CN112394237A - 一种测试电感元件恒定电流装置及其方法 - Google Patents
一种测试电感元件恒定电流装置及其方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN112394237A CN112394237A CN201910743342.5A CN201910743342A CN112394237A CN 112394237 A CN112394237 A CN 112394237A CN 201910743342 A CN201910743342 A CN 201910743342A CN 112394237 A CN112394237 A CN 112394237A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- constant current
- constant
- temperature
- inductance element
- range
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 96
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 18
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 title claims description 60
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 57
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims abstract description 57
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims abstract description 57
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 9
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005485 electric heating Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本发明涉及一种测试电感元件恒定电流装置及其方法,该装置包括:底板,底板设置于水平面上,底板的两侧边上设有第一螺丝孔;固定机构,固定机构设置于底板上,固定机构包括平面板、两铜块、两电极接线铜柱及四个第一螺丝;下压机构,下压机构包括两第二螺丝及可调杠杆;恒流源测试仪,恒流源测试仪设置于底板的一侧且连接电感元件;温度测试仪,温度测试仪设置于底板的另一侧且连接电感元件,利用本发明的测试电感元件恒定电流装置及其方法,不仅有效测出电感元件的恒定电流、恒定温度及恒定感抗,并且适用于不同尺寸的电感元件,还大大提高电感元件的测试效率。
Description
【技术领域】
本发明涉及测试电感元件的技术领域,具体涉及一种测试电感元件恒定电流装置及其方法。
【背景技术】
目前电子计算机产品内电感元件成为电路板中常用零件,由于电感元件型号多,并且电感元件具有滤波、稳压及抗干扰等功能,因此测试电感元件的恒定电流、恒定温度及恒定感抗已作为常规的测试项目,现阶段针对电感元件的测试方法为:在焊接电感元件的电路板两端使用导线连接,并且将导线连接恒流源仪器,然后将温度测试器的电热丝连接电感元件,经过一定时间,利用恒流源仪器及温度测试器测试电感元件的恒定电流、恒定温度及恒定感抗,并且判断其是否在额定电流、额定温度及额定感抗范围内,若恒定电流、恒定温度及恒定感抗均在额定电流、额定温度及额定感抗范围内,则测试成功;若其中任意一项不在额定电流、额定温度及额定感抗范围内,则测试失败,然而该测试方法无法适用于不同尺寸的电感元件,由于电感元件的型号多且尺寸不同,会造成电感元件焊接于电路板的板材需求量增大,成本增加,从而产生电感元件的测试效率降低的问题。
有鉴于此,实有必要提供一种测试电感元件恒定电流装置及其方法,以解决现阶段的测试方法产生的电路板需求量增大、成本增加及电感元件的测试效率降低的问题。
【发明内容】
本发明的目的在于提供一种测试电感元件恒定电流装置及其方法,以解决现阶段的测试方法产生的电路板需求量增大、成本增加及电感元件的测试效率降低的问题,本发明提供一种测试电感元件恒定电流装置,其包括:
底板,所述底板设置于水平面上,所述底板的两侧边上设有第一螺丝孔;
固定机构,所述固定机构设置于所述底板上,所述固定机构包括平面板、两铜块、两电极接线铜柱及四个第一螺丝,所述平面板设置于所述底板的上表面,所述两铜块分别相对设置于所述平面板上,所述两铜块分别设有两条形孔,所述两铜块之间设有一定距离,所述两电极接线铜柱分别设置于所述两铜块上表面的一侧边,所述四个第一螺丝分别设置于所述条形孔内;
下压机构,所述下压机构包括两第二螺丝及可调杠杆,所述两第二螺丝分别设置于所述第一螺丝孔内,所述可调杠杆的一端连接于所述第二螺丝;
恒流源测试仪,所述恒流源测试仪设置于所述底板的一侧且连接电感元件;
温度测试仪,所述温度测试仪设置于所述底板的另一侧且连接电感元件。
