CN102323716A - 一种纳米结构的图形转移制作方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种纳米结构的图形转移制作方法,属于集成电路和微纳电子机械系统加工领域。本发明以光刻胶作为掩膜,基于普通光刻机在一次套刻的工艺条件下,对微米级线条进行部分曝光,刻蚀金属,将微米级线条变为纳米级线条,实现纳米级结构尺寸的图形转换,他将广泛应用于MEMS和集成电路工艺中,使纳米器件工艺简化,降低成本。
Description
所属领域
本发明属于集成电路和微纳电子机械系统加工领域,尤其涉及一种微纳电子工艺中的纳米结构的图形转移及制作方法。
背景技术
纳米科学是现代科学的前沿,而纳米制造就是将纳米科学的新发现转变为前沿制造技术。目前主要的纳米图形转移及制作方法主要有纳米压印、LIGA技术和电子束光刻等,纳米压印技术可以实现大面积高精度的模板结构复制,然而其产能和对准能力受到限制,而且压印过程中所需的高压力很容易造成模板的损伤。电子束光刻的精度足够,但基于它的扫描曝光原理产能低。步进式光刻机目前可以满足精度和产能两方面的需求,然而其成本昂贵,同时,普通光刻设备又不能对纳米尺度结构进行光刻。
美国麻省理工学院纳米空间技术实验室的Chih-Hao Chang等人提出了多级干涉光刻的方法制备线宽为50nm的纳米结构(Fabrication of 50nm period gratings with multilevel interferencelithography),然而其方法需要配备额外的光路系统,增加系统的复杂程度和加工成本。
发明内容
本发明的目的是:为了克服现有纳米结构制作方法的成本高、效率低的缺点,本发明提出了一种纳米结构的图形转移制作方法,基于普通光刻实现纳米级结构尺寸的图形转换的制作方法,具有幅面大、效率高、成本低的特点。
本发明的技术方案是:一种纳米结构的图形转移制作方法,包括如下步骤:
步骤1:标准清洗玻璃基底片1,在洁净的玻璃基底片1正面溅射金属2,并在金属2上旋涂光刻胶3。
步骤2:以线宽为A结构的掩模板为掩膜,在正面旋涂光刻胶3的玻璃基底片1上进行曝光,显影,此时线宽为A结构的图形转移到玻璃基底片1正面的光刻胶3上;继续以光刻胶3为掩膜刻蚀金属2,最后去除光刻胶3。
步骤3:在去除光刻胶3的玻璃基底片1上喷涂第二层光刻胶3,保证金属2表面光刻胶3的均匀性。
步骤4:再以步骤2中使用的线宽为A结构的掩模板为掩膜,通过对准标记进行套刻对准,使得该对准与步骤2中的光刻对准错开距离B,将玻璃基底片1上的A线宽的B部分进行曝光,显影,将玻璃基底片1上的(A-B)线宽的结构部分被光刻胶3保护,其中A≥1μm,A-B≥365nm,365nm为普通光刻机光源波长。
步骤5:以光刻胶3为掩膜,刻蚀金属2,将暴露部分的金属2刻蚀干净。
步骤6:去除光刻胶3,玻璃基底片上的金属结构的线宽变为(A-B),至此,纳米结构制作完成。
本发明的有益效果是:本发明以光刻胶作为掩膜,基于普通光刻机在一次套刻的工艺条件下,对微米级线条进行部分曝光,刻蚀金属,将微米级线条变为纳米级线条,实现纳米级结构尺寸的图形转换,他将广泛应用于MEMS和集成电路工艺中,使纳米器件工艺简化,降低成本。
附图说明
图1是本发明提出的纳米结构的图形转移制作方法流程图
图2是实施例中最终制作出的线宽为0.5μm金属Cr线条结构示意图
图中:1-玻璃基底片,2-金属,3-光刻胶
具体实施方法
本实施例中给出了一种如图2所示的栅条状纳米结构的图形转移制作方法,具体包括如下步骤:
步骤1:选用厚度200μm双面抛光玻璃基底片1,在温度为120℃,体积比为4∶1的98%浓硫酸和30%过氧化氢溶液中沸煮30分钟,然后分别放在温度为75℃,体积比为1∶1∶5的28%氨水,30%过氧化氢和水的碱性过氧化氢溶液,和温度为75℃,体积比为1∶1∶5的36%盐酸、30%过氧化氢和水的酸性过氧化氢溶液中,各浸泡10分钟,最后用去离子水将玻璃基底片1冲洗干净并烘干,完成标准清洗。在玻璃基底片1正面溅射厚度为50nm的金属2,本实施例中,金属2材料为Cr,并在金属Cr上旋涂厚度为200nm的光刻胶3,如图1(a)所示。
