CN102539985B - 一种自动老化和测试装置及其方法 - Google Patents

一种自动老化和测试装置及其方法 Download PDF

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Abstract

本发明涉及老化测试技术领域,具体的涉及一种自动老化和测试装置及其方法,其中,装置包括有机架、可配合使用的子治具和母治具、分别设置于机架的老化机构和测试机构、将子治具和母治具分离的分离机构、以及可控制分离机构、老化机构和测试机构的控制装置;分离机构包括有分离机机架、滑动设置于分离机机架的分离机械手、以及可将子治具和母治具分离的脱离机构。与现有技术相比,本发明自动老化和测试装置及其方法,实现了在一条生产线对电子产品的自动老化以及测试,具有生产效率高、产品质量稳定的优点。

Description

一种自动老化和测试装置及其方法
技术领域
本发明涉及老化测试技术领域,具体的涉及一种自动老化和测试装置及其方法。
背景技术
随着社会的发展,人们对电子产品的质量要求越来越高,为了提高电子产品的出厂质量,在出厂前需要对电子产品进行老化测试。现有技术中,对电子产品进行老化测试时,一般采用皮带传送的生产流程,其中所有老化及测试环节均由人工来操作,先是由作业人员逐一将产品放到老化治具上,然后将老化治具放入老化房内进行老化,老化完成后再逐一连接测试设备进行各种性能的测试,测试完成后再逐一将产品放回皮带并运送到下一个工位。显然,这种生产流程中,所有的老化以及测试工位都靠人工操作,占用大量人力资源,存在人员发生工伤的安全隐患,而且产品在老化及测试工位拿放多次,限制了产能的提高,不仅效率低而且产品质量不稳定,无法满足大批量的产品测试需求。
为解决上述技术问题,提高生产效率,中国发明专利(专利号:201020604668.4)公开了一种电源件流动式自动老化线,其技术方案包括有机架、可装卸电源的老化架、升降装置、运输线装置、老化装置以及控制装置,该过程虽然实现了老化测试工序的自动化,简化了老化工序,无需人工搬运和人工计时的操作流程,提高了生产效率,但是,其缺陷在于:1)上述自动老化线只是实现了对电子产品的老化工序的自动化控制,由于电子产品完成老化后,必须对其各种性能进行测试才能确保质量是否符合要求,显然,电子产品经该自动老化线出来后,还需要人工将电子产品连接测试设备以完成测试工序。因此,上述流动式自动老化线无法实现老化以及测试整个工序的连续自动化,而当大批量产品生产是,每次测试时,产品的安装及拆卸过程仍然耗费的大量的人力,其自动化程度较差;2)电子产品进行不同项目的老化测试时,需要与不同的测试设备进行电连接,在测试项目转换时,产品的接口需要多次插拔,对接口磨损大,而且容易刮伤产品,影响产品的使用寿命。
然而,要实现电子产品的老化及测试工序的全自动化操作,就需要将产品的输送、产品的安装及拆卸、产品输送与测试的对接、产品的老化及测试等所有工序全部集成在一条流水线上完成,这将是工业自动化发展的必然趋势。而目前,像这样的自动化流水线设备在国内尚没有企业能够生产。
因此,针对现有技术中的不足,亟需提供一条无需人工操作、生产效率高、产品质量稳定的自动老化和测试装置以及自动老化和测试的方法。
发明内容
本发明的目的之一在于避免现有技术中的不足之处而提供一种无需人工操作、生产效率高、产品质量稳定的自动老化和测试装置。
本发明的另一目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种无需人工操作、生产效率高、产品质量稳定的自动老化和测试方法。
本发明的目的通过以下技术方案实现:
提供一种自动老化和测试装置,包括有机架、可配合使用的子治具和母治具、分别设置于所述机架的老化机构和测试机构、将所述子治具和母治具分离的分离机构、以及可控制所述分离机构、老化机构和测试机构的控制装置;
所述分离机构包括有分离机机架、滑动设置于所述分离机机架的分离机械手、以及可将所述子治具和母治具分离的脱离机构。
其中,所述脱离机构包括有设置于所述分离机机架的前后移动气缸以及与所述前后移动气缸滑动连接的上下移动气缸,所述上下移动气缸设置有脱离爪;
所述脱离爪开设有U形槽。
其中,所述分离机械手包括有滑动设置于所述分离机机架的无杆气缸,与所述无杆气缸滑动连接的摆动气缸、与所述摆动气缸连接的升降气缸,所述升降气缸连接抓取机构;
所述分离机机架设置有推动气缸,所述推动气缸与所述无杆气缸连接。
其中,所述抓取机构包括有与所述升降气缸连接的气缸座、设置于所述气缸座的分开气缸、以及设置于所述分开气缸的抓手,所述抓手呈L形;
所述无杆气缸、摆动气缸、升降气缸和分开气缸均设置有无线传感器。
其中,所述子治具包括有底座和上盖,所述底座设置有底座PCB板,所述底座PCB板设置有子治具DC信号连接装置,所述底座与所述上盖相对的内表面开设有产品放置槽,所述产品放置槽内设置有DC信号接口,所述DC信号接口通过所述底座PCB板与所述子治具DC信号连接装置电连接,所述上盖内设置有上盖PCB板,所述上盖PCB板设置有子治具AC信号连接装置以及与所述子治具AC信号连接装置电连接的AC信号接口;
所述母治具包括有壳体、基座、以及设置于基座的母治具DC信号连接装置和母治具AC信号连接装置,所述基座下方设置有电源、时序板和电子负载;
当所述子治具和母治具配合使用时,所述子治具DC信号连接装置与所述母治具DC信号连接装置电连接,所述子治具AC信号连接装置与所述母治具AC信号连接装置电连接。
其中,还包括有用于将所述子治具和母治具输送至所述老化机构或者所述测试机构的平移机构,所述平移机构包括有老化端和测试端,所述老化端与所述老化机构的输入端连接,所述测试端与所述测试机构的输入端连接;
所述平移机构包括有平移机机架、设置于所述平移机机架的导轨气缸、以及用于输送所述子治具和母治具的平移载台,所述平移载台滑动设置于所述导轨气缸。
其中,所述平移载台设置有传动机构,所述传动机构包括有电机、与所述电机驱动连接的主动轮、与所述主动轮传动配合的从动轮;
所述主动轮的传动轴设置有第一锥齿轮、所述电机的输出轴设置有第二锥齿轮,所述第一锥齿轮与所述第二锥齿轮啮合。
其中,还包括有用于输送所述子治具和母治具的输送装置、设置于所述机架两端的子治具输入升降装置和子治具输出升降装置、母治具输入升降装置、以及子母治具组合机械手;
所述分离机构还包括有用于输送母治具的分离升降装置,所述分离升降装置的输出端与所述母治具输入升降装置的输入端连接。
本发明还提供一种自动老化和测试方法,包括有以下步骤:
步骤一、将装有电子产品的子治具和母治具在子母治具组合工位组合为组合治具;
步骤二、将所述组合治具输送至所述老化机构,所述组合治具与老化设备电连接进行老化;
步骤三、老化完成后,将所述组合治具输送至所述分离机构,所述分离机构将所述子治具和所述母治具分离;
步骤四、分离后的母治具返回至所述子母治具组合工位,同时,将分离后的子治具输送至所述测试机构,所述子治具与测试设备电连接进行测试;
步骤五、测试完成后,将电子产品卸载,然后空载的子治具返回至所述子母治具组合工位,从而完成电子产品的老化和测试。
其中,所述步骤二中,所述组合治具由平移机构输送至所述老化机构;
所述步骤三中,所述组合治具由平移机构输送至所述测试机构;
所述步骤四中,分离后的母治具依次由所述分离机构的分离升降装置和母治具输入升降装置返回至所述子母治具组合工位;
所述步骤五中,空载的子治具依次由所述子治具输出升降装置和子治具输入升降装置返回至所述子母治具组合工位。
本发明的有益效果:
本发明的一种自动老化和测试装置工作时,在上机位将电子产品装入子治具内,然后将子治具与母治具在子母治具组合工位组合后输送至老化机构进行自动老化,老化完成后,将子治具和母治具输送至分离机构,分离机构将子治具和母治具分离,分离后的母治具返回至子母治具组合工位,同时分离后的子治具进入测试机构进行自动测试,测试完成后,将电子产品卸载,子治具返回至上机位,从而在一条生产线上同时实现了电子产品的自动老化以及测试,整个过程无需人工操作,因此,本发明的自动老化和测试装置及其方法,自动化程度高,显著提高了生产效率,满足现代企业快速发展的需要,而且采用本发明的子治具和母治具,只需将其与老化设备或是测试设备电连接即可实现老化及测试,从而减少了对电子产品接口的磨损,其产品质量更稳定。
附图说明
图1为本发明的自动老化和测试装置的实施例1的结构示意图。
图2为本发明的自动老化和测试装置的实施例1的分离机构的结构示意图。
图3为本发明的自动老化和测试装置的实施例1的脱离机构的分解结构示意图。
图4为本发明的自动老化和测试装置的实施例1的分离机械手的结构示意图。
图5为本发明的自动老化和测试装置的实施例2的子治具和母治具的组合状态的结构示意图。
图6为本发明的自动老化和测试装置的实施例2的子治具的结构示意图。
图7为本发明的自动老化和测试装置的实施例2的子治具的底座的结构示意图。
图8为本发明的自动老化和测试装置的实施例2的子治具的上盖的结构示意图。
图9为本发明的自动老化和测试装置的实施例2的母治具的分解结构示意图。
图10为本发明的自动老化和测试装置的实施例3的平移机构的结构示意图。
图11为本发明的自动老化和测试装置的实施例3的平移载台的结构示意图。
图12为本发明的自动老化和测试装置的实施例4的分离机构的结构示意图。
图1至图12中包括有:
机架1、子治具输入升降装置11、子治具输出升降装置12、母治具输入升降装置13、子母治具组合机械手14;
子治具2、底座21、子治具DC信号连接装置211、DC信号接口212、产品放置槽213;
上盖22、子治具AC信号连接装置221;
锁扣装置23、第一支座231、第二支座232、锁扣臂233;
老化机构3;
母治具4、壳体41;
基座42、电源421、时序板422、电子负载423、无线传感器424;
母治具DC信号连接装置43、母治具AC信号连接装置44;
测试机构5;
分离机构6、分离机机架61、推动气缸611;
分离机械手62、无杆气缸621、摆动气缸622、升降气缸623;
脱离机构63、前后移动气缸631、上下移动气缸632、脱离爪633、U形槽6331;
抓取机构64、气缸座641、分开气缸642、抓手643;
分离升降装置65、升降架651;
平移机构7、平移机机架71、导轨气缸72;
平移载台73、电机731、主动轮732、第一锥齿轮7321、从动轮733;
条码扫描机构8、产品初测试机构9、电子产品10。
具体实施方式
下面结合实施例及附图对本发明作进一步详细的描述,但本发明的实施方式不限于此。
实施例1
本发明的一种自动老化和测试装置的实施例1如图1至图12所示,包括有机架1、可配合使用的子治具2和母治具4、分别设置于机架1的老化机构3和测试机构5、将子治具2和母治具4分离的分离机构6、以及可控制分离机构6、老化机构3和测试机构5的控制装置。
工作时,在上机位将电子产品10装入子治具2内,然后将子治具2与母治具4在子母治具组合工位组合后输送至老化机构3进行自动老化,老化完成后,将子治具2和母治具4输送至分离机构6,分离机构6将子治具2和母治具4分离,分离后的母治具4返回至子母治具组合工位,同时分离后的子治具2进入测试机构5进行自动测试,测试完成后,将电子产品10卸载,子治具2返回至上机位,从而在一条生产线上同时实现了电子产品10的自动老化以及测试,整个过程无需人工操作,自动化程度高,显著提高了生产效率,满足现代企业快速发展的需要,而且采用本发明的子治具和母治具,只需将其与老化设备或是测试设备电连接即可实现老化及测试,从而减少了对电子产品10接口的磨损,其产品质量更稳定。
参照图2,分离机构6包括有分离机机架61、滑动设置于分离机机架61的分离机械手62、以及可将子治具2和母治具4分离的脱离机构63。
参照图3,脱离机构63包括有设置于分离机机架61的前后移动气缸631以及与前后移动气缸滑动连接的上下移动气缸632,上下移动气缸设置有脱离爪633,其中,前后移动气缸631可驱动脱离爪633沿前后移动气缸631的气缸轴方向往复移动,上下移动气缸632可驱动脱离爪633沿垂直于脱离爪633所在的平面的方向上下移动。
脱离爪633开设有U形槽6331,该脱离爪633可将子治具2从母治具4中拉出,使子治具2和母治具4在水平方向上相对分离。
参照图4,分离机械手62包括有滑动设置于分离机机架61的无杆气缸621,与无杆气缸621滑动连接的摆动气缸622、与摆动气缸622连接的升降气缸623,升降气缸623连接抓取机构64,抓取机构64用于将分离子治具2和母治具4分离。其中,升降气缸623可驱动抓取机构64沿升降气缸623的气缸轴的方向上下移动,使无杆气缸621可驱动抓取机构64沿无杆气缸621的气缸轴的方向往复运动。
分离机机架61设置有推动气缸611,推动气缸611与无杆气缸621连接,以驱动无杆气缸621在无杆气缸621所在的平面内沿垂直于无杆气缸621的气缸轴的方向往复运动,由此,抓取机构64实现了三维空间的移动。
进一步的,抓取机构64包括有与升降气缸623连接的气缸座641、设置于气缸座641的分开气缸642、以及设置于分开气缸642的抓手643,抓手643呈L形,该抓手643可将子治具2勾住并拉起。
进一步的,无杆气缸621、摆动气缸622、升降气缸623、以及分开气缸642均设置有无线传感器,该无线传感器将其移动的位置信号实时的传送至控制装置,从而使分离机械手准确的抓取子治具2并将其与母治具4分离。
分离机构6的工作原理如下:
老化完成后,子治具2和母治具4进入分离机构6,脱离机构63的上下移动气缸632带动脱离爪633向上移动,使脱离爪633卡住子治具2的把手,然后前后移动气缸631带动脱离爪633移动并将子治具2从母治具4中拉出,使子治具2和母治具4在水平方向上相对分离,接着,分离机械手62的升降气缸623驱动抓取机构64向下移动,使抓手643下降到子治具2的手柄内,分开气缸642将抓手643弹开,然后升降气缸623带动抓取机构64上升而将子治具2拉起,此时,无杆气缸621带动抓取机构64沿无杆气缸621的气缸轴的方向移动,将子治具2放入下一个工序测试机构5的驳接平台上,最后,分开气缸642收紧,使抓手643从子治具2的中脱离。
实施例2
本实施例的一种自动老化和测试装置参见图5至图9,在实施例1的基础上,在本实施例中未解释的特征,采用实施例1中的解释,在此不再进行赘述。本实施例与实施例1的区别在于:
参照图6和图7,子治具2包括有底座21和设置于底座21上方的上盖22,底座21设置有底座PCB板,底座PCB板设置有子治具DC信号连接装置211,底座21与上盖22相对的内表面开设有产品放置槽213,用于放置电子产品10,产品放置槽213内设置有DC信号接口212,DC信号接口212通过底座PCB板与子治具DC信号连接装置211电连接;
参照图8,上盖22内设置有上盖PCB板,上盖PCB板设置有子治具AC信号连接装置221和与子治具AC信号连接装置221电连接的AC信号接口。
参照图9,母治具4用于提供子治具2所需的电子负载,其结构包括有壳体41、基座42、以及设置于基座42的母治具DC信号连接装置44和母治具AC信号连接装置44,其中:基座42下方设置有电源421、时序板422和电子负载423,从而为提供老化时所需的电源和电子负载。
参照图5,子治具2和母治具4组合后,子治具2的底座21设置于母治具4的基座42,子治具DC信号连接装置211和母治具DC信号连接装置43电连接,子治具AC信号连接装置221和母治具AC信号连接装置44电连接。当需要进行老化时,只需要将母治具DC信号连接装置43和母治具AC信号连接装置44依次与老化设备电连接,即可完成电子产品10的老化;当需要进行测试时,只需要将母治具DC信号连接装置43和母治具AC信号连接装置44依次与与测试设备电连接,即可完成电子产品10的测试。
具体的,当电子产品10为电源件时,DC信号接口212可设置为USB接口,根据不同的电子产品10的需要,DC信号接口212还可设置为其他形式的信号接口。
具体的,底座21的产品放置槽213可以设置多个,产品放置槽213可呈两列设置,也可以呈一列设置。
具体的,底座21与上盖22通过铰链铰接,以使上盖22可相对于底座21翻转,便于打开上盖1,取放电子产品10。
进一步的,子治具2还包括有锁扣装置23,用于当上盖22与底座21合拢时,将其锁住,而不发生相对移动。
锁扣装置23包括有固定于底座21的第一支座231、固定于上盖22的第二支座232、以及锁扣臂233,锁扣臂233的一端卡接于第一支座231,锁扣臂233的另一端铰接于第二支座232。
使用时,当电子产品10安装至产品放置槽113内后,将上盖22翻转至底座的上方并合拢,锁扣装置23即可将上盖22与底座21锁紧;当老化及测试完成后,按压锁扣臂233即可打开锁扣装置23,然后翻转上盖22,可将电子产品10取出。
本发明的子治具2和母治具4,可自动实现老化以及测试的功能,无需另外连接电子负载,其操作过程简单快速,大大提高了电子产品10的老化以及测试效率。而且,由于电子产品10的接口只需一次插拔即可完成多项老化及测试,从而避免对电子产品10的接口的磨损,使电子产品10的性能更稳定。
实施例3
本实施例的一种自动老化和测试装置参见图10和图11,在实施例1的基础上,在本实施例中未解释的特征,采用实施例1中的解释,在此不再进行赘述。本实施例与实施例1的区别在于:
参照图10,自动老化和测试装置还包括有用于将子治具2和母治具4输送至老化机构3或者测试机构5的平移机构7,平移机构7包括有老化端和测试端,老化端与老化机构3的输入端连接,测试端与测试机构5的输入端连接,从而实现子治具2和母治具4由老化到测试工序之间的过渡。
参照图11,平移机构7包括有平移机机架71、设置于平移机机架71的导轨气缸72、以及用于输送子治具2和母治具4的平移载台73,平移载台73滑动设置于导轨气缸72,其中,导轨气缸72可带动平移载台73横向滑动。
具体的,平移载台73设置有传动机构,当平移载台73移动到老化端或测试端时,传动机构可驱动子治具2和母治具4进入老化机构3或测试机构5。
具体的,传动机构包括有电机731、与电机731驱动连接的主动轮732、与主动轮732传动配合的从动轮733。
进一步的,主动轮732的传动轴设置有第一锥齿轮7321、电机731的输出轴设置有第二锥齿轮,第一锥齿轮7321与第二锥齿轮啮合。
实施例4
本实施例的一种自动老化和测试装置参见图1和图12,在实施例1的基础上,在本实施例中未解释的特征,采用实施例1中的解释,在此不再进行赘述。本实施例与实施例1的区别在于:
参照图1,本实施例的自动老化和测试装置还包括有用于输送子治具2和母治具4的输送装置、设置于机架1两端的子治具输入升降装置11和子治具输出升降装置12、母治具输入升降装置13、以及子母治具组合机械手14。其中,输送装置采用传动链条,以实现子治具2和母治具4在各个工序当中的连续传送,子治具2完成测试后,依次由子治具输出升降装置12和子治具输入升降装置11返回至上机位。
参照图12,分离机构6还包括有用于输送母治具4的分离升降装置65,分离升降装置65的输出端与母治具输入升降装置13的输入端连接。分离后的母治具4进入分离升级装置65的升降架651,然后经母治具输入升降装置13返回至子母治具组合工位,等待子母治具组合机械手14将子治具2与母治具4组合。
实施例5
本实施例的一种自动老化和测试装置参见图1,在实施例1的基础上,在本实施例中未解释的特征,采用实施例1中的解释,在此不再进行赘述。本实施例与实施例1的区别在于:
参照图1,本实施例的自动老化和测试装置还包括有条码扫描机构8和产品初测试机构9,其中,条码扫描机构设置于机架工作台的入口,电子产品10在上机位先通过条码扫描机构将其数据信息传送至控制装置,以便于控制装置可根据条码信息区分每一个电子产品10。
产品初测试机构9设置于条码扫描机构8和子母治具组合机械手14之间,用以检测电子产品在未进行老化前是否通电良好,如经过检测不符合要求,则可以将该不符合要求的电子产品排除,不需要进行后续老化及测试的工序,从而节约生产成本。
实施例6
本实施例的一种自动老化和测试方法,参见图1所示,该方法包括有以下步骤:
步骤一、将装有电子产品10的子治具2和母治具4在子母治具组合工位组合为组合治具;
步骤二、将组合治具输送至老化机构3,组合治具与老化设备电连接进行老化;
步骤三、老化完成后,将组合治具输送至分离机构6,分离机构6将子治具2和母治具4分离;
步骤四、分离后的母治具4返回至子母治具组合工位,同时,将分离后的子治具2输送至测试机构5,子治具2与测试设备电连接进行测试;
步骤五、测试完成后,将电子产品10卸载,然后空载的子治具2返回至子母治具组合工位,从而完成电子产品10的老化和测试。
具体的步骤二中,组合治具由平移机构7输送至老化机构3;
具体的,步骤三中,组合治具由平移机构7输送至测试机构5。
具体的,步骤四中,分离后的母治具4依次由分离机构6的分离升降装置65和母治具输入升降装置13返回至子母治具组合工位;
具体的,步骤五中,空载的子治具2依次由子治具输出升降装置12和子治具输入升降装置11返回至子母治具组合工位。
进一步的,在步骤一之前,电子产品10在上机位先通过条码扫描机构8将电子产品的数据信息传送至控制装置,以便于控制装置可根据条码信息区分每一个电子产品10。
进一步的,在步骤一之前,电子产品10经过条码扫描工序后,进入产品初测试机构9的工位,用以检测电子产品在未进行老化前是否通电良好,如经过检测不符合要求,则可以通过机械手将该不符合要求的电子产品10挑出来,不需要进行后续老化及测试的工序,从而节约生产成本。
由此,上述方法将电子产品10的老化及测试工序全部集成在一条流水线上完成,实现了子治具2和母治具4的组合与分离、老化与测试的连续自动化,减少了各个环节的人工操作,从而大大提高了生产效率。
最后应当说明的是,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对本发明保护范围的限制,尽管参照较佳实施例对本发明作了详细地说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本发明技术方案的实质和范围。

Claims (8)

1.一种自动老化和测试装置,其特征在于:包括有机架、可配合使用的子治具和母治具、分别设置于所述机架的老化机构和测试机构、将所述子治具和母治具分离的分离机构、以及控制所述分离机构、老化机构和测试机构的控制装置;
所述分离机构包括有分离机机架、滑动设置于所述分离机机架的分离机械手、以及将所述子治具和母治具分离的脱离机构;
所述脱离机构包括有设置于所述分离机机架的前后移动气缸以及与所述前后移动气缸滑动连接的上下移动气缸,所述上下移动气缸设置有脱离爪;
所述脱离爪开设有U形槽;
所述子治具包括有底座和上盖,所述底座设置有底座PCB板,所述底座PCB板设置有子治具DC信号连接装置,所述底座与所述上盖相对的内表面开设有产品放置槽,所述产品放置槽内设置有DC信号接口,所述DC信号接口通过所述底座PCB板与所述子治具DC信号连接装置电连接,所述上盖内设置有上盖PCB板,所述上盖PCB板设置有子治具AC信号连接装置以及与所述子治具AC信号连接装置电连接的AC信号接口;
所述母治具包括有壳体、基座、以及设置于基座的母治具DC信号连接装置和母治具AC信号连接装置,所述基座下方设置有电源、时序板和电子负载;
当所述子治具和母治具配合使用时,所述子治具DC信号连接装置与所述母治具DC信号连接装置电连接,所述子治具AC信号连接装置与所述母治具AC信号连接装置电连接。
2. 根据权利要求1所述的一种自动老化和测试装置,其特征在于:所述分离机械手包括有滑动设置于所述分离机机架的无杆气缸,与所述无杆气缸滑动连接的摆动气缸、与所述摆动气缸连接的升降气缸,所述升降气缸连接抓取机构;
所述分离机机架设置有推动气缸,所述推动气缸与所述无杆气缸连接。
3.根据权利要求2所述的一种自动老化和测试装置,其特征在于:所述抓取机构包括有与所述升降气缸连接的气缸座、设置于所述气缸座的分开气缸、以及设置于所述分开气缸的抓手,所述抓手呈L形;
所述无杆气缸、摆动气缸、升降气缸和分开气缸均设置有无线传感器。
4.根据权利要求1所述的一种自动老化和测试装置,其特征在于:还包括有用于将所述子治具和母治具输送至所述老化机构或者所述测试机构的平移机构,所述平移机构包括有老化端和测试端,所述老化端与所述老化机构的输入端连接,所述测试端与所述测试机构的输入端连接;
所述平移机构包括有平移机机架、设置于所述平移机机架的导轨气缸、以及用于输送所述子治具和母治具的平移载台,所述平移载台滑动设置于所述导轨气缸。
5.根据权利要求4所述的一种自动老化和测试装置,其特征在于:所述平移载台设置有传动机构,所述传动机构包括有电机、与所述电机驱动连接的主动轮、与所述主动轮传动配合的从动轮;
所述主动轮的传动轴设置有第一锥齿轮、所述电机的输出轴设置有第二锥齿轮,所述第一锥齿轮与所述第二锥齿轮啮合。
6.根据权利要求4所述的一种自动老化和测试装置,其特征在于:还包括有用于输送所述子治具和母治具的输送装置、设置于所述机架两端的子治具输入升降装置和子治具输出升降装置、母治具输入升降装置、以及子母治具组合机械手;
所述分离机构还包括有用于输送母治具的分离升降装置,所述分离升降装置的输出端与所述母治具输入升降装置的输入端连接。
7.一种自动老化和测试方法,其特征在于:使用如权利要求6所述的自动老化和测试装置,包括有以下步骤:
步骤一、将装有电子产品的子治具和母治具在子母治具组合工位组合为组合治具;
步骤二、将所述组合治具输送至所述老化机构,所述组合治具与老化设备电连接进行老化;
步骤三、老化完成后,将所述组合治具输送至所述分离机构,所述分离机构将所述子治具和所述母治具分离;
步骤四、分离后的母治具返回至所述子母治具组合工位,同时,将分离后的子治具输送至所述测试机构,所述子治具与测试设备电连接进行测试;
步骤五、测试完成后,将电子产品卸载,然后空载的子治具返回至所述子母治具组合工位,从而完成电子产品的老化和测试。
8.根据权利要求7所述的一种自动老化和测试方法,其特征在于:所述步骤二中,所述组合治具由平移机构输送至所述老化机构;
所述步骤三中,所述组合治具由平移机构输送至所述测试机构;
所述步骤四中,分离后的母治具依次由所述分离机构的分离升降装置和母治具输入升降装置返回至所述子母治具组合工位;
所述步骤五中,空载的子治具依次由所述子治具输出升降装置和子治具输入升降装置返回至所述子母治具组合工位。
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