可选的,所述测试电感元件恒定电流装置还包括一通电线路,所述通电线路连接所述电极接线铜柱、所述恒流源测试仪及所述温度测试仪,所述通电线路的连接方式为串联。
可选的,所述电感元件的额定电流范围为5-10安培,额定温度范围为70-100摄氏度,额定感抗范围为0.2-0.5欧姆。
可选的,所述铜块及所述电极接线铜柱具有良好的导电性。
可选的,所述恒流源测试仪设有开关,所述开关连接一电源。
可选的,所述底板、所述平面板及所述可调杠杆的材料为亚克力材料。
可选的,所述温度测试仪上设有电热丝,所述电热丝连接电感元件。
本发明还提供一种测试电感元件恒定电流方法,其包括以下步骤:
(1)利用通电线路串联连接电极接线铜柱、恒流源测试仪及温度测试仪;
(2)利用铜块及可调杠杆将电感元件固定于两铜块之间;
(3)开关接通电源,经过一定时间后,恒流源测试仪测试电感元件的恒定电流;
(4)判断恒定电流是否在额定电流范围内;
(5)恒定电流在额定电流范围内,温度测试仪测试电感元件的恒定温度;
(6)恒定电流不在额定电流范围内,测试失败;
(7)判断恒定温度是否在额定温度范围内;
(8)恒定温度在额定温度范围内,恒流源测试仪测试电感元件的恒定感抗;
(9)恒定温度不在额定温度范围内,测试失败;
(10)判断恒定感抗是否在额定感抗范围内;
(11)恒定感抗在额定感抗范围内,测试成功;
(12)若恒定感抗不在额定感抗范围内,测试失败。
可选的,所述电感元件的两端分别设有电极,所述两铜块利用第一螺丝调节其之间的距离,从而固定不同尺寸的电感元件,所述可调杠杆利用第二螺丝调节下压固定电感元件的高度,从而保证电感元件的电极与所述铜块接触良好。
可选的,所述温度测试仪测试恒定温度的前提条件为电感元件的温度稳定,所述恒流源测试恒定感抗的前提条件为电感元件的自身温度冷却至一定温度。
相较于现有技术,本发明的测试电感元件恒定电流装置及其方法首先通过调节两铜块之间的距离,固定不同尺寸的电感元件,其次,通过调节可调杠杆的高度进行下压固定电感元件,同时,温度测试仪的电热丝连接电感元件,接着,开关接通电源,经过一定时间后,当恒流源测试仪测试电感元件的恒定电流在额定电流范围内,利用温度测试仪测试其恒定温度,若恒定电流不在额定电流范围内,则测试失败;当温度测试仪测试电感元件的恒定温度在额定温度范围内,利用恒流源测试仪测试其恒定感抗,若恒定温度不在额定温度范围内,则测试失败;当电感元件的自身温度冷却至一定温度后,恒流源测试仪测试电感元件的恒定感抗在额定感抗范围内,则测试成功,若恒定感抗不在额定感抗范围内,则测试失败,利用本发明的测试电感元件恒定电流装置及其方法,不仅有效测出电感元件的恒定电流、恒定温度及恒定感抗,并且适用于不同尺寸的电感元件,还大大提高电感元件的测试效率。
【附图说明】
图1是本发明的测试电感元件恒定电流装置的结构示意图。
图2是本发明的测试电感元件恒定电流装置的固定机构的第一结构示意图。
图3是本发明的测试电感元件恒定电流装置的固定机构的第二结构示意图。
图4是本发明的测试电感元件恒定电流装置的固定机构于一较佳实施例中的结构示意图。
图5是本发明的测试电感元件恒定电流装置于一较佳实施例中的结构示意图。
图6是本发明的测试电感元件恒定电流方法的示意图。
【具体实施方式】
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果,以下结合本发明的一较佳实施例及其附图进行详细描述。
请参阅图1、图2及图3所示,图1是本发明的测试电感元件恒定电流装置的结构示意图,图2是本发明的测试电感元件恒定电流装置的固定机构的第一结构示意图,图3是本发明的测试电感元件恒定电流装置的固定机构的第二结构示意图,所述测试电感元件恒定电流装置100包括:
底板110,所述底板110设置于水平面上,所述底板110的两侧边上设有第一螺丝孔,所述底板110用于固定所述固定机构120,所述第一螺丝孔用于固定所述第二螺丝131;
固定机构120,所述固定机构120设置于所述底板110上,所述固定机构120包括平面板121、两铜块122、两电极接线铜柱123及四个第一螺丝124,所述平面板121设置于所述底板110的上表面,所述两铜块122分别相对设置于所述平面板121上,所述两铜块122分别设有两条形孔,所述两铜块122之间设有一定距离,所述两电极接线铜柱123分别设置于所述两铜块122上表面的一侧边,所述四个第一螺丝124分别设置于所述条形孔内,所述平面板121用于固定所述铜块122,所述铜块122用于固定电感元件,所述电极接线铜柱123用于导电,所述第一螺丝124用于调节所述两铜块122之间的距离;
下压机构130,所述下压机构130包括两第二螺丝131及可调杠杆132,所述两第二螺丝131分别设置于所述第一螺丝孔内,所述可调杠杆132的一端连接于所述第二螺丝131,所述第二螺丝131用于固定所述可调杠杆132,所述可调杠杆132用于下压固定电感元件;
恒流源测试仪140,所述恒流源测试仪140设置于所述底板110的一侧且连接电感元件,所述恒流源测试仪140用于测试电感元件的恒定电流及恒定感抗;
温度测试仪(图未视),所述温度测试仪(图未视)设置于所述底板110的另一侧且连接电感元件,所述温度测试仪(图未视)用于测试电感元件的恒定温度。
