CN106093481A - 测试治具及测试方法 - Google Patents

测试治具及测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106093481A
CN106093481A CN201610453117.4A CN201610453117A CN106093481A CN 106093481 A CN106093481 A CN 106093481A CN 201610453117 A CN201610453117 A CN 201610453117A CN 106093481 A CN106093481 A CN 106093481A
Authority
CN
China
Prior art keywords
side plate
tested
product
measurement jig
plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201610453117.4A
Other languages
English (en)
Inventor
陈希龄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Heyuan Bokang Electronic Co Ltd
Original Assignee
Heyuan Bokang Electronic Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Heyuan Bokang Electronic Co Ltd filed Critical Heyuan Bokang Electronic Co Ltd
Priority to CN201610453117.4A priority Critical patent/CN106093481A/zh
Publication of CN106093481A publication Critical patent/CN106093481A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/40Testing power supplies

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)

Abstract

本发明公开一种测试治具及测试方法,测试治具包括基座、连接组件及插头;连接组件包括插座、连接接口及连接头;插座用于安装待测试产品,并为待测试产品供电;连接接口用于与待测试产品的输出端连接;连接头一端与连接接口电连接,另一端用于与测试装置电连接,以将待测试产品输出的电信号传递至测试装置;插头一端与插座电连接,另一端用于与外部电源电连接,以为插座供电。本发明的技术方案,通过在同一基座上设置数组连接组件,每一连接组件可对一电源产品进行安装测试,当测试工位测试完成后,不需要将电源产品拔下,直接整组移至下一测试工位,进而有效减少电源产品的插拔次数,提升测试速度,保证了电源产品外观的美观度。