步骤2:以线宽为1μm栅条结构的掩模板为掩膜,在旋涂厚度为200nm的光刻胶3的玻璃基底片1上采用SUSS MA6光刻机进行曝光,显影,此时线宽为1μm的栅条结构的图形转移到玻璃基底片1的正面。并以光刻胶3为掩膜在温度为20℃、体积比为1∶1的9%(NH4)2Ce(NO3)6)和6%HClO4溶液中刻蚀金属Cr,如图1(b)所示。
步骤3:在去除光刻胶3的玻璃基底片1上喷涂厚度为200nm的光刻胶3,保证金属Cr表面光刻胶3的均匀性,如图1(c)所示。
步骤4:再以线宽为1μm栅条结构的掩模板为掩膜,通过对准标记进行套刻对准,将玻璃基底片1上的线宽为1μm的栅条结构的一半在SUSS MA6光刻机上进行曝光,显影;这样,玻璃基底片1上的线宽为1μm的栅条结构的一半被光刻胶3保护,其余部分暴露,如图1(d)所示。
步骤5:以光刻胶3为掩膜,在温度为20℃、体积比为1∶1的9%(NH4)2Ce(NO3)6)和6%HClO4溶液中刻蚀,将暴露部分的金属Cr刻蚀干净,而被光刻胶3保护部分的金属Cr作为结构保留下来,如图1(e)所示。
步骤6:在温度为120℃,,体积比为4∶1的98%浓硫酸和30%过氧化氢溶液中沸煮30分钟,去除光刻胶3,玻璃基底片上的金属Cr栅条结构的线宽变为0.5μm,至此,本实施例中的栅条状纳米结构的制作完成,如图1(f)所示。
Claims (2)
1.一种纳米结构的图形转移制作方法,包括如下步骤:
步骤1:标准清洗玻璃基底片(1),在洁净的玻璃基底片(1)正面溅射金属(2),并在金属(2)上旋涂光刻胶(3);
步骤2:以线宽为A结构的掩模板为掩膜,在正面旋涂光刻胶(3)的玻璃基底片(1)上进行曝光,显影,此时线宽为A结构的图形转移到玻璃基底片(1)正面的光刻胶(3)上;继续以光刻胶(3)为掩膜刻蚀金属(2),最后去除光刻胶(3);
步骤3:在去除光刻胶(3)的玻璃基底片(1)上喷涂第二层光刻胶(3),保证金属(2)表面光刻胶(3)的均匀性;
步骤4:再以步骤2中使用的线宽为A结构的掩模板为掩膜,通过对准标记进行套刻对准,使得该对准与步骤2中的光刻对准错开距离B,将玻璃基底片(1)上的A线宽的B部分进行曝光,显影,将玻璃基底片(1)上的(A-B)线宽的结构部分被光刻胶(3)保护;
步骤5:以光刻胶(3)为掩膜,刻蚀金属(2),将暴露部分的金属(2)刻蚀干净;
步骤6:去除光刻胶(3),玻璃基底片上的金属结构的线宽变为(A-B),至此,纳米结构制作完成。
2.一种如权利要求1所述的纳米结构的图形转移制作方法,其特征在于:所述步骤4中,线宽A≥1μm,同时,A-B≥365nm。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN 201110190018 CN102323716A (zh) | 2011-07-07 | 2011-07-07 | 一种纳米结构的图形转移制作方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN 201110190018 CN102323716A (zh) | 2011-07-07 | 2011-07-07 | 一种纳米结构的图形转移制作方法 |
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---|---|
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Family
ID=45451481
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN 201110190018 Pending CN102323716A (zh) | 2011-07-07 | 2011-07-07 | 一种纳米结构的图形转移制作方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN102323716A (zh) |
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