其中,所述测试电感元件恒定电流装置100还包括一通电线路150,所述通电线路150连接所述电极接线铜柱123、所述恒流源测试仪140及所述温度测试仪(图未视),所述通电线路150的连接方式为串联,所述通电线路150用于通电连接所述测试电感元件恒定电流装置100。
其中,所述电感元件的额定电流范围为5-10安培,额定温度范围为70-100摄氏度,额定感抗范围为0.2-0.5欧姆。
其中,所述铜块122及所述电极接线铜柱123具有良好的导电性。
其中,所述恒流源测试仪140设有开关,所述开关连接一电源,所述开关用于接通电源后开闭或关闭所述测试电感元件恒定电流装置100。
其中,所述底板110、所述平面板121及所述可调杠杆132的材料为亚克力材料,由于所述底板110、所述平面板121及所述可调杠杆132的材料为亚克力材料,使得所述底板110、所述平面板121及所述可调杠杆132绝缘不导电。
其中,所述温度测试仪140上设有电热丝,所述电热丝连接电感元件。
请参阅图4及图5所示,图4是本发明的测试电感元件恒定电流装置的固定机构于一较佳实施例中的结构示意图,图5是本发明的测试电感元件恒定电流装置于一较佳实施例中的结构示意图,于本实施例中,首先调节第一螺丝124,将电感元件10固定于两铜块122之间,使得电感元件10的电极充分接触铜块122,其次,利用通电线路150将电极接线铜柱123与恒流源测试仪140串联连接,当电感元件10固定于两铜块122之间后,利用第二螺丝131调节可调杠杆132的下压高度,同时,温度测试仪(图未视)的电热丝连接电感元件10,接着,可调杠杆132下压固定电感元件10,开关接通电源,经过3小时,当电感元件10电流稳定,恒流源测试仪140测出电感元件10的恒定电流为6安培,恒定电流6安培在额定电流5-10安培的范围内,下一步继续测试其恒定温度,若恒定电流不在额定电流范围内,则测试结束;当电感元件10温度稳定,温度测试仪测出电感元件10的恒定温度为80摄氏度,恒定温度80摄氏度在额定温度范围70-100摄氏度内,下一步继续测试其恒定感抗,若恒定温度不在额定温度范围内,则测试结束;当电感元件10温度冷却至28摄氏度时,恒流源测试仪140测试电感元件10的恒定感抗为0.3欧姆,恒定感抗0.3欧姆在额定感抗范围0.2-0.5欧姆内,测试成功,若恒定感抗不在额定感抗范围内,则测试失败,最后,开关断开电源,取出电感元件10。
请参阅图6所示,图6是本发明的测试电感元件恒定电流方法的示意图,所述测试电感元件恒定电流方法包括以下步骤:
S101:利用通电线路串联连接电极接线铜柱、恒流源测试仪及温度测试仪;
S102:利用铜块及可调杠杆将电感元件固定于两铜块之间;
S103:开关接通电源,经过一定时间后,恒流源测试仪测试电感元件的恒定电流;
S104:判断恒定电流是否在额定电流范围内;
S105:恒定电流在额定电流范围内,温度测试仪测试电感元件的恒定温度;
S106:恒定电流不在额定电流范围内,测试失败;
S107:判断恒定温度是否在额定温度范围内;
S108:恒定温度在额定温度范围内,恒流源测试仪测试电感元件的恒定感抗;
S109:恒定温度不在额定温度范围内,测试失败;
S110:判断恒定感抗是否在额定感抗范围内;
S111:恒定感抗在额定感抗范围内,测试成功;
S112:若恒定感抗不在额定感抗范围内,测试失败。
其中,所述电感元件的两端分别设有电极,所述两铜块利用第一螺丝调节其之间的距离,从而固定不同尺寸的电感元件,所述可调杠杆利用第二螺丝调节下压固定电感元件的高度,从而保证电感元件的电极与所述铜块接触良好。
其中,所述温度测试仪测试恒定温度的前提条件为电感元件的温度稳定,所述恒流源测试恒定感抗的前提条件为电感元件的自身温度冷却至一定温度。
相较于现有技术,本发明的测试电感元件恒定电流装置100及其方法首先通过调节两铜块122之间的距离,固定不同尺寸的电感元件10,其次,通过调节可调杠杆132的高度进行下压固定电感元件10,同时,将温度测试仪(图未视)的电热丝连接电感元件10,接着,开关接通电源,经过一定时间后,当恒流源测试仪140测试电感元件10的恒定电流在额定电流范围内,温度测试仪(图未视)测试其恒定温度,当恒定温度在额定温度范围内,恒流源测试仪140测试其恒定感抗,当恒定感抗在额定感抗范围内,测试成功,说明电感元件10合格,利用本发明的测试电感元件恒定电流装置100及其方法,不仅有效测出电感元件10的恒定电流、恒定温度及恒定感抗,并且适用于不同尺寸的电感元件10,还大大提高电感元件10的测试效率。
需指出的是,本发明不限于上述实施方式,任何熟悉本专业的技术人员基于本发明技术方案对上述实施例所作的任何简单修改,等同变化与修饰均落入本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种测试电感元件恒定电流装置,其特征在于,包括:
底板,所述底板设置于水平面上,所述底板的两侧边上设有第一螺丝孔;
固定机构,所述固定机构设置于所述底板上,所述固定机构包括平面板、两铜块、两电极接线铜柱及四个第一螺丝,所述平面板设置于所述底板的上表面,所述两铜块分别相对设置于所述平面板上,所述两铜块分别设有两条形孔,所述两铜块之间设有一定距离,所述两电极接线铜柱分别设置于所述两铜块上表面的一侧边,所述四个第一螺丝分别设置于所述条形孔内;