Description

测试治具及测试方法
技术领域
本发明涉及测试技术领域,特别涉及一种测试治具及测试方法。
背景技术
随着电子市场的发展,越来越多的移动终端(比如手机、平板电脑等)进入到人们的日常生活中。电源产品作为移动终端的附属产品也必不可少。
电源产品的出场之前,需要经过严格的测试,以保证其为优良品。而电源产品的好坏一般体现在其抗老化性能上。现有的电源产品的生产厂家,在电源产品生产完成后,首先测试其是否能正常工作,如果能正常工作,则再测试其抗老化性。在能否正常工作的测试过程中,现有的方法是:将电源产品与测试治具电连接,然后再将测试治具与测试台电连接,并通过测试软件进行测试,测试完成后,再将电源产品由测试治具上拔下,然后在装盘,进入老化性能测试工位。在老化测试工位还需要将电源产品进行拔插动作。这种测试方法中,操作人员需要多长插拔电源产品,导致测试效率低下,且可能导致刮花电源产品外观的状况发生。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种测试治具及测试方法,旨在有效减少电源产品的拔插次数,进而有效提升测试效率。
为实现上述目的,本发明提出的测试治具,包括基座、连接组件及插头;其中,
所述连接组件至少为两组;每组所述连接组件包括插座、连接接口及连接头;所述插座用于安装待测试产品,并为所述待测试产品供电;所述连接接口用于与待测试产品的输出端连接;所述连接头一端与所述连接接口电连接,另一端用于与测试装置电连接,以将所述待测试产品输出的电信号传递至所述测试装置;
所述插头一端与所述插座电连接,另一端用于与外部电源电连接,以为所述插座供电。
优选的,所述连接接口包括USB接口、TYPE-C接口、DC接口、Lighting接口。
优选的,所述基座包括底板、连接于所述底板,且依次连接的第一侧板、第二侧板、第三侧板与第四侧板;所述第一侧板与所述第三侧板相对设置,所述第二侧板与所述第四侧板相对设置;所述插座及所述连接接口均安装于所述底板上,所述插头及所述连接头均安装于所述第一侧板上,且均延伸于所述第一侧板外。
优选的,所述底板、第二侧板、第三侧板与第四侧板一体成型;所述第一侧板分别与所述底板、第二侧板及第四侧板可拆卸连接。
优选的,所述底板上对应所述第一侧板设有第一插槽;所述第二侧板上对应所述第一侧板设有第二插槽;所述第四侧板上对应所述第一侧板设有第三插槽;所述第一侧板对应所述第一插槽设有第一插入部,对应第二插槽设有第二插入部,对用第三插槽设有第三插入部。
优选的,所述测试治具还包括盖板,所述盖板盖设于所述基座上,所述插座贯穿所述盖板延伸于所述盖板外。
优选的,所述盖板通过螺钉锁合的方式固定安装于所述底板上。
优选的,所述底板上设有数个用于支撑所述盖板的支撑立柱。
优选的,所述盖板对应所述第一侧板的一端设有抵挡部;当所述盖板安装于所述基座时,所述抵挡部抵压于所述第一侧板上方。
本发明还提出一种测试方法,包括如下步骤:
将数个待测试产品分别安装于数个所述插座上,并将所述待测试产品的输出端与所述连接接口电连接;
将安装有待测试产品的测试治具安装于第一测试工位的测试台上,以使得数个所述待测试产品串联连接,以完成第一测试工位的测试;
将安装有待测试产品的测试治具与第一测试工位的测试台分离,安装于第二测试工位的测试台上,并将负载与待测试产品电连接,以完成第二测试工位的测试。
本发明的技术方案,通过在同一基座上设置数组连接组件,每一连接组件可对一电源产品进行安装测试,当测试工位测试完成后,不需要将电源产品拔下,直接整组移至下一测试工位,进而有效减少电源产品的插拔次数,提升测试速度;且由于减少了插拔次数,进而减少了操作员与电源产品的接触次数,可以有效避免对电源产品外观的伤害,保证了电源产品外观的美观度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1本为发明测试治具一实施例的立体结构示意图;
图2为图1所示测试治具的立体分解结构示意图;
图3为本发明测试方法一实施例的流程图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施方式,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施方式仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
本发明提出一种测试治具。
参照图1,图1本为发明测试治具一实施例的立体结构示意图。
本实施例的测试治具包括基座100、连接组件200及插头300。
所述连接组件200至少为两组;每组所述连接组件200包括插座220、连接接口240及连接头260;所述插座220用于安装待测试产品(未图示),并为所述待测试产品供电;所述连接接口240用于与待测试产品的输出端连接;所述连接头260一端与所述连接接口240电连接,另一端用于与测试装置(未图示)电连接,以将所述待测试产品输出的电信号传递至所述测试装置;所述插头300一端与所述插座220电连接,另一端用于与外部电源(未图示)电连接,以为所述插座220供电。
具体的,在本实施例中,所述待测试产品为电源产品(比如充电器等)。所述外部电源可以是直流电源或交流电源。所述连接接口240可为USB接口、TYPE-C接口、DC接口、Lighting接口等常用的接口。测试时,将电源产品安装在所述插座220上,将电源产品的输出端连接于所述连接接口240,然后将所述测试治具与测试装置通过所述插头300及所述连接头260电连接。其中所述插头300具体用于与外部电源电连接,以为所述插座220供电,进而为所述电源产品供电。所述连接头260用于将所述插座220串联或并联连接,以实现不同的测试。
本实施例的测试治具,通过在同一基座100上设置数组连接组件200,每一连接组件200可对一电源产品进行安装测试,当测试工位(能否正常工作测试工位)测试完成后,不需要将电源产品拔下,直接整组移至下一测试工位(抗老化性能测试工位),进而有效减少电源产品的插拔次数,提升测试速度;且由于减少了插拔次数,进而减少了操作员与电源产品的接触次数,可以有效避免对电源产品外观的伤害,保证了电源产品外观的美观度。
进一步的,如图2所示,并参考图1,图2为图1所示测试治具的立体分解结构示意图。
在本实施例中,所述基座100包括底板110、连接于所述底板110,且依次连接的第一侧板120、第二侧板130、第三侧板140与第四侧板150;所述第一侧板120与所述第三侧板140相对设置,所述第二侧板130与所述第四侧板150相对设置;所述底板110、第一侧板120、第二侧板130、第三侧板140与第四侧板150围成一容纳空间(未标识),所述插座220及所述连接接口240均安装于所述容纳空间内,所述插头240及所述连接头260的一端设于所述容纳空间内,另一端伸出所述容纳空间外。具体的,所述插座220于所述连接接口240均通过螺钉锁合的方式固定安装于所述底板110上,所述插头240及所述连接头260均安装于所述第一侧板120上,且均延伸于所述第一侧板120外。
进一步的,所述底板110、第二侧板130、第三侧板140与第四侧板150一体成型;所述第一侧板120分别与所述底板110、第二侧板130及第四侧板150可拆卸连接。
具体的,所述底板110上对应所述第一侧板120设有第一插槽112;所述第二侧板130上对应所述第一侧板120设有第二插槽132;所述第四侧板150上对应所述第一侧板120设有第三插槽152;所述第一侧板120对应所述第一插槽112设有第一插入部(未图示),对应第二插槽132设有第二插入部123,对用第三插槽152设有第三插入部125。组装时,将所述第一侧板120第一插入部与第二插入部123由远离所述底板110的一端插入所述第二插槽132与所述第三插槽152,至所述第三插入部125插入所述第三插槽152即可,操作简单方便。
进一步的,所述测试治具还包括盖板160,所述盖板160盖设于所述基座100上,所述插座220贯穿所述盖板160延伸于所述盖板160外。
具体的,所述底板110上设有数个用于支撑所述盖板160的支撑立柱102。所述支撑立柱102的周边设有螺柱104,所述盖板160通过螺钉锁合的方式固定安装于所述底板110的螺柱104上。所述盖板160与所述底板110之间设有线缆,用于电连接所述插座220与所述插头240。
进一步的,所述盖板160对应所述第一侧板120的一端设有抵挡部162;当所述盖板160安装于所述基座100时,所述抵挡部162抵压于所述第一侧板120上方,用于将所述第一侧板120进行限位,避免所述第一侧板120由所述第一插槽112、第二插槽132及第三插槽152内脱出。
本发明还提出一种基于上述任意一实施例的测试治具的测试方法。
参照图3,并参考图1及图2,图3为本发明测试方法一实施例的流程图。
本实施例的测试方法包括如下步骤:
步骤S10、将数个待测试产品分别安装于数个所述插座220上,并将所述待测试产品的输出端与所述连接接口240电连接。
步骤S20、将安装有待测试产品的测试治具安装于第一测试工位(能否正常工作测试工位)的测试台上,以使得数个所述待测试产品串联连接,以完成第一测试工位的测试。
步骤S30、将安装有待测试产品的测试治具与第一测试工位的测试台分离,安装于第二测试工位(抗老化性能测试工位)的测试台上,并将负载与待测试产品电连接,以完成第二测试工位的测试。
本实施例的测试方法,由于采用了上述实施例的测试治具,具有与上述实施例相同的技术效果,在此不再赘述。
以上仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种测试治具,其特征在于,包括基座、连接组件及插头;其中,所述连接组件至少为两组;每组所述连接组件包括插座、连接接口及连接头;所述插座用于安装待测试产品,并为所述待测试产品供电;所述连接接口用于与待测试产品的输出端连接;所述连接头一端与所述连接接口电连接,另一端用于与测试装置电连接,以将所述待测试产品输出的电信号传递至所述测试装置;
所述插头一端与所述插座电连接,另一端用于与外部电源电连接,以为所述插座供电。
2.如权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述连接接口包括USB接口、TYPE-C接口、DC接口、Lighting接口。
3.如权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述基座包括底板、连接于所述底板,且依次连接的第一侧板、第二侧板、第三侧板与第四侧板;所述第一侧板与所述第三侧板相对设置,所述第二侧板与所述第四侧板相对设置;所述插座及所述连接接口均安装于所述底板上,所述插头及所述连接头均安装于所述第一侧板上,且均延伸于所述第一侧板外。
4.如权利要求2所述的测试治具,其特征在于,所述底板、第二侧板、第三侧板与第四侧板一体成型;所述第一侧板分别与所述底板、第二侧板及第四侧板可拆卸连接。
5.如权利要求4所述的测试治具,其特征在于,所述底板上对应所述第一侧板设有第一插槽;所述第二侧板上对应所述第一侧板设有第二插槽;所述第四侧板上对应所述第一侧板设有第三插槽;所述第一侧板对应所述第一插槽设有第一插入部,对应第二插槽设有第二插入部,对用第三插槽设有第三插入部。
6.如权利要求5所述的测试治具,其特征在于,还包括盖板,所述盖板盖设于所述基座上,所述插座贯穿所述盖板延伸于所述盖板外。
7.如权利要求5所述的测试治具,其特征在于,所述盖板通过螺钉锁合的方式固定安装于所述底板上。
8.如权利要求7所述的测试治具,其特征在于,所述底板上设有数个用于支撑所述盖板的支撑立柱。
9.如权利要求6所述的测试治具,其特征在于,所述盖板对应所述第一侧板的一端设有抵挡部;当所述盖板安装于所述基座时,所述抵挡部抵压于所述第一侧板上方。
10.一种基于上述权利要求1至9中任意一项所述的测试治具的测试方法,其特征在于,包括如下步骤:
将数个待测试产品分别安装于数个所述插座上,并将所述待测试产品的输出端与所述连接接口电连接;
将安装有待测试产品的测试治具安装于第一测试工位的测试台上,以使得数个所述待测试产品串联连接,以完成第一测试工位的测试;
将安装有待测试产品的测试治具与第一测试工位的测试台分离,安装于第二测试工位的测试台上,并将负载与待测试产品电连接,以完成第二测试工位的测试。
CN201610453117.4A 2016-06-20 2016-06-20 测试治具及测试方法 Pending CN106093481A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610453117.4A CN106093481A (zh) 2016-06-20 2016-06-20 测试治具及测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610453117.4A CN106093481A (zh) 2016-06-20 2016-06-20 测试治具及测试方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN106093481A true CN106093481A (zh) 2016-11-09

Family

ID=57238293

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610453117.4A Pending CN106093481A (zh) 2016-06-20 2016-06-20 测试治具及测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106093481A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106602695A (zh) * 2016-11-24 2017-04-26 深圳市共进电子股份有限公司 一种双交流测试预上电装置
CN111879977A (zh) * 2020-07-23 2020-11-03 苏州润弘安创自动化科技有限公司 一种连接组件及测试治具

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201788198U (zh) * 2010-07-15 2011-04-06 康舒电子(东莞)有限公司 电源供应器测试载具
CN202083716U (zh) * 2011-06-03 2011-12-21 中达电子(江苏)有限公司 测试匣及测试载具组合
CN102590667A (zh) * 2012-02-10 2012-07-18 东莞市冠佳电子设备有限公司 一种老化测试治具
CN202837344U (zh) * 2012-09-29 2013-03-27 东莞市冠佳电子设备有限公司 一种电源适配器老化测试治具
CN203133118U (zh) * 2013-01-04 2013-08-14 航天科工防御技术研究试验中心 电连接器测试适配器
CN203519661U (zh) * 2013-09-23 2014-04-02 深圳市讯茂科技有限公司 开关电源的测试工装治具
US20150377924A1 (en) * 2013-06-28 2015-12-31 Hicon Co., Ltd. Socket device for testing semiconductor device
CN205049714U (zh) * 2015-08-07 2016-02-24 深圳市富源科电子有限公司 开关电源老化及测试的台面板
CN205941604U (zh) * 2016-06-20 2017-02-08 河源市博康电子有限公司 测试治具

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201788198U (zh) * 2010-07-15 2011-04-06 康舒电子(东莞)有限公司 电源供应器测试载具
CN202083716U (zh) * 2011-06-03 2011-12-21 中达电子(江苏)有限公司 测试匣及测试载具组合
CN102590667A (zh) * 2012-02-10 2012-07-18 东莞市冠佳电子设备有限公司 一种老化测试治具
CN202837344U (zh) * 2012-09-29 2013-03-27 东莞市冠佳电子设备有限公司 一种电源适配器老化测试治具
CN203133118U (zh) * 2013-01-04 2013-08-14 航天科工防御技术研究试验中心 电连接器测试适配器
US20150377924A1 (en) * 2013-06-28 2015-12-31 Hicon Co., Ltd. Socket device for testing semiconductor device
CN203519661U (zh) * 2013-09-23 2014-04-02 深圳市讯茂科技有限公司 开关电源的测试工装治具
CN205049714U (zh) * 2015-08-07 2016-02-24 深圳市富源科电子有限公司 开关电源老化及测试的台面板
CN205941604U (zh) * 2016-06-20 2017-02-08 河源市博康电子有限公司 测试治具

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106602695A (zh) * 2016-11-24 2017-04-26 深圳市共进电子股份有限公司 一种双交流测试预上电装置
CN106602695B (zh) * 2016-11-24 2019-11-26 深圳市共进电子股份有限公司 一种双交流测试预上电装置
CN111879977A (zh) * 2020-07-23 2020-11-03 苏州润弘安创自动化科技有限公司 一种连接组件及测试治具
CN111879977B (zh) * 2020-07-23 2023-02-28 苏州润弘安创自动化科技有限公司 一种连接组件及测试治具

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102002954B1 (ko) 배터리 팩 및 이러한 배터리 팩을 포함하는 자동차
US20140062399A1 (en) Electric vehicle charger
CN205565175U (zh) 插头连接器
CN106093481A (zh) 测试治具及测试方法
CN200997451Y (zh) 接线端子
CN205941604U (zh) 测试治具
CN201909801U (zh) 一种三相插拔式电能表具
CN116973833A (zh) 测试工装
CN203148978U (zh) 耐压测试设备连接装置
CN115296175A (zh) 一种能够便于拆卸接头的移动式配电柜
CN205159603U (zh) 带usb-c的扩展型连接器
CN103675393A (zh) 灯具纹波电流测试装置
CN205987364U (zh) 扬声器
CN210269950U (zh) 一种新型电能计量联合接线盒
CN205786931U (zh) 一种电能质量能效监测仪
CN207572820U (zh) 油气套管变压器试验专用工具
US7268535B2 (en) Hi-pot testing device with transfer table automatically connecting to testing signal generator
CN201210387Y (zh) 一种lcd屏背光供电结构电路
CN205374518U (zh) 接线盒检测架
CN210465566U (zh) 一种便携式电气试验箱
CN213023361U (zh) 一种无线充电接收端老化测试治具
CN216387286U (zh) 一种集成电路引脚开短路的测试装置
CN104459404B (zh) 充电器性能参数测试系统及治具
CN205450206U (zh) 一种用于熔断器测试的接线盒
CN212874888U (zh) 一种探测器与互感器的插拔式连接结构

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20161109

RJ01 Rejection of invention patent application after publication