CN102044299A - 非易失性存储器及其读取电路 - Google Patents

非易失性存储器及其读取电路 Download PDF

Info

Publication number
CN102044299A
CN102044299A CN2011100282540A CN201110028254A CN102044299A CN 102044299 A CN102044299 A CN 102044299A CN 2011100282540 A CN2011100282540 A CN 2011100282540A CN 201110028254 A CN201110028254 A CN 201110028254A CN 102044299 A CN102044299 A CN 102044299A
Authority
CN
China
Prior art keywords
bit line
unit
current potential
circuit
reads
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2011100282540A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102044299B (zh
Inventor
杨光军
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corp
Original Assignee
Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corp filed Critical Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corp
Priority to CN201110028254.0A priority Critical patent/CN102044299B/zh
Publication of CN102044299A publication Critical patent/CN102044299A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102044299B publication Critical patent/CN102044299B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)

Abstract

本发明提供了非易失性存储器及其读取电路,所述读取电路包括用于产生于与位线电流相同的镜像电流的镜像单元以及根据镜像电流读取存储单元数据的数据读取单元,还包括:与所述位线连接的预充电单元以及预放电单元;所述预充电单元以及预放电单元分别将位线的初始电位与目标电位相比较,对位线充电或放电,将位线电位钳位至目标电位。本发明通过在位线上连接预充电单元以及预放电单元,得悬浮的位线电位能够迅速上升或回落至目标电位,避免产生逻辑错误,提高数据读取速度。