下压机构,所述下压机构包括两第二螺丝及可调杠杆,所述两第二螺丝分别设置于所述第一螺丝孔内,所述可调杠杆的一端连接于所述第二螺丝;
恒流源测试仪,所述恒流源测试仪设置于所述底板的一侧且连接电感元件;
温度测试仪,所述温度测试仪设置于所述底板的另一侧且连接电感元件。
2.根据权利要求1所述的测试电感元件恒定电流装置,其特征在于,所述测试电感元件恒定电流装置还包括一通电线路,所述通电线路连接所述电极接线铜柱、所述恒流源测试仪及所述温度测试仪,所述通电线路的连接方式为串联。
3.根据权利要求1所述的测试电感元件恒定电流装置,其特征在于,所述电感元件的额定电流范围为5-10安培,额定温度范围为70-100摄氏度,额定感抗范围为0.2-0.5欧姆。
4.根据权利要求1所述的测试电感元件恒定电流装置,其特征在于,所述铜块及所述电极接线铜柱具有良好的导电性。
5.根据权利要求1所述的测试电感元件恒定电流装置,其特征在于,所述恒流源测试仪设有开关,所述开关连接一电源。
6.根据权利要求1所述的测试电感元件恒定电流装置,其特征在于,所述底板、所述平面板及所述可调杠杆的材料为亚克力材料。
7.根据权利要求1所述的测试电感元件恒定电流装置,其特征在于,所述温度测试仪上设有电热丝,所述电热丝连接电感元件。
8.一种测试电感元件恒定电流方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)利用通电线路串联连接电极接线铜柱、恒流源测试仪及温度测试仪;
(2)利用铜块及可调杠杆将电感元件固定于两铜块之间;
(3)开关接通电源,经过一定时间后,恒流源测试仪测试电感元件的恒定电流;
(4)判断恒定电流是否在额定电流范围内;
(5)恒定电流在额定电流范围内,温度测试仪测试电感元件的恒定温度;
(6)恒定电流不在额定电流范围内,测试失败;
(7)判断恒定温度是否在额定温度范围内;
(8)恒定温度在额定温度范围内,恒流源测试仪测试电感元件的恒定感抗;
(9)恒定温度不在额定温度范围内,测试失败;
(10)判断恒定感抗是否在额定感抗范围内;
(11)恒定感抗在额定感抗范围内,测试成功;
(12)若恒定感抗不在额定感抗范围内,测试失败。
9.根据权利要求8所述的测试电感元件恒定电流方法,其特征在于,所述电感元件的两端分别设有电极,所述两铜块利用第一螺丝调节其之间的距离,从而固定不同尺寸的电感元件,所述可调杠杆利用第二螺丝调节下压固定电感元件的高度,从而保证电感元件的电极与所述铜块接触良好。
10.根据权利要求8所述的测试电感元件恒定电流方法,其特征在于,所述温度测试仪测试恒定温度的前提条件为电感元件的温度稳定,所述恒流源测试恒定感抗的前提条件为电感元件的自身温度冷却至一定温度。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910743342.5A CN112394237B (zh) | 2019-08-13 | 2019-08-13 | 一种测试电感元件恒定电流装置及其方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910743342.5A CN112394237B (zh) | 2019-08-13 | 2019-08-13 | 一种测试电感元件恒定电流装置及其方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN112394237A true CN112394237A (zh) | 2021-02-23 |
CN112394237B CN112394237B (zh) | 2024-06-11 |
Family
ID=74602521
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201910743342.5A Active CN112394237B (zh) | 2019-08-13 | 2019-08-13 | 一种测试电感元件恒定电流装置及其方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN112394237B (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114089230A (zh) * | 2021-10-27 | 2022-02-25 | 许继电源有限公司 | 用于电感故障实验的隔爆工装 |
Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB460118A (en) * | 1935-06-08 | 1937-01-21 | Marconi Wireless Telegraph Co | Improvements in or relating to frequency control lines, for use in radio transmitters and for like purposes |
US3679972A (en) * | 1971-04-26 | 1972-07-25 | Lion Precision Corp | Micrometer thickness gage |
