等记忆卡(Memory Card)作为便于携带又能够存储大量数据的介质而被广泛应用。例如，所述记忆卡使用于数码相机、手机、PDA(Personal Digital Assistants：电子记事簿)等电子产品中。
所述记忆卡通过多个工序制造，该工序包括：测试记忆卡所具有的性能的测试工序；根据测试结果将记忆卡按等级进行分类的分类工序等。通过这些工序将未正常运行的记忆卡和正常运行的记忆卡进行分类，之后将正常运行的记忆卡出厂。
以往，所述测试工序及所述分类工序通过作业者的手工作业完成。因此，将记忆卡进行商品化需要很长时间，存在生产率低下的问题。此外，由于所述测试工序及所述分类工序通过作业者的手工作业完成，所以存在记忆卡性能的可靠性低下的问题。
发明内容
本发明是为了解决所述问题而提出，本发明的目的在于提供一种记忆卡用测试分选机，该记忆卡用测试分选机能够自动执行测试记忆卡所具有的性能的测试工序和根据测试结果将记忆卡进行分类的分类工序。
为了实现所述目的，本发明包括如下结构。
本发明涉及的记忆卡用测试分选机可以包括：托盘部，位于托盘区域，托盘区域安放有用于收纳待测试的记忆卡的供给托盘，以及根据测试结果将经测试的记忆卡分类收纳的多个收纳托盘；测试部，包括用于测试记忆卡的多个测试单元，所述多个测试单元分别设置在进行测试记忆卡的测试工序的第一测试区域和第二测试区域；缓冲部，设在所述托盘部与所述测试部之间，包括第一缓冲机构及第二缓冲机构，该第一缓冲机构在所述托盘部所处的所述托盘区域与所述第一测试区域之间移动以搬运记忆卡，该第二缓冲机构在所述托盘区域与所述第二测试区域之间移动以搬运记忆卡；以及搬送拾料器(Picker)，在所述第一缓冲机构与所述托盘部之间搬送记忆卡，以及在所述第二缓冲机构与所述托盘部之间搬送记忆卡。所述测试部可以包括多个在所述测试单元与所述缓冲部之间搬送记忆卡的测试拾料器。所述测试部可以包括第一测试拾料器以及第二测试拾料器，该第一测试拾料器在设置于所述第一测试区域内的测试单元与所述第一缓冲机构之间搬送记忆卡，该第二测试拾料器在设置于所述第二测试区域内的测试单元与所述第二缓冲机构之间搬送记忆卡。
本发明涉及的记忆卡用测试分选机可以包括：托盘部：安放有用于收纳待测试的记忆卡的供给托盘，以及根据测试结果将经测试的记忆卡分类收纳的多个收纳托盘；测试部，包括用于测试记忆卡的多个测试单元；缓冲部，设在所述托盘部与所述测试部之间用于搬运记忆卡；以及搬送拾料器，在所述缓冲部与所述托盘部之间搬送记忆卡。所述测试部可以包括多个在所述测试单元与所述缓冲部之间搬送记忆卡的测试拾料器。
根据本发明能够实现如下效果。
本发明自动执行测试记忆卡所具有的性能的测试工序和根据测试结果将记忆卡进行分类的分类工序，从而能够缩短对记忆卡执行测试工序和分类工序所需的时间，可提高记忆卡性能的可靠性。
附图说明
图1是本发明涉及的记忆卡用测试分选机的概略俯视图。
图2是用于说明本发明涉及的托盘区域及测试区域的概念俯视图。
图3及图4是本发明涉及的搬送拾料器的概略侧视图。
图5是本发明涉及的测试拾料器的概略立体图。
图6是本发明涉及的缓冲部的概略俯视图。
图7是本发明涉及的测试单元和开闭单元的概略立体图。
图8至图10是为了说明本发明涉及的测试单元与开闭单元的运作关系的以图7的I-I线为基准的概略侧剖视图。
图11是用于说明本发明涉及的读取部的概念俯视图。
图12是用于说明本发明涉及的图像部的概念俯视图。
图13是用于说明本发明涉及的传感器部的概念俯视图。
图14是用于说明本发明的传感器部的运作关系的概略侧剖视图。
附图标记
1：记忆卡用测试分选机    2：托盘部    3：搬送拾料器
4：缓冲部    5：测试部    6：读取部    7：图像部
8：传感器部
具体实施方式
下面参照附图详细说明本发明涉及的记忆卡用测试分选机的优选实施例。
参照图1，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1，将记忆卡与测试设备连接，并根据测试结果将经测试的记忆卡进行分类。所述记忆卡可以是SD(Secure Digital)卡、紧凑式闪存(Compact Flash，CF)卡，多媒体卡(MultiMedia Card，MMC)、记忆棒(Memory stick)、智能(Smart Media)卡、xD图像(Extreme Digital Picture)卡等。
本发明涉及的记忆卡用测试分选机1包括：安放有记忆卡的托盘部2；用于搬送记忆卡的搬送拾料器3；用于搬运记忆卡的缓冲部4；以及进行测试记忆卡的工序的测试部5。所述测试部5包括：用于测试记忆卡的多个测试单元51；以及用于在所述缓冲部4与所述测试单元51之间搬送记忆卡的多个测试拾料器52。在所述测试单元51上设有用于测试记忆卡的测试设备。
当所述搬送拾料器3将待测试的记忆卡从所述托盘部2搬送到所述缓冲部4时，所述缓冲部4将待测试的记忆卡搬运到所述测试部5侧。当所述测试拾料器52将待测试的记忆卡从所述缓冲部4搬送到所述测试单元51时，所述测试单元51将待测试的记忆卡与所述测试设备连接。对记忆卡的测试结束之后，所述测试拾料器52将经测试的记忆卡从所述测试单元51搬送到所述缓冲部4。而所述搬送拾料器3从所述缓冲部4拾取经测试的记忆卡之后，将拾取的记忆卡根据测试结果进行等级区分并搬送到所述托盘部2。
经过如上所述的工序，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1可自动执行测试记忆卡性能的测试工序和根据测试结果将记忆卡进行分类的分类工序。因此，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1与通过作业者的手工作业完成所述测试工序和所述分类工序的现有技术相比，能够缩短所述测试工序和所述分类工序所需的时间，从而可提高生产率。此外，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1与现有技术相比，能够提高根据测试结果将记忆卡进行分类的分类工序的准确性，从而可提高记忆卡性能的可靠性。
下面参照附图详细说明所述托盘部2、所述搬送拾料器3、所述缓冲部4以及所述测试部5。
参照图1，所述托盘部2包括：用于安放收纳有待测试的记忆卡的供给托盘的装载堆装箱21；以及用于安放收纳有经测试的记忆卡的收纳托盘的卸载堆装箱22。
所述装载堆装箱21上储存有多个供给托盘，该供给托盘用于收纳待测试的记忆卡。在所述供给托盘上形成有多个收纳槽(未图示)，该收纳槽用于收纳待测试的记忆卡。所述搬送拾料器3从所述供给托盘上拾取待测试的记忆卡，并将拾取的记忆卡搬送到所述缓冲部4。
所述卸载堆装箱22上储存有多个收纳托盘，该收纳托盘用于收纳经测试的记忆卡。在所述收纳托盘上形成有多个收纳槽(未图示)，该收纳槽用于收纳经测试的记忆卡。所述搬送拾料器3从所述缓冲部4拾取经测试的记忆卡，并根据测试结果将拾取的记忆卡搬送到所述收纳托盘中的某一个上。所述搬送拾料器3可以向第一轴方向(Y轴方向)和第二轴方向(X轴方向)移动，从而搬送记忆卡。所述卸载堆装箱22沿所述第二轴方向(X轴方向)与所述装载堆装箱21隔开规定间距设置。在所述卸载堆装箱22上沿所述第二轴方向(X轴方向)隔开规定间距地设有多个收纳托盘。在所述装载堆装箱21上沿所述第二轴方向(X轴方向)隔开规定间距地设有多个供给托盘。
参照图1及图2，所述搬送拾料器3在所述托盘部2与所述缓冲部4之间搬送记忆卡。所述搬送拾料器3将待测试的记忆卡从所述托盘部2搬送到所述缓冲部4。所述搬送拾料器3将经测试的记忆卡从所述缓冲部4搬送到所述托盘部2。
所述搬送拾料器3为了执行搬送记忆卡的工序，可以向所述第一轴方向(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴方向)移动。所述搬送拾料器3可以在托盘区域A内移动。所述托盘部2位于所述托盘区域A内。所述搬送拾料器3可以将待测试的记忆卡从所述供给托盘上拾取，之后将拾取的记忆卡收纳到位于所述托盘区域A内的缓冲部4。所述搬送拾料器3可以将经测试的记忆卡从位于所述托盘区域A内的缓冲部4拾取，之后将拾取的记忆卡收纳到所述收纳托盘上。所述搬送拾料器3可以进行升降，以执行拾取记忆卡的工序及收纳记忆卡的工序。本发明涉及的记忆卡用测试分选机1可以包括驱动单元(未图示)，该驱动单元使得所述搬送拾料器3向所述第一轴方向(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴方向)移动，并使得所述搬送拾料器3进行升降。所述驱动单元可以采用利用液压缸或气缸等的缸体式、利用电机和齿条(Rack Gear)和小齿轮(Pinion Geer)等的齿轮式、利用电机和滚珠丝杠(Ball Screw)等的滚珠丝杠式、利用电机和滑轮和带子等的带式、利用直线电机的方式等，使得所述搬送拾料器3移动、升降。
在此，在所述托盘部2及所述测试部5上，分别收纳有记忆卡，该记忆卡以不同的间距隔开并形成行列。收纳在所述测试部5上的记忆卡沿所述第一轴(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴方向)彼此隔开的间距，比收纳在所述托盘部2上的记忆卡沿所述第一轴方向(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴方向)彼此隔开的间距宽。因此，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1，可分别减小所述供给托盘和所述收纳托盘的各自大小的同时，也能够在所述供给托盘和所述收纳托盘上分别收纳更多记忆卡。此外，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1，由于在所述测试部5上记忆卡能够以更宽的间距收纳，所以可防止记忆卡在所述测试部5上彼此干扰，从而能够提高测试记忆卡的测试工序的准确性。
为此，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1，在所述托盘部2与所述测试部5之间搬送记忆卡的过程中，沿所述第一轴方向(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴方向)调节记忆卡彼此隔开的间距。为了缩短调节记忆卡彼此隔开的间距所需的时间，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1包括所述缓冲部4。
所述缓冲部4设在所述托盘部2与所述测试部5之间。所述缓冲部4和所述测试部5，在所述第一轴方向(Y轴方向)以彼此隔开相同间距的方式收纳记忆卡。所述测试部5与所述缓冲部4相比，收纳记忆卡时沿所述第二轴方向(X轴方向)以更宽的间距隔开。
所述缓冲部4和所述托盘部2以沿所述第二轴方向(X轴方向)彼此隔开相同间距的方式收纳记忆卡。所述缓冲部4与所述托盘部2相比，收纳记忆卡时在所述第一轴方向(Y轴方向)以更宽的间距隔开。所述搬送拾料器3在所述托盘部2与所述缓冲部4之间搬送记忆卡的过程中，沿所述第一轴方向(Y轴方向)调节记忆卡的隔开间距。为此，所述搬送拾料器3包括搬送吸嘴31(在图3中示出)以及行间距调节单元32(在图3中示出)。
参照图1、图3及图4，所述搬送吸嘴31吸附记忆卡。所述搬送拾料器3包括多个所述搬送吸嘴31。在所述搬送拾料器3的主体33上设有形成行列的多个所述搬送吸嘴31。所述搬送吸嘴31可以向第一轴方向(Y轴方向)移动地设在所述搬送拾料器3的主体33上。所述搬送吸嘴31也可以可升降地设在所述主体33上。
参照图1、图3及图4，所述行间距调节单元32用于调节所述搬送吸嘴31沿所述第一轴方向(Y轴向)隔开的间距。当记忆卡形成行列地收纳在所述托盘部2和所述缓冲部4时，所述第一轴方向(Y轴向)是与行方向相同的方向。即，所述行间距调节单元32用于调节所述搬送吸嘴31沿行方向(Y轴方向)隔开的间距。所述行间距调节单元32包括第一凸轮板321及第一升降单元322。
所述第一凸轮板321可升降地设在所述主体33上。在所述第一凸轮板321上形成有多个第一凸轮槽3211。所述搬送吸嘴31可移动地分别与所述第一凸轮槽3211结合。所述第一凸轮槽3211分别以彼此不同倾斜角倾斜地形成在所述第一凸轮板321升降的方向(Z轴方向)上。所述第一凸轮槽3211分别形成为，越向所述第一凸轮板321下降的方向，彼此之间的间距越窄。所述第一凸轮槽3211用于引导所述搬送吸嘴31以相同间距隔开或缩窄。
所述第一升降单元322用于升降所述第一凸轮板321。当所述第一升降单元322使所述第一凸轮板321升降时，所述搬送吸嘴31随着所述第一凸轮槽3211移动。从而调节所述搬送吸嘴31沿所述行方向(Y轴方向)隔开的间距。
如图3所示，当所述第一升降单元322使所述第一凸轮板321上升时，所述搬送吸嘴31随着所述第一凸轮槽3211移动，从而沿所述行方向(Y轴方向)的间距变窄。此时，所述搬送吸嘴31的间距被调节为，与记忆卡在所述托盘部2上沿所述第一轴方向(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴方向)隔开收纳的间距相同。因此，所述搬送拾料器3能够从所述供给托盘上一次拾取多个待测试的记忆卡。此外，所述搬送拾料器3能够将多个经测试的记忆卡同时收纳在所述收纳托盘上。
如图4所示，当所述第一升降单元322使所述第一凸轮板321下降时，所述搬送吸嘴31随着所述第一凸轮槽3211移动，从而使沿所述行方向(Y轴方向)的间距变宽。此时，所述搬送吸嘴31的间距被调节为，与记忆卡在所述缓冲部4中沿所述第一轴方向(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴反向)隔开收纳的间距相同。因此，所述搬送拾料器3能够将多个待测试的记忆卡同时收纳在所述缓冲部4上。此外，所述搬送拾料器3能够从所述缓冲部4一次拾取多个经测试的记忆卡。
所以，所述搬送拾料器3能够以行列为单位一次拾取多个记忆卡，也能够以行列为单位同时收纳多个记忆卡。因此，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1能够缩短在所述托盘部2与所述缓冲部4之间搬送记忆卡的工序所需的时间。所述第一升降单元322可以采用利用液压缸或气缸等的缸体式、利用电机和齿条和小齿轮等的齿轮式、利用电机和滚珠丝杠等的滚珠丝杠式、利用电机和滑轮和带子等的带式、利用直线电机的方式等，使得所述第一凸轮板321升降。
参照图1及图5，所述缓冲部4和所述测试单元51以将记忆卡沿所述第一轴方向(Y轴方向)彼此以相同间距隔开的方式收纳记忆卡。所述测试单元51与所述缓冲部4相比，沿所述第二轴方向(X轴方向)以更宽的间距隔开地收纳记忆卡。所述测试拾料器52在所述缓冲部4与所述测试单元51之间搬送记忆卡的过程中，沿所述第二轴方向(X轴方向)调节记忆卡的隔开间距。为此，所述测试拾料器52包括测试吸嘴521(在图5中示出)以及列间距调节单元522(在图5中示出)。
参照图1及图5，所述测试吸嘴521用于吸附记忆卡。所述测试拾料器52包括多个所述测试吸嘴521。在所述测试拾料器52的主体523上以形成行列的方式设有多个所述测试吸嘴521。所述测试吸嘴521也可以可升降地设在所述主体523上。
参照图1及图5，所述列间距调节单元522用于调节所述测试吸嘴521沿所述第二轴方向(X轴向)隔开的间距。当记忆卡形成行列地收纳在所述缓冲部4和所述测试单元51上时，所述第二轴方向(X轴方向)是与列方向相同的方向。即，所述列间距调节单元522沿列方向(X轴方向)调节所述测试吸嘴521的隔开间距。所述列间距调节单元522包括第二凸轮板5221及第二升降单元5222。
所述第二凸轮板5221可升降地设在所述主体523上。在所述第二凸轮板5221上形成有多个第二凸轮槽5221a。所述测试吸嘴521可移动地分别与所述第二凸轮槽5221a结合。所述第二凸轮槽5221a分别以彼此不同倾斜角倾斜地形成在所述第二凸轮板5221升降的方向(Z轴方向)上。所述第二凸轮槽5221a分别形成为，越向所述第二凸轮板5221下降的方向，彼此之间的间距越宽。所述第二凸轮槽5221a用于引导所述测试吸嘴521以相同间距隔开或缩窄。
所述第二升降单元5222使所述第二凸轮板5221升降。当所述第二升降单元5222使所述第二凸轮板5221升降时，所述测试吸嘴521随着所述第二凸轮槽5221a移动。由此，沿所述列方向(X轴方向)调节所述测试吸嘴521的间距。
例如，当所述第二升降单元5222使所述第二凸轮板5221下降时，所述测试吸嘴521随着所述第二凸轮槽5221a移动，从而使沿所述列方向(X轴方向)的间距变窄。此时，所述测试吸嘴521沿所述列方向(X轴方向)变窄的间距，与记忆卡在所述缓冲部4上沿所述列方向(X轴方向)隔开并收纳的间距相同。因此，所述测试吸嘴521的间距被调节成，与记忆卡在所述缓冲部4中沿所述第一轴方向(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴反向)隔开收纳的间距相同。所以，所述测试拾料器52能够从所述缓冲部4一次拾取多个待测试的记忆卡。此外，所述测试拾料器52能够将多个经测试的记忆卡同时收纳在所述缓冲部4。
例如，当所述第二升降单元5222使所述第二凸轮板5221上升时，所述测试吸嘴521随着所述第二凸轮槽5221a移动，从而使沿所述列方向(X轴方向)的间距变宽。图5是示出所述测试吸嘴521沿所述列方向(X轴方向)间距变宽的状态的示意图。此时，所述测试吸嘴521沿所述列方向(X轴方向)变宽的间距，与记忆卡在所述测试单元51上沿所述第列方向(X轴方向)隔开收纳的间距相同。因此，所述测试吸嘴521的间距被调节成，与记忆卡在所述测试单元51沿所述第一轴方向(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴方向)隔开收纳的间距相同。所以，所述测试拾料器52能够将多个待测试的记忆卡同时收纳在所述测试单元51上。此外，所述测试拾料器52能够从所述测试单元51一次拾取多个经测试的记忆卡。
所以，所述测试拾料器52能够以行列为单位一次拾取多个记忆卡，也能够以行列为单位同时收纳多个记忆卡。因此，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1能够缩短在所述缓冲部4与所述测试部5之间搬送记忆卡的工序所需的时间。所述第二升降单元5222可以采用利用液压缸或气缸等的缸体式、利用电机和齿条和小齿轮等的齿轮式、利用电机和滚珠丝杠等的滚珠丝杠式、利用电机和滑轮和带子等的带式、利用直线电机的方式等，使得所述第二凸轮板5221升降。
参照图1、图2及图6，所述缓冲部4用于搬运记忆卡。所述缓冲部4包括：用于收纳多个记忆卡的缓冲机构41(在图6中示出)；以及使所述缓冲机构41向所述第一轴方向(Y轴方向)移动的驱动机构42(在图6中示出)。
所述缓冲机构41包括用于收纳记忆卡的多个缓冲槽411(在图6中示出)。所述缓冲槽411沿所述第一轴方向(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴方向)隔开规定间距并形成行列。所述缓冲槽411沿所述第一轴方向(Y轴方向)彼此隔开的间距，与记忆卡在所述测试单元51(在图1中示出)上沿所述第一轴方向(Y轴方向)隔开收纳的间距相同。所述缓冲槽411沿所述第二轴方向(X轴方向)彼此隔开的间距，与记忆卡在所述供给托盘和收纳托盘上沿所述第二轴方向(X轴方向)隔开收纳的间距相同。
所述驱动机构42使所述缓冲机构41向所述第一轴方向(Y轴方向)移动。所述驱动机构42移动所述缓冲机构41使所述缓冲机构41位于所述托盘区域A或测试区域B内。所述测试区域B是设有所述测试单元51的区域。所述搬送拾料器3在位于所述托盘区域A内的缓冲机构41与所述托盘部2之间搬送记忆卡。所述测试拾料器52在位于所述测试区域B内的缓冲机构41与所述测试单元51之间搬送记忆卡。因此，所述搬送拾料器3和所述测试拾料器52能够对彼此位于不同位置的缓冲机构41执行搬送记忆卡的工序。所以，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1，能够避免所述搬送拾料器3和所述测试拾料器52在搬送记忆卡的过程中彼此冲突。
所述驱动机构42可以采用利用液压缸或气缸等的缸体式、利用电机和齿条和小齿轮等的齿轮式、利用电机和滚珠丝杠等的滚珠丝杠式、利用电机和滑轮和带子等的带式、利用直线电机的方式等，将所述缓冲机构41向所述第一轴方向(Y轴方向)移动。
所述缓冲部4可以包括多个所述缓冲机构41及多个所述驱动机构42。所述缓冲机构41可以彼此独立地向所述第一轴方向(Y轴方向)移动。因此，所述搬送拾料器3可以对所述缓冲机构41中位于所述托盘区域A内的缓冲机构41执行搬送记忆卡的工序。此外，所述测试拾料器52可以对所述缓冲机构41中位于所述测试区域B内的缓冲机构41执行搬送记忆卡的工序。由于所述搬送拾料器3和所述测试拾料器52能够同时对不同的缓冲机构41执行搬送记忆卡的工序，所以本发明涉及的记忆卡用测试分选机1，能够缩短所述测试工序和所述分类工序所需的时间。
参照图1、图2、图7及图8，所述测试部5包括所述测试单元51以及所述测试拾料器52。
所述测试单元51与所述测试设备T(在图7中示出)连接。所述测试设备T用于测试收纳在所述测试单元51上的记忆卡。所述测试单元51包括用于与所述测试设备T电连接的连接销(未图示)。所述测试单元51包括：用于收纳记忆卡的测试插口511(在图8中示出)；用于将收纳在所述测试插口511中的记忆卡与所述测试设备T连接的卡爪512(在图8中示出)；以及设有多个所述测试插口511的测试板513(在图7中示出)。
所述测试插口511包括用于收纳记忆卡的测试槽5111。所述测试插口511在所述测试板513上设有多个，以使所述测试槽5111沿所述第一轴方向(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴方向)彼此隔开规定间距而形成行列。所述测试槽5111沿所述第一轴方向(Y轴方向)彼此隔开的间距，与所述缓冲槽411(在图6中示出)沿所述第一轴方向(Y轴方向)彼此隔开的间距相同。
所述测试插口511包括第一插口主体5112(在图8中示出)以及第二插口主体5113(在图8中示出)。
所述第一插口主体5112可升降地结合在所述第二插口主体5113。所述第一插口主体5112以弹簧(未图示)作为媒体可弹性升降地结合在所述第二插口主体5113上。对所述第一插口主体5112未施加外力时，所述第一插口主体5112可以根据所述弹簧所具有的弹力而上升。所述测试槽5111形成在所述第一插口主体5112上。所述卡爪512与所述第一插口主体5112结合。
所述第二插口主体5113与所述测试板513结合。参照图8，在所述第二插口主体5113上设有支承部件5114、弹性部件5115以及连接部件5116。
所述支承部件5114以所述弹性部件5115作为媒体可弹性升降地结合在所述第二插口主体5113上。记忆卡收纳在所述测试槽5111内且安装在所述支承部件5114上。安装在所述支承部件5114上的记忆卡与所述连接部件5116电连接。
所述弹性部件5115位于所述支承部件5114与所述第二插口主体5113之间。所述弹性部件5115一侧与所述支承部件5114结合，另一侧与所述第二插口主体5113结合。当所述卡爪512按压安装在所述支承部件5114上的记忆卡时，所述弹性部件5115被所述支承部件5114压住而压缩。当所述卡爪512从安装在所述支承部件5114上的记忆卡分离时，所述弹性部件5115被拉伸从而使所述支承部件5114上升。所述测试插口511可以包括多个所述弹性部件5115。
所述连接部件5116的一侧与所述支承部件5114结合，另一侧与所述第二插口主体5113结合。所述连接部件5116的一侧与安装在所述支承部件5114上的记忆卡电连接。所述连接部件5116的另一侧与所述测试板513(在图7中示出)电连接。因此，安装在所述支承部件5114上的记忆卡通过所述连接部件5116及所述测试板513与所述测试设备T电连接。所述测试插口511可以包括多个所述连接部件5116。
参照图1、图2、图7及图8，所述卡爪512(在图8中示出)可移动地设置在所述测试插口511中。当所述测试槽5111内收纳记忆卡时，所述卡爪512旋转到以不妨碍记忆卡被所述测试槽5111收纳的位置。当所述测试槽5111内收纳有记忆卡时，所述卡爪512旋转到能够按压被收纳在所述测试槽5111内的记忆卡的位置。随着所述卡爪512按压被收纳在所述测试槽5111内的记忆卡，被收纳在所述测试槽5111内的记忆卡与所述测试设备T连接。在所述第一插口主体5112上可以结合有多个所述卡爪512。
所述卡爪512能够可旋转地设在所述第一插口主体5112上。所述卡爪512可以将弹簧(未图示)作为媒体可弹性旋转地结合在所述第一插口主体5112上。当所述第一插口主体5112上升时，所述卡爪512旋转以便根据所述弹簧所具有的弹力能够按压收纳在所述测试槽5111内的记忆卡。当所述第一插口主体5112下降时，所述卡爪512旋转到不妨碍记忆卡被所述测试槽5111收纳的位置。
所述测试板513(在图7中示出)支承所述测试插口511。在所述测试板513上设有多个所述测试插口511。所述测试插口511沿所述第一轴方向(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴方向)形成行列地设在所述测试板513上。在所述测试板513上设有用于与所述测试设备T电连接的连接销(未图示)。所述测试板513与所述测试插口511所具有的连接部件5116电连接。因此，所述测试设备T能够通过所述连接部件5116及所述连接销对收纳在所述测试插口511的记忆卡进行测试。所述测试板513整体可以以矩形板状形成。
参照图1、图2、图7及图8，所述测试拾料器52(在图1中示出)在所述缓冲部4与所述测试单元51之间搬送记忆卡。所述测试拾料器52将待测试的记忆卡从所述缓冲部4搬送到所述测试单元51。所述测试拾料器52将经测试的记忆卡从所述测试单元51搬送到所述缓冲部4。
所述测试拾料器52为了执行搬送记忆卡的工序，向所述第一轴方向(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴方向)移动。所述测试拾料器52可以在所述测试区域B(在图2中示出)内移动。所述测试单元51位于所述测试区域B内。所述测试拾料器52从位于所述测试区域B内的缓冲部4拾取待测试的记忆卡，之后将拾取的记忆卡收纳在所述测试单元51上。所述测试拾料器52从所述测试单元51拾取经测试的记忆卡，之后将拾取的记忆卡收纳在位于所述测试区域B内的缓冲部4上。所述测试拾料器52可进行升降以执行拾取记忆卡的工序及收纳记忆卡的工序。所述测试部5可以包括驱动单元(未图示)，该驱动单元将所述测试拾料器52向所述第一轴方向(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴方向)移动，且使所述测试拾料器52升降。所述驱动单元可以采用利用液压缸或气缸等的缸体式、利用电机和齿条和小齿轮等的齿轮式、利用电机和滚珠丝杠等的滚珠丝杠式、利用电机和滑轮和带子等的带式、利用直线电机的方式等，使得所述测试拾料器52移动、升降。
参照图1、图2、图7至图10，所述测试部5包括用于移动所述卡爪512(在图8中示出)的开闭单元53(在图7中示出)。
所述开闭单元53可移动所述卡爪512以开放所述测试槽5111。在所述测试槽5111被开放的状态下，所述测试拾料器52可以将待测试的记忆卡M(在图9中示出)收纳在所述测试插口511中。在所述测试槽5111被开放的状态下，所述测试拾料器52可以从所述测试插口511中拾取经测试的记忆卡M。
所述开闭单元53可以移动所述卡爪512以关闭所述测试槽5111。在所述测试槽5111被关闭的状态下，所述卡爪512可以按压收纳在所述测试插口511中的记忆卡M。因此，收纳在所述测试插口511中的记忆卡M与所述测试设备T(在图7中示出)连接从而进行测试。所述开闭单元53包括开闭机构531、第一移动机构532(在图7中示出)以及第二移动机构533(在图7中示出)。
所述开闭机构531可以升降所述第一插口主体5112。如图9所示，当所述开闭机构531使所述第一插口主体5112下降时，所述卡爪512旋转以便开放所述测试槽5111。如图10所示，当所述开闭机构531从所述第一插口主体5112分离时，所述卡爪512旋转以关闭所述测试槽5111。所述开闭机构531可以包括多个贯穿孔5311。当所述开闭机构531使所述第一插口主体5112下降时，所述贯穿孔5311分别位于对应于所述测试槽5111的位置。由此，在所述开闭机构531使所述第一插口主体5112下降的状态下，所述测试拾料器52可以通过所述贯穿孔5311将记忆卡M收纳在所述测试插口511中。此外，在所述开闭机构531使所述第一插口主体5112下降的状态下，所述测试拾料器52可以通过所述贯穿孔5311从所述测试插口511中拾取记忆卡M。所述开闭机构531整体可以以矩形板状形成。
所述第一移动机构532(在图7中示出)用于升降所述开闭机构531。当所述第一移动机构532使所述开闭机构531下降时，所述开闭机构531使所述第一插口主体5112下降。因此，所述卡爪512旋转以开放所述测试槽5111。当所述第一移动机构532使所述开闭机构531上升时，所述开闭机构531从所述第一插口主体5112分离。因此，所述卡爪512旋转以关闭所述测试槽5111。所述第一移动机构532可以采用利用液压缸或气缸等的缸体式、利用电机和齿条和小齿轮等的齿轮式、利用电机和滚珠丝杠等的滚珠丝杠式、利用电机和滑轮和带子等的带式、利用直线电机的方式等，使得所述开闭机构531升降。
所述第二移动机构533(在图7中示出)使所述开闭机构531向所述第一轴方向(Y轴方向)移动。在所述测试板513上沿所述第一轴方向(Y轴方向)结合有多个所述测试单元51。所述第二移动机构533使所述开闭机构531向所述第一轴方向(Y轴方向)移动，以便所述开闭机构531在所述测试单元51中选择一部分进行开闭。因此，在对收纳在所述测试单元51中一部分中的记忆卡M进行测试工序的期间，所述测试拾料器52可对其它测试单元51执行收纳记忆卡M的工序或从其它测试单元51拾取记忆卡M的工序。所以，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1，可以对多个测试单元51共同使用一个开闭机构531，从而减少所述开闭机构531的数量。因此，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1，能够降低材料成本，可降低整个设备的制造成本。
在所述第二移动机构533上可结合有所述第一移动机构532。所述第二移动机构533使所述第一移动机构532向所述第一轴方向(Y轴方向)移动，从而使所述开闭机构531向所述第一轴方向(Y轴方向)移动。所述第二移动机构533可以采用利用液压缸或气缸等的缸体式、利用电机和齿条和小齿轮等的齿轮式、利用电机和滚珠丝杠等的滚珠丝杠式、利用电机和滑轮和带子等的带式、利用直线电机的方式等，使得所述第一移动机构532向所述第一轴方向(Y轴方向)移动。
在此，参照图2及图7，所述测试部5可以在第一测试区域B1(在图2中示出)和第二测试区域B2(在图2中示出)内分别设有多个所述测试单元51。所述第一测试区域B1和所述第二测试区域B2沿所述第二轴方向(X轴方向)隔开规定间距而设置。此时，所述缓冲部4包括：第一缓冲机构41a(在图2中示出)，用于在所述托盘区域A与所述第一测试区域B1之间搬运记忆卡；以及第二缓冲机构41b(在图2中示出)，用于在所述托盘区域A与所述第二测试区域B2之间搬运记忆卡。所述测试部5包括：第一测试拾料器52a(在图2中示出)，在设在所述第一测试区域B1内的测试单元51与所述第一缓冲机构41a之间搬送记忆卡；以及第二测试拾料器52b(在图2中示出)，在设在所述第二测试区域B内的测试单元51与所述第二缓冲机构41b之间搬送记忆卡。因此，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1可具有如下作用效果。
第一，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1，相对于一个托盘部2，分别设在所述第一测试区域B1和所述第二测试区域B2内的测试单元51可单独地执行对记忆卡的测试工序。因此，即使在所述第一测试区域B1内设有的测试单元51或者在所述第二测试区域B2内设有的测试单元51中的任一个发生误动作，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1也可以利用在所述第一测试区域B1内设有的测试单元51或者在所述第二测试区域B2内设有的测试单元51中未发生误动作的任一个，对记忆卡执行测试工序。因此，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1，能够连续对记忆卡执行测试工序，从而能够在短时间内对更多的记忆卡执行测试工序。
第二，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1，相对于一个托盘部2，所述第一缓冲机构41a和所述第一测试拾料器52a能够执行搬送记忆卡的工序，与此独立地，所述第二缓冲机构41b和所述第二测试拾料器52b能够执行搬送记忆卡的工序。因此，即使在所述第一缓冲机构41a和所述第一测试拾料器52a或者所述第二缓冲机构41b和所述第二测试拾料器52b中的任一个发生误动作，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1也可以利用在所述第一缓冲机构41a和所述第一测试拾料器52a或者所述第二缓冲机构41b和所述第二测试拾料器52b中未发生误动作的任一个，对记忆卡执行搬送工序。所以，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1能够连续执行在所述托盘部2、所述缓冲部4以及所述测试部5之间搬送记忆卡的工序，从而能够在短时间内对更多的记忆卡执行所述测试工序。
第三，所述测试设备T测试记忆卡时所需的时间，比所述搬送拾料器3和所述测试拾料器52在所述托盘部2、所述缓冲部4以及所述测试部5之间搬送记忆卡时所需的时间长。所以，对于一个托盘部2，如果仅具有在所述第一测试区域B1内设有的测试单元51或在所述第二测试区域B2内设有的测试单元中的某一个时，直至所述测试设备T对记忆卡的测试结束为止，将发生所述移动拾料器3和所述测试拾料器52待机的时间。
本发明涉及的记忆卡用测试分选机1，所述第一缓冲机构41a、在所述第一测试区域B1内设有的测试点单元51以及所述第一测试拾料器52a可组成一套系统，以执行在所述托盘部2与所述测试部5之间搬送记忆卡的工序及测试记忆卡的工序。此外，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1，所述第二缓冲机构42a、在所述第二测试区域B2内设有的测试点单元51以及所述第二测试拾料器52b可组成一套系统，以执行在所述托盘部2与所述测试部5之间搬送记忆卡的工序及测试记忆卡的工序。所以，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1，能够缩短所述搬送拾料器3和所述测试拾料器52的待机时间。因此，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1能够在短时间内对更多的记忆卡执行所述测试工序和所述分类工序。
参照图2及图7，在所述第一测试区域B1内设有沿所述第二轴方向(X轴方向)隔开规定间距的所述测试板513。因此，所述测试单元51以沿所述第一轴方向(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴方向)形成行列的方式设在所述第一测试区域B1内。所述第一测试拾料器52a在所述第一测试区域B1内移动。所述第一测试拾料器52a在所述第一缓冲机构41a及设在所述第一测试区域B1内的测试单元51之间搬送记忆卡。所述缓冲部4包括多个所述第一缓冲机构41a。所述第一缓冲机构41a沿所述第二轴方向(X轴方向)隔开规定间距设置。所述缓冲部4包括多个使得所述第一缓冲机构41a向所述第一轴方向(Y轴方向)移动的第一驱动机构42a。所述第一驱动机构42a使所述第一缓冲机构41a在所述托盘区域A与所述第一测试区域B1之间移动。所述搬送拾料器3在所述托盘部2与位于所述托盘区域A内的第一缓冲机构41a之间搬送记忆卡。所述第一测试拾料器52a在位于所述第一测试区域B1内的测试单元51与位于所述第一测试区域B1内的第一缓冲机构41a之间搬送记忆卡。所述第一测试拾料器52a包括：第一测试吸嘴(未图示)，用于吸附记忆卡；以及第一列间距调节单元(未图示)，调节所述第一测试吸嘴的列方向(X轴方向)间距。在所述第一测试区域B1内设有的各测试板513上设有所述开闭单元53。
参照图2及图7，在所述第二测试区域B2内沿所述第二轴方向(X轴方向)隔开规定间距设有所述测试板513。因此，所述测试单元51以沿所述第一轴方向(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴方向)形成行列的方式设在所述第二测试区域B2内。所述第二测试拾料器52b在所述第二测试区域B2内移动。所述第二测试拾料器52b在所述第二缓冲机构41b及设在所述第二测试区域B2内的测试单元51之间搬送记忆卡。所述缓冲部4包括多个所述第二缓冲机构41b。所述第二缓冲机构41b沿所述第二轴方向(X轴方向)隔开规定间距设置。所述缓冲部4包括多个使得所述第二缓冲机构41b向所述第一轴方向(Y轴方向)移动的第二驱动机构42b。所述第二驱动机构42b使所述第二缓冲机构41b在所述托盘区域A与所述第二测试区域B2之间移动。所述搬送拾料器3在所述托盘部2与位于所述托盘区域A内的第二缓冲机构41b之间搬送记忆卡。所述第二测试拾料器52b在位于所述第二测试区域B2内的测试单元51与位于所述第二测试区域B2内的第二缓冲机构41b之间搬送记忆卡。所述第二测试拾料器52b包括：第二测试吸嘴(未图示)，用于吸附记忆卡；以及第二列间距调节单元(未图示)，调节所述第二测试吸嘴的列方向(X轴方向)间距。设在所述第二测试区域B2内的各测试板513上设有所述开闭单元53。
在此，记忆卡可按产品信息分别收纳在不同的供给托盘上而供给到所述托盘部2。所述产品信息可以包括记忆卡交货商信息、记忆卡类型以及记忆卡规格中的至少一个。在所述托盘部2中所述供给托盘区分供给记忆卡，即，优先将具有第一产品信息的记忆卡从所述托盘部2搬送到所述测试部5，之后将具有第二产品信息的记忆卡从所述托盘部2搬送到所述测试部5。因此，可以优先将具有所述第一产品信息的记忆卡根据测试结果进行等级区分并收纳在所述收纳托盘，之后将具有所述第二产品信息的记忆卡根据测试结果进行等级区分并收纳在所述收纳托盘。具有所述第一产品信息的记忆卡和具有所述第二产品信息的记忆卡收纳在不同的收纳托盘内，以便能够按收纳托盘区分开来交货。在此，如果测试具有所述第一产品信息的记忆卡所需的时间，比测试具有所述第二产品信息的记忆卡所需的时间长时，在所述缓冲部4上可能混合收纳具有所述第一产品信息的记忆卡和具有所述第二产品信息的记忆卡。因此，存在具有所述第一产品信息的记忆卡和具有所述第二产品信息的记忆卡被混合交货的问题。为了解决这些问题，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1包括读取部6(在图11中示出)，用于获得记忆卡M的产品信息。
参照图11，所述读取部6读取在记忆卡M上形成的条形码(未图示)，从而获得记忆卡M的产品信息。所述读取部6可以将获得的产品信息提供给所述搬送拾料器3。所述搬送拾料器3可以利用所述产品信息将收纳在所述缓冲部4上的经测试的记忆卡M搬送到所述收纳托盘上。
例如，所述搬送拾料器3可以优先将在经测试的记忆卡M中具有第一产品信息的所有记忆卡M收纳在所述收纳托盘上，之后将具有第二产品信息的记忆卡M收纳在所述收纳托盘上。本发明涉及的记忆卡用测试分选机1包括存储部(未图示)，用于存储提供给所述托盘部2的记忆卡的产品信息和产品信息所对应的产品数量。所述搬送拾料器3可以优先将在经测试的记忆卡M中具有所述第一产品信息的记忆卡M从所述缓冲部4搬送到所述收纳托盘上，以便搬送到所述收纳托盘上的具有所述第一产品信息的记忆卡M的数量达到存储在所述存储部中的具有所述第一产品信息的记忆卡M的数量。当具有所述第一产品信息的所有记忆卡M根据测试结果按等级区分而收纳在所述收纳托盘上时，该收纳托盘被空置的收纳托盘替换。之后，所述搬送拾料器3将具有所述第二产品信息的记忆卡M收纳到被更换的收纳托盘上。因此，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1可以将彼此具有不同产品信息的记忆卡M按收纳托盘区分开来发货。
参照图11，所述读取部6可以设在所述搬送拾料器3上。所述搬送拾料器3拾取收纳在所述缓冲部4上的记忆卡M之前，为了使所述读取部6从收纳在所述缓冲部4上的记忆卡M中获得产品信息而进行移动。在所述搬送拾料器3上可以设有与在所述缓冲部4上沿所述第二轴方向(X轴方向)收纳的记忆卡M的数量相同数量的读取部6。例如，如图11所示，可以在所述缓冲部4上沿所述第二轴方向(X轴方向)各收纳有八个记忆卡M，而且在所述搬送拾料器3上沿所述第二轴方向(X轴方向)设有八个所述读取部6。因此，当所述搬送拾料器3向所述第一轴方向(Y轴方向)移动时，所述读取部6能够获得在所述缓冲部4上以沿所述第一轴方向(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴方向)形成行列的方式被收纳的记忆卡M所具有的产品信息。所述读取部6能够以从所述移动吸嘴31沿所述第一轴方向(Y轴方向)隔开规定间距的方式设在所述移动拾料器3上。
参照图12，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1包括图像部7，用于对记忆卡M执行外观检查。
所述图像部7可以拍摄位于所述测试单元51上的记忆卡M从而获得有关记忆卡M的检查图像。所述图像部7通过将获得的检查图像与标准图像进行比较，从而执行对记忆卡M的外观检查。所述标准图像是正常状态下的记忆卡M的图像。在所述图像部7中存储有所述标准图像。所述图像部7可以包括CCD(Charge-coupled device：电荷耦合元件)相机，用于拍摄位于所述测试单元51上的记忆卡M。所述图像部7也可以拍摄设在所述测试插口511中的卡爪512(在图8中示出)从而获得有关所述卡爪512的检查图像。因此，所述图像部7也可以执行有关所述卡爪512的损伤与否的外观检查。所述图像部7也可以获得包含所述卡爪7和该卡爪512所按压的记忆卡M的检查图像。
参照图12，所述图像部7可以设在所述测试拾料器52上。所述测试拾料器52在拾取收纳于所述测试单元51上的记忆卡M之前，进行移动以使所述图像部7从收纳在所述测试单元51上的记忆卡M中获得检查图像。在所述测试拾料器52上可以设有与在所述测试单元51上沿所述第二轴方向(X轴方向)收纳的记忆卡M的数量相同数量的图像部7。例如，如图12所示，可以在所述测试单元51上沿所述第二轴方向(X轴方向)各收纳有八个记忆卡M，而且在所述测试拾料器52上沿所述第二轴方向(X轴方向)设有八个所述图像部7。因此，当所述测试拾料器52向所述第一轴方向(Y轴方向)移动时，所述图像部7能够获得在所述测试单元51沿所述第一轴方向(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴方向)形成行列地被收纳的记忆卡M的检查图像。所述图像部7以从所述测试吸嘴521向所述第一轴方向(Y轴方向)隔开规定间距的方式设在所述测试拾料器52上。当所述测试部5包括多个测试拾料器52时，可以在所述测试拾料器52分别设有所述图像部7。所述图像部7可以将有关所述记忆卡M的检查结果提供给所述搬送拾料器3。所述搬送拾料器3根据所述图像部7提供的检查结果将记忆卡M区分收纳在所述收纳托盘上。
参照图13及图14，本发明涉及的记忆卡用测试分选机1包括传感器部8，用于获得位于所述测试单元51上的记忆卡M的状态信息。
所述传感器部8能够获得收纳在所述测试单元51上的记忆卡M的状态信息。所述状态信息可以是在所述测试单元51上收纳有两个以上彼此结合的记忆卡M的状态，记忆卡M在所述测试单元51上倾斜收纳的状态等。如图14所示，当在所述测试单元51上收纳有两个以上彼此结合的记忆卡M时，所述测试拾料器52(在图13中示出)可以将该记忆卡M从所述测试插口511中拾取并搬送到所述缓冲部4(在图1中示出)，以防止对该记忆卡M执行测试工序。所述搬送拾料器3能够将两个以上彼此结合的记忆卡M收纳在单独的收纳托盘上。虽然未图示，当所述记忆卡M在所述测试插口511中被倾斜收纳时，所述测试拾料器52可以拾取该记忆卡M之后，重新收纳到该测试插口511中。
参照图13及图14，所述传感器部8可以设在所述测试拾料器52上。所述测试拾料器52在对收纳在所述测试单元51上的记忆卡M执行测试工序之前，可进行移动以便所述传感器部8获得有关收纳在所述测试单元51上的记忆卡M的状态信息。在所述测试拾料器52上可以设有与在所述测试单元51上沿所述第二轴方向(X轴方向)收纳的记忆卡M的数量相同数量的传感器部8。例如，如图13所示，在所述测试单元51上沿所述第二轴方向(X轴方向)各收纳有八个记忆卡M，而在所述测试拾料器52上可以沿所述第二轴方向(X轴方向)设有八个所述传感器部8。因此，当所述测试拾料器52向所述第一轴方向(Y轴方向)移动时，所述传感器部8能够获得在所述测试单元51上沿所述第一轴方向(Y轴方向)和所述第二轴方向(X轴方向)形成行列并被收纳的记忆卡M的状态信息。所述传感器部8自所述测试吸嘴521向所述第一轴方向(Y轴方向)隔开规定间距地设在所述测试拾料器52上。当所述测试部5包括多个测试拾料器52时，可以在所述测试拾料器52分别设置所述传感器部8。所述传感器部8可以将有关所述记忆卡M的状态信息提供给所述测试拾料器52。
参照图13及图14，所述传感器部8可以包括：发光传感器81(在图14中示出)，向位于所述测试单元51上的记忆卡M发射光；受光传感器82(在图14中示出)，用于接收所述发光传感器81发射的光；以及检测单元83，利用所述受光传感器接受的光而获得位于所述测试单元51上的记忆卡M的状态信息。
所述发光传感器81和所述受光传感器82可以彼此隔开规定间距设置。所述发光传感器81发射的光可以被所述记忆卡M反射后被所述受光传感器82接受。所述检测单元82可以利用所述发光传感器81发射的光被所述受光传感器82接受所需的时间来获得所述记忆卡M的状态信息。当所述测试插口511中收纳有两个以上彼此结合的记忆卡M时，与在所述测试插口511中收纳有一个记忆卡M时相比，所述受光传感器82接受来自所述发光传感器81发射的光时所需的时间减少。由此，所述检测单元83可以确认记忆卡M处于两个以上彼此结合而收纳在所述测试插口511中的状态。所述检测单元83也可以利用所述受光传感器82接收到的光量来获得有关收纳在所述测试插口511中的记忆卡M的状态信息。当记忆卡M倾斜收纳在所述测试插口511中时，与记忆卡M正常收纳在所述测试插口511中时相比，所述受光传感器82接受的来自所述发光传感器81发射的光的量减少。由此，所述检测单元83可以确认记忆卡M处于倾斜收纳在所述测试插口511中的状态。所述检测单元83可以将有关所述记忆卡M的状态信息提供给所述测试拾料器52。
以上说明的本发明并不限定于上述实施例及附图，对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不超出本发明的技术思想的范围内，可以进行多种替换、变形和变更。

Claims (11)

1.一种记忆卡用测试分选机，其特征在于，包括：
托盘部：位于托盘区域内，该托盘区域安放有用于收纳待测试的记忆卡的供给托盘，以及根据测试结果分类收纳经测试的记忆卡的多个收纳托盘；
测试部，包括用于测试记忆卡的多个测试单元，在进行测试记忆卡的测试工序的第一测试区域和第二测试区域内分别设有多个所述测试单元；
缓冲部，设在所述托盘部与所述测试部之间，包括第一缓冲机构及第二缓冲机构，该第一缓冲机构在所述托盘区域与所述第一测试区域之间移动以搬运记忆卡，该第二缓冲机构在所述托盘区域与所述第二测试区域之间移动以搬运记忆卡；以及
搬送拾料器，在所述第一缓冲机构与所述托盘部之间搬送记忆卡，在所述第二缓冲机构与所述托盘部之间搬送记忆卡；
所述测试部包括多个在所述测试单元与所述缓冲部之间搬送记忆卡的测试拾料器，具体为，所述测试部包括第一测试拾料器以及第二测试拾料器，该第一测试拾料器在设置于所述第一测试区域内的测试单元与所述第一缓冲机构之间搬送记忆卡，该第二测试拾料器在设置于所述第二测试区域内的测试单元与所述第二缓冲机构之间搬送记忆卡。
2.根据权利要求1所述的记忆卡用测试分选机，其特征在于，
所述搬送拾料器包括多个用于吸附记忆卡的搬送吸嘴，以及用于调节所述搬送吸嘴的行方向间距的行间距调节单元；
所述第一测试拾料器包括多个用于吸附记忆卡的第一测试吸嘴，以及用于调节所述第一测试吸嘴的列方向间距的第一列间距调节单元；
所述第二测试拾料器包括多个用于吸附记忆卡的第二测试吸嘴，以及用于调节所述第二测试吸嘴的列方向间距的第二列间距调节单元。
3.一种记忆卡用测试分选机，其特征在于，包括：
托盘部，安放有用于收纳待测试的记忆卡的供给托盘，以及根据测试结果分类收纳经测试的记忆卡的多个收纳托盘；
测试部，包括多个用于测试记忆卡的测试单元；
缓冲部，设在所述托盘部与所述测试部之间，用于搬运记忆卡；以及
搬送拾料器，在所述缓冲部与所述托盘部之间搬送记忆卡；
所述测试部包括多个在所述测试单元与所述缓冲部之间搬送记忆卡的测试拾料器。
4.根据权利要求3所述的记忆卡用测试分选机，其特征在于，
所述搬送拾料器包括多个用于吸附记忆卡的搬送吸嘴，以及用于调节所述搬送吸嘴的行方向间距的行间距调节单元；
所述测试拾料器分别包括多个用于吸附记忆卡的测试吸嘴，以及用于调节所述测试吸嘴的列方向间距的列间距调节单元；
5.根据权利要求1或3所述的记忆卡用测试分选机，其特征在于，
包括读取部，该读取部设在所述搬送拾料器上，用于读取在记忆卡上形成的条形码而获得记忆卡的产品信息；
所述搬送拾料器利用所述读取部获得的产品信息，将收纳在所述缓冲部的经测试的记忆卡从所述缓冲部搬送到所述收纳托盘。
6.根据权利要求5所述的记忆卡用测试分选机，其特征在于，
所述读取部获得产品信息，该产品信息包括记忆卡交货商信息、记忆卡类型以及记忆卡规格中的至少一个，
所述搬送拾料器将经测试的记忆卡从所述缓冲部搬送到所述收纳托盘上，以使经测试的记忆卡按照所述产品信息被收纳在所述收纳托盘上。
7.根据权利要求1或3所述的记忆卡用测试分选机，其特征在于，
包括图像部，该图像部拍摄位于所述测试单元上的记忆卡，以对记忆卡执行外观检查，
所述图像部分别设在每个所述测试拾料器上。
8.根据权利要求1或3所述的记忆卡用测试分选机，其特征在于，
包括传感器部，该传感器部用于获得记忆卡位于所述测试单元的状态信息，
所述传感器部设在每个所述测试拾料器上。
9.根据权利要求8所述的记忆卡用测试分选机，其特征在于，所述传感器部包括：
发光传感器，向位于所述测试单元的记忆卡发射光；
受光传感器，用于接受所述发光传感器发射的光；以及
检测单元，利用所述受光传感器接受的光而获得位于所述测试单元的记忆卡的状态信息。
10.根据权利要求1或3所述的记忆卡用测试分选机，其特征在于，所述测试单元包括：
测试插口，用于收纳记忆卡；以及
卡爪，可移动地结合在所述测试插口上，以使收纳在所述测试插口中的记忆卡与所述测试设备连接。
11.根据权利要求10所述的记忆卡用测试分选机，其特征在于，
所述测试插口包括用于收纳记忆卡的测试槽；
所述测试部包括用于移动所述卡爪以开闭所述测试槽的开闭机构，在所述开闭机构形成有使所述测试拾料器通过的贯穿孔，
所述测试拾料器通过所述贯穿孔执行在所述测试槽内收纳记忆卡的工序和从所述测试槽拾取记忆卡的工序。
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