CN102590667A - 一种老化测试治具 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及老化测试技术领域，具体的涉及一种老化测试治具，其结构包括有底座和设置于底座上方的上盖，底座设置有底座PCB板，底座PCB板设置有DC信号连接装置，底座与上盖相对的内表面开设有产品放置槽，产品放置槽内设置有DC信号接口，DC信号接口通过底座PCB板与DC信号连接装置电连接；上盖内设置有上盖PCB板，上盖PCB板设置有AC信号连接装置和与AC信号连接装置电连接的AC信号接口。本发明具有结构简单、操作简单快速、老化以及测试效率高的优点，特别适于现代化企业快速发展的需要。
Description
技术领域
本发明涉及老化测试技术领域，具体的涉及一种老化测试治具。
背景技术
随着社会的发展，人们对电子产品的质量要求是越来越高，为了提高电子产品的出厂质量，在出厂前需要对电子产品进行一系列的老化测试。现有技术中，对电子产品进行老化测试时，采用对电子产品进行单个电连接测试，然而这种单个产品测试的方式效率很低；另一方面，电子产品的老化测试时，往往需要进行如光照老化、湿热老化等多个项目的老化测试，则电子产品的接口需要与不同的测试设备进行电连接，在测试项目转换时，电子产品的接口需要多次插拔，导致接口磨损大，从而影响了电子产品的使用寿命。
为了解决上述技术问题，中国发明专利（专利号：201120161188.X）公开了一种老化测试治具，其技术方案包括有基座、信号接口装置、产品固定座和电接触板，电接触板设置有多个AC信号接口组，AC信号接口组与信号接口装置电连接，当电接触板滑动到与产品固定座的端面贴合时，AC信号接口组与产品固定座上的电子产品安装孔相对应且AC信号接口组位于电子产品安装孔上方。虽然，该治具可同时进行多个电子产品的老化测试，将信号接口装置与测试设备电连接后进行老化测试，可避免由于多次拔插而对电子产品接口的磨损。然而，其缺陷在于：一方面，操作时，需要先将电接触板移动至与产品固定座的端面贴合的位置处，然后将电接触板固定住，使电接触板上的电接触端组与电子产品的接口电连接，然后将信号接口装置与测试设备电连接，方能完成电子产品的一项老化测试。该过程操作繁琐 ，而且使用过程中，电接触板反复前后滑动容易受损，造成接触不良或定位不准确，从而降低了老化测试效率；另一方面，对电子产品进行老化测试前，该治具仍需要连接电子负载，而且治具的结构复杂，不利于生产加工。
发明内容
本发明的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种结构简单、老化测试效率高、操作简单快速、性能稳定的老化测试治具。
本发明的目的通过以下技术方案实现：
提供一种老化测试治具，包括有底座和设置于底座上方的上盖，所述底座设置有底座PCB板，所述底座PCB板设置有DC信号连接装置，所述底座与所述上盖相对的内表面开设有产品放置槽，所述产品放置槽内设置有DC信号接口，所述DC信号接口通过所述底座PCB板与所述DC信号连接装置电连接；
所述上盖内设置有上盖PCB板，所述上盖PCB板设置有AC信号连接装置和与所述AC信号连接装置电连接的AC信号接口。
优选的，所述底座的一侧开设有DC安装槽，所述DC信号接口装置与所述DC安装槽相配合且安装于所述DC安装槽内；
所述上盖的一侧开设有AC安装槽，所述AC信号接口装置与所述AC安装槽相配合且安装于所述AC安装槽内。
优选的，所述上盖与所述底座相对的内表面开设有插孔，所述AC信号接口设置于所述插孔内。
优选的，所述底座与所述上盖铰接。
进一步的，所述上盖的内表面设置有第一固定座，所述第一固定座设置有铰链，所述底座的内表面设置有第二固定座，所述第二固定座开设有穿孔，所述铰链轴穿设于所述穿孔。
另一优选的，所述老化测试治具还包括有锁扣装置，所述锁扣装置包括有固定于所述底座的第一支座、固定于所述上盖的第二支座、以及锁扣臂，所述锁扣臂的一端卡接于所述第一支座，所述锁扣臂的另一端铰接于所述第二支座。
进一步的，所述锁扣臂呈倒L形，所述锁扣臂的弯折部设置有铰接轴，所述铰接轴与所述第二支座铰接，所述铰接轴套设有扭簧；
所述第一支座开设有卡槽，所述锁扣臂的一端设置有与所述卡槽相匹配的卡凸。
另一优选的，所述老化测试治具还包括有负载装置，所述负载装置包括有壳体、基座、以及设置于基座的负载DC信号连接装置和负载AC信号连接装置，所述基座下方设置有电源、时序板和电子负载，所述壳体的底部设置有导电铜板；
所述底座设置于所述负载装置的基座，所述DC信号连接装置和所述负载DC信号连接装置电连接，所述AC信号连接装置和所述负载AC信号连接装置电连接。
进一步的，所述DC信号连接装置、所述AC信号连接装置、所述负载DC信号连接装置以及所述负载AC信号连接装置均设置有两个。
进一步的，所述老化测试治具的底座和上盖均设置有定位柱，所述负载装置设置有与所述定位柱相配合的定位孔。
本发明的一种老化测试治具工作时，将电子产品安装于产品放置槽内，电子产品的DC连接端与DC信号接口电连接，并通过底座PCB板与DC信号连接装置电连接，从而使电子产品的DC连接端与DC信号连接装置电连接，同时，电子产品的AC连接端与上盖的AC信号接口电连接，AC信号接口通过上盖PCB板与AC信号连接装置电连接，从而使电子产品的AC信号接口与AC信号连接装置电连接。当需要进行老化时，只需要将DC信号连接装置和AC信号连接装置依次与老化设备电连接，即可完成电子产品的老化；当需要进行测试时，只需要将DC信号连接装置和AC信号连接装置依次与测试设备电连接，即可完成电子产品的测试。由此，本发明的老化测试治具同时实现了老化以及测试的功能，其结构简单、整个操作简单快速，大大提高了电子产品的老化以及测试效率，从而提高了生产效率，有利于企业的规模化生产，特别适于现代化企业快速发展的需要。
附图说明
图1为本发明的实施例1的老化测试治具的结构示意图。
图2为本发明的实施例1的老化测试治具的底座的结构示意图。
图3为本发明的实施例1的老化测试治具的上盖的结构示意图。
图4为本发明的实施例2的老化测试治具的锁扣装置的结构示意图。
图5为本发明的实施例3的老化测试治具以及负载装置的使用状态结构示意图。
图6为本发明的实施例3的负载装置的结构示意图。
图7为本发明的实施例3的负载装置的另一角度的结构示意图。
图8为本发明的实施例3的负载装置的分解结构示意图。
图1至图8中包括有：
底座1、DC信号连接装置11、DC信号接口12、第二固定座13、穿孔131、产品放置槽14、定位柱15；
上盖2、AC信号连接装置21、第一固定座23、铰链轴231、插孔24；
锁扣装置3、第一支座31、卡槽311、第二支座32、锁扣臂33、卡凸331、弯折部332、铰接轴34、扭簧341；
壳体41、导电铜板411；
基座42、电源421、时序板422、电子负载423、无线传感器424；
负载DC信号连接装置43、负载AC信号连接装置44、定位孔45、散热风扇46；
电子产品5。
具体实施方式
下面结合实施例及附图对本发明作进一步详细的描述，但本发明的实施方式不限于此。
实施例1
本发明的一种老化测试治具的实施例1如图1至图8所示，包括有底座1和设置于底座1上方的上盖2，其中：底座1设置有底座PCB板，底座PCB板设置有DC信号连接装置11，底座1与上盖2相对的内表面开设有产品放置槽14，用于放置电子产品5。产品放置槽14内设置有DC信号接口12，DC信号接口12通过底座PCB板与DC信号连接装置11电连接；上盖2内设置有上盖PCB板，上盖PCB板设置有AC信号连接装置21和与AC信号连接装置21电连接的AC信号接口。
电子产品5进行老化测试前，将电子产品5安装于底座1的产品放置槽14内，电子产品5的DC连接端与DC信号接口12电连接，并通过底座PCB板与DC信号连接装置11电连接，从而使电子产品5的DC连接端与DC信号连接装置11电连接；电子产品5的AC连接端与上盖2的AC信号接口电连接，AC信号接口通过上盖PCB板与AC信号连接装置21电连接，从而使电子产品5的AC信号接口与AC信号连接装置21电连接。
当需要进行老化时，只需要将DC信号连接装置11和AC信号连接装置21依次与老化设备电连接，即可完成电子产品5的老化；当需要进行测试时，只需要将DC信号连接装置11和AC信号连接装置21依次与测试设备电连接，即可完成电子产品5的测试。由此，本发明的老化测试治具同时实现了老化以及测试的功能，采用该治具整个操作简单快速，大大提高了电子产品5的老化以及测试效率，从而提高了生产效率，有利于企业的规模化生产，特别适于现代化企业快速发展的需要。
同时，由于电子产品5的接口只需一次插拔即可完成多项老化及测试，从而避免对电子产品5的接口的磨损，有利于提高电子产品5的性能，延长其使用寿命。
本实施例中，作为优选的实施方案，当电子产品5为电源件时，DC信号接口12可设置为USB接口，根据不同的电子产品5的需要，DC信号接口12还可设置为其他形式的信号接口。
根据生产需要，底座1的产品放置槽14可以设置多个，产品放置槽14可呈两列设置，也可以呈一列设置。
具体的，底座1的一侧开设有DC安装槽，第一DC信号接口装置11与DC安装槽相配合且安装于DC安装槽内；
具体的，上盖2的一侧开设有AC安装槽，第一AC信号接口装置21与AC安装槽相配合且安装于AC安装槽内。
进一步的，上盖2与底座1相对的内表面开设有插孔24，AC信号接口设置于插孔24内。作为优选的实施方案，AC信号接口为金属弹片，当电子产品5的AC连接端插入该插孔24时，电子产品5的AC连接端与金属弹片触接，金属弹片通过上盖PCB板与AC信号连接装置21电连接，从而使电子产品5的AC连接端与AC信号连接装置21电连接。当然，AC信号接口还可以采用其他具有导电性的接口装置，以起到将电子产品5与AC信号连接装置21进行电连接的作用。
进一步的，底座1与上盖2铰接，以使上盖2可相对于底座1翻转，便于打开上盖1，取放电子产品5。
上盖2的内表面设置有第一固定座23，第一固定座23设置有铰链轴231，底座1的内表面设置有第二固定座13，第二固定座13开设有穿孔131，铰链轴231穿设于穿孔131。
本发明的老化测试治具的工作原理如下：
使用时，电子产品5安装于底座1的产品放置槽14内，电子产品5的DC连接端与底座1的DC信号接口12连接，并通过底座PCB板与DC信号连接装置11电连接，从而使电子产品5的DC连接端与DC信号连接装置11电连接，然后翻转上盖2，使上盖2与底座1合拢，此时，电子产品5的AC连接端与AC信号接口电连接，AC信号接口通过上盖PCB板与AC信号连接装置21电连接，从而使电子产品5的AC连接端与AC信号连接装置21电连接。
当对电子产品5进行老化时，只需要将DC信号连接装置11和AC信号连接装置21依次与老化设备电连接，即可完成电子产品5的老化；
当对电子产品5进行测试时，只需要将DC信号连接装置11和AC信号连接装置21依次与测试设备电连接，即可完成电子产品5的测试。
实施例2
本实施例的一种老化测试治具参见图1和图4，在实施例1的基础上，在本实施例中未解释的特征，采用实施例1中的解释，在此不再进行赘述。本实施例与实施例1的区别在于：
老化测试治具还包括有锁扣装置3，用于当上盖与底座1合拢时，将其锁住，而不发生相对移动。
锁扣装置3包括有固定于底座1的第一支座31、固定于上盖2的第二支座32、以及锁扣臂33，锁扣臂33的一端卡接于第一支座31，锁扣臂33的另一端铰接于第二支座32。
具体的，锁扣臂33呈倒L形，锁扣臂33的弯折部332设置有铰接轴34，该铰接轴34与第二支座32铰接，铰接轴34套设有扭簧341。
具体的，第一支座31开设有卡槽311，锁扣臂33的一端设置有与该卡槽311相匹配的卡凸331。
使用时，当电子产品5安装至产品放置槽14内后，将上盖2翻转至底座的上方并合拢，将锁扣臂33一端的卡凸331卡接于第一支座31的卡槽311中，锁扣装置3即可将上盖2与底座1锁紧；
当老化及测试完成后，按压锁扣臂33的弯折部332，使卡凸331由卡槽311中脱离，即可打开锁扣装置3，然后翻转上盖2，可将电子产品5取出。
实施例3
本实施例的一种老化测试治具参见图1、图5至图8，在实施例1的基础上，在本实施例中未解释的特征，采用实施例1中的解释，在此不再进行赘述。本实施例与实施例1的区别在于：
参照图5，老化测试治具还包括有负载装置4，用于提供老化时所需的电子负载。
参照图6，负载装置4包括有壳体41、基座42、以及设置于基座42的负载DC信号连接装置43和负载AC信号连接装置44，其中：
参照图8，基座42下方设置有电源421、时序板422和电子负载423，从而为提供老化时所需的电源和电子负载。
参照图7，壳体41的底部设置有导电铜板411，通过该导电铜板411可对负载装置4进行通电老化。
当对电子产品5进行老化时，可直接将底座1放置于负载装置4的基座42，将DC信号连接装置11和负载DC信号连接装置43电连接，AC信号连接装置21和负载AC信号连接装置44电连接，然后将负载装置4连接老化设备，即可完成对电子产品5的老化。工作时，可同时将多个与负载装置4连接的老化测试治具连接老化设备，则可批量地完成电子产品5的老化，大大提高了生产效率，而且减少对电子产品5接口的拔插次数，有利于提高电子产品5的质量，延长其使用寿命。
具体的，DC信号连接装置11、AC信号连接装置21、负载DC信号连接装置43以及负载AC信号连接装置44均设置有两个，可分别与不同的老化或是测试设备电连接，有利于进一步提高老化及测试效率。
参照图1和图8，老化测试治具的底座1和上盖2均设置有定位柱15，负载装置4设置有与该定位柱15相配合的定位孔45，将老化测试治具与负载装置4安装时，以起到准确定位的作用。
进一步的，壳体41设置有散热风扇46，便于老化时快速的将热量散发出去。
实施例4
本实施例的一种老化测试治具参见图8，在实施例3的基础上，在本实施例中未解释的特征，采用实施例3中的解释，在此不再进行赘述。本实施例与实施例3的区别在于：
基座42设置有无线传感器424，便于对老化测试治具以及负载装置4的自动化控制。
可将与负载装置4连接的老化测试治具用于一条自动化老化生产线，通过输送装置将该老化测试治具输送至老化设备中，该无线传感器423可将老化过程的数据实时地传送至控制系统，从而实现对电子产品5的自动化控制，实现无需操作，从而大大提高生产效率，节约生产成本。
最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对本发明保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本发明作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的实质和范围。
Claims (10)
1.一种老化测试治具，其特征在于：包括有底座和设置于底座上方的上盖，所述底座设置有底座PCB板，所述底座PCB板设置有DC信号连接装置，所述底座与所述上盖相对的内表面开设有产品放置槽，所述产品放置槽内设置有DC信号接口，所述DC信号接口通过所述底座PCB板与所述DC信号连接装置电连接；
所述上盖内设置有上盖PCB板，所述上盖PCB板设置有AC信号连接装置和与所述AC信号连接装置电连接的AC信号接口。
2.根据权利要求1所述的一种老化测试治具，其特征在于：所述底座的一侧开设有DC安装槽，所述DC信号接口装置与所述DC安装槽相配合且安装于所述DC安装槽内；
所述上盖的一侧开设有AC安装槽，所述AC信号接口装置与所述AC安装槽相配合且安装于所述AC安装槽内。
3.根据权利要求1所述的一种老化测试治具，其特征在于：所述上盖与所述底座相对的内表面开设有插孔，所述AC信号接口设置于所述插孔内。
4.根据权利要求1所述的一种老化测试治具，其特征在于：所述底座与所述上盖铰接。
5.根据权利要求4所述的一种老化测试治具，其特征在于：所述上盖的内表面设置有第一固定座，所述第一固定座设置有铰链，所述底座的内表面设置有第二固定座，所述第二固定座开设有穿孔，所述铰链轴穿设于所述穿孔。
6.根据权利要求1所述的一种老化测试治具，其特征在于：所述老化测试治具还包括有锁扣装置，所述锁扣装置包括有固定于所述底座的第一支座、固定于所述上盖的第二支座、以及锁扣臂，所述锁扣臂的一端卡接于所述第一支座，所述锁扣臂的另一端铰接于所述第二支座。
7.根据权利要求6所述的一种老化测试治具，其特征在于：所述锁扣臂呈倒L形，所述锁扣臂的弯折部设置有铰接轴，所述铰接轴与所述第二支座铰接，所述铰接轴套设有扭簧；
所述第一支座开设有卡槽，所述锁扣臂的一端设置有与所述卡槽相匹配的卡凸。
8.根据权利要求1所述的一种老化测试治具，其特征在于：所述老化测试治具还包括有负载装置，所述负载装置包括有壳体、基座、以及设置于基座的负载DC信号连接装置和负载AC信号连接装置，所述基座下方设置有电源、时序板和电子负载，所述壳体的底部设置有导电铜板；
所述底座设置于所述负载装置的基座，所述DC信号连接装置和所述负载DC信号连接装置电连接，所述AC信号连接装置和所述负载AC信号连接装置电连接。
9.根据权利要求8所述的一种老化测试治具，其特征在于：所述DC信号连接装置、所述AC信号连接装置、所述负载DC信号连接装置以及所述负载AC信号连接装置均设置有两个。
10.根据权利要求8所述的一种老化测试治具，其特征在于：所述老化测试治具的底座和上盖均设置有定位柱，所述负载装置设置有与所述定位柱相配合的定位孔。
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