US4899102A (en) * | 1988-06-13 | 1990-02-06 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Electrode system for a parallel plate dielectric analyzer |
JPH1092662A (ja) * | 1996-09-12 | 1998-04-10 | Nissin High Voltage Co Ltd | 可変リアクトル制御装置 |
CN101795073A (zh) * | 2008-08-05 | 2010-08-04 | 技领半导体(上海)有限公司 | 控制反激式转换器输出电流的方法及其相关电源转换器 |
CN201796056U (zh) * | 2010-08-11 | 2011-04-13 | 阿滨仪器(天津)有限公司 | 电池夹具 |
CN201837647U (zh) * | 2010-11-08 | 2011-05-18 | 中国计量学院 | 一种阻抗测试夹具 |
CN202230139U (zh) * | 2011-10-20 | 2012-05-23 | 桐乡市耀润电子有限公司 | 用于测试扼流圈的电感测试仪 |
KR200467222Y1 (ko) * | 2011-11-30 | 2013-06-07 | 김근효 | 통전용 볼트와 계측용 리드 단자봉의 결합구조 |
CN103743431A (zh) * | 2013-11-21 | 2014-04-23 | 江苏太平洋液压机械制造有限公司 | 一种在线多功能螺母检测装置 |
US9318249B1 (en) * | 2013-11-21 | 2016-04-19 | Sprint Communications Company L.P. | Mechanical hub |
WO2016095127A1 (zh) * | 2014-12-17 | 2016-06-23 | 阿尔斯通技术有限公司 | 绝缘介电响应测试系统 |
CN107942143A (zh) * | 2017-12-15 | 2018-04-20 | 华中科技大学 | 一种测量固体介质相对介电常数的实验装置 |
CN207882362U (zh) * | 2018-03-03 | 2018-09-18 | 无锡诚赢科技有限公司 | 电源高压包综合测试仪 |
KR101974172B1 (ko) * | 2018-06-01 | 2019-04-30 | (주) 나노에이스 | 크기가 다른 반도체칩 검사를 위한 변위형 지지체 |
-
2019
- 2019-08-13 CN CN201910743342.5A patent/CN112394237B/zh active Active
Patent Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB460118A (en) * | 1935-06-08 | 1937-01-21 | Marconi Wireless Telegraph Co | Improvements in or relating to frequency control lines, for use in radio transmitters and for like purposes |
US3679972A (en) * | 1971-04-26 | 1972-07-25 | Lion Precision Corp | Micrometer thickness gage |
US4899102A (en) * | 1988-06-13 | 1990-02-06 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Electrode system for a parallel plate dielectric analyzer |
JPH1092662A (ja) * | 1996-09-12 | 1998-04-10 | Nissin High Voltage Co Ltd | 可変リアクトル制御装置 |
CN101795073A (zh) * | 2008-08-05 | 2010-08-04 | 技领半导体(上海)有限公司 | 控制反激式转换器输出电流的方法及其相关电源转换器 |
CN201796056U (zh) * | 2010-08-11 | 2011-04-13 | 阿滨仪器(天津)有限公司 | 电池夹具 |
CN201837647U (zh) * | 2010-11-08 | 2011-05-18 | 中国计量学院 | 一种阻抗测试夹具 |
CN202230139U (zh) * | 2011-10-20 | 2012-05-23 | 桐乡市耀润电子有限公司 | 用于测试扼流圈的电感测试仪 |
KR200467222Y1 (ko) * | 2011-11-30 | 2013-06-07 | 김근효 | 통전용 볼트와 계측용 리드 단자봉의 결합구조 |
CN103743431A (zh) * | 2013-11-21 | 2014-04-23 | 江苏太平洋液压机械制造有限公司 | 一种在线多功能螺母检测装置 |