Description

非易失性存储器及其读取电路
技术领域
本发明涉及集成电路静电保护电路设计领域,尤其涉及一种非易失性存储器的读取电路。
背景技术
在非易失性存储器中,每个存储单元定义为一个二进制的位,即“0”或“1”其中之一,在读取存储单元的二进制数据值时,通常包括:向与该存储单元连接的位线导入读取电流,并根据读取电流的大小,判断该存储单元的数据值。具体的,产生上述读取电流,首先需要向相应位线进行预充电,使其达到一目标电位;然后再选中开启存储单元,从而获得稳定的读取电流,并与基准电流作比较,以读取存储单元的数据。
图1示出了现有的非易失性存储器读取电路的原理图。所述读取电路的基本模块包括:用于向位线充电的预充电单元101,所述预充电电源101将位线的电位由默认的零电位升高至目标电位;用于映射位线电流的镜像单元102,所述镜像单元102产生与位线电流相同的镜像电流;连接所述镜像单元102,用于比较镜像电流以及参考电流大小的比较单元103。
其工作原理是:所述预充电单元101将位线的电位提升至一目标电位,当与该位线连接的存储器单元被选中读取数据后,所述位线上将形成流经存储器单元的位线电流。由于存储器单元内的数据包括“0”与“1”,相对应的,所述位线电流也包括较大值或较小值。所述镜像单元102则映射位线电流,形成相同的镜像电流。而比较单元103将所述镜像电流与基准电流的大小进行比较。具体的,所述基准电流的大小介于位线电流的较大值以及较小值之间,根据比较结果,即可获知位线电流的状态以及存储单元中的数据类型,从而实现对存储器数据的读取。
现有的读取电路存在如下问题:通常为了便于布线并节省器件面积,位线在充电前通常处于悬浮状态,而并不会连接至固定电位。因此位线的初始电位可能高于目标电位,当选中存储单元进行数据读取时,所形成的初始位线电流则会高于实际读取的电流,进而造成逻辑错误。为了避免上述逻辑错误,通常采用的方式是:选中存储单元后,形成位线电流,等待一定时间直至位线的电位回落至目标电位,再进行数据的读取。然而存储器进行数据读取时,位线电流的数量级通常仅为0.1μA,放电速度缓慢,等待位线电位的回落需要极长的时间,严重影响存储器的读取速度。
发明内容
本发明解决的问题是提供一种非易失性存储器的读取电路,避免因为位线的悬浮电位而产生读取逻辑错误,并提高读取速度。
本发明提供的非易失性存储器的读取电路,包括用于产生于与位线电流相同的镜像电流的镜像单元以及根据镜像电流读取存储单元数据的数据读取单元,还包括:与所述位线连接的预充电单元以及预放电单元;所述预充电单元以及预放电单元分别将位线的初始电位与目标电位相比较,对位线充电或放电,将位线电位钳位至目标电位。
所述预充电单元包括充电开关以及充电钳位器;所述充电开关连接至电源线,充电钳位器连接至位线;所述充电开关用于接收外部输入的第一控制信号,开启或关闭预充电单元;所述充电钳位器用于在充电时,将位线电位钳位至目标电位。
所述充电开关为场效应晶体管,源极与电源线连接,漏极与充电钳位器连接,栅极接收所述控制信号。所述充电钳位器包括:漏极与充电开关连接,源极与位线连接的第一MOS管;正端输入目标电位,负端输入位线电位,输出端连接第一MOS管的栅极的运放比较器。当位线电位低于目标电位时,运放比较器输出高电平,使得第一MOS管导通。
所述预放电单元包括放电开关以及放电钳位器;所述放电开关连接至地线,放电钳位器连接至位线;所述放电开关用于接收外部输入的第二控制信号,开启或关闭预放电单元;所述放电钳位器用于在放电时,将位线电位钳位至目标电位。
所述放电开关为场效应晶体管,源极与地线连接,漏极与放电钳位器连接,栅极接收所述控制信号。所述放电钳位器包括:源极与放电开关连接,漏极与位线连接的第二MOS管;负端输入目标电位,正端输入位线电位,输出端连接第二MOS管的栅极的运放比较器。当位线电位高于目标电位时,运放比较器输出高电平,使得第二MOS管导通。
可选的,所述镜像单元为镜像电流源电路,其电流源端与位线连接,输出端与数据读取单元连接。
可选的,所述数据读取单元包括参考电流源以及缓冲寄存器;所述缓冲寄存器用于暂存存储单元数据,其输入端连接镜像单元输出端以及参考电流源的输出端。
与现有技术相比,本发明提供的读取电路以下优点:通过在位线上连接预充电单元以及预放电单元,得悬浮的位线电位能够迅速上升或回落至目标电位,避免产生逻辑错误,提高数据读取速度。
附图说明
图1为现有的非易失性存储器的读取电路的原理图;
图2为本发明所述非易失性存储器的读取电路的原理图;
图3为本发明实施例的读取电路的电路图;
图4为本发明实施例的读取电路在位线进行充电时的电路时序图;
图5为本发明实施例的读取电路在位线进行放电时的电路时序图;
图6为本发明实施例的读取电路读取数据时的电路时序图。
具体实施方式
现有的非易失性存储器,在进行数据读取时,位线的初始电位处于悬浮状态,可能大于目标电位而非理想的零电位。因此读取电路容易产生逻辑错误,而仅通过微弱的位线电流对位线进行放电,待位线的电位回落再进行读取,则严重影响存储器的数据读取速度。
