CN102290427A - 线阵ccd的一种抗晕结构 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了线阵CCD的一种抗晕结构,本发明通过独特的结构设计使每个抗晕单元由两个信号单元共用,本发明的有益技术效果是:在像元数量一定的条件,可有效减少抗晕漏数量,由抗晕漏的数量减少所节省出的空间,可用于增加其他结构体的尺寸,如果用于增加存储栅的尺寸可提高信号的输出幅度,使线阵CCD的性能得到改善,或者由抗晕漏的数量减少使线阵CCD上的结构体可以设置得更加紧密,在像元数量相同的条件下,制作出小尺寸的线阵CCD,提高图象的采集效果。
Description
技术领域
本发明涉及一种电荷耦合器件,尤其涉及线阵CCD的一种抗晕结构。
背景技术
电荷耦合器件(CCD)按结构可分为线阵电荷耦合器件和面阵电荷耦合器件。 对于线阵CCD而言,如果没有抗晕结构,当某一像元接收到的信号较强时,信号会向相邻像元溢出,从宏观上看,即是一个很强的光点将会使得整幅图像变白,工程上称之为晕光;而抗晕结构可以有效地抑制晕光,当某一像元接收到的信号较强时,抗晕结构可以将多余信号抽走,阻止信号向相邻像元溢出,使多余信号不会对相邻像元造成影响。
传统线阵CCD的结构为:它包括设置在第一结构层上的多条存储栅和多条抗晕栅;设置在第二结构层上的多条N区信道、多个N-溢出势垒区和多个抗晕漏;存储栅和抗晕栅一一对应,相互对应的存储栅和抗晕栅的位置邻近设置,且相互对应的存储栅和抗晕栅之间通过SiO2隔离;互相匹配的抗晕栅和抗晕漏在水平方向上零间隙设置,N区信道与存储栅一一对应且位置相对(即二者在垂向上位置重叠),N-溢出势垒区与抗晕栅一一对应且位置相对(即二者在垂向上位置重叠),N-溢出势垒区与抗晕漏一一对应且相互接触;第一结构层和第二结构层之间通过SiO2层隔离,同一结构层上各个结构体以外的区域由沟阻填充;第二结构层的下端面连接在衬底上。由此所形成的线阵CCD结构为:位置互相匹配的一条存储栅、一条N区信道和一个N-溢出势垒区即形成一个信号单元;位置相互对应的一个抗晕漏和一条抗晕栅即形成一个抗晕单元;位置互相对应的一个信号单元和一个抗晕单元即形成一个像元,多个像元按线阵排列组成线阵CCD;
前述的结构即为现有的一个像元对应一个抗晕漏的线阵CCD,这种线阵CCD,其抗晕漏数量多,占用空间大,结构冗余度大,从不改变器件尺寸的方面来看,如果能够减少抗晕漏数量,则可以空出较多空间来增大其他结构体的尺寸,使线阵CCD性能得到改善;若从器件尺寸微型化的方面来看,如果能够减少抗晕漏数量,则可以使器件结构更加紧凑,在像元数量一定的情况,可以使器件更加小型化,使像元更加密集,采集图象的效果更好。
发明内容
针对背景技术中的问题,本发明提出了线阵CCD的一种抗晕结构,包括:设置在第一结构层上的存储栅和抗晕栅,设置在第二结构层上的N区信道、N-溢出势垒区和抗晕漏,第一结构层和第二结构层之间通过SiO2层隔离;位置互相匹配的一条存储栅、一条N区信道和一个N-溢出势垒区即形成一个信号单元;位置相互对应的一个抗晕漏和一条抗晕栅即形成一个抗晕单元;位置互相对应的一个信号单元和一个抗晕单元即形成一个像元,多个像元按线阵排列组成线阵CCD;
其改进在于:在第二结构层上,每间隔两个信号单元设置一抗晕单元,由抗晕单元两侧的信号单元共用一个抗晕单元;
具体来说:设有位置顺次排列的第一信号单元、第一抗晕单元和第二信号单元,第一信号单元和第二信号单元共用第一抗晕单元,第一信号单元和第一抗晕单元即形成第一像元,第二信号单元和第一抗晕单元即形成第二像元;
第一信号单元和第二信号单元各自对应一个N-溢出势垒区,两个N-溢出势垒区之间设置有一N型掺杂区,N型掺杂区用于抑制第一像元和第二像元内的信号相互溢出。
本发明的有益技术效果是:在像元数量一定的条件,可有效减少抗晕漏数量,由抗晕漏的数量减少所节省出的空间,可用于增加其他结构体的尺寸,如果用于增加存储栅的尺寸可提高信号的输出幅度,使线阵CCD的性能得到改善,或者由抗晕漏的数量减少使线阵CCD上的结构体可以设置得更加紧密,在像元数量相同的条件下,制作出小尺寸的线阵CCD,提高图象的采集效果。
附图说明
图1、现有的带抗晕结构的线阵CCD层状结构示意图;
图2、现有的带抗晕结构的线阵CCD,将SiO2层作透明处理后的俯视图;
图3、本发明的带抗晕结构的线阵CCD层状结构示意图;
图4、本发明的带抗晕结构的线阵CCD,将SiO2层作透明处理后的俯视图。
具体实施方式
本发明与现有技术所共有的结构为:包括:设置在第一结构层Ⅰ上的存储栅2和抗晕栅4,设置在第二结构层Ⅱ上的N区信道1、N-溢出势垒区4-1和抗晕漏3,第一结构层Ⅰ和第二结构层Ⅱ之间通过SiO25层隔离;位置互相匹配的一条存储栅2、一条N区信道1和一个N-溢出势垒区4-1即形成一个信号单元;位置相互对应的一个抗晕漏3和一条抗晕栅4即形成一个抗晕单元;位置互相对应的一个信号单元和一个抗晕单元即形成一个像元,多个像元按线阵排列组成线阵CCD;
本发明与现有技术的不同之处在于:在第二结构层Ⅱ上,每间隔两个信号单元设置一抗晕单元,由抗晕单元两侧的信号单元共用一个抗晕单元;
具体来说:设有位置顺次排列的第一信号单元、第一抗晕单元和第二信号单元,第一信号单元和第二信号单元共用第一抗晕单元,第一信号单元和第一抗晕单元即形成第一像元,第二信号单元和第一抗晕单元即形成第二像元;
第一信号单元和第二信号单元各自对应一个N-溢出势垒区4-1,两个N-溢出势垒区4-1之间设置有一N型掺杂区3-2,N型掺杂区3-2用于抑制第一像元和第二像元内的信号相互溢出。
本发明与现有技术最大的不同点在于:现有结构中的抗晕单元和信号单元为一一对应的关系,本发明的抗晕单元由两个信号单元共用;为了适应本发明的新结构,避免共用同一抗晕单元的两个像元之间因信号溢出而相互影响,本发明用N型掺杂区3-2来抑制两个像元的信号相互溢出,由于3-2的掺杂浓度高于4-1的掺杂浓度,器件工作时3-2的电势高于4-1的电势,可有效抑制其中一个像元的信号向另一个像元溢出。(本领域技术人员为了区别N型掺杂物质的掺杂浓度时所采用的标记一般是N+、N、N-,其掺杂浓度的大小关系为N+ > N >N-)。
Claims (1)
1.线阵CCD的一种抗晕结构,包括:设置在第一结构层(Ⅰ)上的存储栅(2)和抗晕栅(4),设置在第二结构层(Ⅱ)上的N区信道(1)、N-溢出势垒区(4-1)和抗晕漏(3),第一结构层(Ⅰ)和第二结构层(Ⅱ)之间通过SiO2(5)层隔离;位置互相匹配的一条存储栅(2)、一条N区信道(1)和一个N-溢出势垒区(4-1)即形成一个信号单元;位置相互对应的一个抗晕漏(3)和一条抗晕栅(4)即形成一个抗晕单元;位置互相对应的一个信号单元和一个抗晕单元即形成一个像元,多个像元按线阵排列组成线阵CCD;
其特征在于:在第二结构层(Ⅱ)上,每间隔两个信号单元设置一抗晕单元,由抗晕单元两侧的信号单元共用一个抗晕单元;
具体来说:设有位置顺次排列的第一信号单元、第一抗晕单元和第二信号单元,第一信号单元和第二信号单元共用第一抗晕单元,第一信号单元和第一抗晕单元即形成第一像元,第二信号单元和第一抗晕单元即形成第二像元;
第一信号单元和第二信号单元各自对应一个N-溢出势垒区(4-1),两个N-溢出势垒区(4-1)之间设置有一N型掺杂区(3-2),N型掺杂区(3-2)用于抑制第一像元和第二像元内的信号相互溢出。
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