US9318249B1 (en) * | 2013-11-21 | 2016-04-19 | Sprint Communications Company L.P. | Mechanical hub |
WO2016095127A1 (zh) * | 2014-12-17 | 2016-06-23 | 阿尔斯通技术有限公司 | 绝缘介电响应测试系统 |
CN107942143A (zh) * | 2017-12-15 | 2018-04-20 | 华中科技大学 | 一种测量固体介质相对介电常数的实验装置 |
CN207882362U (zh) * | 2018-03-03 | 2018-09-18 | 无锡诚赢科技有限公司 | 电源高压包综合测试仪 |
KR101974172B1 (ko) * | 2018-06-01 | 2019-04-30 | (주) 나노에이스 | 크기가 다른 반도체칩 검사를 위한 변위형 지지체 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
YANG XU等: "A high-precision constant current primary side controller with inductance compensation", 《2015 IEEE INTERNATIONAL TELECOMMUNICATIONS ENERGY CONFERENCE (INTELEC)》 * |
雷冬阁等: "一种高精度开关式电感测试仪的设计", 《计算机测量与控制》, vol. 25, no. 12 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114089230A (zh) * | 2021-10-27 | 2022-02-25 | 许继电源有限公司 | 用于电感故障实验的隔爆工装 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN112394237B (zh) | 2024-06-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN103703381B (zh) | 功率器件用的探针卡 | |
CN101408601B (zh) | 单相多功能电能表校验台自动短路自动接线装置 | |
CN102662154A (zh) | 单相智能电能表交流电压脉冲电压测试工装 | |
CN102590667B (zh) | 一种老化测试治具 | |
TWI256476B (en) | Connector for measurement of electrical resistance and production process thereof, and measuring apparatus and measuring method of electrical resistance for circuit board | |
CN106405274B (zh) | 电子元件老化测试装置 | |
CN103852707B (zh) | 一种功率半导体芯片测试工装 | |
CN112394237A (zh) | 一种测试电感元件恒定电流装置及其方法 | |
CN105277863A (zh) | 一种功率放大器老化装置 | |
CN111175644A (zh) | 一种电路板测试辅助装置、测试系统和测试方法 | |
CN201903617U (zh) | 耐高压测试装置 | |
KR20110045406A (ko) | 캐패시터 뱅크 및 이를 적용한 전력 반도체 모듈 테스트 장치 | |
CN216646782U (zh) | 一种可拆卸变压器测试装置 | |
CN115639446A (zh) | 一种选择性电容测试装置 | |
US20140354317A1 (en) | Circuit board inspection apparatus, circuit board inspection method and circuit board inspection tool | |
KR20030025839A (ko) | 전자부품 측정장치 및 측정방법 | |
CN209656841U (zh) | 一种用于高压电容器耐压测试的装置 | |
CN207571277U (zh) | 电源电性检测系统 | |
CN205643618U (zh) | 多功能测试座 | |
CN210015190U (zh) | 一种耐压检测装置 | |
CN219395149U (zh) | 一种用于igbt的连接结构 | |
CN220473650U (zh) | 一种适用于sot23-3封装芯片老炼试验的老炼板 | |
CN219201888U (zh) | 一种电器件同名端测试用治具 | |
CN221174940U (zh) | 一种探针棒式电池交直流内阻测试仪用清零工装 | |
CN109581244B (zh) | 大功率便携式无感负载箱 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |