CN102655096A - 芯片封装方法 - Google Patents
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Abstract
本发明是一种芯片封装方法,其通过使接地环直接或间接露出于封装材料,再形成与接地环电性连接的导电薄膜以形成电磁波屏蔽,进而减少外部的电磁干扰。此外,本发明可大量形成封装结构的导电薄膜,因此可减少制造工艺的复杂度及成本。
Description
技术领域
本发明是关于一种芯片封装方法,尤其是关于一种形成与接地环电性连接的导电薄膜的芯片封装方法。
背景技术
目前随着电子系统变得越来越小,以及系统内电子构件的密度越来越大,因此容易产生系统内的电磁干扰(electromagnetic interference,EMI)。此外,已知部分封装结构,例如射频芯片(radio frequency,RF)封装结构容易受电磁干扰影响。因此需要发展可减少电磁干扰的影响的方法及设备,以减少高密度电子系统的电磁干扰加乘效应并避免系统的效能下降或是产生错误。
目前已有设计可遮蔽电磁的外罩式阻绝结构,以减少电磁干扰。然而额外设置外罩式阻绝结构不仅增加成本,也增加制造工艺的复杂度。
综合上述,目前仍需要发展一种新的减少电磁干扰的影响的芯片封装方法。
发明内容
本发明的目的是提供一种芯片封装方法,采用该方法可减少电磁干扰的影响并降低制造工艺的复杂度和成本。
依据本发明的一实施例,一种芯片封装方法,包括下列步骤:提供一芯片承载装置,其具有多个芯片承载单元阵列设置于其上,其中芯片承载单元具有一接地环,其设置于芯片承载单元的一上表面;分别设置一芯片于每一芯片承载单元之上表面并与其电性连接;以一封装材料覆盖每一芯片承载单元的接地环及芯片;移除一部分的封装材料以露出接地环的一部分;形成一导电薄膜,以覆盖封装材料及露出的接地环;以及切单芯片承载装置,以得到独立分隔的每一芯片承载单元。
依据本发明的另一实施例,一种芯片封装方法,包括下列步骤:提供一芯片承载装置,其具有多个芯片承载单元阵列设置于其上,其中一芯片承载单元具有一接地环,其设置于芯片承载单元的一上表面,每一芯片承载单元的接地环之间通过一导线彼此电性连结;分别设置一芯片于每一芯片承载单元之上表面并与其电性连接;以一封装材料覆盖每一芯片承载单元的接地环、导线及芯片;切单芯片承载装置,以得到独立分隔的每一芯片承载单元,并露出导线的一部分;以及形成一导电薄膜,以覆盖封装材料及露出的导线。
本发明的有益效果是:本发明通过形成与接地环电性连接的导电薄膜以形成电磁波屏蔽,可减少外部的电磁干扰;本发明可大量形成封装结构的导电薄膜,因此可减少制造工艺的复杂度及成本。
本发明上述及其它态样、特点及优点可由附图及实施例的说明而获得更清楚的了解。
附图说明
图1a至图1d为显示依据本发明一实施例的芯片封装方法的侧视图。
图2a至图2c为显示依据本发明另一实施例的芯片封装方法的侧视图。
具体实施方式
请参照图1a至图1d,其为侧视图显示依据本发明一实施例的芯片封装方法。首先提供一芯片承载装置1,其具有多个芯片承载单元2阵列设置于其上。举例而言,芯片承载装置1可为一封装基板、一软性基板或一导线架。每一芯片承载单元2具有一接地环21(ground ring),其设置于芯片承载单元2的一上表面。分别将一芯片3设置于每一芯片承载单元2的上表面并与其电性连接。芯片3与芯片承载单元2可包括打线接合或覆晶接合。
在一实施例中,接地环21环设于芯片3的外围,并电性连接至芯片3的接地垫(ground pad,图中未示)以使芯片3达到接地的作用。其中,接地环21的形状可为连续或不连续。其中,不连续的接地环21指的是利用绿漆或是阻隔物质隔绝接地环21,藉以增加芯片3的接合面积以及接合强度。芯片3可以接地垫与接地环21电性连接,因此部分遮蔽接地环21,或者芯片3可以通过打线与接地环21电性连接,因此未遮蔽接地环21。
如图1a所示,每一芯片承载单元2的接地环21及芯片3由一封装材料4覆盖。封装材料4可为一般常用于封装的材料,例如环氧树脂,并加热使其固化。
每一芯片承载单元2还包含多个焊球22,其可通过植球方法设置于芯片承载单元2的一下表面。接地环21与焊球22电性连接。其中,接地环21与焊球22是通过一通孔与焊球22电性连接;或者,接地环21与焊球22可通过一盲孔以及芯片承载单元2内部的接地层(图中未示)电性连接。
请参照图1b,将一部分的封装材料4移除以露出接地环21的一部分。移除封装材料4的方法可包括但不限于研磨、切割或切锯。
请参照图1c,接着形成一导电薄膜5,以覆盖封装材料4及露出的接地环21。所形成的导电薄膜5与接地环21电性连接,因此可以与外部的电磁辐射进行接地处理,进而减少外部的电磁干扰。其中,形成导电薄膜5的方法包括但不限于溅镀法、蒸镀法、无电解电镀法、电镀法或涂布法。如图所示,进行溅镀或其它形成导电薄膜5的过程中,可通过真空吸引平台6及吸盘61固定芯片承载装置1。
导电薄膜5的厚度应足以避免芯片3受外部的电磁干扰,并取决于其材料、电阻以及所要达到的遮蔽效果。在一实施例中,导电薄膜5的材质为金属,例如但不限于铜、银、镍、金或其它组合。此外,在另一实施例中,导电薄膜5可为透明,其材质包括但不限于铟锡氧化物。
请参照图1d,接着切单芯片承载装置1,以得到独立分隔的每一芯片承载单元2,并进行封装后段工序,例如检测作业等。
其中,应注明的是芯片承载装置1的切单与形成导电薄膜5的步骤可互为先后。具体说,在一实施例的中,可以先形成导电薄膜5,再进行芯片承载装置1的切单;在另一实施例的中,可以先进行芯片承载装置1的切单,再形成导电薄膜5。
请继续参照图2a至2c,其为侧视图显示依据本发明另一实施例的芯片封装方法。在另一实施例的中,提供一芯片承载装置1。分别将一芯片3设置于每一芯片承载单元2的上表面并与其电性连接。封装材料4覆盖每一芯片承载单元2的接地环21、导线7及芯片3。
其中,相较于图1a,任两相邻的芯片承载单元2的接地环21之间可通过导线7电性连接彼此电性连结。其中导线7可以弧型的打线方式电性连接(如图所示),或者导线7可以设置于芯片承载单元2的上表面或是内部(本图未示)以达成与接地环21的电性连接。
请参照图2b,对芯片承载装置1进行切单,以得到独立分隔的每一芯片承载单元2,并露出导线7的一部分;并且在图2c,形成一导电薄膜5,以覆盖封装材料4及露出的导线7。其中,此实施例的实施方式与前述实施例相同,因此不再赘述。
综合上述,本发明通过使接地环直接或间接露出于封装材料,再形成与接地环电性连接的导电薄膜,藉以与外部的电磁辐射进行接地处理以形成电磁波屏蔽,进而减少外部的电磁干扰。此外,本发明可大量形成封装结构的导电薄膜,因此可减少制造工艺的复杂度及成本。
以上所述的实施例仅是为说明本发明的技术思想及特点,其目的在使熟悉本技术的人员能够了解本发明的内容并据以实施,当不能以其限定本发明的专利范围,即凡是根据本发明所揭示的精神所作的均等变化或修饰,仍应涵盖在本发明的专利范围内。
Claims (16)
1.一种芯片封装方法,其特征在于,包含下列步骤:
提供一芯片承载装置,其具有多个芯片承载单元阵列设置于其上,其中该芯片承载单元具有一接地环,其设置于该芯片承载单元的一上表面;
分别设置一芯片于这些芯片承载单元的每一个的该上表面并与其电性连接;
以一封装材料覆盖这些芯片承载单元的每一个的该接地环及该芯片;
移除一部分的该封装材料以露出该接地环的一部分;
形成一导电薄膜,以覆盖该封装材料及露出的该接地环;以及
切单该芯片承载装置,以得到独立分隔的这些芯片承载单元的每一个。
2.根据权利要求1所述的芯片封装方法,其特征在于,该芯片与该芯片所设置的该芯片承载单元的电性连接方式包括打线接合或覆晶接合。
3.根据权利要求1所述的芯片封装方法,其特征在于,该芯片承载装置包括一封装基板、一软性基板或一导线架。
4.根据权利要求1所述的芯片封装方法,其特征在于,形成该导电薄膜的方法包括溅镀法、蒸镀法、无电解电镀法、电镀法或涂布法。
5.根据权利要求1所述的芯片封装方法,其特征在于,该芯片部分遮蔽该接地环。
6.根据权利要求1所述的芯片封装方法,其特征在于,这些芯片承载单元的每一个还包含多个焊球,其设置于该芯片承载单元的一下表面。
7.根据权利要求6所述的芯片封装方法,其特征在于,该接地环与这些焊球是通过一通孔或一盲孔电性连结。
8.一种芯片封装方法,其特征在于,包含下列步骤:
提供一芯片承载装置,其具有多个芯片承载单元阵列设置于其上,其中每一该芯片承载单元具有一接地环,其设置于该芯片承载单元的一上表面,任两相邻的该芯片承载单元的该接地环之间通过一导线彼此电性连结;
分别设置一芯片于这些芯片承载单元的每一个的该上表面并与其电性连接;
以一封装材料覆盖这些芯片承载单元的每一个的该接地环、该导线及该芯片;
切单该芯片承载装置,以得到独立分隔的这些芯片承载单元的每一个,并露出该导线的一部分;以及
形成一导电薄膜,以覆盖该封装材料及露出的该导线。
9.根据权利要求8所述的芯片封装方法,其特征在于,该芯片与该芯片所设置的该芯片承载单元的电性连接方式包括打线接合或覆晶接合。
10.根据权利要求8所述的芯片封装方法,其特征在于,该芯片承载装置包括一封装基板、一软性基板或一导线架。
11.根据权利要求8所述的芯片封装方法,其特征在于,形成该导电薄膜的方法包括溅镀法、蒸镀法、无电解电镀法、电镀法或涂布法。
12.根据权利要求8所述的芯片封装方法,其特征在于,该芯片部分遮蔽该接地环。
13.根据权利要求8所述的芯片封装方法,其特征在于,这些芯片承载单元的每一个还包含多个焊球,其设置于该芯片承载单元的一下表面。
14.根据权利要求13所述的芯片封装方法,其特征在于,该接地环与这些焊球是通过一通孔或一盲孔电性连结。
15.根据权利要求8所述的芯片封装方法,其特征在于,该导线是以弧型打线方式电性连接这些芯片承载单元的每一个的该接地环。
16.根据权利要求8所述的芯片封装方法,其特征在于,该导线是设置于该芯片承载单元的该上表面或内部。
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