本发明所述读取电路则通过在位线上连接预充电单元以及预放电单元,使得悬浮的位线电位能够迅速上升或降低至目标电位,避免产生逻辑错误,提高了数据读取速度。
图2为本发明所述的读取电路的原理图,基本模块包括:
预充电单元11,用于对位线进行充电,将位线电位升高至目标电位;
预放电单元12,用于对位线进行放电,将位线电位降低至目标电位;
镜像单元13,产生与位线电流相同的镜像电流;
数据读取单元14,根据所述镜像电流读取存储单元的数据。
其基本工作原理是:在进行数据读取前,所述预充电单元11以及预放电单元12分别将位线的初始电位与目标电位比较,对位线进行充电或者放电,使得位线的电位被迅速地钳位至目标电位;然后存储器通过字线选中存储单元进行数据读取,从而在位线上产生读取电流;此时镜像单元13将产生与位线电流相同的镜像电流,而数据读取单元14则根据镜像电流的大小读取存储单元中的数据。
其中,在进行位线的充电或放电时,所述预充电单元11以及预放电单元12仅有其中之一处于工作状态。在进行数据读取时,则需要向所述预充电单元11以及预放电单元12输入关闭的控制信号,以避免上述两单元对位线电流产生影响。而数据读取单元14则将镜像电流与参考电流进行比较,以判定存储单元中的数据类型。电流比较的方式通常是采用同位端竞争法,也即将待比较的两条电流分别对同一端进行充电和放电,如果该端电位升高,则判定对该端充电的电流较大,反之则判定对该端放电的电流较大。需要指出的是,如果数据读取单元14直接比较位线电流与参考电流,则会在位线上产生额外的负载,进而导致位线电流的不稳定。因此需要通过镜像单元13根据位线电流产生相应的镜像电流,进行间接比较。
图3提供了本发明所述读取电路的一个具体实施例。
所述预充电单元11包括:充电开关K1以及充电钳位器D1;所述充电开关K1连接至电源线VDD,充电钳位器D1连接至位线BL;所述充电开关用于接收外部输入的第一控制信号C1,开启或关闭预充电单元;所述充电钳位器D1用于在充电时,将位线电位钳位至目标电位Vref
具体的,所述充电开关K1可以是场效应晶体管开关,例如PMOS管,源极与电源线VDD连接,漏极与充电钳位器D1连接。当所述第一控制信号C1为低电平时,充电开关K1导通,所述充电钳位器D1通过充电开关K1与电源线VDD电连接。所述充电钳位器D1包括:漏极与充电开关K1连接,源极与位线BL连接的第一MOS管M1;正端输入目标电位Vref,负端输入位线电位VBL,输出端连接第一MOS管M1的栅极的运放比较器L1。所述第一MOS管M1为NMOS管,当位线电位低于目标电位时,运放比较器L1输出高电平,使得第一MOS管M1导通。
此外,上述预充电单元11还可以将所述充电钳位器D1连接至电源线VDD,充电开关K1连接至位线BL,而并不会影响该单元的工作。
所述预放电单元12包括:放电开关K2以及放电钳位器D2;所述放电开关K2连接至地线VGND,放电钳位器D2连接至位线BL;所述放电开关用于接收外部输入的第二控制信号C2,开启或关闭预放电单元;所述放电钳位器D2用于在放电时,将位线电位钳位至目标电位Vref
具体的,所述放电开关K2可以是场效应晶体管开关,例如NMOS管,源极与地线VGND连接,漏极与放电钳位器D2连接。当所述第二控制信号C2为高电平时,放电开关K2导通,所述放电钳位器D1通过放电开关K2与地线VGND电连接。所述放电钳位器D2包括:源极与放电开关K2连接,漏极与位线BL连接的第二MOS管M2;负端输入目标电位Vref,正端输入位线电位VBL,输出端连接第二MOS管M2的栅极的运放比较器L2。所述第二MOS管M2也为NMOS管,当位线电位高于目标电位时,运放比较器L2输出高电平,使得第二MOS管M2导通。
同样,上述预放电单元12还可以将放电钳位器D2连接至电源线VDD,放电开关K2连接至位线BL。
所述镜像单元13为镜像电流源电路,可以采用两个参数相同的场效应晶体管N1以及场效应晶体管N2对接而成。所述镜像电流源电路可以使用电源线VDD为供电电源,其电流源端连接至位线BL,以位线电流Icell作为输入电流,输出端连接至数据读取单元14,输出与位线电流Icell相同的镜像电流Imir
所述数据读取单元14包括参考电流源以及缓冲寄存器Sout,所述缓冲寄存器Sout用于暂存存储器单元的数据,以便于处理器等外部电路单元取走,其输入端分别连接上述镜像电流源电路以及参考电流源的输出端。其中,镜像电流Imir对缓冲寄存器Sout的输入端充电,而参考电流Iref对缓冲寄存器Sout的输入端放电。当缓冲寄存器Sout的输入端为高电位时,其暂存数据定义为1,反之则为0。
下面结合图3所示电路以及具体的数据读取过程,对本发明优点做进一步介绍。
假设,位线BL的初始电位为V1,且所述V1<Vref。则在数据读取前,需要对位线BL进行充电,使其电位升高至Vref,图4是图3所示读取电路在位线进行充电时的电路时序图。
如图4所示,由于位线BL在悬浮状态下的电位是未知的,因此需要同时开启预充电单元11以及预放电单元12。首先外部控制电路输入第一控制信号C1以及第二控制信号C2,开启充电开关K1以及放电开关K2。具体的,分别向充电开关K1以及放电开关K2输入低电平的第一控制信号C1以及高电平的第二控制信号C2
此时充电钳位器D1中的运放比较器L1以及放电钳位器D2中的运放比较器L2,分别将位线BL的初始电位V1与目标点位Vref进行比较。根据比较结果,充电钳位器D1中的运放比较器L1输出高电平,第一MOS管M1导通,进而使得预充电单元11中形成自电源线VDD至位线BL的导电通路,形成较强的充电电流,开始对位线BL进行充电;而放电钳位器D2中的运放比较器L2输出低电平,第二MOS管M2弱导通,流过的放电电流较小。位线BL的电位自初始电位V1起向目标电位Vref升高,直至达到平衡状态,即位线BL的电位等于目标电位时,运放比较器L1无法继续输出高电平,第一MOS管M1的导通能力将大幅减弱,充电电流也降至较低水平,位线BL的电位不再升高。
在位线BL的电位等于目标电位后,外部的控制电路跳转所述第一控制信号C1以及第二控制信号C2的电平,关闭充电开关K1以及放电开关K2,使得预充电单元11以及预放电单元12均处于断路状态。以避免第一MOS管M1以及第二MOS管M2的弱导通状态,对后续进行数据读取时,分流位线上的电流,造成不良影响。
假设,位线BL的初始电位为V2,且所述V2>Vref。则在数据读取前,需要对位线BL进行放电,使其电位降低至Vref,图5是图3所示读取电路在位线进行放电时的电路时序图。
如图5所示,首先外部控制电路输入第一控制信号C1以及第二控制信号C2,开启充电开关K1以及放电开关K2。此时充电钳位器D1中的运放比较器L1以及放电钳位器D2中的运放比较器L2,分别将位线BL的初始电位V2与目标点位Vref进行比较。根据比较结果,充电钳位器D1中的运放比较器L1输出低电平,第一MOS管M1弱导通,流过的充电电流较小;而放电钳位器D2中的运放比较器L2输出高电平,第二MOS管M2导通,进而使得预放电单元12中形成自位线BL至地线VGND的导电通路,形成较强的放电电流,开始对位线BL进行放电。位线BL的电位自初始电位V2起向目标电位Vref降低,直至达到平衡状态,即位线BL的电位等于目标电位时,运放比较器L2无法继续输出高电平,第二MOS管M2的导通能力将大幅减弱,放电电流也降至较低水平,位线BL的电位不再降低。
同样在位线BL的电位等于目标电位后,外部的控制电路跳转所述第一控制信号C1以及第二控制信号C2的电平,关闭充电开关K1以及放电开关K2,使得预充电单元11以及预放电单元12均处于断路状态。
由上述时序分析可知,无论位线初始电位大小,在开启预充电单元11以及预放电单元12后,所述预充电单元11以及预放电单元12仅有其中之一处于工作状态。即本发明的读取电路能够根据所述位线初始电位与目标电位的关系,对位线进行充电或放电,最终达到将位线电位迅速地钳位于目标电位的目的。
当位线电位等于目标电位时,即可以对存储单元进行数据的读取。具体的,通过字线选中待读取数据的存储单元,此时存储单元可以视为通路,而在位线BL上产生自电源线VDD、镜像电流源电路流向存储单元的电流Icell,其大小取决于位线BL的目标电位以及存储单元的等效阻抗。
由于位线电流Icell的数量级仅为0.1μA,而所述目标电位通常为0.1v~1v左右。因此形成位线电流后,在较长的时间内,位线的电位可以视为不变,位线电流Icell也保持稳定。此时,镜像电流源电路的输出端也将产生与所述位线电流Icell相同的镜像电流Imir
根据背景技术可知,所述位线电流Icell根据存储单元内的数据类型不同,存在较大值以及较小值,相应的所述镜像电流Imir也存在较大值以及较小值。通过数据读取单元14根据上述镜像电流Imir与参考电流Iref,判定存储单元的数据类型。
图6示出了上述实施例中读取电路读取数据时的电路时序图。如图6所示,假设形成的位线电流Icell为较大电流,大于参考电流Iref。所述镜像电流Imir保持与位线电流Icell大小相等,因此Imir>Iref,缓冲寄存器Sout输入端在镜像电流Imir与参考电流Icell的竞争下电位升高,,则可以从缓冲寄存器Sout中读得数据“1”。反之如果位线电流Icell为较小电流,小于参考电流Iref。所述镜像电流Imir<Iref,缓冲寄存器Sout输入端在镜像电流Imir与参考电流Icell的竞争下电位降低,则可以从缓冲寄存器Sout中读得数据“0”。上述机制即实现读取电路对存储单元数据的读取。
本发明所述读取电路,并不仅仅局限于上述电路实现方式,在其他的可选实施例中,还可以采用具有相同时序功能的电路单元替换上述电路结构。例如镜像电流源电路还可以为双极型晶体管镜像电流源电路,所述预放电单元、预充电单元可以采用反馈钳位回路等等。
本发明虽然以较佳实施例公开如上,但其并不是用来限定权利要求,任何本领域技术人员在不脱离本发明的精神和范围内,都可以做出可能的变动和修改,因此本发明的保护范围应当以本发明权利要求所界定的范围为准。

Claims (12)

1.一种非易失性存储器的读取电路,包括用于产生于与位线电流相同的镜像电流的镜像单元以及根据镜像电流读取存储单元数据的数据读取单元,其特征在于,还包括:与所述位线连接的预充电单元以及预放电单元;所述预充电单元以及预放电单元分别将位线的初始电位与目标电位相比较,对位线充电或放电,将位线电位钳位至目标电位。
2.如权利要求1所述的读取电路,其特征在于,所述预充电单元包括充电开关以及充电钳位器;所述充电开关连接至电源线,充电钳位器连接至位线;所述充电开关用于接收外部输入的第一控制信号,开启或关闭预充电单元;所述充电钳位器用于在充电时,将位线电位钳位至目标电位。
3.如权利要求2所述的读取电路,其特征在于,所述充电开关为场效应晶体管,源极与电源线连接,漏极与充电钳位器连接,栅极接收所述控制信号。
4.如权利要求2所述的读取电路,其特征在于,所述充电钳位器包括:漏极与充电开关连接,源极与位线连接的第一MOS管;正端输入目标电位,负端输入位线电位,输出端连接第一MOS管的栅极的运放比较器。
5.如权利要求4所述的读取电路,其特征在于,当位线电位低于目标电位时,运放比较器输出高电平,使得第一MOS管导通。
6.如权利要求1所述的读取电路,其特征在于,所述预放电单元包括放电开关以及放电钳位器;所述放电开关连接至地线,放电钳位器连接至位线;所述放电开关用于接收外部输入的第二控制信号,开启或关闭预放电单元;所述放电钳位器用于在放电时,将位线电位钳位至目标电位。
7.如权利要求6所述的读取电路,其特征在于,所述放电开关为场效应晶体管,源极与地线连接,漏极与放电钳位器连接,栅极接收所述控制信号。
8.如权利要求6所述的读取电路,其特征在于,所述放电钳位器包括:源极与放电开关连接,漏极与位线连接的第二MOS管;负端输入目标电位,正端输入位线电位,输出端连接第二MOS管的栅极的运放比较器。
9.如权利要求8所述的读取电路,其特征在于,当位线电位高于目标电位时,运放比较器输出高电平,使得第二MOS管导通。
10.如权利要求1所述的读取电路,其特征在于,所述镜像单元为镜像电流源电路,其电流源端与位线连接,输出端与数据读取单元连接。
11.如权利要求10所述的读取电路,其特征在于,所述数据读取单元包括参考电流源以及缓冲寄存器;所述缓冲寄存器用于暂存存储单元数据,其输入端连接镜像单元输出端以及参考电流源的输出端。
12.一种包括权利要求1至11任意一项所述读取电路的非易失性存储器。
CN201110028254.0A 2011-01-26 2011-01-26 非易失性存储器及其读取电路 Active CN102044299B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201110028254.0A CN102044299B (zh) 2011-01-26 2011-01-26 非易失性存储器及其读取电路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201110028254.0A CN102044299B (zh) 2011-01-26 2011-01-26 非易失性存储器及其读取电路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102044299A true CN102044299A (zh) 2011-05-04
CN102044299B CN102044299B (zh) 2016-03-09

Family

ID=43910349

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201110028254.0A Active CN102044299B (zh) 2011-01-26 2011-01-26 非易失性存储器及其读取电路

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102044299B (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102290101A (zh) * 2011-07-04 2011-12-21 上海宏力半导体制造有限公司 源线偏置电路及存储器
CN103208304A (zh) * 2012-01-13 2013-07-17 北京兆易创新科技股份有限公司 一种读电路的电流比较电路
CN103730160B (zh) * 2014-01-07 2016-08-24 上海华虹宏力半导体制造有限公司 一种存储器及其读取方法、读取电路
CN113395465A (zh) * 2020-03-12 2021-09-14 格科微电子(上海)有限公司 存储单元的数据读取方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020105831A1 (en) * 2001-02-02 2002-08-08 Samsung Electronics Co., Ltd. Sense amplifier circuit for a flash memory device
CN1484248A (zh) * 2002-08-07 2004-03-24 ������������ʽ���� 读取电路及包括该电路的半导体存储装置
US20050030814A1 (en) * 2001-09-19 2005-02-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Data read circuit for use in a semiconductor memory and a method thereof
CN101777374A (zh) * 2010-01-12 2010-07-14 上海宏力半导体制造有限公司 带工艺和电流补偿的读出放大器
CN101937702A (zh) * 2010-09-10 2011-01-05 上海宏力半导体制造有限公司 带位线电容检测的读出放大器

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020105831A1 (en) * 2001-02-02 2002-08-08 Samsung Electronics Co., Ltd. Sense amplifier circuit for a flash memory device
US20050030814A1 (en) * 2001-09-19 2005-02-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Data read circuit for use in a semiconductor memory and a method thereof
CN1484248A (zh) * 2002-08-07 2004-03-24 ������������ʽ���� 读取电路及包括该电路的半导体存储装置
CN101777374A (zh) * 2010-01-12 2010-07-14 上海宏力半导体制造有限公司 带工艺和电流补偿的读出放大器
CN101937702A (zh) * 2010-09-10 2011-01-05 上海宏力半导体制造有限公司 带位线电容检测的读出放大器

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102290101A (zh) * 2011-07-04 2011-12-21 上海宏力半导体制造有限公司 源线偏置电路及存储器
CN102290101B (zh) * 2011-07-04 2016-02-24 上海华虹宏力半导体制造有限公司 源线偏置电路及存储器
CN103208304A (zh) * 2012-01-13 2013-07-17 北京兆易创新科技股份有限公司 一种读电路的电流比较电路
CN103208304B (zh) * 2012-01-13 2016-01-06 北京兆易创新科技股份有限公司 一种读电路的电流比较电路
CN103730160B (zh) * 2014-01-07 2016-08-24 上海华虹宏力半导体制造有限公司 一种存储器及其读取方法、读取电路
CN113395465A (zh) * 2020-03-12 2021-09-14 格科微电子(上海)有限公司 存储单元的数据读取方法
CN113395465B (zh) * 2020-03-12 2024-03-05 格科微电子(上海)有限公司 存储单元的数据读取方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN102044299B (zh) 2016-03-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20060120175A1 (en) Memory array with fast bit line precharge
US7082061B2 (en) Memory array with low power bit line precharge
US10121548B2 (en) Nonvolatile memories and reading methods thereof
CN105185404B (zh) 电荷转移型灵敏放大器
CN104112466A (zh) 一种应用于mtp存储器的灵敏放大器
CA2481336A1 (en) Single-ended current sense amplifier
CN102044299B (zh) 非易失性存储器及其读取电路
CN102339643B (zh) 存储器及其读取电路
US9589610B1 (en) Memory circuit including pre-charging unit, sensing unit, and sink unit and method for operating same
US20170070225A1 (en) Power gating devices and methods
US9830959B2 (en) Precharge circuitry for semiconductor memory device
CN102568592A (zh) 非易失性存储器及其数据读取方法
US8750047B2 (en) Circuit for reading non-volatile memory cells having a precharging circuit activated after the activation of a sense circuit
US20140071777A1 (en) Systems, circuits, and methods for charge sharing
CN111489779A (zh) 双分离栅闪存电路及存储装置、读取方法
CN103824597A (zh) 存储器、存储单元的读取电路及读取方法
US9412425B2 (en) Device and method for improving reading speed of memory
KR100287884B1 (ko) 반도체 메모리소자의 센싱회로 및 그를 이용한센싱방법
CN102426845B (zh) 一种电流模灵敏放大器
US8897054B2 (en) ROM device with keepers
CN102354520A (zh) 低功耗读出放大器
KR20120004740A (ko) 비휘발성 메모리 및 이의 동작방법
CN102394108A (zh) 闪存的编程验证优化方法
US9466388B2 (en) Readout circuit with self-detection circuit and control method therefor
CN102280130A (zh) 快闪存储器及其读出放大电路

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
ASS Succession or assignment of patent right

Owner name: SHANGHAI HUAHONG GRACE SEMICONDUCTOR MANUFACTURING

Free format text: FORMER OWNER: HONGLI SEMICONDUCTOR MANUFACTURE CO LTD, SHANGHAI

Effective date: 20140403

C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20140403

Address after: 201203 Shanghai city Zuchongzhi road Pudong New Area Zhangjiang hi tech Park No. 1399

Applicant after: Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corporation

Address before: 201203 Shanghai city Zuchongzhi road Pudong New Area Zhangjiang hi tech Park No. 1399

Applicant before: Hongli Semiconductor Manufacture Co., Ltd., Shanghai

C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant